JPS60689A - Mos記憶装置 - Google Patents

Mos記憶装置

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Publication number
JPS60689A
JPS60689A JP58105825A JP10582583A JPS60689A JP S60689 A JPS60689 A JP S60689A JP 58105825 A JP58105825 A JP 58105825A JP 10582583 A JP10582583 A JP 10582583A JP S60689 A JPS60689 A JP S60689A
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JP
Japan
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circuit
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timing
signal
word line
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JP58105825A
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English (en)
Inventor
Hiroaki Kotani
博昭 小谷
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 この発明は、MOS(i屈絶電員物半導体)記1q装置
に関するもので、例えば、アドレス信号の変化タイミン
グを検出して、検出出力にもとずい′ζ、その内部動作
のタイミング制御を行う内部同期式のMO3記憶装置に
有効な技術に関するものである。
〔背景技術〕
本願発明者等においては、アドレス信号の変化タイミン
グを検出して、検出出力にもとすいて、その内部動作の
タイミング;II+制御を行う内部同期式のMO3O3
記憶装置にI7J発した。このよ・)な内部同期式のM
O3記憶装置においては、アドレス信号の変化タイミン
グ(エツジ)を検出し“C全の動作タイミングが規定さ
れる。特に、−F記エツジを検出して、この検出出力に
より内部回路のプリチャージを行うものでは、このプリ
チャージ時間だけアクセスタイムが遅くなってしまうと
いう欠点が生じる。
〔発明の目的〕
この発明の目的は、高速動作化を図った内部同期式のM
O3記憶装置を提供することにある。
この発明の前記ならびにその伯の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、メモリセルの読み出しが終了した時点で、直
ちにメモリアレイのワード線及びデータ線の選択動作を
終了させるとともに、次の動作サイクルのためのプリチ
ャージを行うことによって、高速動作化を達成するもの
である。
〔実施例〕
第1図には、この発明の一実施例のブロック図が示され
ている。
同図において、点線で囲まれた各回路ブロックは、公知
の半導体集積回路の製造技術によって、シリコンのよう
なIIvaの半導体基板上において形成され、例えば、
端子DO〜D7.AO〜八14゜当な外部電源装置から
給電が行われる。
回路記号M−ARYで示され′Cいるのは、メモリアレ
イであり、記憶用キャパシタとアドレス選択用MO3F
ETで構成された1MO3型メモリセルがマトリックス
状に配置されて構成されている。この実施例では、特に
制限されないが1.に記メモリセルは一対の平行に配置
された相補データ線り、Dのいずれか一方に、その入出
力ノードが結合されたいわゆる2交点方式で配置される
回路記号Pctで示されているのは、データ梓プリチャ
ージ回路であり、プリチャージパルスφpcrを受&J
て、相補データ線り、1〕を短緒して、それぞれのデー
タ線り、 DをVcc/2にプリチャージするMOSF
ETにより構成される。
回路記号SAで示されているのは、センスアンプであり
、特に制限されないが、m源電圧VCCと回路の接地電
位VssにそれぞれパワースイッチMO3FETが設け
られたCMO3(相補型MO3)ラッチ回路で構成され
、その一対の入出力ノードは、上記相補データ線り、D
に結合されている。
タイミングパルスφpaは、上記パワースイッチMO3
FETを制御するためのものである。パワースイッチM
O3FETは、プリチャージ直前にオフにされ、相補デ
ータ線り、 Dがフローティング状態でVc(、Vss
レベルを保持する。そして、上記プリチャージMO3F
ETのオンにより上記相補データ線り、Dがプリチャー
ジされる。
回路記号C−S Wで示されているのは、カラムスイッ
チであり、カラム選択信号に従って、選択された相補デ
ータ線を共通相補データ線に結合させる。
回路記号R−ADHで示されているのは、ロウアドレス
バッファであり、外部端子AO−A8からの外部アドレ
ス信号を受けて、内部相補アドレス選択用aυ〜a8.
