JPS6077286A - Input device - Google Patents

Input device

Info

Publication number
JPS6077286A
JPS6077286A JP18642283A JP18642283A JPS6077286A JP S6077286 A JPS6077286 A JP S6077286A JP 18642283 A JP18642283 A JP 18642283A JP 18642283 A JP18642283 A JP 18642283A JP S6077286 A JPS6077286 A JP S6077286A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
relay
switch
opening
pulses
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18642283A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuo Arao
荒尾 和男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP18642283A priority Critical patent/JPS6077286A/en
Publication of JPS6077286A publication Critical patent/JPS6077286A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H47/00Circuit arrangements not adapted to a particular application of the relay and designed to obtain desired operating characteristics or to provide energising current

Landscapes

  • Relay Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

PURPOSE:To expand the operating life of an apparatus related to the opening/ closing mechanism of a switch and to improve the reliability of an input device by counting up pulses having a period based upon the quantity of electricity inputted through the switch and controlling the opening/closing of the switch in accordance with the counted value. CONSTITUTION:An amplifier 10 amplifies an input signal up to a prescribed value and outputs the amplified value to an output terminal 4 and a V/F converter 11. If the amplifier 10 generates an output Vi proportional to an analog signal, the converter 11 generates pulses at a period Ti corresponding to voltage Vi. The pulses are counted by a counter 12, and when the counted value reaches a set value N, a relay 6 and a sample holding circuit 9 are started. Since the relay 6 is driven at the time interval counting up the pulses generated in each period Ti up to an integer N, the opening/closing period of a relay contact 7 from the no input state is shortened.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] この発明は、電気信号を間欠的に取込む入力装置に関す
るもので、特に電気信号を計測する装置の入力段に設け
られるものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to an input device that intermittently takes in electrical signals, and particularly to one that is provided at an input stage of a device that measures electrical signals.

〔従来技術J 従来この種の入力装置として第1図に示すものカアった
。図において、(1)はアナログ信号の入力端子、(2
)は入力信号に含まれる雑音を除去するフィルター、(
3)はフィルター(2)の出力信号を増幅するアンプ、
(4)は出力端子で次段回路との接続端になる。(5)
は外部より入力されるスキャン信号の入力端子、(6)
はそのスキャン信号により駆動されるリレー、(7)l
−1:リレー(6)に応動して開閉するリレー接点であ
る。
[Prior Art J] A conventional input device of this type is the one shown in FIG. In the figure, (1) is the analog signal input terminal, (2
) is a filter that removes noise contained in the input signal, (
3) is an amplifier that amplifies the output signal of filter (2);
(4) is an output terminal and becomes a connection terminal with the next stage circuit. (5)
is the input terminal for the scan signal input from the outside, (6)
is a relay driven by the scan signal, (7)l
-1: Relay contact that opens and closes in response to relay (6).

次に動作について説明する。アナログ信号は入力端子(
1)からリレー接点(7)を介して入力され、フィルタ
ー(2)で雑音全除去された後に、アンプ(3)により
所定値に増幅されて出力端子(4)に出力される。
Next, the operation will be explained. The analog signal is input to the input terminal (
1) through the relay contact (7), and after all noise is removed by the filter (2), it is amplified to a predetermined value by the amplifier (3) and output to the output terminal (4).

このとき、リレー接点(7)は入力端子(5)から一定
周期で入力されているスキャン信号によりリレー(6)
が駆動している間のみ閉路となる。
At this time, the relay contact (7) is activated by the scan signal input from the input terminal (5) at a constant cycle.
The circuit is closed only while driving.

つまり、アナログ信号はスキャン信号に基づく一定時間
間隔でスキャンされ間欠的に取込捷れて所定値となって
出力される。
That is, the analog signal is scanned at fixed time intervals based on the scan signal, and is intermittently captured and output as a predetermined value.

従来の入力装置は以上のよう例アナログ信号が一定の時
間間隔でスキャンされる構成なので、入力のない時でも
リレーはスキャン周期で繰り返し動作され、リレーの動
作寿命に大きく影響を受けるため、装置の信頼度が低下
するなどの欠点があった。
Conventional input devices have a configuration in which analog signals are scanned at regular time intervals as described above, so even when there is no input, the relay is operated repeatedly at the scan cycle, which greatly affects the operating life of the relay, so the device's There were drawbacks such as decreased reliability.

