JPS6086438A - 光フアイバの試験方法および装置 - Google Patents
光フアイバの試験方法および装置Info
- Publication number
- JPS6086438A JPS6086438A JP19502483A JP19502483A JPS6086438A JP S6086438 A JPS6086438 A JP S6086438A JP 19502483 A JP19502483 A JP 19502483A JP 19502483 A JP19502483 A JP 19502483A JP S6086438 A JPS6086438 A JP S6086438A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical
- optical fiber
- light source
- pulse signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、光通信用の光ファイバの一端から光パルス信
号を入射し、その光パルス信号により光ファイバの中で
発生する反射光または後方散乱光による逆方向の伝播光
を受光することにより、光ファイバの光伝送特性または
破断点の試験を行う方法および装置の改良に関する。
号を入射し、その光パルス信号により光ファイバの中で
発生する反射光または後方散乱光による逆方向の伝播光
を受光することにより、光ファイバの光伝送特性または
破断点の試験を行う方法および装置の改良に関する。
光ファイバの一端から光パルス信号を入射すると、光フ
ァイバの中で生しる後方散乱光および光ファイバの不連
続点や破断点で生じるフレネル反射光がその光ファイバ
の入射端へ逆方向の伝播光として、戻る。この逆方向の
伝播光を光パルス信号の入射点で時系列的に受光すると
、その光ファイバの光伝送特性あるいは不連続点もしく
は破断点を検出することができる。
ァイバの中で生しる後方散乱光および光ファイバの不連
続点や破断点で生じるフレネル反射光がその光ファイバ
の入射端へ逆方向の伝播光として、戻る。この逆方向の
伝播光を光パルス信号の入射点で時系列的に受光すると
、その光ファイバの光伝送特性あるいは不連続点もしく
は破断点を検出することができる。
第１図はこのための従来例装置である。光源１の半導体
レーザは駆動回路２によりパルス状に駆動されると光パ
ルス信号を発生ずる。この光パルス信号は光方向性結合
器４を介して、被試験光ファイバ５の一端に入射する。
レーザは駆動回路２によりパルス状に駆動されると光パ
ルス信号を発生ずる。この光パルス信号は光方向性結合
器４を介して、被試験光ファイバ５の一端に入射する。
この被試験光ファイバ５で発生した逆方向の伝播光は、
この一端から再び光方向性結合器４に入射し、光電変換
器７に受光され電気信号に変換される。この電気信号は
増幅器９で増幅され、平均処理回路１０で雑音が除去さ
れて、表示装置１１に表示される。光方向性結合器４は
超音波駆動回路１２により駆動される。
この一端から再び光方向性結合器４に入射し、光電変換
器７に受光され電気信号に変換される。この電気信号は
増幅器９で増幅され、平均処理回路１０で雑音が除去さ
れて、表示装置１１に表示される。光方向性結合器４は
超音波駆動回路１２により駆動される。
このような装置では、光源１と被試験光ファイバ５との
間に光方向性結合器４が挿入され、被試験光ファイバ５
に入射する光と被試験光ファイバ５から出射する光とが
分別されるので、この光方向性結合器４による損失は免
れられない。特に、光ファイバで生じる後方散乱光はそ
のレベルが低いので、光方向性結合器４の損失は検出感
度を大きく損なうことになる。また、光方向性結合器４
の種類によっては、これを駆動する超音波駆動回路１２
が必要であり、装置構成が複雑になり高価になる。
間に光方向性結合器４が挿入され、被試験光ファイバ５
に入射する光と被試験光ファイバ５から出射する光とが
分別されるので、この光方向性結合器４による損失は免
れられない。特に、光ファイバで生じる後方散乱光はそ