aυ〜a 11 kM31u ’Tる*7.&8s以後
の説明及び図面では、−列の内部相補アlルス信号、例
えばaQ、丁0を内部相補アドレス信−呼10と表ずこ
とにする。したかっ−C1」二足内部相補アドレス信号
aO〜aQ、aQ〜^8は、内部相補アドレス信号lO
〜18と表ず。
回路記号C−ADBで示されているのは、カラムアドレ
スバッファであり、外部端子A9〜A14からの外部ア
ドレス信号を受けて、内部相補アドレス選択用a 9〜
a 14. a 9〜a 14を形成する。なお、上記
した内部相補ア警ルス信号の表し方に従って、図面及び
以下の説明では、」二足内部相補アドレス信号a9〜a
14.a9〜〒14を内部相補アドレス信号19〜1」
4と表す。
回路記号R−D CRで示されているのは、11ウアド
レスデコーダであり、後述するマルヂブレクザM P 
Xを介した内部相補アドレス信号上0−エ8を受けて、
M−ARYのワード線選択信号を形成する。このソード
if 3H沢(rt号は、ワードlli!選択タイミン
グ信号φXに同期して、M−ARYに伝えられる。
回路記号C−DCRで示されているのは、カラムアドレ
スデコーダであり、内部相補アドレス信号!9〜主14
を受けて、M−ARYのデータ線選択信号を形成する。
このデータ線選択信号は、データ線選択タイミング信号
φyに同期して、カラムスイッチC−5Wに伝えられる
回路記号PC2で示されているのは、共通相補データ線
のプリチャージ回路であり、特に制限されないが、プリ
チャージパルスφpcdを受けて共通相補データ線を短
絡する上記ブリデータ回路PCIと同様なMOS F 
ETにより溝底されている。
回路記号MAで示されているのは、メインアンプであり
、上記センスアンプSAと同様な回路措成とされる。タ
イミングパルスφmaは、そのパワースイッチMO3F
ETを制御するためのものである。
回路記号DOBで示されているのは、データ出カバ・2
フプであり、読み出しタイミング信号φOpにより、メ
インアンプMAからの読み出しデータを外部端子DO−
D7にそれぞれ送出する。なお、書込み時には、そのロ
ウレベルによってこのデータ出カバソファDOBは、不
動作状態(出カバ・fインピーダンス)にされる。
回路記号DIBで示されているのは、データ人カバソフ
ァであり、丘込みタイミング出力φinにより、外部端
子D O〜D7からの書込みデータを共通相補データ線
に伝える。なお、統の出し時には、そのロウレベルによ
りこのデータ人カバッフプDIBは不動作状態にされる
上記各種タイミングパルス号は、次の各回路ブロックに
より形成される。
回V5記号REGで示されているのは、特に制限されな
いが、アドレス信号aO〜A8(又は丁()〜丁8)を
受けて、その立ち上がり又は立ち王がりのエツジを検出
するエツジトリガ回路である。
回路記号CEGで示されているのは、特に制限されない
が、アドレス信yi+a9〜a14 (又はi9〜T1
4)を受けて、その立ち」二かり又は立ちFがりのエツ
ジを検出するエツジトリガ回路であり、J1記エツジト
リガ回路REGは、特に1ffll IWされないが、
アドレス信号aO〜a8と、その遅延信号とをそれぞれ
受ける排他的論理和回路と、これらの排他的論理和回路
の出力信号を受ける論理和回路とによって溝底される。
すなわち、アドレス信号とそのアドレス信号の遅延信号
とを受ける排他的回路が各アドレス信号に対して設けら
れている。この場合9個の排他的論理和回路が設けられ
ており、この9個の排他的論理和回路の出力信号が論理
和回路に入力されている。このエツジトリガ回路REG
は、アドレス信号aO〜a8のうちいずれかが変化する
と、その変化タイミングに同期したエツジ検出パルスφ
!・を形成する。
上記エツジトリガ回路CEGは、上記エツジトリガ回路
REGと同様な溝底にされている。すなわち、アドレス
信号a9〜a14と、その遅延信号とをそれぞれ受ける
排他的論理和回路と、これらの排他的論理和回路の出力
信号を受ける論理和回路とによって溝底されている。こ
のエツジトリガ回路CEGは、上記エツジトリガ回路R
EGと同様に、アドレス信号a9〜a14のうちいずれ
かが変化したとき、その変化タイミングに同期したエツ
ジ検出パルスφCを形成する。
