JPS6073482A - シンチレ−シヨンカメラ - Google Patents
シンチレ−シヨンカメラInfo
- Publication number
- JPS6073482A JPS6073482A JP18328683A JP18328683A JPS6073482A JP S6073482 A JPS6073482 A JP S6073482A JP 18328683 A JP18328683 A JP 18328683A JP 18328683 A JP18328683 A JP 18328683A JP S6073482 A JPS6073482 A JP S6073482A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- correction
- signal
- uniformity
- nonuniformity
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は、被写体から放射される放射線を２次元放射
線位置検出器で検出して被写体中に分布する放射性物質
の分ＩＩｉ画像を撮影するためのシンチレーションカメ
ラの改良に関する。
線位置検出器で検出して被写体中に分布する放射性物質
の分ＩＩｉ画像を撮影するためのシンチレーションカメ
ラの改良に関する。
（ロ）従来技術
シンチレーションカメラでは不均一性がひとつの問題で
あるが、この不均一性の原因は七に位置による固有のエ
ネルギレベルの変動および空間的非直線性等である。従
来より、これらの原因を除き、不均一性を改善すること
が種々提案されてＩ７Ｘる（特公昭５６−８６３７７号
公報および特公昭５６−８６３７８号公報′４参照）。
あるが、この不均一性の原因は七に位置による固有のエ
ネルギレベルの変動および空間的非直線性等である。従
来より、これらの原因を除き、不均一性を改善すること
が種々提案されてＩ７Ｘる（特公昭５６−８６３７７号
公報および特公昭５６−８６３７８号公報′４参照）。
しかしながら、これらの従来のものではいずれも、均一
・性を最良のものとするためには、直線性をある程度犠
牲にし、直線性の最も良い状態より少し悪い状態に保持
する必要があった。また、特に多核種、多重エネルギで
は、エネルギ補正、直線性補正してもなお単一エネルギ
、ｌ核種のときと比べて良好な均一性をソ１することが
困難である。これらとは別に特公昭５２−１３７１８０
号公報が均一性の改善について述べているが、この場合
には、均一性補正する前の段階で得られた計数率に比へ
て必ず少ない計数率しか得られないという欠点がある。
・性を最良のものとするためには、直線性をある程度犠
牲にし、直線性の最も良い状態より少し悪い状態に保持
する必要があった。また、特に多核種、多重エネルギで
は、エネルギ補正、直線性補正してもなお単一エネルギ
、ｌ核種のときと比べて良好な均一性をソ１することが
困難である。これらとは別に特公昭５２−１３７１８０
号公報が均一性の改善について述べているが、この場合
には、均一性補正する前の段階で得られた計数率に比へ
て必ず少ない計数率しか得られないという欠点がある。
（ハ）目的
この発明は、直線性の最も良い状態を保持しながら均一
性を最良のものとし、しかも胴欲率特性の劣化を招くこ
ともないシンナレーションカメラを提供することを目的
とする。
性を最良のものとし、しかも胴欲率特性の劣化を招くこ
ともないシンナレーションカメラを提供することを目的
とする。
（ニ）構成
この発明によるシンチレーションカメラでは、あらかじ
め、直線性補正およびエネルギ補正の各補正を受けた後
書られる位置信号およびアンプランク信号を用いて各位
置での不均一性を実測し、各位置での不均一性が平均値
より高い側に生じているか低い側に生じているかとその
不均一性の程関する補正情報を不均一性補正メモリに記
ｔＣさせておき、被写体の撮影時に得られる位置信号に
よりアドレス指定することによってその位置での補正情
報を読出し、不均一性が平均値より一高い側の場合には
その不均一性の比率に対応する確率で位置信号およびア
ンプランク信号を出さないようにするとともに、不均一
性が平均値より低い側の場合にはその不均一性の比率に
対応する確率で新たに位置信号およびアンプランク信号
をつけ加えるようにしている。
め、直線性補正およびエネルギ補正の各補正を受けた後
書られる位置信号およびアンプランク信号を用いて各位
置での不均一性を実測し、各位置での不均一性が平均値
より高い側に生じているか低い側に生じているかとその
