JPS6084759A - 熱陰極電子衝撃型イオン源 - Google Patents
熱陰極電子衝撃型イオン源Info
- Publication number
- JPS6084759A JPS6084759A JP58192118A JP19211883A JPS6084759A JP S6084759 A JPS6084759 A JP S6084759A JP 58192118 A JP58192118 A JP 58192118A JP 19211883 A JP19211883 A JP 19211883A JP S6084759 A JPS6084759 A JP S6084759A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion source
- hot
- electrode
- electron impact
- lead
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 11
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 abstract description 24
- 230000005684 electric field Effects 0.000 abstract description 8
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 2
- 238000005173 quadrupole mass spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 244000007853 Sarothamnus scoparius Species 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J27/00—Ion beam tubes
- H01J27/02—Ion sources; Ion guns
- H01J27/022—Details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J27/00—Ion beam tubes
- H01J27/02—Ion sources; Ion guns
- H01J27/08—Ion sources; Ion guns using arc discharge
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明位、主として高感度の四重極質量分析計用の熱
陰極電子衝撃型イオン源に関するもので、できるだけ多
くのイオンを、またエネルギーのばらつきを少くしてひ
き出す事を狙ったものである。
陰極電子衝撃型イオン源に関するもので、できるだけ多
くのイオンを、またエネルギーのばらつきを少くしてひ
き出す事を狙ったものである。
図1、図2は従来のイオン源と四重極電極の配置を示し
た例である。これらの例では、ひき出し電極5は、その
中心に穴を設けて、その周囲の部分がイオン生成領域1
0に電界を及はすようになっている。
た例である。これらの例では、ひき出し電極5は、その
中心に穴を設けて、その周囲の部分がイオン生成領域1
0に電界を及はすようになっている。
従つ゛てひき出し電極3のイオン生成領域1oと、その
領域に至る空間の電界の構造を自由に形成することは難
しい。もし、この事例のように、イオンを四重極質量分
析に用いるならば、イオン生成領域の電位分布はできる
だけ小さくしたい。また、電界の値を適当な値をとる必
要がある。
領域に至る空間の電界の構造を自由に形成することは難
しい。もし、この事例のように、イオンを四重極質量分
析に用いるならば、イオン生成領域の電位分布はできる
だけ小さくしたい。また、電界の値を適当な値をとる必
要がある。
これらをそれぞれ自由に構成することは、従来技術であ
る円冠型ひき出し電極では困難であった。
る円冠型ひき出し電極では困難であった。
図3には本発明の実施例を示した。ここでは、引出し電
極3には、その中心部分に網目を以って構成させる。こ
のように構成すると、イオンの生成領域空間に対し7て
、引出し電極の及ぼす電界全自由に作ることができるば
かりでなく、その電界によって引出されたイオンは引出
し゛電極が網目で構成されているためこの引出し電極を
良く通過して次段の四重極電極の部分へと進ませること
ができる。
極3には、その中心部分に網目を以って構成させる。こ
のように構成すると、イオンの生成領域空間に対し7て
、引出し電極の及ぼす電界全自由に作ることができるば
かりでなく、その電界によって引出されたイオンは引出
し゛電極が網目で構成されているためこの引出し電極を
良く通過して次段の四重極電極の部分へと進ませること
ができる。
ひき出し電極の網目全単純な平板とするだけでなく、図
4.5.6に示すように複数枚構成や、イオン生成領域
までの電界分布を先に述べたように四重極質量分析の目
的に沿うようになるように凹、凸に形成することができ
る。
4.5.6に示すように複数枚構成や、イオン生成領域
までの電界分布を先に述べたように四重極質量分析の目
的に沿うようになるように凹、凸に形成することができ
る。
以上述べた如く、本発明によって従来、コントロールが
ほとんど不可能であった、イオン運動エネルギー分布の
縮小化、イオンひき出し効率の増加、すなわち高分解能
、鳥感度の質量分析が可能となった。
ほとんど不可能であった、イオン運動エネルギー分布の
縮小化、イオンひき出し効率の増加、すなわち高分解能
、鳥感度の質量分析が可能となった。
一実施例として、本発明による実験結果全紹介すると、
だいたい図3に示したような構造であって、表1に示す
条件下にて、四重極質量針としての感度f 1. OX
10 (A/ Torr 3程度とすることができた
。これは従来技術による方法に比べ約10倍の値である
。
だいたい図3に示したような構造であって、表1に示す
条件下にて、四重極質量針としての感度f 1. OX
10 (A/ Torr 3程度とすることができた
。これは従来技術による方法に比べ約10倍の値である
。
以上の通り1本発明によつで超高真空度下における質量
分析などが行なえるような画期的な電子衝撃形イオン源
となすことができる。
分析などが行なえるような画期的な電子衝撃形イオン源
となすことができる。
表 1
第1図及び第2図は従来のイオン源?示めす。
第3図は本発明にががるイオン源金示めす。$4〜第6
図は本発明にかかるひき出し電極の他の実施例を示めす