回路記号TGで示されているのは、タイミング発生回路
であり、上記代表として示された主要なタイミング信号
等を形成する。このタイミング発生回路は、エツジ検出
パルスφr、φCo)伯、り1部端子から供給されるラ
イトイネーブル信号WT■。
チップ選択信号C3を受りて、−り記一連の夕・イミン
グパルスを形成する。
回路記号MPXで示されているのは、マルチプレクサで
あり、後述する自111リフ[・7951回)’317
P、Fからの制御16号φrefに従って、−に記アI
ルスバソファR−A D Bで形成された内部相IMチ
ア1−レス信 路REFで形成された内部相補アドレス信号−、10〜
土8とを選択的に」1記デコーダR − D C Rに
伝える。
回路記号Vbb−Gで示されているのは、基板バイアス
電圧発生[ilJ F’8である。
回路記号11EFで示されているのは、自動リフレンシ
ュ回路であり、フレッシュアドレスカウンタ、タイマー
等を含んでおり、外部哨子からのリフレッシュ信号RE
SHをロウレベルにすることにより起動される。
すなわち、チップ選択信号C3がハイレベルのときにリ
フレッシュ信号RESHをロウレベルにすると自動リフ
レッシュ回路REFば、制御信号φrefによってマル
チプレクサMPXを切り換えて、内蔵のりフレッシュア
ドレスカウンタからの内部アドレス信号をロウデコーダ
R−DCRに伝えて一本のワード線M択によるリフレッ
シユ動作(オートリフレッシュ)を行う。また、リフレ
ッシュ信号RE S Hをロウレベルにしつづけるとタ
イマーが作動して、一定時間毎にリフレッシュアドレス
カウンタが歩進させられて、この間連続的なりフレッシ
ュ動作(セルフリフレッシュ)を行う。
第2図には、上記第1図における主要な回路の具体的一
実施例の回路図が示されている。以下の説明において、
特に説明しない場合、MOSFETはnチャンネル型の
MOSFETである。
メモリアレイM−ΔRYは、その一対の行が代表として
示され′Cおり、−刻の平行に配置された相補デーク線
り、Dに、スイッチM OS F F、 1’ Ql5
ないしQ、18とMO3容情Lr構成された複数のメモ
リセルのそれぞれの入出力ノードが同図に示すように所
定の規則性をもって配分されて結合されている。
プリチャージ回路Pctは、代表として示されたMO3
FEう’I”Ql4のように、相補データ線1)。
■)間に設置JられたスイッチMO3FE’rQ14に
より構成される。
センスアンプSAは、代表として示されたpチャンネル
M OS F ETQ 7 、 Q 9と、T1チャン
ネルM OS F E ’I’ Q 6 、 Q Bと
からなる0MO8(相補型MO3)ラッチ回路で構成さ
れ、その〜り1の入出力ノードが−tZ記相禎相補ク綿
1)、I)に結合されている。また、上記ランチ回路に
は、特に制限されないが、並列形態のpチャンネルM 
OS Fg’「Ql 2,0.13を通して電源電圧V
C,Cが供給され、並列形態のnチャンネルMO3FE
TQIO,Qllを通して回路の接地電圧Vssが供給
される。これらのパワースイッチMO3FETQIO,
Qll及びMO3FETQI 2.Ql 3は、他の同
様な行に設けられたセンスアンプSΔに対して共通に用
いられる。
上記M OS F E TQ−10、Q 12のゲート
には、センスアンプSAを活性化させる相補タイミング
パルスφpal 、φpalが印加され、MO3FET
Qll、Ql3のゲートには、上記タイミングパルスφ
pal 、φpalより遅れた、相補タイミングパルス
φpa2 + φpa2が印加される。この理由は、メ
モリセルからの微小読み出し電圧でセンスアンプSΔを
動作させたとき、データ線のレベル落ち込みを比較的小
さなコンダクタンスのMO3FETQIO,Ql2によ
り電流制限を行うことにより防止する。
そして、上記SAでの増幅動作によって相補デーク線間
の電位差を太き(した後、比較的大きなコンダクタンス
のMO3FETQI 1.Ql 3をオンさせて、その
増幅動作を速くする。このように2段階に分DJで、セ
ンスアンプSへの増+1?il!ti!+作を行わせる
ことによって、相補データ綿のバーナレベル側の落ち込
みを防止しつつ、高速読ミ出しを行うことができる。
ロウデコーダR−D CRは、その1回路分(ソードt