不均一性の程関する補正情報を不均一性補正メモリに記
ｔＣさせておき、被写体の撮影時に得られる位置信号に
よりアドレス指定することによってその位置での補正情
報を読出し、不均一性が平均値より一高い側の場合には
その不均一性の比率に対応する確率で位置信号およびア
ンプランク信号を出さないようにするとともに、不均一
性が平均値より低い側の場合にはその不均一性の比率に
対応する確率で新たに位置信号およびアンプランク信号
をつけ加えるようにしている。
（ホ）￥施例
第１図において、２次元放射線位置検出器ｌに放射線が
入射すると、これから位置信号Ｘ、Ｙ、エネルギ信号お
よびアンプランク信号が生じ、これらが補正回路２に送
られる。補正回路２は、Ａ／Ｄ変換器、直線性補正回路
、エネルギ補正回路等を含み、＝れらの回路を経てアナ
ログ信号からデジタル信号に変換されかつ補正された位
置信号Ｘ゛、Ｙｏおよびアンプランク信号が出力される
。この位置信号Ｘ゛、Ｙｏおよびアンプランクイ１１す
は出力回路３およびホールドおよび出力回路４に送られ
る。位置信号Ｘ′、Ｙｏはこの実施例ではともに１２ビ
ツトとし、その−ヒ位６ビ・ンｉ・が不均一性補正メモ
リ５に送られてそのアドレスを指定する。つまりここで
は、不拘−竹補正は各画素の１つずつについて異なる補
正を施すのでなく、Ｂ４Ｘ６４の画素が含まれるブロッ
ク毎に行ない、同一ブロックに含まれる画素については
同一の補１Ｆを加えようというのである。こうしてアド
レス指定を受けた不均−性補ＩＦメモリ５からそのアド
レスに格納されていた補正情報が読出される。この実施
例では、この補正情報は８ヒツトであり、最上位桁の１
ビツトが出力回路３およびタイミング信号発生回路８に
送られ、下位の７ヒツＩ・か比較回路７に送られる。乱
数発生回路６はアンプランク４．１吟によってトリガさ
れて７ビツトの乱数を発生し、これを比較回路７に送る
。比較回路７は、これら２つの入力を比較し、乱数の方
が大きい場合に１”を出力し、逆の場合に“０°゛を出
力して、これらを出力回路３とタイミング信号発生回路
８に送る。出力回路３は不均一・性補止メモリ５から試
用された情報の最−ｌ：、（ｉγ桁が“ｌ“。
入射すると、これから位置信号Ｘ、Ｙ、エネルギ信号お
よびアンプランク信号が生じ、これらが補正回路２に送
られる。補正回路２は、Ａ／Ｄ変換器、直線性補正回路
、エネルギ補正回路等を含み、＝れらの回路を経てアナ
ログ信号からデジタル信号に変換されかつ補正された位
置信号Ｘ゛、Ｙｏおよびアンプランク信号が出力される
。この位置信号Ｘ゛、Ｙｏおよびアンプランクイ１１す
は出力回路３およびホールドおよび出力回路４に送られ
る。位置信号Ｘ′、Ｙｏはこの実施例ではともに１２ビ
ツトとし、その−ヒ位６ビ・ンｉ・が不均一性補正メモ
リ５に送られてそのアドレスを指定する。つまりここで
は、不拘−竹補正は各画素の１つずつについて異なる補
正を施すのでなく、Ｂ４Ｘ６４の画素が含まれるブロッ
ク毎に行ない、同一ブロックに含まれる画素については
同一の補１Ｆを加えようというのである。こうしてアド
レス指定を受けた不均−性補ＩＦメモリ５からそのアド
レスに格納されていた補正情報が読出される。この実施
例では、この補正情報は８ヒツトであり、最上位桁の１
ビツトが出力回路３およびタイミング信号発生回路８に
送られ、下位の７ヒツＩ・か比較回路７に送られる。乱
数発生回路６はアンプランク４．１吟によってトリガさ
れて７ビツトの乱数を発生し、これを比較回路７に送る
。比較回路７は、これら２つの入力を比較し、乱数の方
が大きい場合に１”を出力し、逆の場合に“０°゛を出
力して、これらを出力回路３とタイミング信号発生回路
８に送る。出力回路３は不均一・性補止メモリ５から試
用された情報の最−ｌ：、（ｉγ桁が“ｌ“。
でかつ比較回路７から“ｌ′信けが送られたときのみ出
力を禁止し、他の場合は補正回路２からの位置信号Ｘ’
、Ｙ’およびアンプランク信−づをそのまま出力する。
力を禁止し、他の場合は補正回路２からの位置信号Ｘ’
、Ｙ’およびアンプランク信−づをそのまま出力する。
タイミング信号発生回路８は不均一性補正メモリ５から
読出された情報の最−１−位桁が０゛°でかつ比較回路
７から１”信号が送られたときのみ出力をホールドおよ
び出力回路４・に送り、補正回路２からの位置信号Ｘ′
、Ｙｏおよびアンプランク信号を一定時間ホールドした
後出力させる。
読出された情報の最−１−位桁が０゛°でかつ比較回路
７から１”信号が送られたときのみ出力をホールドおよ
び出力回路４・に送り、補正回路２からの位置信号Ｘ′
