JPS6071947A - 渦流探傷用プロ−ブ - Google Patents
渦流探傷用プロ−ブInfo
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- JPS6071947A JPS6071947A JP58181439A JP18143983A JPS6071947A JP S6071947 A JPS6071947 A JP S6071947A JP 58181439 A JP58181439 A JP 58181439A JP 18143983 A JP18143983 A JP 18143983A JP S6071947 A JPS6071947 A JP S6071947A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/904—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents with two or more sensors
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は種々の金属材料の表面に存在する傷を検出す
る為の探傷用１０−プに関するものである。更に詳しく
は被検査材に対し相対移動させてその被検査材を渦流探
傷し、そこに存在する傷を検出するようにしているプロ
ーブに関する。
る為の探傷用１０−プに関するものである。更に詳しく
は被検査材に対し相対移動させてその被検査材を渦流探
傷し、そこに存在する傷を検出するようにしているプロ
ーブに関する。
従来の渦流探傷用プローブには探傷幅が比較的狭い欠点
がおる。そこで被検査材における広幅な領域を一度に探
傷する方法として、複数の１０−プを並設し、各々の１
０−プからの信号を大々個別の探傷回路に入力させて処
理を行なうことが試みられたが、上記探傷回路は極めて
高価な為それを複数台備えると設備費が極めて高くなっ
てしまう欠点があうた。またプローブを広幅に形成する
ことによって広幅な領域を探傷することも試みられたが
、そのようＫすると通常の大きさの傷を検知した場合に
おいてもそのときのＷ、信号のレベルが低くなってしま
い、８Ｎ比が低下して傷の検出性能が低くなってしまう
欠点があった。
がおる。そこで被検査材における広幅な領域を一度に探
傷する方法として、複数の１０−プを並設し、各々の１
０−プからの信号を大々個別の探傷回路に入力させて処
理を行なうことが試みられたが、上記探傷回路は極めて
高価な為それを複数台備えると設備費が極めて高くなっ
てしまう欠点があうた。またプローブを広幅に形成する
ことによって広幅な領域を探傷することも試みられたが
、そのようＫすると通常の大きさの傷を検知した場合に
おいてもそのときのＷ、信号のレベルが低くなってしま
い、８Ｎ比が低下して傷の検出性能が低くなってしまう
欠点があった。
そこで本発明は、上述の欠点を除くようにしたもので、
被検査材における広幅な範囲を８Ｎ比高くしか４安価な
設備費で探傷できるようＫした渦流探傷用１０−グを提
供しようとするものである。
被検査材における広幅な範囲を８Ｎ比高くしか４安価な
設備費で探傷できるようＫした渦流探傷用１０−グを提
供しようとするものである。
以下本願の実施例を示す図面について説明する。
第１図乃至第７図において、１は被検査材で、丸棒状の
鋼材その他種々の金属材料があシ、また図において右方
（左方でも可）へ向けて移送されるものである。２は探
傷装置を示す。この装置において、３は回動装置、４は
回動枠で、回動装置３によって上記被検査材１の周囲を
回動し得る様になっている。５は枠４に取付けられたシ
リンダで、その進退杆５ａＫは１０−プ６が取付けられ
ておシ、進退杆５＆の進退によって１０−プ６を被検葺
材ＩＫ近づけたシ遠ざけたシできる様になっている。上
記プローブ６において、７ ’ ＋ ７ ｂ−７ｏ、７
ｄは大々１０−プ要素を示し、上記被検査材１の移送方
向に並べられている。即ち、回動枠４の回動によって１
０−プ６が被検査材１の回シを回動する時の被検査材１
