JPS6080238A - パツケ−ジ型回路素子の検査装置 - Google Patents

パツケ−ジ型回路素子の検査装置

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JPS6080238A
JPS6080238A JP58189015A JP18901583A JPS6080238A JP S6080238 A JPS6080238 A JP S6080238A JP 58189015 A JP58189015 A JP 58189015A JP 18901583 A JP18901583 A JP 18901583A JP S6080238 A JPS6080238 A JP S6080238A
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JP
Japan
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circuit element
positioning member
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positioning
packaged circuit
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JP58189015A
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Inventor
Teruo Watanabe
照雄 渡辺
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Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
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    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P74/00—Testing or measuring during manufacture or treatment of wafers, substrates or devices

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はパッケージ型回路素子の検査装置に関する。
品質保証性に優れ且つ経済性に富んだIC,LSI等の
回路素子を製造するためには、正確且つ迅速な検査が重
要である。ところが、実装密度が高くて端子数も多いパ
ッケージ型回路素子、その内でもフラットパッケージ型
回路素子(FPE)においてはその取扱い性に困難性を
伴なうことが多く、従来、必ずしも、効率的な検査を行
うことのできる装置はなかった。これは、パッケージ型
回路素子と検査回路との位置決め精度が厳密に要求され
るにもかかわらず、検査回路に供給する前段階としてパ
ッケージ型回路素子の位だ決めを正確に行なえ得る検査
装置がなかったからである。
特に、フラットパッケージ型回路素子では、その規格も
なく、回路素子の取扱い等を一層困難なものとさせてい
た。
本発明の目的は、パッケージ型回路素子を検査回路と接
続して検査する際のパッケージ型回路素子の位置決めを
1人手を煩わせることなく、容易旦つ正確に行うことの
できるパッケージ型回路素子の検査装置を提供すること
にある。
そのため本発明は、所定の検査位置に位置決めされたパ
ッケージ型回路素子の複数端子の夫々に検査回路を接続
して検査するパッケージ型回路素子の検査装置において
、パッケージ型回路素子を前記検査位置に正確に位置決
め保持する検査位置決め部材と、この検査位置決め部材
に先立ってパッケージ型回路素子を前記検査位置決め部
材による正確な位置決め範囲よりは広い所定の範囲内の
姿勢に位置決め保持する準備位置決め部材と。
を所定間隔だけ離れて配設し、かつ、パッケージ型回路
素子を着脱可能に吸着保持する吸Haが前記配設間隔と
等しい間隔で配されているとともに前記間隔を往復手段
により往復動されながらパッケージ型回路素子を前記間
隔毎に順次搬送する搬送装置を設け、この搬送装置によ
りパッケージ型回路素子を、まず、前記準備位置決め部
材にて、検査位置においてめられる位置決め範囲よりは
広い範囲に位置決めした後、次いで、前記検査位置決め
部材により正確な位置決めを行うようにし、別言すれば
、前記検査位置決め部材およびこれに先立つ準備位置決
め部材により少しづつ正確な位置決めを行いながら搬送
するようにして、前記目的を達成しようとするものであ
る。
以下1本発明の実施例を図面に基いて説明する。
ff51図には本発明によるパッケージ型回路素子の検
査装置の一実施例の全体m成が示されており、図中左側
が供給側であり、右側が排出側である。供給側には回路
素子保持盤収納体1oが配置され、この回路素子保持盤
収納体1oには複数の回路素子保持盤20が収納されて
いる0回路素子保持盤収納体10にll#接して配置さ