、Ｙｏおよびアンプランク信号を一定時間ホールドした
後出力させる。
不均一性補正メモリ５はこの実施例ではＦＲＯＭ（プロ
グラマブル・リードΦオンリ・メモリ）でなり、この各
７トレスに記憶させるへき情報はつぎのようにしてきめ
る。ます、全面にわたって均一 な放射線０；ミを用い
、これを２次元放射線位置検出器ｌで検出する。補正回
路２かう得られる補正後の位置信号Ｘ′、Ｙｏおよびア
ンプランク信５−によれば、被写体が一様なのであるか
ら全面にわたって均一な画像が得られなければならない
。
グラマブル・リードΦオンリ・メモリ）でなり、この各
７トレスに記憶させるへき情報はつぎのようにしてきめ
る。ます、全面にわたって均一 な放射線０；ミを用い
、これを２次元放射線位置検出器ｌで検出する。補正回
路２かう得られる補正後の位置信号Ｘ′、Ｙｏおよびア
ンプランク信５−によれば、被写体が一様なのであるか
ら全面にわたって均一な画像が得られなければならない
。
ところが実際はどのように良好に補正したとしても不均
一性が残り、各位置でのカウント数Ｃは第２図のように
平均値Ｍに対して上下する。これを補正するには、Ｐ点
でのカウント数Ｃｐが平均値Ｍをオーバしているのであ
れば、オーバしている分の比率で、出力された位置信号
Ｘ′、Ｙ′およびアンプランク信号を間引けばよい。ま
た逆にＱ点でのカウント数Ｃｑが平均値Ｍより低いので
あればその低い分の比率で、出力された位置信号Ｘ′、
Ｙ′およびアンプランク信号に加えて、新たな位置信号
Ｘ′、Ｙ′およびアンプランク信号をつけ加えていけば
よい。そこでこの実施例では、平均値Ｍからの偏差の比
率に対応した確率で位置信号Ｘ′、Ｙ′およびアンプラ
ンク信号を間引いたりつけ加えたりしている。
一性が残り、各位置でのカウント数Ｃは第２図のように
平均値Ｍに対して上下する。これを補正するには、Ｐ点
でのカウント数Ｃｐが平均値Ｍをオーバしているのであ
れば、オーバしている分の比率で、出力された位置信号
Ｘ′、Ｙ′およびアンプランク信号を間引けばよい。ま
た逆にＱ点でのカウント数Ｃｑが平均値Ｍより低いので
あればその低い分の比率で、出力された位置信号Ｘ′、
Ｙ′およびアンプランク信号に加えて、新たな位置信号
Ｘ′、Ｙ′およびアンプランク信号をつけ加えていけば
よい。そこでこの実施例では、平均値Ｍからの偏差の比
率に対応した確率で位置信号Ｘ′、Ｙ′およびアンプラ
ンク信号を間引いたりつけ加えたりしている。
すなわち、位置（ｉ 、 Ｄでのカウント数ＣをＣｉｊ
とすれば、Ｃ４ｊ−Ｍが１丁のときは８ピ゛ツトの情報
の最上位桁を“ｌ゛°とし、残りの下位７桁は、 ＣＭ／Ｃｉ Ｄ Ｘ ｌ ２７ を整数化したＯ〜１２７の整数値とする。また、Ｃｉｊ
−ＭがＯまたは負のときは、最上位桁を°“０゛°とし
、残りの下位７桁は、 （（２Ｃ４ｊ−Ｍ）／Ｃｉ Ｎ Ｘ１２７を整数化した
Ｏ〜１２７の整数値とする。こうして得た補正情報を位
置（ｉ 、 ｊ）に対応するアドレスに書込む。
とすれば、Ｃ４ｊ−Ｍが１丁のときは８ピ゛ツトの情報
の最上位桁を“ｌ゛°とし、残りの下位７桁は、 ＣＭ／Ｃｉ Ｄ Ｘ ｌ ２７ を整数化したＯ〜１２７の整数値とする。また、Ｃｉｊ
−ＭがＯまたは負のときは、最上位桁を°“０゛°とし
、残りの下位７桁は、 （（２Ｃ４ｊ−Ｍ）／Ｃｉ Ｎ Ｘ１２７を整数化した
Ｏ〜１２７の整数値とする。こうして得た補正情報を位
置（ｉ 、 ｊ）に対応するアドレスに書込む。
このような書込みの終了した後、通常の被写体の撮影時
に、得られた位置性すＸ′、Ｙ′によりこの不均一性補
正メモリ５の（ｉ 、 ｊ）のアドレスか指定されたと
する。すると、このアｉ・レスに格納されていた情報が
読出され、このアドレスに対応する位置（ｉ 、 Ｄで
オーバ側に不均一性が４１、：しているものであれば最
」−位桁はｌ”となる。乱数発生回路６は７ビツトの乱
数つまりＯ〜１２７の整数のどれかをランダムに出力し
ている。したがって、」二記の読出された情報の下位７
桁とこの乱数とを比較し前者が後者より小になる確率は
オーバした分の比率に対応してりすることになる。そこ
で比較回路７から“１パが生じこれによって出力回路ｌ
が禁止される確率はオー／＜シた分の比率に対応する。
に、得られた位置性すＸ′、Ｙ′によりこの不均一性補
正メモリ５の（ｉ 、 ｊ）のアドレスか指定されたと
する。すると、このアｉ・レスに格納されていた情報が
読出され、このアドレスに対応する位置（ｉ 、 Ｄで
オーバ側に不均一性が４１、：しているものであれば最
」−位桁はｌ”となる。乱数発生回路６は７ビツトの乱