!4本分)が代表として示され°ζおり、例えばアドレ
ス信号a2〜a6を受けるr1チャンネルMO3Fl:
’rQ32〜Q36及びp チャ’/ネルMO8FET
C>31〜Q41で構成されたc M OS回路による
NANI)(ナンド)回路で」1記4木分のワード′線
j巽沢信号が形成される。
このNANI)回路の出力は、CM OS−インバータ
IVlで反転され、力y I−MO3FE’l’C12
8〜Q31を通して、MO3FET’Q24〜Q27の
ゲートに伝えられる。
また、相補アドレス信号aQ、主lで形成されたデコー
ド信号と、タイミングパルスφXとの川合せで形成され
た4通りのワード純選択タイミング信号φx00ないし
φxllが上記M OS IT ETQ24〜Q27を
介して各ワード線に伝えられる。また、各ワード線と接
地電位との間には、MO3FETQ20〜Q23が設け
られ、そのゲートに上記NAND回路の出力が印加され
ることによって、非選択時のワード線を接地電位に固定
させるものである。
上記ワード線には、リセット用のM OS F E T
QlないしQ4が設けられており、リセットパルスφp
−を受けてこれらのM OS F E T Q I〜Q
4がオンすることによって、選択されたワード線が接地
レヘルにリセットされる。
カラムスイッチC−5Wは、代表として示されているM
O3FETQ42.Q43のように、相補データ線り、
 Dと共通相補データ線CD、CDを選択的に結合させ
る。こlzらのM OS F E TQ42、(143
のゲートには、カラムデコーダC−DCRからの選択信
号が供給される。
上記共通相補デーク線CD、CD間には、上記同様なプ
リチャージ回路PC2を14成するプリチャージM O
S F E T Q 44が設けられている。
この共通相補データ線CD、C1)には、上記センスア
ンプSAと同様な回l/lli溝底のメインアンプMA
の一対の入出力ノードが結合されている。
この実施例のメモリアレイのプリチャージ動作は、一対
の相補データ線、共通相補データ線を午に短絡させるこ
とにより、約Vcc/2の中間レベルにするものである
ので、データ線を0ボルトからVccレベルまでチャー
ジアップするものに比べ、そのレベル変化量が小さく、
プリチャージM O5FETのゲート電圧を1lIl常
の論理レベル(Vcc)を用いても十分に非飽和状態で
オンさせることが出来るからプリチャージ動作を高速に
、しかも低消費電力の下に行うことができる。
そして、上記のように、プリチャージレベルを約Vcc
/2の中間レベルにするものであるので、メモリセルの
読み出し時においζも、メモリむルのスイッチMO5F
ETのゲート電圧(ワード線選択動作)として適冷の論
理レベル(Vcc)を用いても十分に非飽和状態でオン
させることが出来るから、従来のダイナミック型RAM
のようにプートストラップ電圧を用いることなく、情報
記憶キャパシタの全電荷読み出しが可能となる。また、
読み出し基準電圧は、メモリセルが選択されない一方の
データ線のプリチャージレベルを利用しているので、読
み出し基準電圧を形成するダミーセルはあってもなくて
もよい。なお、第1図のブロック図では、×8ビット構
成とされているが、この実施例ではそのうち1ビット分
のメモリアレイを示している。
上記自動リフレッシュ回路REFは、特に制限されない
が、リフレッシュアドレス信号を形成するアドレスカウ
ンタCON ”I’と、タイマー回路TMから構成され
ている。
このタイマー回路TMは、外部端子からのりフレッシュ
制御信号RE S Hをロウレベルにすることにより起
動される。すなわち、チップ選択信号C8がハイレベル
のときにリフレッシュ制御信号RE S Hをロウレベ
ルにすると、マルチプレクサMPXの切り替え信号φr
efを出力して、マルチプレクサMPXを上記アドレス
カウンタC0NT側に切り替えζ、このアドレスカウン
タcoNTで形成された内部相補アドレス14号aO”
−a、8をアドレスデコーダR−DCRに伝えて一木の
ワード線選択動作によるリフレッシュ動作(オートリフ
レッシュ)を行う。
上記リフレッシュ制御信号RIE S IIの入力毎に
アドレスカウンタC0NTの歩進動作が行われるので、
ワード線数だけ上記動作を繰り返すことにより、全メモ