[発明の概#1 この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するこ
とを目的になされたもので、入力される電気信号の量に
応じてスイッチの開閉周期を変えることにより、機器の
寿命を伸ばし信頼度の高い入力装置を提供する。
[Summary of the Invention #1 This invention was made with the purpose of eliminating the drawbacks of the conventional products as described above, and by changing the opening/closing cycle of the switch according to the amount of input electrical signals, the invention can be improved. To provide an input device with extended life and high reliability.

[発明の実施例] 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第2
図において、(8)は交流入力の一方の極性値を反転し
て同極性の信号さするバッファアンプ、(9)はサンプ
ルホールド回路、(10)Idオフセット電圧(入力信
号なしのときでも一定出力を維持する)を有し、入力信
号を増幅するアンプ、(11)は入力信号の大きさく量
)に比例した同期のパルスを発生する電圧/周波数・コ
ンバータ(以下V/Fコンバータと称する)、(12)
は入力されるパルスをカウントし、そのカウント値が設
定値に達すると出力を生じるとともにカウントをリセッ
トするカウンターで、その出方はりレー(6)とサンプ
ルホールド回路(9)へ供給される。
[Embodiment of the Invention] Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Second
In the figure, (8) is a buffer amplifier that inverts one polarity value of AC input and outputs a signal of the same polarity, (9) is a sample hold circuit, and (10) Id offset voltage (constant output even when there is no input signal). (11) is a voltage/frequency converter (hereinafter referred to as a V/F converter) that generates synchronous pulses proportional to the magnitude of the input signal (11); (12)
is a counter that counts input pulses and when the count value reaches a set value, generates an output and resets the count, and the output is supplied to the relay (6) and the sample-and-hold circuit (9).

次に実施例の動作について説明する。入力端子(1)か
らのアナログ入力がない時、サンプルホール1’ 回@
 (9)は出力しないが、アンプ(1o)は自己ノオフ
セット電圧により一定出方ヤ0を維持している。
Next, the operation of the embodiment will be explained. When there is no analog input from input terminal (1), sample hole 1' times @
(9) does not output, but the amplifier (1o) maintains a constant output value of 0 due to its own offset voltage.

v / Fコンバータ(11)はアンプ(10)の一定
出方しに応じた一定周期Toでパルスを発生する。この
パルスをカウントしそのカウント値が設定値N(例えば
N−100)に達すると、カウンター(12)けりレー
(6)にスキャン信号を供給するとともに、サンプルホ
ールド回路(9)を駆動して自己のカウントをリセット
する。つまり、入力がない状態では、周期Toで発せら
れるパルスをNまでカウントする時 ′間間隔でリレー
(6)はF#AwJシ、リレー(6)に応動して接点(
7)が間欠動作している。このとき、Nの設定はリレー
(6)の動作寿命、アナログ信号の発生状態、入力装置
の次段に接続される計測装置の計測信頼度等の設計仕様
に基づいて定められる。また、サンプルホールド回路(
9)はリレー接点(7)の開閉に同期すべくカウンター
(12)に制御されている。
The v/F converter (11) generates pulses at a constant period To according to the constant output of the amplifier (10). When these pulses are counted and the count value reaches a set value N (for example, N-100), a scan signal is supplied to the counter (12) and the relay (6), and the sample and hold circuit (9) is driven. reset the count. In other words, when there is no input, the relay (6) responds to F#AwJ and contacts (
7) is operating intermittently. At this time, the setting of N is determined based on design specifications such as the operating life of the relay (6), the generation state of the analog signal, and the measurement reliability of the measuring device connected to the next stage of the input device. In addition, the sample and hold circuit (
9) is controlled by a counter (12) in synchronization with the opening and closing of the relay contact (7).

次に、入力がある場合、アナログ信号は入力端子(1)
からリレー接点(7)を介して入力され、フィルター(
2)で雑音を除去された後に、バッファアンプ(8)で
一方の極性値が反転され同極性の信号に変換される。サ
ンプルホールド回路(9)はカウンタ−(12)の出力
で制御され、バッファアンプ(8)の出力信号を一定値
にホールドしてアンプ(10)に導出する。アンプ(1
0)は入力信号を所定値に増巾して出力端子(4)に出
力するとともにV/Fコンバータ(11)に出力する。
Next, if there is an input, the analog signal will go to the input terminal (1)
is input through the relay contact (7) from the filter (
After noise is removed in step 2), one polarity value is inverted in the buffer amplifier (8) and converted into a signal of the same polarity. The sample and hold circuit (9) is controlled by the output of the counter (12), holds the output signal of the buffer amplifier (8) at a constant value, and outputs it to the amplifier (10). Amplifier (1
0) amplifies the input signal to a predetermined value and outputs it to the output terminal (4) and also to the V/F converter (11).