れたX−Yテーブル30には固定手段4oが備えられ、
この固定手段40により回路素子保持盤2oがx−yテ
ーブル30上に固定されるようになっている。また、回
路素子保持盤収納体1oからX−Yテーブル30への回
路素子保持盤2oの移動は引出手段50により行なわれ
るようになっている。X−Yテーブル30上に固定され
た回路素子保持盤収納体10はX−Yテーブル3oとと
もに、互いに直交する2方向(X、Y方向)に沿って適
宜移動可能とされており、回路素子保持盤収納体10に
複数配列保持されたフラットパッケージ型のパッケージ
型回路素子6oの1つが特定位置に位置決めされるよう
になっている。
前記特定位置に位置決めされたパッケージ型回路素子6
0は、ハンドラー70により着脱可能に保持されて、第
1の準備位置決め部材8oへと移送されるようになって
いる。このff1lの準備位置決め部材80の検査位置
側(排出側)にはt52の準備位置決め部材90.検査
位置決め部材i。
1.第1の排出側位置決め部材110.ff12の排出
側位置決め部材120.および第3の排出側位置決め部
材110がこの記載順序に従って且つ互いに等しい所定
間隔を隔てて一直線状に配列されている。一方、これら
各位置決部材80 、90 。
100.110,120,13017)図中上方側には
搬送装置12140が備えられている。この搬送装置1
40は、パッケージ型回路素子60を着脱自在に保持し
ながら前記所定間隔と等しい距離だけ前記配列方向に沿
って往復移動しながらパッケージ型回路素子60を第1
の準備位置決め部材80から第3の排出側位置決め部材
110へと順次搬送する装置である。
本検査装置の排出側には、前記X−Yテーブル30と同
様に構成される排出側のX−Yテーブル150が配置さ
れ、このX−Yテーブル150上に載置固定された回路
素子保持盤20上には排出側のハンドラー160により
パッケージ型回路素子60が戻されるようになている。
また、X−Yテーブル150に隣接して排出側の回路素
子保持盤収納体170が備えられている。この回路素子
保持盤収納体170は前記回路素子保持盤収納体lOと
同様に構成され、前記引出手段50と同様に構成される
戻し手段180によりX−Yテーブル150上の回路素
子保朽盤20が回路素子保持盤収納体170へと戻され
るようになっている。
第3の排出側位置決め部材110のさらに排出側には前
記所定間隔と等しい間隔を隔てて不合格品収容部190
が配置されている。ここにおいて、前記検査位置決め部
材100上に位置決めされて保持されたパッケージ型回
路素子60は、その各端子が検査回路200の各検査端
子と接続されて通電されることにより検査されるよう構
成されており、合格品は前記搬出側■回路素子保持盤収
納体170へと収納されるが、不合格品は不合格品収容
部190へと収容されるよう即ち1合否判別されるよう
になっている。
第2図には前記位置決め部材80,90,100.11
0,120,130および搬送装置140が示されてい
る。この図において、前記位置決め部材80,90,1
00.llo、120,130は前記基台26」二の所
定高さ位置に水平に固定された基盤j81の上端面に互
いの間隔が等しくなるよう(一定ピツチで)直線状に配
列されている。
これらの内、検査位置決め部材100は、第3図にも拡
大して示されるように、保持用孔部182を有している
。この保持用孔部182には、回路素子60の本体部6
0Aが挿入されるとともに、孔部182の周縁部が端子
保持部182Aとされており、この端部保持部182A
上に回路素子6oの端子60Bが保持されるようになっ
ている。また2位置決め部材100にはヒータ191が
備えられ、このヒータ191により回路素子60の加熱
下における検査が行なえるようになっている。
この保持用孔部182を右する検査位置決め部材100
は、台座部183を介して昇降板184(第2.3図参
照)上に載置されている。この渭降板184は通常は前
記基盤181と等しい高さ位置に配置されているが、検
査時においては昇降板184の下部側に設けられた図示
しない検査用昇降手段により上昇させられて、昇降板1
84の上部側の所定高さ位置に設けられた前記検査回路
200(第1図参照)へと供給されて保持用孔部−ジ型
回路素子60の各端子は検査回路200の各検査端子と
接続されて検査電流が通電されて検査が行なわれるよう
になっている。
基盤181上に載置された第1の準備位置決め部材80
および第2の準備位置決め部材90は前記検査位に決め
部材100と略同様に形成され、夫々がパッケージ型回
路素子60を保持する保持用孔m 192 、193 
ヲ有1:テイルカ、t52ノtP=備位置決め部材90
の保持用孔部193はtjS4図に示されるように、前
記検査位置決め部材100の保持用孔部182よりも更
に所定範囲だけ大きく(広く)形成され、また、第1の
準備位置決め部材80の保持用孔部192にあっては、
第5図に示されるように、i2の準備位置2決め部材9
0の保持用孔部193よりも更に所定範囲だけ大きく形
成されている。従って、パッケージ型回路素子60が第
1の準備位置決め部材80から第2の準備位置決め部材