のレベルが低いので、光方向性結合器４の損失は検出感
度を大きく損なうことになる。また、光方向性結合器４
の種類によっては、これを駆動する超音波駆動回路１２
が必要であり、装置構成が複雑になり高価になる。
本発明はこれを改良するもので、光方向性結合器を使用
することなく、光方向性結合器で生じる損失を除去する
とともに、装置構成が簡単である光ファイバの試験方法
および装置を提供することを目的とする。
することなく、光方向性結合器で生じる損失を除去する
とともに、装置構成が簡単である光ファイバの試験方法
および装置を提供することを目的とする。
本発明の方法は、被試験光ファイバの一端に戻りここか
ら送出される逆方向の伝播光を光パルス信号を発生する
光源を通過させて受光することを特徴とする。
ら送出される逆方向の伝播光を光パルス信号を発生する
光源を通過させて受光することを特徴とする。
光源が半導体レーザであるとき、光パルスを発生した後
にこの半導体レーザに発振閾値より低いレベルの駆動電
流を与えて通過する光を増幅するように構成することが
望ましい。
にこの半導体レーザに発振閾値より低いレベルの駆動電
流を与えて通過する光を増幅するように構成することが
望ましい。
本発明の装置は、光源と、この光源が光パルス信号を発
生するようにこの光源をパルス状に駆動する駆動電源回
路と、上記光源の出刃光出射端と被試験光ファイバの一
端とを光学的に結合する結合手段と、上記被試験光ファ
イバで発生し上記一端から送出される上記光パルス信号
による逆方向の伝播光を受光する光電変換器を蒼む受光
手段とを備えた光ファイバの試験装置において、上記受
光手段は、上記光ファイバの一端から上記結合手段を経
由してさらに上記光源を通過した光を受光するように、
上記光源の出刃光出射端の反対側に設置されたことを特
徴とする。
生するようにこの光源をパルス状に駆動する駆動電源回
路と、上記光源の出刃光出射端と被試験光ファイバの一
端とを光学的に結合する結合手段と、上記被試験光ファ
イバで発生し上記一端から送出される上記光パルス信号
による逆方向の伝播光を受光する光電変換器を蒼む受光
手段とを備えた光ファイバの試験装置において、上記受
光手段は、上記光ファイバの一端から上記結合手段を経
由してさらに上記光源を通過した光を受光するように、
上記光源の出刃光出射端の反対側に設置されたことを特
徴とする。
光源はレーザにより構成されることがよい。
上記受光手段には光電変換器に入射する先に対して光ゲ
ート回路を備え、光源が光パルス信号を発生するタイミ
ングでは、上記光ゲート回路が遮断状態になるように制
御される構成とすることが望ましい。
ート回路を備え、光源が光パルス信号を発生するタイミ
ングでは、上記光ゲート回路が遮断状態になるように制
御される構成とすることが望ましい。
実施例図面を参照して詳しく説明する。第２図は本発明
実施例装置のプロ・ツク構成図である。光源１は半導体
レーザにより構成され、駆動回路２により駆動電流が供
給される。光源１で発生した光パルス信号は被試験光フ
ァイノ＼５の一端に光学的に結合される。被試験光ファ
イバ５の中では、この光パルス信号は矢印（ｂｌの方向
に伝播する。この光パルス信号により発生した後方散乱
光および反射光は、光パルス信号とは逆の矢印ｆｃ）の
方向に伝播し、被試験光ファイバ５の光パルス信号の入
射端と同一端から出射する。
実施例装置のプロ・ツク構成図である。光源１は半導体
レーザにより構成され、駆動回路２により駆動電流が供
給される。光源１で発生した光パルス信号は被試験光フ
ァイノ＼５の一端に光学的に結合される。被試験光ファ
イバ５の中では、この光パルス信号は矢印（ｂｌの方向
に伝播する。この光パルス信号により発生した後方散乱
光および反射光は、光パルス信号とは逆の矢印ｆｃ）の
方向に伝播し、被試験光ファイバ５の光パルス信号の入
射端と同一端から出射する。
ここで本発明の特徴とするところは、この逆方向の伝播
光は、被試験光ファイバ５の一端から出射すると、光方
向性結合器などを通過することなく、光パルス信号を発
生した光源１に戻り、この光源１の内部を通過して、さ