数つまりＯ〜１２７の整数のどれかをランダムに出力し
ている。したがって、」二記の読出された情報の下位７
桁とこの乱数とを比較し前者が後者より小になる確率は
オーバした分の比率に対応してりすることになる。そこ
で比較回路７から“１パが生じこれによって出力回路ｌ
が禁止される確率はオー／＜シた分の比率に対応する。
また、指定されたアドレスから読出された情報の最上位
桁が°“０パであれば、このアドレスに対応する位置（
ｉ 、 Ｄは低い側に不均一性が生じている場所である
ことになる。このとき読出された情報の下位７桁が乱数
より小となれば、比較回路７よりタイミング信号発生回
路８に“１′°かケ。
桁が°“０パであれば、このアドレスに対応する位置（
ｉ 、 Ｄは低い側に不均一性が生じている場所である
ことになる。このとき読出された情報の下位７桁が乱数
より小となれば、比較回路７よりタイミング信号発生回
路８に“１′°かケ。
えられ、また不均一性補正メモリ５からは最上位桁の０
″か与えられているので、このタイミング信−号発生回
路８から信号が生じ、これによりホールドおよび出力回
路４が動作させられる。したがってまず出力回路３から
位置信号Ｘ′、Ｙ′およびアンプランク信号が生じた後
、−夏時間経過してからホールドおよび出力回路４より
同じ位（ざ１信弓Ｘ’、Ｙ’−およびアンプランク信号
が生じる。そして読出された情報の下位７桁か乱数より
小となる確率は低い側にあられれた不均一性の程度の比
率に対応し、この確率で位置信号Ｘ゛、Ｙ′およびアン
プランク信号が新たにつけ加えられることになる。
″か与えられているので、このタイミング信−号発生回
路８から信号が生じ、これによりホールドおよび出力回
路４が動作させられる。したがってまず出力回路３から
位置信号Ｘ′、Ｙ′およびアンプランク信号が生じた後
、−夏時間経過してからホールドおよび出力回路４より
同じ位（ざ１信弓Ｘ’、Ｙ’−およびアンプランク信号
が生じる。そして読出された情報の下位７桁か乱数より
小となる確率は低い側にあられれた不均一性の程度の比
率に対応し、この確率で位置信号Ｘ゛、Ｙ′およびアン
プランク信号が新たにつけ加えられることになる。
こうして不均一に１補ｉ１Ｅを受けた後の位置性すＸ′
′、Ｙ“および゛アンブランク信号のカウント数Ｃは、
すへての位置で第２図の平均値Ｍに等しいものとなる。
′、Ｙ“および゛アンブランク信号のカウント数Ｃは、
すへての位置で第２図の平均値Ｍに等しいものとなる。
このように直線性補正およびエネルギ補正をした後で不
均一性補正を行なっているため、不均一性補正とは別個
に直線性補正およびエネルギ補正を最適なものとするこ
とができ、不均一性補止するため直線性等を犠牲にする
ことがない。また、計数率が不均一補正によって増減す
ることもなくなる。さらに直線性補ｉ［：およびエネル
ギ補正を従来に比して簡略化することも口ｆ能である。
均一性補正を行なっているため、不均一性補正とは別個
に直線性補正およびエネルギ補正を最適なものとするこ
とができ、不均一性補止するため直線性等を犠牲にする
ことがない。また、計数率が不均一補正によって増減す
ることもなくなる。さらに直線性補ｉ［：およびエネル
ギ補正を従来に比して簡略化することも口ｆ能である。
なお、上記の実施例で不拘−性補ＩＦメモリ５はＦＲＯ
Ｍで構成したが、ＲＡＭ （ランタム・アクセス・メモ
リ）で構成し、マイクロコンピュータ等で制御するよう
にしてもよい。また新たにつけ加える場合の位置信号は
もとの位置信号と回しものでなく、これに重みイ・］き
変ｉｆを加えたものとしてもよい。
Ｍで構成したが、ＲＡＭ （ランタム・アクセス・メモ
リ）で構成し、マイクロコンピュータ等で制御するよう
にしてもよい。また新たにつけ加える場合の位置信号は
もとの位置信号と回しものでなく、これに重みイ・］き
変ｉｆを加えたものとしてもよい。
（へ）効果
この発明によるシンナレーションカメラでは、直線性等
を劣化させることなく均一性を最良のものとすることが
できるとともに、計数率の増減もなく、優れた画像を撮
影することができる。
を劣化させることなく均一性を最良のものとすることが
できるとともに、計数率の増減もなく、優れた画像を撮
影することができる。
第１図はこの発明の一実施例のブロック図、第２Ｕ；ｌ
ｌは動作説明のため各位置でのカウント数Ｃをあられす
グラフである。 １・・・２次元放射線位置検出器 ？・・・補正回路３
・・・出力回路 ４・・・ホールトおよび出力回路５・
・・不均一性補正メモリ ６・・・乱数発生回路７・・