90を経て検査位置決め部材100へと順次移行される
に従いパッケージ型回路轡2RO礒Cill’ TIE
 e’ 1111片格器9番めされるようになっている
、なお、保持用孔部192,193の周縁部にも夫々端
子保持部192A、193Aが設けられている。また、
各孔部192,193の底部側には夫々ヒータ191が
配されており、検査位置に至る前に回路素子60が加熱
されるようになっている。
一方、検査位置決め部材100の排出側に設けられたf
iS1〜第3の排出側位置決め部材110゜120.1
30も夫々検査位置決め部材100と略同様に構成され
、夫々が保持用孔部194.195.196を有してい
るが、これら保持用孔部194〜19G内に保持される
パッケージ型回路素子60は既に検査済のパッケージ型
回路素子60であるため、4.シに正確に位置決めする
必要性は低く、検査位置決め部材lOOの保持用孔部1
82よりもやや大きく形成されている。
これら位置決め部材80,90,100,110.12
0,130間にパッケージ型回路素子60を順次移動さ
せる前記搬送装置140は、長尺な丸軸材よりなる搬送
部材201を有し、この搬送部材201は前記位と決め
部材80,90,100.110,120,130の配
列方向に泊って配置され、且つ、所定間隔毎に設けられ
た軸受202を介して前記基盤181上に軸方向往復移
動可能且つ軸中心反転移動可能に支持されている。また
、この搬送部材201は回動手段210により軸中心反
転(回動)されるとともに、往復7段220により軸方
向に往復移動されるようになっている。
搬送部材201にはその長手方向に沿って所定間隔イσ
に複数の吸着アーム231が取付けられている。これら
吸着アーム231は第6図にも示されるように締付片2
32により搬送部材201の611方向と直交する方向
に沿って固定されている。また、各吸着アーム231の
先端部の下端面側には図中下方側に向って吸着盤233
が夫々取付けられている。吸着盤233は伸縮自在な蛇
腹ゴム管とこの蛇腹ゴム管の周囲を囲む圧縮コイルばね
を有しており、伸縮可能で且つ復元力を有するよう構成
されている。また、吸着アーム231内には一端側が前
記吸着盤233に連通し他端側か吸着アーム231の基
端側(第6図中右方側)にて開口する空気流路234が
設けられており、この空気流路234はチューブ取付管
235を介してこの空気流路234に連通される樹脂チ
ューブ等により吸引ポンプ等の負圧源に連通され、前記
負圧源が作動するときには各吸着盤233には夫々パッ
ケージ型回路素子60が着脱自在に吸着されるようにな
っている。更にまた、各吸着アーム231の先端の吸着
盤233の間隔は前記位置決め部材80,90,100
,110,120.130相互間の間隔と等しい間隔と
されている。
第7,8図には前記回動手段210が示されている。こ
れらの図において、回動手段210は回動用駆動モータ
241を有し、この回動用駆動モータ241は取付板2
42を介して前記基fi181の下端面側に取付けられ
ている。モータ241の出力軸は鉛直方向とされ、この
出力軸には1組の歯車組243を介してカム軸244の
一端側が連結されている。カム軸244は両端が軸受2
45を介して前記取(−1板242に鉛直方向に治って
回転自在に支持されるとともに、その中間部の所定位置
には回動用カム246が取付けられている。
回動片カム246は偏心カムであり、カム面には当接ロ
ーラ247を介してL字型の回動用カムフォロワ248
の一端部が当接されている。この回動片カムフォロワ2
48はその角部においてカムフォロワ数句板249の支
軸251に回転自在に支持されている。また、この回動
用カムフォロワ248の一辺側の所定位置には取付軸2
52を介して回動片253が回転自在に取4=Jけられ
ている。
前記回動用カムフォロワ248の他端側には圧縮コイル
ばね254の一端が取付けられ、この圧縮コイルばね2
54の他端はばね取付板255を介して固定側である基
盤181に取引けられている。従って、前記ばね取付板
255により回動用カムフォロワ248は、支@b25
1を回動中心として第8図中反時計方向へと常に回動す
るよう付勢されている。一方、回動片253と回動用カ
ムフォロワ248とは圧縮コイルばね256により連結
され、従って1回動用カムフォロワ248の先端部側と
回動片253の先端側とは夫々互いに近接する方向に付
勢されている。
これら互いに近接する方向に付勢されたカムフォロワ2
48と回動片253の画先端部には夫々軸受ローラ25
7が回転自在に取付は−られており、これら軸受ローラ
257間には所定の長さの丸軸材よりなる上下動軸26
1が抑圧挟持されている。この上下動軸261の両端部
は、第6図にも示されるように、取付片262を介して
前記搬送部材201に固定されており、上下動軸261
が上下移動すると搬送部材201は軸中心反転(回動)
するようになっている。また、上下動軸261は前記一
対の軸受ローラ257に挟持された状態でその長手方向
に泊って移動可能とされている。ここにおいて、前記回