らにアイソレータ１５を介して、光デー１−回路１３を
経由して光電変換器７に受光されるところにある。この
光ゲート回路１３はこの例では光源１を構成する半導体
レーザと同等の第二の半導体レーザにより構成され、こ
の第二の半導体レーザは駆動回路２と同期して動作する
第二の駆動回路１４により駆動される。アイソレータ１
５は光源１の半導体レーザと、光ゲート回路１３の半導
体レーザとが、不必要に相互結合状態とならないように
、光源１から光ゲート回路１３の一方向のみの光伝送を
与えるように挿入されたも５のである。
光は、被試験光ファイバ５の一端から出射すると、光方
向性結合器などを通過することなく、光パルス信号を発
生した光源１に戻り、この光源１の内部を通過して、さ
らにアイソレータ１５を介して、光デー１−回路１３を
経由して光電変換器７に受光されるところにある。この
光ゲート回路１３はこの例では光源１を構成する半導体
レーザと同等の第二の半導体レーザにより構成され、こ
の第二の半導体レーザは駆動回路２と同期して動作する
第二の駆動回路１４により駆動される。アイソレータ１
５は光源１の半導体レーザと、光ゲート回路１３の半導
体レーザとが、不必要に相互結合状態とならないように
、光源１から光ゲート回路１３の一方向のみの光伝送を
与えるように挿入されたも５のである。
光電変換器７の出力電気信号は増幅器９で増幅され、平
均処理回路１０で雑音が除去されて表示装置１１に表示
される。
均処理回路１０で雑音が除去されて表示装置１１に表示
される。
第３図（ａｌ〜（ｆ）は第２図に示す（ａ）〜（ｆｌの
点の信号波形図である。この装置では、光源１０半導体
レーザは駆動回路２により、第３図（ａｌに示すような
駆動電流により駆動される。すなわち、半導体レーザが
レーザ発振を起こす高いレベルの駆動電流１１が短い時
間だけ供給され、次いで半導体レーザがレーザ発振を起
こす闇値電流より低いレベルの駆動電流■２が比較的長
い時間供給される。高いレベルの駆動電流Ｉ□が供給さ
れている時間に、光源１は第３図（ｂｌに示す光パルス
信号Ｐ１を被試験光ファイバ５に与える。この光パルス
信号Ｐ１が被試験光ファイバ５を伝播し、第３図（Ｃ）
に示すように、逆方向の伝播光Ｐ３が生じている時間は
、低いレベルの駆動電流Ｉ２が光源１に供給されて、こ
の間はこの光源１の半導体レーザは光増幅器として作用
する。したがって、光源１を通過して出射端と反対側に
現れる光信号は第３図Ｆｄｌのように増幅された信号と
なる。
点の信号波形図である。この装置では、光源１０半導体
レーザは駆動回路２により、第３図（ａｌに示すような
駆動電流により駆動される。すなわち、半導体レーザが
レーザ発振を起こす高いレベルの駆動電流１１が短い時
間だけ供給され、次いで半導体レーザがレーザ発振を起
こす闇値電流より低いレベルの駆動電流■２が比較的長
い時間供給される。高いレベルの駆動電流Ｉ□が供給さ
れている時間に、光源１は第３図（ｂｌに示す光パルス
信号Ｐ１を被試験光ファイバ５に与える。この光パルス
信号Ｐ１が被試験光ファイバ５を伝播し、第３図（Ｃ）
に示すように、逆方向の伝播光Ｐ３が生じている時間は
、低いレベルの駆動電流Ｉ２が光源１に供給されて、こ
の間はこの光源１の半導体レーザは光増幅器として作用
する。したがって、光源１を通過して出射端と反対側に
現れる光信号は第３図Ｆｄｌのように増幅された信号と
なる。
この光信号はアイソレータ１５を通過して、さらに光ゲ
ート回路１３を通過する。光ゲート回路１３の半導体レ
ーザは第３図（８１のように駆動される。すなわち、駆
動回路１４は駆動回路２に同期していて、駆動回路２が
高いレベルの駆動電流を送出している時間ｔｉには駆動
電流を送出せず、駆動回路２が低いレベルの駆動電流を
送出している期間に、同じく半導体レーザがレーザ発振
を起こす闇値より低いレベルの駆動電流１２’を送出す
る。これにより、光ゲート回路１３は光源１が光パルス
信号を送出するときに発する強い反対光および被試験光
ファイバ５の入射端で発生するレベルの高い反射光Ｐ２
を遮断して、光源１を通り抜けてくる低いレベルの逆方
向の伝播光のみを増幅する。光ゲート回路１３の出力光