と１０−プ６との相対移動の方向（被検査材１０局面に
沿った螺旋方向）と交差する方向に並べられている。８
はプローブ６における励振信号の入力端（独立端子の形
に構成される場合も、或いは単なるリード線の形で構成
される場合もある）で、前記各プローブ要素７ａ〜７ｄ
Ｋおける励振信号の入力点９８〜９ｄが直列に接続しで
ある。１０はプローブ６における傷信号の出力端で、前
記入力端８と同様に構成されておシ、前記多数の１０−
プ要素７ａ〜７ｄにおける傷信号の出力点１１Ｂ −１
１ｄが並列接続しである。次に上記プローブ要素７ａ〜
７ｄは特に第４図に明示される様に構成されている。尚
各１０−プ要素Ｉ／′ｉ総て均等の構成である為第４図
においては英文字の添字ａ −、−ｄを省略して説明す
る。１２゜肋は磁極、１４ 、１５はそれらに大々巻か
れた検出コイルで、相互に差動接続されておシ、それら
のコイルの一端及び他端が前記出力点■となっている。
鋼材その他種々の金属材料があシ、また図において右方
（左方でも可）へ向けて移送されるものである。２は探
傷装置を示す。この装置において、３は回動装置、４は
回動枠で、回動装置３によって上記被検査材１の周囲を
回動し得る様になっている。５は枠４に取付けられたシ
リンダで、その進退杆５ａＫは１０−プ６が取付けられ
ておシ、進退杆５＆の進退によって１０−プ６を被検葺
材ＩＫ近づけたシ遠ざけたシできる様になっている。上
記プローブ６において、７ ’ ＋ ７ ｂ−７ｏ、７
ｄは大々１０−プ要素を示し、上記被検査材１の移送方
向に並べられている。即ち、回動枠４の回動によって１
０−プ６が被検査材１の回シを回動する時の被検査材１
と１０−プ６との相対移動の方向（被検査材１０局面に
沿った螺旋方向）と交差する方向に並べられている。８
はプローブ６における励振信号の入力端（独立端子の形
に構成される場合も、或いは単なるリード線の形で構成
される場合もある）で、前記各プローブ要素７ａ〜７ｄ
Ｋおける励振信号の入力点９８〜９ｄが直列に接続しで
ある。１０はプローブ６における傷信号の出力端で、前
記入力端８と同様に構成されておシ、前記多数の１０−
プ要素７ａ〜７ｄにおける傷信号の出力点１１Ｂ −１
１ｄが並列接続しである。次に上記プローブ要素７ａ〜
７ｄは特に第４図に明示される様に構成されている。尚
各１０−プ要素Ｉ／′ｉ総て均等の構成である為第４図
においては英文字の添字ａ −、−ｄを省略して説明す
る。１２゜肋は磁極、１４ 、１５はそれらに大々巻か
れた検出コイルで、相互に差動接続されておシ、それら
のコイルの一端及び他端が前記出力点■となっている。
論は励振コイｐで、その一端及び他端が前記入力点９と
なっている。尚上記検出コイル１４ 、１５の差動接続
は、励振コイル１６から発せられる磁束によって各検出
コイ／Ｌ’１４．１５が大々検出する信号が相互に打消
される様周知の如く行なわれている吃のである。次に１
７は周知の探傷回路で、前記１０−プ６の入力端８及び
出力端１０に大々接続されている。尚プローブ６は被検
査材１の周囲を回動し、（Ｂ１ 又探傷回路１７はその近傍に固定的に設けられるもので
ある為、上記接続は例えば回転トランスの様な回転部分
と固定部分との間で信号の伝達を行ない得る信号伝達手
段を用いて行なわれる。１８ 、１９は大々周知のマー
カー制御回路及びマーカーを示す。
なっている。尚上記検出コイル１４ 、１５の差動接続
は、励振コイル１６から発せられる磁束によって各検出
コイ／Ｌ’１４．１５が大々検出する信号が相互に打消
される様周知の如く行なわれている吃のである。次に１
７は周知の探傷回路で、前記１０−プ６の入力端８及び
出力端１０に大々接続されている。尚プローブ６は被検
査材１の周囲を回動し、（Ｂ１ 又探傷回路１７はその近傍に固定的に設けられるもので
ある為、上記接続は例えば回転トランスの様な回転部分
と固定部分との間で信号の伝達を行ない得る信号伝達手
段を用いて行なわれる。１８ 、１９は大々周知のマー
カー制御回路及びマーカーを示す。
次に上記構成のものの動作を説明する。まず被検査材１