。 1・・・・・・フィラメント 2・・・・・・アノードグリッド 5・・・・・・ひき出し電極 4・・・・・・アパーチャ電極 5・・・・・・四重極電極 6・・・・・・リペラ 7・・・・・・フォーカス電極 8・・・・・・電子コVクク電極 9・・・・・・イオン化室 10・・・・・・イオン生成領域 以上 出願人 セイコー隠子工業株式会社 渡辺文夫 ;、r”; 10 第= +゛pr 箒、・11〜゛) 第 511 一一一一一一、メーーー\ ド・“ 6 ト1 一一一一一−コー 、−4
図は本発明にかかるひき出し電極の他の実施例を示めす
。 1・・・・・・フィラメント 2・・・・・・アノードグリッド 5・・・・・・ひき出し電極 4・・・・・・アパーチャ電極 5・・・・・・四重極電極 6・・・・・・リペラ 7・・・・・・フォーカス電極 8・・・・・・電子コVクク電極 9・・・・・・イオン化室 10・・・・・・イオン生成領域 以上 出願人 セイコー隠子工業株式会社 渡辺文夫 ;、r”; 10 第= +゛pr 箒、・11〜゛) 第 511 一一一一一一、メーーー\ ド・“ 6 ト1 一一一一一−コー 、−4
Claims (1)
- イA゛ン源の出力口附近において、網目を以ってその出
力口附近に対向させ、これを引出し電極とすることt−
特徴とする熱陰極電子衝撃型イオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58192118A JPS6084759A (ja) | 1983-10-14 | 1983-10-14 | 熱陰極電子衝撃型イオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58192118A JPS6084759A (ja) | 1983-10-14 | 1983-10-14 | 熱陰極電子衝撃型イオン源 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6084759A true JPS6084759A (ja) | 1985-05-14 |
Family
ID=16285964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58192118A Pending JPS6084759A (ja) | 1983-10-14 | 1983-10-14 | 熱陰極電子衝撃型イオン源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6084759A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007157529A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Ulvac Japan Ltd | 四極子形質量分析計用イオン源 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50134692A (ja) * | 1974-04-11 | 1975-10-24 | ||
| JPS52134492A (en) * | 1976-05-04 | 1977-11-10 | Hitachi Ltd | Ion source unit |
-
1983
- 1983-10-14 JP JP58192118A patent/JPS6084759A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50134692A (ja) * | 1974-04-11 | 1975-10-24 | ||
| JPS52134492A (en) * | 1976-05-04 | 1977-11-10 | Hitachi Ltd | Ion source unit |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007157529A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Ulvac Japan Ltd | 四極子形質量分析計用イオン源 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0234410B2 (ja) | ||
| JP2021524665A5 (ja) | ||
| SE8700017D0 (sv) | Ion plasma electron gun | |
| CN110176385B (zh) | 一种用于磁质谱仪的高效离子源 | |
| CA2643534A1 (en) | Fragmentation methods for mass spectrometry | |
| CN100595873C (zh) | 双离子源矩形离子阱质谱仪 | |
| CN111146049A (zh) | 一种碳纳米管场发射阴极的小型离子源 | |
| US3890535A (en) | Ion sources | |
| CN112599397B (zh) | 一种储存式离子源 | |
| JPS6084759A (ja) | 熱陰極電子衝撃型イオン源 | |
| JPH0378741B2 (ja) | ||
| CN209963019U (zh) | 一种用于磁质谱仪的高效离子源 | |
| CN114471154A (zh) | 同位素电磁分离器的离子源及其弧放电结构 | |
| US3339106A (en) | Ionization vacuum pump of the orbitron type having a porous annular grid electrode | |
| US7858933B2 (en) | Mass spectrometer | |
| JPS6084758A (ja) | 熱陰極電子衝撃型イオン源 | |
| JPS6084757A (ja) | 引き出し電極付熱陰極電子衝撃型イオン源 | |
| GB1086959A (en) | Mass spectrometer gas analyzer instrument | |
| CN113808909B (zh) | 一种光电子抑制电离源装置 | |
| JPS6093750A (ja) | 熱陰極電子衝撃型イオン源 | |
| CN115360079A (zh) | 一种基于电子束三维势阱存储的电子碰撞离子源 | |
| CN119381240B (zh) | 一种冷电子中性后电离装置 | |
| JPS60202646A (ja) | 二重アノ−ド型四重極分析計 | |
| JPS6251648U (ja) | ||
| JP2000036282A (ja) | ガス分析用の質量分析計 |