動用駆動モータ241により回動用カム24Bが回動さ
れると、この回動用カム246のカム面に当接するよう
構成された回動用カムフォロワ248により、回動用カ
ムフォロワ248と回動片253との間に挟まれた前記
上下動軸261が上下動して搬送部材201がその軸中
心に回転するようになっている。なお、カム軸244に
はカム1lib 244の回転角度、別言すれば回動用
カム246の回転角度、更に別言すれば、搬送部材20
1の回動角度を検知する回動角度検出器263が設けら
れている。
第9〜11図には前記往復手段220が示されている。
これらの図において、往復手段用基台271は前記基台
26上の所定高さ位置に固定され、この往復手段用基台
271上に立設された取付板272には往復用駆動モー
タ273が固定されている。往復用駆動モータ273の
出力軸にはプーリ274が取付けられ、ブー9274に
巻掛けらえた駆動用ベルト275は、往復用、回転軸2
76の一端に取付けられたプーリ277に巻掛けられて
いる。往復用回転軸276は両端側が夫々油受278を
介して前記取付板272に鉛直方向に沿った状態で軸中
心回転自在に支持されている。
往復用回転軸276の上端には往復用回転軸276の回
転角度位置を検出する回転角度検出器279が備えられ
るとともに、一方、下端には取付部281を介して揺動
レバー282の基端側が固定されている。この揺動レバ
ー282の先端部には係合ローラ283が取付けられ、
係合ローラ283は、スライダ284の上端面に形成さ
れた係合溝285内に摺動自在に挿入されている。
スライダ284は、スライダボックス286の一側に取
付けられ、このスライダボックス286は、前記搬送部
材201の長手方向に沿って取付台287を介して往復
手段用基台271上に固定された丸軸材状のスライダ案
内レール288により、前記長手方向に沿って摺動自在
に案内されている。従って、揺動レバー282が往復用
回転軸276を揺動中心として揺動運動されると、これ
に伴ない、スライダ284およびスライダボックス28
6はスライダ案内レール288に案内されながら往復i
!I!動するよう構成されている。なお。
第2図に示されるようにスライダポ・ンクス286と前
記回動片253とは長尺な圧縮コイルばね289により
結合され、これにより、係合ローラ283と係合溝28
5とのがたつきが防止されている。
また、スライダ284の先端側には搬送部材201の一
端部が取付は位置変位不能且つ軸中心回転可能に取イ・
jけられており、スライダ284がスライダ案内レール
288に沿って往復移動されると、搬送部材201も同
時に往復移動されるようになっている。なお、第2.9
図中符合291は揺動レバー282の揺動角度を規ル1
するストッパーである。
このような本実施例によれば、一定間隔(一定ピツチ)
に配設された順次高精度位M快めを行う各位置決め部材
80,90,100と、一定ピツチ毎に回路素子60を
移送する位相装2i140と、いう簡単な構成によって
、検査上必要な高精度な位置づけを容易に実現すること
ができる。しかも1位置決め部材80,90.100を
正確に配置させる以外には、特に高精度な構成が要求さ
れないという効果がある。
また、回路素子6oを第1の順次位ご決め部材80に供
給する際には正確に位置決めする必要がないため、U(
船側に特に高精度な装置をイIすることなくして全自動
化、無人化を達成しゃすい。
更に、検査回路200の位2決め部材110゜120を
検査回路200前の位置決め部材80゜90と対称的に
配設してあり、主要部を共通としながら、合否判断し且
つ合格品についてj±整列回収することも容易な構造と
なっている。
更にまた、被検査体であるパッケージ型回路素子60の
形式、形状等を変更した場合にも、単に位置決め部材8
0,90,100.110 120を交替すれば、他に
改変を有することなく、異なる回路素子についての検査
を行うことができ、拡大適用性に富んでいる。
また、ヒータ191により加熱下における検査を行うこ
とができ、検査態様についての拡大もできるようになっ
ている。
また、搬送装置140は吸着盤233により回路素子6
0を吸着させる方式であるため、この点からも、種々の
形式等の回路素子6oに容易に適用できるとともに、搬
送に際して回路素子6oを損傷したり、汚したりするこ
とがない、また、搬送装置140は揺動レバー282に
よる往復回動力式であり、ストッパ291も設けらえて
いるところから、一定ピ)チの往ul運動を行うことが
容易且つ確実である。
なお、実施にあたり、同一の位置決め部材を夫々複数個
づつ配設し、且つ、吸着盤233の数もそれに応じて増
設した構造として、複数の回路素子60を同時検査可能
な構造としてもよい。
また、ヒ〜り191は必ずしも必要ではないが、位置決
め部材80,90,100の少なくとも何れか1つにヒ
ータ191を設けられていれば、加熱下における回路素
子6oの検査を行なうことができる。また、前記実施例
では2つの準備位置決め部材80.90が設けられてい
たが、ただ1つの準備位置決め部材が設けられていても
よいし、或いはまた3例以上の準In位区決め部材が設