は図示外の周知の移送装置によって矢印方向に移送され
ると共に１回動枠４がその回シを回動しプローブ６が被
検査材１の周囲を回動する。
は図示外の周知の移送装置によって矢印方向に移送され
ると共に１回動枠４がその回シを回動しプローブ６が被
検査材１の周囲を回動する。
この過程において、探傷回路１７からは周知の如く励振
信号が入力端８に向けて出力され各１０−プ要素７ａ〜
７ｄの励振コイＶが作動して被検査材１に向けて磁束が
発せられる。そして各プローブ要素７ａ〜７ｄの何れか
と対向する位置に被検査材ｌに存在する傷が到来すると
、その傷と対向した１０−プ要素から発せられる磁束が
影響を受ける。するとその１０−プ要素の検出コイＡ／
１４ 、 Ｍｌによ如、上紀傷の存在による上記磁束の
変動が検出され、その検出信号が傷信号として出力点Ｕ
か（４） ら出力端ｌＯに向けて送られる。その信号は出力端１０
から探傷回路１７に伝わり、回路１７においてはその信
号の判別が行なわれる。そして上記検出された傷が補修
（例えば研削）を要する傷である場合にはマーカー制御
回路１８に″信号が送られ、マーカー１９が作動して上
記検出された傷の存在する位置において被検葺材ＩＫマ
ークが付される。
信号が入力端８に向けて出力され各１０−プ要素７ａ〜
７ｄの励振コイＶが作動して被検査材１に向けて磁束が
発せられる。そして各プローブ要素７ａ〜７ｄの何れか
と対向する位置に被検査材ｌに存在する傷が到来すると
、その傷と対向した１０−プ要素から発せられる磁束が
影響を受ける。するとその１０−プ要素の検出コイＡ／
１４ 、 Ｍｌによ如、上紀傷の存在による上記磁束の
変動が検出され、その検出信号が傷信号として出力点Ｕ
か（４） ら出力端ｌＯに向けて送られる。その信号は出力端１０
から探傷回路１７に伝わり、回路１７においてはその信
号の判別が行なわれる。そして上記検出された傷が補修
（例えば研削）を要する傷である場合にはマーカー制御
回路１８に″信号が送られ、マーカー１９が作動して上
記検出された傷の存在する位置において被検葺材ＩＫマ
ークが付される。
次に上記の様に１０−プ要素７ａ〜７ｄＫよシ傷が検出
される場合の様子を第５図乃至第７図を用いて更に説明
する。尚第５図においてＷけ前記四つの１０−プ要素７
ａ〜７ｄＫよって探傷が行なわれる幅（被検査材１０局
面の一部）を示し、第５図においてはプローブ要素７ａ
〜７ｄの回動によって、それらの１０−プ要素に対し被
検査材１の周面が矢印Ｘ方向に相対移動するものとする
、この状態において被検査材ｌの表面に存在する傷りが
例えば１０−プ要素７ｂと対向する位置に来たものとす
る。するとそのプローブ要素７ｂは傷ツの到来を検出し
て第６図に示す如く傷信号加を出力する。一方傷２の到
来しなかった他のブローブ要素７＆ｅ７（３＠７ｄは第
６図に示す如く大々僅かなノイズ刀を出力しているのみ
である。各１０−プ要素７＆〜７ｄが上記のような信号
を出力すると、それらの出力点１１ Ｂ −１１ｄは出
力端１ｏに対して相互に並列接続しである為、出力端１
ｏからは第７図に示される如き信号が出方される。即ち
、傷信号加はプローブ要素７ｂから到来した高レベルの
ままで出力され、又ノイズ〃はそのレベルが増大するこ
となく出力される。即ちＳＮ比の良好な信号が探傷回路
１７に向けて出力される。
される場合の様子を第５図乃至第７図を用いて更に説明
する。尚第５図においてＷけ前記四つの１０−プ要素７
ａ〜７ｄＫよって探傷が行なわれる幅（被検査材１０局
面の一部）を示し、第５図においてはプローブ要素７ａ
〜７ｄの回動によって、それらの１０−プ要素に対し被
検査材１の周面が矢印Ｘ方向に相対移動するものとする
、この状態において被検査材ｌの表面に存在する傷りが
例えば１０−プ要素７ｂと対向する位置に来たものとす
る。するとそのプローブ要素７ｂは傷ツの到来を検出し
て第６図に示す如く傷信号加を出力する。一方傷２の到
来しなかった他のブローブ要素７＆ｅ７（３＠７ｄは第
６図に示す如く大々僅かなノイズ刀を出力しているのみ
である。各１０−プ要素７＆〜７ｄが上記のような信号
を出力すると、それらの出力点１１ Ｂ −１１ｄは出