・比較回路 ８・・・タイミング信号発生回路出願人
株式会社島津製作所
ｌは動作説明のため各位置でのカウント数Ｃをあられす
グラフである。 １・・・２次元放射線位置検出器 ？・・・補正回路３
・・・出力回路 ４・・・ホールトおよび出力回路５・
・・不均一性補正メモリ ６・・・乱数発生回路７・・
・比較回路 ８・・・タイミング信号発生回路出願人
株式会社島津製作所
Claims (1)
- （１）２次元放射線位置検出器と、直線性補正回路と、
エネルギ補正回路とを含むシンチレーションカメラにお
いて、あらかしめ、上記各補圧を受けて得た位置信号お
よびアンプランク信号を用いて各位置での不均一性を実
測し、各位置での不均一性が平均値より高い側に生じて
いるか低い側に生しているかとその不均一性の程度が平
均値に対してどれだけの比率であるかとに関する補正情
報を不均一性補正メモリに記憶させておき、被写体の撮
影時に得られる位置信号によりアドレス指定することに
よってその位置での補正情報を読出し、不均一性が平均
値より高い側の場合にはその不均一性の比率に対応する
確率で位置信号およびアンプランク信号を出さないよう
にするとともに、不均一性が平均値より低い側の場合に
はその不均一性の比率に対応する確率で新たに位置信号
およびアンプランク信号をつけ加えるようにしたことを
特徴とするシンチレーションカメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18328683A JPS6073482A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | シンチレ−シヨンカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18328683A JPS6073482A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | シンチレ−シヨンカメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6073482A true JPS6073482A (ja) | 1985-04-25 |
| JPH0462034B2 JPH0462034B2 (ja) | 1992-10-02 |
Family
ID=16132990
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18328683A Granted JPS6073482A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | シンチレ−シヨンカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6073482A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52137180A (en) * | 1976-05-07 | 1977-11-16 | Ohio Nuclear | Device for correcting uniform dynamic flat of radioactive isotope camera |
| JPS54111879A (en) * | 1978-02-22 | 1979-09-01 | Toshiba Corp | Scintillation camera |
-
1983
- 1983-09-30 JP JP18328683A patent/JPS6073482A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52137180A (en) * | 1976-05-07 | 1977-11-16 | Ohio Nuclear | Device for correcting uniform dynamic flat of radioactive isotope camera |
| JPS54111879A (en) * | 1978-02-22 | 1979-09-01 | Toshiba Corp | Scintillation camera |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0462034B2 (ja) | 1992-10-02 |
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