は第３図［ｆ）のようになる。この出力光は光電変換器
７で受光される。
ート回路１３を通過する。光ゲート回路１３の半導体レ
ーザは第３図（８１のように駆動される。すなわち、駆
動回路１４は駆動回路２に同期していて、駆動回路２が
高いレベルの駆動電流を送出している時間ｔｉには駆動
電流を送出せず、駆動回路２が低いレベルの駆動電流を
送出している期間に、同じく半導体レーザがレーザ発振
を起こす闇値より低いレベルの駆動電流１２’を送出す
る。これにより、光ゲート回路１３は光源１が光パルス
信号を送出するときに発する強い反対光および被試験光
ファイバ５の入射端で発生するレベルの高い反射光Ｐ２
を遮断して、光源１を通り抜けてくる低いレベルの逆方
向の伝播光のみを増幅する。光ゲート回路１３の出力光
は第３図［ｆ）のようになる。この出力光は光電変換器
７で受光される。
光源１および光デー１−回路１３の半導体レーザば、高
いレベルの駆動電流で駆動されるとレーザ発振を起こす
が、適当な低いレベルの駆動電流で駆動されると、通過
光を増幅する作用がある。これは光スィッチなどで知ら
れている技術である。半導体レーザの一例では、レーザ
発振を起こす闇値駆動電流に対して、はぼ９０％以上１
００％未満の駆動電流を与えると増幅作用が見られる。
いレベルの駆動電流で駆動されるとレーザ発振を起こす
が、適当な低いレベルの駆動電流で駆動されると、通過
光を増幅する作用がある。これは光スィッチなどで知ら
れている技術である。半導体レーザの一例では、レーザ
発振を起こす闇値駆動電流に対して、はぼ９０％以上１
００％未満の駆動電流を与えると増幅作用が見られる。
上記実施例装置では、一つの半導体レーザで最大８ｄＢ
の増幅を行うことができた。
の増幅を行うことができた。
光源としては、上記例の他、ＹＡＧレーザ、ルビーレー
ザ等の固体レーザ、Ｈｅ−Ｎｅレーザ、アルゴンレーザ
、クリプトンレーザ等の気体レーザ、その他光ファイバ
レーザ等でも同様に、本発明の光源として使用すること
ができる。上記説明の通過光に対する増幅作用は必ずし
も必要ではなく、比較的小さい損失で光信号を通過させ
ることができる光源であれば、本発明の光源として使用
することができる。
ザ等の固体レーザ、Ｈｅ−Ｎｅレーザ、アルゴンレーザ
、クリプトンレーザ等の気体レーザ、その他光ファイバ
レーザ等でも同様に、本発明の光源として使用すること
ができる。上記説明の通過光に対する増幅作用は必ずし
も必要ではなく、比較的小さい損失で光信号を通過させ
ることができる光源であれば、本発明の光源として使用
することができる。
光ゲート回路としては、上記例以外に、超音波偏光形光
スイッチ、電気光学効果形光スイッチ、７１１気光学効
果形光スイツチ、メカニカルスイッチ等を使用して本発
明を実施することができる。逆方向の伝播光を受光する
光電変換器が、大きい光レベル変化に良く応動する場合
には、必ずしも光デー１−回路を使用しなくとも本発明
を実施することができる。さらに、光電変換器の電気出
力に、高いレベルの信号を抑圧するためのスイッチ回路
、またはリミノク回路等を使用して本発明を実施するこ
とができる。
スイッチ、電気光学効果形光スイッチ、７１１気光学効
果形光スイツチ、メカニカルスイッチ等を使用して本発
明を実施することができる。逆方向の伝播光を受光する
光電変換器が、大きい光レベル変化に良く応動する場合
には、必ずしも光デー１−回路を使用しなくとも本発明
を実施することができる。さらに、光電変換器の電気出
力に、高いレベルの信号を抑圧するためのスイッチ回路
、またはリミノク回路等を使用して本発明を実施するこ
とができる。
上記例に示した光アイソレークは、光源および光ゲート
回路の性質によっては、必ずしも必要とせずに本発明を
実施することができる。
回路の性質によっては、必ずしも必要とせずに本発明を
実施することができる。
以上説明したように、本発明によれば、光方向性結合器
を使用せずに光パルス試験を行うことができる。このた
め、光方向性結合器の挿入損失を除去することができ、
その分だけ測定のグイナミソクレンジを拡大することが
