JPS606920B2 - ガリウム砒素単結晶製造装置 - Google Patents

ガリウム砒素単結晶製造装置

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JPS606920B2
JPS606920B2 JP19776082A JP19776082A JPS606920B2 JP S606920 B2 JPS606920 B2 JP S606920B2 JP 19776082 A JP19776082 A JP 19776082A JP 19776082 A JP19776082 A JP 19776082A JP S606920 B2 JPS606920 B2 JP S606920B2
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JP
Japan
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support rod
crucible
melt
blind tube
single crystal
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JP19776082A
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JPS5988394A (ja
Inventor
一高 寺嶋
承生 福田
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/02Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は高品質半絶縁性ガリウム砥素GaAs単結晶
の製造装置に関し、更に詳しくは、原料溶融液中に枇素
ぶ蒸気を吹込む手段を備えたGaAs単結晶の製造装置
に関する。
m−V族化合物の中でもGaAsは電子移動度が大きく
、高速集積回路、光、電子素子用材料に広く用いられつ
つある。
このようにGaASが注目を浴びているのは高品質のG
a偽の比抵抗が1び○伽以上と高絶縁性であること、結
晶内の欠陥が少く、分布が均一であるものが得られるこ
と、大型ウヱハーの製造が容易であること等が挙げられ
る。このような要求を満すGaAs単結晶の製造方法と
しては液体封止引き上げ法(LEC法)が挙げられる。
この液体封止引き上げ法は低圧封止引き上げ法と高圧封
止引き上げ法とがある。低圧封止引き上げ法は予じめボ
ート成長法で作成したSi等の不純物を含むGaAs多
結晶を原料として単結晶とするため、半絶縁性とするに
はクロムの添加を必要とし、好ましくない。また原料を
直接合成する高圧封止引き上げ法はクロムの添加は不要
であるが、原料であるGaとぶ及び封止剤である&03
をルツボに入れて高圧下で加熱、合成する際に蒸気圧の
低いAsが多く蒸散する。従って、所望の組成比のGa
As溶融液を得るために粕の添加量を多くしているが、
条件によって偽の蒸散する量が異なり、溶融液中のGa
船組成比にばらつきが生じて、高品質の無添加(アンド
ーブ)Ca笛単結晶を再現性よく得ることは困難であっ
た。この発明の目的は高品質の半絶縁性無添加Ga公単
結晶を再現性よく製造することのできる単結晶製造装置
を提供する。
このため、この発明による単結晶製造装置においては、
ルッボ内の結晶原料熔融液に瓜蒸気を吹込む手段を備え
、原料合成中にASの不足を見出すと、原料客融液に直
接As蒸気の吹込みを行って、所定のGaAs組成比に
調整し、しかる後に結晶成長を行うようにする。
従って、常に高品質のGaAs単結晶が再現性良く得ら
れることになる。先ず、結晶原料容融液中のGaAs組
成比の測定方法について、本発明者らが提案した方法を
第1図により説明すると、高圧容器1内にはその外周を
炭素材料等の支持部材4で覆れた石英、窒化ボロン等の
ルッボ3を設け、このルッボ3を回転支持軸6により回
転できるように支持し、ルツボ3の周囲にはヒーター2
を設けて、ルッボを所定の温度に加熱、維持する。
ルッボ3の上部には下端に種結晶9を取付けた導電性の
引き上げ軸5を設け、この引き上げ軸は回転すると共に
上下動するように構成されている。そして、ルッボの支
持部材4と種結晶引き上げ軸5にはリード線10,11
をそれぞれ接続する。ルッボ3内には結晶材料としてG
a,As及び高圧封止剤として酸化ボロンB03を所定
量入れ、不活性ガスで容器内を加圧し、ヒータにて原料
の溶融点以上の温度で加熱し、ルッポ内の原料が溶融し
たら引き上げ軸5を下降させ種結晶9をルッボ3内の原
料熔融液7と接触させる。このような状態で、リード線
10,11を介してルツボ支持体4と引き上げ軸5に電
源12より交流電圧を印加すると、GaAs溶融液は抵
抗体と見倣され、ルッボは絶縁体のためコンデンサーを
構成することにより、電流計13には原料溶融液の抵抗
値に対応する電流値が表示されることになる。
上記の電流値はルツボ内に溶融しているGaAsの組成
比によって変る。
一例として、ルッボを約126000で加熱した時のG
aAsの組成比と電流値の関係は第2図に示すように、
Gaが約51.3%、Asが48.7%の組成比の時に
最大電流値を示し、それより船が増加すると電流値は急
激に減少する。通常高品質の単結晶を得るための溶融液
中のGaとAsの組成比は50%±0.2の範囲といわ
れており、溶融液のGaAsの組成比を調整して電流値
が0.27〜0.3hAの範囲(図中の点線で示す範囲