リセルをリフレッシ、スさせることができる。また、」
1記すフレッシュ市りfi!Tl1r’i号RESII
をロウレベルにしつづけると、夕・イマー回路が作動し
て、一定時間毎にパルスを発へ1ミするので、71ルス
カウンタC0NTが歩進させられて、この間連続的なリ
フレッシュ動作をおこな・)。
このようなリフレッシュ動作にょっ”と、ダ・fナミソ
ク型メモリセルを用いているにもがかわらずに、外部か
らはスタチイソク型RAMと同様に扱うことがでのる。
すなわち、擬似スタティック型RAMとして使用するこ
とができる。
第3図には、この実施例回路の動作を説明ず・乙ための
タイミング図が示されている。
いずれかのアドレス信号Aiが変化すると、上記エツジ
トリガ回路CEG (REG)によって検出パルスφC
(φr)が形成される。このパルスφC(φr)によっ
て、タイミング発生回路TGに起動がかかり、次のよう
な一連のタイミング信号を形成する。この時、後述する
ように既にハイレベルとなっているプリチャージパルス
φparがロウレベルになり、そのプリチャージ動作を
終了する。
次に、ワード線選択タイミング信号φXがハイレベルに
立ち上がり、ワード線の選択動作を行う。
この後、センスアンプ−5Aを動作状態にするタイミン
グパルスφpal+φpa2がハイレベルとなって上記
ワード線の選択動作によって読み出されたメモリセルの
記憶情報を増幅する。上記データ線への記憶情報の読み
出しによってその記憶情報が失われかかったメモリセル
には、ワード線の電位にブートストラップ電圧を供給し
たタイミングで上記センスアンプSAによって増幅され
たレベルをそのまま受けることによって回復する。
次に、データ線選択タイミング信号φyがハイレベルに
立ち上がり、カラムスイッチ回VRC; SWにより一
対のデータ線と共通データ線と1:i* 持する。そし
て、この共通データ綿に伝えら17.た詩み出しf1号
は、タイミングパルスφmql+φn+a2によって動
作するノーfン′アンフ“MA、&τj−+)°乙j(
aj看される。この実施例°では、このメインアンプ”
TV4八が増幅動作・(青ii’!5!7六二1及う。
し、上記記憶情報がメ・fンアンブMへによってラッチ
されることに竹目し、ワード線選択タイミング信号φX
及びデータ線j、巽択タイミング信号φyをロウレベル
にして、;′モリセルとュータkt&びデータ線と共通
データ線とを分離させる。そして、夕・イミング信弓φ
囲1.φpa2もロウ【/ベルとして、メモリアレ・f
のデータ線をハイインピーダンス状態とするつ この(及、タイミ%、/グパルフ、φpc、r ・をハ
イレベルとし°C4+1 ?市データtp g4を短M
して、その]“]リチ十−ジ動をt??1始する。ずな
わち、次の1hみ出しjj12f1のためのプリチャー
・ジを予め行うようにするものである。
なお、上記メインアンプMAによって増幅された信号は
、タイミングパルスφopの立ち上がりに従って動作す
るデータ出力バッフ7DOBを通して外部端子から送出
される。
〔効 果ゴ +l)次の動作サイクルのプリチャージ動作をその動作
サイクルの空き時間、言い換えれば、メインアンプM 
/’、 、データ出力バンファDOBが動作している間
に行うことによって、次の動作サイクルでのプリチャー
ジが省略できるので、そのアクセスタイムの高速化を達
成できるという効果が1!7られる。なお、書込み動作
にあっては、比較的大きなレベルの書込みデータが入力
されるのて、メモリセルへの書込み動作に要する時間を
短くできるので、その書込み終了後に上記のうよなプリ
チャージ期間を設けることが可能である。
以上不発r71者によってなされた発明を実施例に基づ
き具体的に説明したが、この発明ば上記実施例に限定さ
れるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変
更可能であることはいうまでもない。例えば、上記擬似
スタティック型RA Mを構成する各回路ブロックの具
体的回路構成は、種々の変形を採ることができるもので
ある。また、記憶ビットは、×1等種々の変形を採るこ
とができるものである。さらに、スタテイ・ツク型フリ
ップフロップをメモリセルとJ−るスタテfツク型T?