できる。本発明の構成は光方向性結合器を使用するもの
よりｆｉ造が簡単であり、装置を小型に製作することが
できる。
を使用せずに光パルス試験を行うことができる。このた
め、光方向性結合器の挿入損失を除去することができ、
その分だけ測定のグイナミソクレンジを拡大することが
できる。本発明の構成は光方向性結合器を使用するもの
よりｆｉ造が簡単であり、装置を小型に製作することが
できる。
半導体レーザを用いて通過光を増幅する場合には、測定
グイナミンクレンジを大幅に改善することができる。上
記実施例では一つの半導体レーザの増幅率は８ｄＢであ
ったが、原理的にはがなり高い増幅が可能であり、条件
を改善することにより高い増幅率を得ることが期待でき
る。
グイナミンクレンジを大幅に改善することができる。上
記実施例では一つの半導体レーザの増幅率は８ｄＢであ
ったが、原理的にはがなり高い増幅が可能であり、条件
を改善することにより高い増幅率を得ることが期待でき
る。
また、半導体レーザを光デー１−回路に使用すると、そ
の応答周波数は２Ｇ肚にも達するので、この種の測定の
距離分解能を大きく向」二することができる。
の応答周波数は２Ｇ肚にも達するので、この種の測定の
距離分解能を大きく向」二することができる。
本発明は、通信用光フアイバケーブルの非破壊試験にき
わめて有用である。
わめて有用である。
第１図は従来例装置のブロック構成図。
第２図は本発明実施例装置のブロック構成図。
第３図は上記実施例装置の信号波形図。
■・・・光源、２・・・駆動回路、４・・・光方向性結
合器、５・・・被試験光ファイバ、７・・・光電変換器
、１３・・・光ゲート回路、１４・・・駆動回路、１５
・・・アイソレータ。 特許出願人 日本電信電話公社 代理人弁理士 井 出 直 孝 ソ 篤 Ｉ Ｍ 第 ３ 図 手続補正書 昭和５９年８月３０日 １、”１１件の表示 昭和５８年特許願第１９５０２４号 ２、 発明の名称 光ファイバの試験方法および装置３
、補正をする考 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号名 称
（４２２）日本電信電話公社 代表者 真 藤 恒 ４、代理人 ５、 補正命令の日（＝１ （自発補正）（１） 明細
書第１０頁第１７行目〜同頁第１９行目［上記実施例装
置では・・・・ことができた。」をつぎのとおり補正す
る。 「上記実施例装置の試験結果を第４図に示す。この試験
結果は、光ファイバ５として全長２０．８ｋｍの単一モ
、−ド光ファイバを用い、後方散乱光電力の入射光電力
に対する相対値を時間軸上で測定したものである。光源
の光パルスピーク電力は３ ｄＢｍ光パルス幅は１μｓ
である。半導体レーザ装置１として、ＩｎＧａＡｓＰ
Ｂ Ｈ構造のものであって、発振波長１．３ μｍのも
のを用いた。この半導体レーザ装置は、レーザ発振闇値
は約５６ｍＡであり、上述の高いレベルの駆動電流を１
００ｍ八に、低いレベルの駆動電流を５３．２ｍＡに設
定した。第４図から後方散乱光は光ファイバ５の全長に
わたり４（す定され、後方散乱光の電力比は一２７ｄＢ
まで測定可能であることがわかる。すなわち、この装置
のダイナミックレンジは約−２７ｄＢである。第１図に
示すような従来例装置のダイナミ・７クレンジは約１８
ｄＢであるので、本発明により測定装置が簡単化される
とともに、そのダイナミックレンジが飛躍的に改善され
ることがわかる。 つぎに、上記半導体レーザ装置の光増幅特性とくにその
レベル直線性を試験した結果を示す。第５図はその試験
結果である。この試験は、半導体レーザ装置に低いレベ
ルの駆動電流５３．２ｍＡを与えておき、短い光ファイ
バを介してこの半導体レーザ装置に一２７ｄＢｍから一
４８ｄＢｍの光信号を入射させて、その増幅特性を測定
した結果である。第５図から、半導体レーザ装置を低い
レベルの駆動電流で駆動された光増幅器は、上述の人力
信号レベルの範囲で、増幅利得約１９ｄＢのよい直線性
が得られることがわかる。」 （２）明細書第１３頁第６行目 「・・・信号波形図。」につづいて次の文を加入する。 「第４図は本発明実施例装置の試験結果を示す図。 第５図は本発明実施例装置に使用される半導体レーザ装