今、アンプ(10)がアナログ信号に比例した出力Vi
□Vo)を導出すると、V/Fコンバータ(11)はv
lに応じた周期Ti(<To)でパルスを発生する。こ
のパルスはカウンター(12)でカウントされ設定値N
に達すると、リレー(6)とサンプルホールド回路(9
)に起動が掛かる。つまり、同期Tiで発せられるパル
反をNtでカウントする時間間隔でリレー(6)は駆動
するから、入力なしの状態からリレー(6)、即ちリレ
ー接点(7)の開閉同期けD・O に短縮されたことになる。
Now, the amplifier (10) outputs Vi proportional to the analog signal.
□Vo), the V/F converter (11) is v
A pulse is generated at a period Ti (<To) according to l. This pulse is counted by a counter (12) and set value N
When reaching , the relay (6) and sample hold circuit (9
) will start. In other words, since the relay (6) is driven at the time interval in which the pulse reaction generated by the synchronization Ti is counted by Nt, the relay (6), that is, the opening and closing synchronization of the relay contact (7) from a state with no input, D.O. It will be shortened.

この実施例ではアナロジ兎増加するに従って、パルスの
発生周期は早くなるので、リレー(6)の駆動間隔が短
くなり、またアナログ入力が減少すると、それに伴ない
一連の動作は遅くなる。そして、入力がない時は、許せ
る最大限の時間間隔でリレー(6)は駆動する。
In this embodiment, as the analog input increases, the pulse generation period becomes faster, so the drive interval of the relay (6) becomes shorter, and as the analog input decreases, the series of operations becomes slower. When there is no input, the relay (6) is driven at the maximum allowable time interval.

従って、入力電気量に応じたリレー(6)の可変駆動が
行なえることになるので、リレー(6)の動作寿命を延
長でき、故に、装置の信頼度が向上することになる。さ
らに、入力装置の次段にある計測装置は、アナログ信号
、即ち被計測値の発生状態に応じて、リレー接点(7)
の開閉周期、即ち計測回数を調整できることになるので
精密なデータ計測が可能になるという効果を奏する。
Therefore, the relay (6) can be driven variably according to the amount of input electricity, so the operating life of the relay (6) can be extended, and the reliability of the device can therefore be improved. Furthermore, the measuring device at the next stage of the input device connects the relay contact (7) depending on the generation state of the analog signal, that is, the measured value.
Since the opening/closing cycle, that is, the number of measurements can be adjusted, it is possible to measure data accurately.

なお、上記実施例ではカウンター(12)の機能を入力
パルスのカウント値が設定値に達したら出方を生ずると
いう出力の時間を調整するものとしたが、所定時間を設
定し該当時間内にカウントされるパルス数に層じて出力
を生ずるようにしてもよい。例えば、入力なしの状態で
所定時間にnoパルスをカウントとしてリレー(6)に
to同期のスキャン信号を発生する。そして、入力があ
り所定時間にniパルスをカウントすればリレー(6)
に供給するスキャン信号の周期を−・toとする。ただ
し、この1 場合、カクンター(12)の出力は所定時間のカウント
値が変化しない限り一定のスキャン信号としなければな
らない。
In the above embodiment, the function of the counter (12) is to adjust the output time to generate an output when the count value of the input pulse reaches a set value. The output may be produced in layers depending on the number of pulses applied. For example, in a state where there is no input, a NO pulse is counted at a predetermined time and a TO synchronized scan signal is generated to the relay (6). Then, if there is an input and ni pulses are counted in a predetermined time, the relay (6) is activated.
Let the cycle of the scan signal supplied to the terminal be -.to. However, in this case, the output of the kakunter (12) must be a constant scan signal as long as the count value for a predetermined period of time does not change.

また、上記実施例ではスイッチとしてリレー接点(7)
を用いたが、これに限られることはなく半導体スイッチ
等であっても同様な効果を奏する。このとき、リレー(
6)を半導体スイッチの駆動回路として上記説明を読み
換えればよい。
In addition, in the above embodiment, a relay contact (7) is used as a switch.
However, the present invention is not limited to this, and the same effect can be achieved even if a semiconductor switch or the like is used. At this time, the relay (
The above description can be read as 6) as a drive circuit for a semiconductor switch.