)を指示したら、結晶引き上げ操作を行うことにより高
品質のGaAs単結晶が再現性よく得られることになる
。第3図は第1図に示した単結晶製造装置に本発明によ
るAs供給手段を設けた装置の断面図であって、高圧容
器1の上部側壁に開設した閉口部14に旨筒15の関口
端を気密に接続する。
旨筒15内には先端が高圧容器1内に突入する支持棒1
8があり、支持棒先端には枇素収納容器16を固定し、
この支持榛の後端には永久磁石20を設ける。旨筒15
の外周面には環状の永久磁石19を舷合させ、この永久
磁石19は支持樟後端の磁石20と旨筒の壁部を挟んで
互に吸引し、永久磁石19を旨筒外周に沿って摺動させ
るとそれに伴って、支持棒18も旨筒内を前後に移動す
ることになる。この支持棒の保持、摺動方法は他の方法
によって行っても良い。上記容器16の支持棒の固定端
近傍にはパイプ17の一端を接続し、屈曲してその先端
は容器の前方に延び、支持棒が盲筒内を下降したときに
ルツボ3内の原料溶融液7に突込するように構成する。
容器の周面にはヒータ21を設け、容器内を加熱するよ
うに構成する。上述の容器、支持棒、旨筒は石英または
パイロリテック窒化ボロンで形成される。このような構
成の単結晶製造装置の使用方法を説明すると、収納容器
16内にはAsを予じめ装填し、環状磁石19により支
持棒18を上端に引き上げてト容器を関口部14内に待
機させる。
ルッボ3内にGa,As,B203を入れ、所定の圧力
及び温度を維持して、ルッポ内の原料が溶融したら「種
結晶9を下降させ、GaAs溶融液7に接触させて、電
流値を測定する。測定した電流値よりAsが不足してい
ることが判明したら、盲筒15に隊合している環状磁石
19を下降さる。
その結果、容器16はルツボ3に近ずき、パイプ17の
先端はルッボ3内のGaAs溶融液7に突入することに
なる。高圧容器1内は船の融点以上の温度であるため「
As蒸気はパイプ先端より噴出しており、GaAs溶融
液中に兆が吹き込まれることになる。吹き込み量が不足
している場合はヒ−夕21‘こより容器16を更に積極
的に加熱することにより船蒸気の噴出量は増加する。ル
ッボ内のGaAs溶融液が所定の組成比に調整されたら
、容器16の加熱を停止し、支持棒の引き上げ操作を行
い、容器16を閉口部14に待機させ、種結晶9の回転
、引き上げ操作により通常の単結晶製造を行う。種結晶
をGa船溶融液に接触させて回転、引き上げ操作によっ
て、単結晶を製造する場合、原料溶融液のGaAsの組
成比は製造する単結晶の品質に大きな影響を与える。
特にAsはGaに較べて蒸発温度が低く、高圧下で原料
を合成する際に、条件が少しでも変ると、合成した溶融
液のGa船組成比も微妙に変り、所望の組成比を有する
GaAs溶融液を再現性よく合成することは困難なこと
である。しかるに本発明によって、高圧容器内のGa船
溶融液にAsを供給することが可能となり、結晶引き上
げ操作前に溶融液の組成比の調整を行うので「高品質の
CaAs単結晶が再現性よく得られることになる。更に
原料合成中、或は結晶引き上げ中にも瓜収納容器に接続
したパイプよりAsが高圧容器内に噴射し、船が多量に
含む雰囲気を構成することになるが、この多量の松の存
在によって、原料溶融液或は成長中の単結晶表面よりA
sの蒸散を抑制し、単結晶の品質の向上に寄与する。な
お、明細書に記載のGaAs溶融液の組成比の測定法は
一例であって、他の測定法によって得られた結果に基い
て、本発明の装置により結晶原料溶融液へAsを供給し
、単結晶の製造ができることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
第1図は溶融液中のGa船組成比の測定手段を備えた単
結晶製造装置の一例を示す断面図、第2図はGaAs組
成比と電流値の関係の一例を示すグラフ、第3図は本発
明による単結晶製造装置のふ供給手段の拡大断面図であ
る。 図中、1は高圧容器、2はヒーター、3はルツポ、5は
引き上げ軸、6は種結晶、7はGa偽溶融液、13は開
□部、14は旨筒、15はAs収納容器、16はパイプ
、17は支持棒、18,19は磁石、20はヒーターを
示す。 第1図 第2図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 高圧容器内にヒータで加熱されて原料を溶融する回
    転ルツボと、該ルツボ上に下端を向け、この下端に種結
    晶を取付けた回転且つ上下動可能な引き上げ軸を設け、
    上記ルツボ中の原料が溶融したら引き上げ軸を下降し、
    下端の種結晶を上記ルツボ内の溶融液に接触させて回転
    、引き上げる単結晶製造装置において、 上記高圧容器
    の上部側壁に開設した開口部に開口端を気密に接続して
    盲筒を設け、該盲筒内にはその先端が上記高圧容器内に
    突入する支持棒を収容し、また上記盲筒の外周と支持棒
    には該支持棒を盲筒に沿って摺動させる手段を設け、更
    に上記支持棒の先端にはその周面にヒータを設けた砒素
    収納容器を固定し、また該砒素収納容器にはその先端を
    上記ルツボに向けてパイプを突設したことを特徴とする
    ガリウム砒素結晶製造装置。
JP19776082A 1982-11-12 1982-11-12 ガリウム砒素単結晶製造装置 Expired JPS606920B2 (ja)

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