けられているもであってもよい、また、前記パッケージ
型回路素子6oはフラットパッケージ型であったがこれ
に限らずデュアルパッケージ型等他の型式のパッケージ
型回路素子であってもよい。
上述のように本発明によれば、パッケージ型開i18素
子を検査回路と接続して検査する際のパッケージ型回路
素子の位置決めを人手を煩わせることなく容易且つ正確
に行なうことのできるパッケージ型回路素子の検査装置
をを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るパッケージ型回路素子の検査装置
の一実施例の概略的全体構成を示す平面図、第2図は前
記実施例における搬送装置140を示す平面図、第3図
は前記実施例における検査位置決め部材100を示す拡
大断面図、第4図および第5図は夫々第1および第2の
準備位置決め部材を示す拡大断面図、第6図は前記搬送
装fit40における吸着アーム231を示す一部を切
欠いた側面図、i’57図および第8図は夫々前記実施
例における回動手段210を示す正面図および一部を切
欠いた側面図、第9図および第1O図は夫々前記実施例
における往復手段220を示す平面図および一部を切欠
いた側面図、t511図は前記往復手段220の要部を
示す一部を切欠いた正面図である。 lO・・・回路素子保持盤収納体、20・・・回路素子
保持盤、30・・・X−Yテーブル、40・・・固定手
段、50・・・引出子役、60・・・パッケージ型回路
素子、70・・・ハンドラー、80・・・jlQlの準
備位置決め部材、90・・・第2の準備位置決め部材、
100・・・検査位置決め部材、110・・・第1の排
出側位置決め部材、120・・・第2の排出側位置決め
部材、130・・・第3の排出側位置決め部材、140
・・・搬送装置、150・・・X−Yテーブル、160
・・・ハンドラー、170・・・回路素子保持盤収納体
、180・・・戻し手段、190・・・不合格品収容部
、200・・・検査回路、201・・・搬送部材、21
0・・・回動手段、220・・・往復手段、282・・
・揺動レバー、284・・・スライダ、285・・・係
合溝部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)所定の検査位置に位置決めされたパッケージ型回
    路素子の複数端子の夫々に検査回路を接続して検査する
    パッケージ型回路素子の検査装置において、パッケージ
    型回路素子を前記検査位置に正確に位置決め保持する検
    査位置決め部材とこの検査位置決め部材に先立ってパッ
    ケージ型回路素子を前記検査位置決め部材による正確な
    位置決め範囲よりは広い所定の範囲内の姿勢に位置決め
    保持する準備位置決め部材と、が所定間隔だけ離れて配
    設され、かつ、パッケージ型回路素子を着脱可能に吸着
    保持する吸着盤が前記配設間隔と等しい間隔で配されて
    いるとともに前記間隔を往復手段により往復動されなが
    らパッケージ型回路素子を前記間隔毎に順次搬送する搬
    送装置が設けられていることを特徴とするパッケージ型
    回路素子の検査装置。 (2、特許請求の範囲第1項において、前記準備位置決
    め部材に更に先立ってパッケージ型回路素子を更に広い
    所定範囲内の姿勢に保持する単数若しくは複数の準備位
    置決め部材が前記所定間隔だけ離れて配設され、一方、
    前記搬送部材には前記位置決め部材の数に対応する数の
    吸着盤が設けられていることを特徴とするパッケージ型
    回路素子の検査装置。 (3)特許請求の範囲第1項または第2項において、前
    記往復手段は、前記搬送部材に固定された係合溝と、先
    端側がこの係合溝内に摺動自在に係合し旦つ所定角度範
    囲内を往復回動する揺動レバーと、を備えていることを
    特徴とするパッケージ型回路素子の検査装置。 (4)特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれかにお
    いて、前記1位置決め部材の少なくとも一部にはパッケ
    ージ型回路素子を加熱するヒータが付設されていること
    を特徴とするパッケージ型回路素子の検査装置。
JP58189015A 1983-10-07 1983-10-07 パツケ−ジ型回路素子の検査装置 Pending JPS6080238A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60211900A (ja) * 1984-04-06 1985-10-24 日立電子エンジニアリング株式会社 Icハンドラの同期搬送機構
JPS63142650A (ja) * 1986-12-05 1988-06-15 Pfu Ltd 大規模集積回路の自動試験装置
JPS63164443A (ja) * 1986-12-26 1988-07-07 Fujitsu Ltd Ic自動試験装置

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