力端１ｏに対して相互に並列接続しである為、出力端１
ｏからは第７図に示される如き信号が出方される。即ち
、傷信号加はプローブ要素７ｂから到来した高レベルの
ままで出力され、又ノイズ〃はそのレベルが増大するこ
となく出力される。即ちＳＮ比の良好な信号が探傷回路
１７に向けて出力される。
尚上記実施例においては各１０−プ要素の励振コイル１
６が入力端８に対して直列接続しである為、各１０−プ
要素７ａ〜７ｄの各々の特性に製作上のばらつきがあっ
ても、それらの１０−プ要素における各励振コイル１６
には総て同位相の励振信号が与えられる。従って、各１
０−プ要素７ａ〜７ｄの各々の出力点１１ Ｂ −１１
ｄから出力された信号は一つの探傷回路１７でもって同
一の処理を行なうととができる。尚上記各１０−プ要素
７ａ〜７ｄの特性が総て同一の場合にはそれらの入方点
は上記入力端８に並列接続してもよい。
６が入力端８に対して直列接続しである為、各１０−プ
要素７ａ〜７ｄの各々の特性に製作上のばらつきがあっ
ても、それらの１０−プ要素における各励振コイル１６
には総て同位相の励振信号が与えられる。従って、各１
０−プ要素７ａ〜７ｄの各々の出力点１１ Ｂ −１１
ｄから出力された信号は一つの探傷回路１７でもって同
一の処理を行なうととができる。尚上記各１０−プ要素
７ａ〜７ｄの特性が総て同一の場合にはそれらの入方点
は上記入力端８に並列接続してもよい。
次に第８図は本願の異なる実施例を示すもので、複数の
１０−プ要索７ ａｅ 、 ７ ｂｅ 、 ７ ａｓを
相互間に間隔をおいて配設した例を示すものである。
１０−プ要索７ ａｅ 、 ７ ｂｅ 、 ７ ａｓを
相互間に間隔をおいて配設した例を示すものである。
尚それらの１０−プ要素の配設間隔は、検出を必要とす
る程度の大きさの傷が到来した場合にその傷が何れかの
１０−プ要素によって検出され得る様に定めるとよい。
る程度の大きさの傷が到来した場合にその傷が何れかの
１０−プ要素によって検出され得る様に定めるとよい。
なお、機能上前図のものと同−又は均等構成と考えられ
る部分には、前回と同一の符号にアルファベットのｅを
付して重複する説明を省略した。（また次回以降のもの
においても順次同様の考えでアＶファベットのｆ、ｇ、
ｈを順に付して重複する説明を省略する。） 次に第９図は本願の更に異なる実施例を示すもので、複
数の１０−プ要素７ａｆ〜７ｅｆを千鳥状に配設した例
を示すものである。尚この第９図においてプローブと被
検査材との相対移動の方向は矢印Ｘｆで示す方向である
。
る部分には、前回と同一の符号にアルファベットのｅを
付して重複する説明を省略した。（また次回以降のもの
においても順次同様の考えでアＶファベットのｆ、ｇ、
ｈを順に付して重複する説明を省略する。） 次に第９図は本願の更に異なる実施例を示すもので、複
数の１０−プ要素７ａｆ〜７ｅｆを千鳥状に配設した例
を示すものである。尚この第９図においてプローブと被
検査材との相対移動の方向は矢印Ｘｆで示す方向である
。
この構成の場合、複数の１０−プ要素の縁部が符（ｌ）
号幻で示す様に上記相対移動の方向Ｘｆに対して重合す
る様に配列するととｋよシ、その重合部分においては二
つの１０−プ要素によって被検査材の探傷が行なわれる
。その為、各プローブ要素がその縁部においては傷の検
出感度が低下する性質があって本、傷を見落すことなく
検出することが可能となる。
る様に配列するととｋよシ、その重合部分においては二
つの１０−プ要素によって被検査材の探傷が行なわれる
。その為、各プローブ要素がその縁部においては傷の検
出感度が低下する性質があって本、傷を見落すことなく
検出することが可能となる。
次に第１０図及び第１１図は本願の更に異なる実施例を
示すもので、複数の１０−プロｇ、ａｈを被検査材の周
囲を取如囲むよう大々固定的に設け、それらの１０−プ
に対して被検査材１ｇ、ｌｈを夫々の軸線方向（図にお
いて紙面と垂直な方向）Ｋ移動させることによって、そ
れらの被検査材の局面全域での傷の検出を行ない得る様
にした例を示すものである。尚ツは通常の単独構成のプ