〔発明の効果1 以−ヒのようにこの発明によれば、スイッチを介して入
力される電気量に基づいた周期のパルスをカウントし、
そのカウント値に応じてスイッチの開閉を制御するよう
に構成したので、電気量が増加すればスイッチの開閉周
期を早め、電気量が減少すればスイッチの開閉同期を遅
らせるこ七が町の 能となり、スイッチの開閉機構に係れる機器の動作寺命
を仲はし高信頼度の入力装置h′が得られる効果がある
[Effect of the Invention 1] According to the present invention, as shown in FIG.
The structure is such that the opening and closing of the switch is controlled according to the count value, so when the amount of electricity increases, the opening and closing cycle of the switch is accelerated, and when the amount of electricity decreases, the synchronization of the opening and closing of the switch is delayed. This has the effect that a highly reliable input device h' can be obtained by intervening the operation of equipment related to the switch opening/closing mechanism.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来の入力装置を示すブロック図、第2図はこ
の発明の一実施例である入力装置を示すブロック図であ
るっ 図において、(1)は入力端子、(4)は出力端子、(
6)はリレー、(7)はリレー接点、(10)はオフセ
ット電圧付きのアンプ、(11)はV/Fコンバータ、
(12)はカクンクーである。 図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 代 理 人 大 岩 増 雄
Fig. 1 is a block diagram showing a conventional input device, and Fig. 2 is a block diagram showing an input device which is an embodiment of the present invention. In the figures, (1) is an input terminal, and (4) is an output terminal. ,(
6) is a relay, (7) is a relay contact, (10) is an amplifier with offset voltage, (11) is a V/F converter,
(12) is cackling. In the figures, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts. Agent Masuo Oiwa

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (])スイッチを介して入力される電気量に基づいた同
期のパルスを発生する手段と、この手段により発生され
るパルスをカウントし、そのカウント値に応じて上記ス
イッチの開閉を制御する手段とを備えた入力装置。 (2)スイッチの開閉を制御する手段は、ノ(7レスを
カウントしそのカウント値が設定値に達すると出力を生
じるカウンターと、このカウンターの出力に応じてスイ
ッチを開閉するリレーから成ることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記戦の入力装置W。
[Scope of Claims] (]) Means for generating synchronous pulses based on the amount of electricity input through the switch, and counting the pulses generated by the means, and controlling the switch according to the count value. An input device comprising means for controlling opening and closing. (2) The means for controlling the opening and closing of the switch consists of a counter that counts 7 responses and produces an output when the count value reaches a set value, and a relay that opens and closes the switch according to the output of this counter. An input device W characterized by the feature set forth in claim 1.
JP18642283A 1983-10-03 1983-10-03 Input device Pending JPS6077286A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18642283A JPS6077286A (en) 1983-10-03 1983-10-03 Input device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18642283A JPS6077286A (en) 1983-10-03 1983-10-03 Input device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6077286A true JPS6077286A (en) 1985-05-01

Family

ID=16188146

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18642283A Pending JPS6077286A (en) 1983-10-03 1983-10-03 Input device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6077286A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS638428B2 (en)
JPS6077286A (en) Input device
JPH0245824Y2 (en)
US4527907A (en) Method and apparatus for measuring the settling time of an analog signal
JP2555699B2 (en) Pulsed partial discharge measurement circuit
SU1200202A1 (en) Apparatus for inspecting loading capability of linear spectrometric amplifiers
JP2598710B2 (en) IC input threshold measurement device
SU1370614A1 (en) Device for automatic measurement of amplitude-frequency characteristic parameters of four-terminal network
JPH0362051B2 (en)
JPH0373882A (en) Radiation measuring device
SU1752347A1 (en) Device for measuring pulse rate
RU1780053C (en) Device for nondestructive inspection of electric circuit insulation strength
SU974105A1 (en) Strain gauge device
SU1670670A1 (en) Device for measuring time of contacting of camera synchronous contact
SU661381A2 (en) Frequrncy sensor
SU1739362A1 (en) Device for measuring time intervals
JPS55112544A (en) Sample break detection unit in test machine
SU1180822A1 (en) Device for erasure testing of equipment
RU2046356C1 (en) Analyzer of envelope of signal of three-phase supply line
JPS6388474A (en) Tester for semiconductor logical device
JPH0317275Y2 (en)
SU409147A1 (en) DEVICE FOR MEASURING TRANSIENT PROCESSES
SU1465837A1 (en) Method of testing integrated circuits
SU1401412A1 (en) Device for inspection of switches
JP2837451B2 (en) Measurement timing generator for electron beam tester