ΔMにおいても、上述のようなブリチ中−ジを行うもの
では、同様に適用することができるや 二の場合には、
ワード線が非選択状態でプ11千P−ジを行うので、デ
ータ線対からメモリセルを3i11シて直流mINが発
生ずることがなく、低消費重力化奈図ることができると
いう効果も得られる。また、プリチャージは、」1記1
/2Vccのプリチャージ電圧とするものの伯、m源雷
用Vccまでブ1マチャージを行うものであってt)よ
い。
〔利用分野〕
この発明は、外部アトルス伯月の変イ(を伸出して、内
部動作をX 御する一連のタイミングfn ”jを形成
する内部同期式のMO3記19装Fにv:<利用できる
ものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例を示すのブロック図。 第2図は、その主要な回路の兵体的−実施例を示す回路
図、 第3図は、その読み出し勤f7:を説明するためのクィ
ーング図である。 M−A RY・・メモリアレ、イ、Pct・・プリチャ
ージ回路、SA・・センスアンプ、1iADB・・ロウ
アドレスバッファ、C5W・・カラムスイッチ、(、−
ADB・・カラムアドレスバッファ、R−DCR・・ロ
ウアドレスバッファ、C−DCR・・カラムアドレスデ
コーダ、PC2・・プリチャージ回路、MA・・メイン
アンプ、REG、CEG・・エツジトリガ回路、’FG
・・タイミング発生回路、REF・・自動リフレッシュ
回路、DOT3・・データ出力バッファ、DIB・・デ
ータ人カバ・ノファ、MI)X・・マルジーブL/クサ
、Vbb−G・・基板バイアス回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、アドレス信号の変化タイミングを検出して、内部回
    路の動作を制御する内部同期式の半導体記憶装置におい
    て、その共通データ線ぺの読み出しが終了した時点でメ
    モリアレイにおけるワード線及びデータ線の選択動作を
    終了させるとともに、メモリアレイ内のデータ線のプリ
    チャージ動作を開始するようにしたことを特徴とするM
    O3記憶装置。 2、上記メモリアレイを構成するメモリセルは、情報記
    憶キャパシタと、アドレス選択用MO3FETとで構成
    され、このメモリセルの書込み及び読み出しのための周
    辺回路は、CMO5回路で構成されるものであることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載のMO3記憶装置
    。 3、上記メモリアレイを構成する相補データ線対を短絡
    することによって、上記相補データ線対のプリチャージ
    を行うものであることを特徴とする特許請求の範囲第1
    又は第2項記載のMO3O3記憶装
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1998056004A1 (en) * 1997-06-03 1998-12-10 Fujitsu Limited Semiconductor memory device

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WO1998056004A1 (en) * 1997-06-03 1998-12-10 Fujitsu Limited Semiconductor memory device
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US6246620B1 (en) 1997-06-03 2001-06-12 Fujitsu Limited Semiconductor memory device
US6459641B2 (en) 1997-06-03 2002-10-01 Fujitsu Limited Semiconductor memory device

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