ローブを示す。
示すもので、複数の１０−プロｇ、ａｈを被検査材の周
囲を取如囲むよう大々固定的に設け、それらの１０−プ
に対して被検査材１ｇ、ｌｈを夫々の軸線方向（図にお
いて紙面と垂直な方向）Ｋ移動させることによって、そ
れらの被検査材の局面全域での傷の検出を行ない得る様
にした例を示すものである。尚ツは通常の単独構成のプ
ローブを示す。
以上のようにこの発明にあっては、
Ｕ）被検査材１を探傷する場合、被検査材１に対し相対
移動してその表面を渦流探傷し、傷の有無を１０−プ６
で検知して傷のあったときには傷信号（８） を出力できる特長がある。
移動してその表面を渦流探傷し、傷の有無を１０−プ６
で検知して傷のあったときには傷信号（８） を出力できる特長がある。
（ロ）しかも上記１０−プ６は上記相対移動の方向と交
差する方向に並設された複数の１０−プ要素７８〜７ｄ
を有するから、上記探傷の場合、一度の相対移動でその
移動方向に対して広幅な範囲を探傷でき、能率良く探傷
作業を行ない得る効果がある。
差する方向に並設された複数の１０−プ要素７８〜７ｄ
を有するから、上記探傷の場合、一度の相対移動でその
移動方向に対して広幅な範囲を探傷でき、能率良く探傷
作業を行ない得る効果がある。
（ハ）その上上記複数のプローブ要素７ａ〜７ｄによっ
て広幅な範囲を探傷できるようにしたものであっても、
それらの１０−プ要素の各出力点は並列接続しているか
ら、それらのうちのいずわが１または複数の１０−プ要
紫が傷を検出した場合、それらが夫々傷を検出して得た
傷信号は単一の１０−プ要素の場合と同等の高レベルで
取シ出すことができる一方、各１０−プ要素７ａ〜７ｄ
がら生ずるノイズ４単−の１０−プ要素の場合と同程度
の低いレベルで取郵出すことのできる特長がある。
て広幅な範囲を探傷できるようにしたものであっても、
それらの１０−プ要素の各出力点は並列接続しているか
ら、それらのうちのいずわが１または複数の１０−プ要
紫が傷を検出した場合、それらが夫々傷を検出して得た
傷信号は単一の１０−プ要素の場合と同等の高レベルで
取シ出すことができる一方、各１０−プ要素７ａ〜７ｄ
がら生ずるノイズ４単−の１０−プ要素の場合と同程度
の低いレベルで取郵出すことのできる特長がある。
とのことは、広幅な範囲を８Ｎ比高く探傷できる効果が
あるその上に、複数の１０−プ要素を備えていても、極
めて高価な探傷回路は単一１０−プの場合と同じ１台で
良く、設備費用を安価なものにし得る効果もある。
あるその上に、複数の１０−プ要素を備えていても、極
めて高価な探傷回路は単一１０−プの場合と同じ１台で
良く、設備費用を安価なものにし得る効果もある。
図面は本願の実施例を示すもので、第１図は探傷装置の
側面図、第２図は探傷装置のブロック回路図、第８図は
グローブ要素と探傷回路との接続関係を示す回路図（プ
ローブ要素に関しては第２図と同方向から見た状態を示
した）、第４図は１０−プ要素の正面図（被検査材と対
向する面の側から見た状態を示す図）、第５図は複数の
１０−プ要素による被検査材の傷の検出状態を説明する
為の平面図、第６図はプローブ要素の出力信号波形図、
第７図はプローブの出力端における出力信号波形図、第
８図はプローブ要素の配列状態の異なる例を示す図（第
８図と同方向から見た図）、第９図はプローブ要素の配
列状態の更に異なる例を示す図（第５図と同方向から見
た状態を示す図）、第１０図及び第１１図は１０−プ要
素の配列状態の更に異なる例を示す図。 １・・・被検査材、６°°°プローブ・７ａ・７ｂ、７
０ ＠７ｄ−−・７０−７”要素、１０−−−出力端、
ｕａ、ｌｌｂ、１１１．１１ａ、 ・−出力点。 （１１）
側面図、第２図は探傷装置のブロック回路図、第８図は
グローブ要素と探傷回路との接続関係を示す回路図（プ
ローブ要素に関しては第２図と同方向から見た状態を示
した）、第４図は１０−プ要素の正面図（被検査材と対
向する面の側から見た状態を示す図）、第５図は複数の
１０−プ要素による被検査材の傷の検出状態を説明する
為の平面図、第６図はプローブ要素の出力信号波形図、
第７図はプローブの出力端における出力信号波形図、第
８図はプローブ要素の配列状態の異なる例を示す図（第
８図と同方向から見た図）、第９図はプローブ要素の配
列状態の更に異なる例を示す図（第５図と同方向から見
た状態を示す図）、第１０図及び第１１図は１０−プ要
素の配列状態の更に異なる例を示す図。 １・・・被検査材、６°°°プローブ・７ａ・７ｂ、７
０ ＠７ｄ−−・７０−７”要素、１０−−−出力端、
ｕａ、ｌｌｂ、１１１．１１ａ、 ・−出力点。 （１１）
Claims (1)
- 被検査材に対し相対移動して被検査材の表面に存在する
傷を渦流探傷すると共に、探傷して得た傷信号を出力端
から探傷回路に向は出方するようにしている渦流探傷用
プローブにおいて、上記渦流探傷用１０−プは、大々被
検査材を個々に渦流探傷すると共和その探傷によル得た
傷信号を各々の出力点から出力するようＫした複数の１
０−プ要素を有し、しかもそれらの１０−プ要素は上記
相対移動の方向と交差する方向に並設しであると共ｋ、
各々の１０−プ要素の出力点は上記出方端に並列接続し
であることを特徴とする渦流探傷用プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58181439A JPS6071947A (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | 渦流探傷用プロ−ブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58181439A JPS6071947A (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | 渦流探傷用プロ−ブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6071947A true JPS6071947A (ja) | 1985-04-23 |
Family
ID=16100786
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58181439A Pending JPS6071947A (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | 渦流探傷用プロ−ブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6071947A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2681430A1 (fr) * | 1991-09-12 | 1993-03-19 | Valtubes | Dispositif de controle non destructif de produits longs metalliques de revolution et procede pour sa mise en óoeuvre. |
| JPH05232087A (ja) * | 1992-02-21 | 1993-09-07 | Nkk Corp | 磁気探傷装置 |
-
1983
- 1983-09-29 JP JP58181439A patent/JPS6071947A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2681430A1 (fr) * | 1991-09-12 | 1993-03-19 | Valtubes | Dispositif de controle non destructif de produits longs metalliques de revolution et procede pour sa mise en óoeuvre. |
| JPH05232087A (ja) * | 1992-02-21 | 1993-09-07 | Nkk Corp | 磁気探傷装置 |
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