置を光増幅器としたときの増幅特性測定結果を示す図。 」 （３）図面第４図および第５図として添付図面を追加す
る。 ９、添付書類の目録
合器、５・・・被試験光ファイバ、７・・・光電変換器
、１３・・・光ゲート回路、１４・・・駆動回路、１５
・・・アイソレータ。 特許出願人 日本電信電話公社 代理人弁理士 井 出 直 孝 ソ 篤 Ｉ Ｍ 第 ３ 図 手続補正書 昭和５９年８月３０日 １、”１１件の表示 昭和５８年特許願第１９５０２４号 ２、 発明の名称 光ファイバの試験方法および装置３
、補正をする考 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号名 称
（４２２）日本電信電話公社 代表者 真 藤 恒 ４、代理人 ５、 補正命令の日（＝１ （自発補正）（１） 明細
書第１０頁第１７行目〜同頁第１９行目［上記実施例装
置では・・・・ことができた。」をつぎのとおり補正す
る。 「上記実施例装置の試験結果を第４図に示す。この試験
結果は、光ファイバ５として全長２０．８ｋｍの単一モ
、−ド光ファイバを用い、後方散乱光電力の入射光電力
に対する相対値を時間軸上で測定したものである。光源
の光パルスピーク電力は３ ｄＢｍ光パルス幅は１μｓ
である。半導体レーザ装置１として、ＩｎＧａＡｓＰ
Ｂ Ｈ構造のものであって、発振波長１．３ μｍのも
のを用いた。この半導体レーザ装置は、レーザ発振闇値
は約５６ｍＡであり、上述の高いレベルの駆動電流を１
００ｍ八に、低いレベルの駆動電流を５３．２ｍＡに設
定した。第４図から後方散乱光は光ファイバ５の全長に
わたり４（す定され、後方散乱光の電力比は一２７ｄＢ
まで測定可能であることがわかる。すなわち、この装置
のダイナミックレンジは約−２７ｄＢである。第１図に
示すような従来例装置のダイナミ・７クレンジは約１８
ｄＢであるので、本発明により測定装置が簡単化される
とともに、そのダイナミックレンジが飛躍的に改善され
ることがわかる。 つぎに、上記半導体レーザ装置の光増幅特性とくにその
レベル直線性を試験した結果を示す。第５図はその試験
結果である。この試験は、半導体レーザ装置に低いレベ
ルの駆動電流５３．２ｍＡを与えておき、短い光ファイ
バを介してこの半導体レーザ装置に一２７ｄＢｍから一
４８ｄＢｍの光信号を入射させて、その増幅特性を測定
した結果である。第５図から、半導体レーザ装置を低い
レベルの駆動電流で駆動された光増幅器は、上述の人力
信号レベルの範囲で、増幅利得約１９ｄＢのよい直線性
が得られることがわかる。」 （２）明細書第１３頁第６行目 「・・・信号波形図。」につづいて次の文を加入する。 「第４図は本発明実施例装置の試験結果を示す図。 第５図は本発明実施例装置に使用される半導体レーザ装
置を光増幅器としたときの増幅特性測定結果を示す図。 」 （３）図面第４図および第５図として添付図面を追加す
る。 ９、添付書類の目録
Claims (6)
- （１）被試験光ファイバの一端から光パルス信号を入射
し、その被試験光ファイバで上記光パルス信号の反射光
または後方散乱光として生じる逆方向の伝播光を上記一
端で受光することによりその被試験光ファイバの試験を
行う方法において、上記被試験光ファイバの上記一端か
ら送出される上記逆方向の伝播光を上記光パルス信号を
発生ずる光源を通過させて受光することを特徴とする光
ファイバの試験方法。 - （２）光源が半導体レーザ装置であり、光パルスを発生
した後にこの半導体レーザに発振闇値より低いレヘルの
駆動電流を与えて通過する光を増幅する特許請求の範囲
第（１）項に記載の光ファイバの試験方法。 - （３）光源と、この光源が光パルス信号を発生するよう
にこの光源をパルス状に駆動する駆動電源回路と、上記
光源の出力光出射端と被試験光ファイバの一端とを光学
的に結合する結合手段と、上記被試験光ファイバで発生
し上記一端から送出される上記光パルス信号による逆方
向の伝播光を受光する光、電変換器を含む受光手段とを
備えた光ファイバの試験装置において、 上記受光手段は、上記光ファイバの一端から上記結合手
段を経由してさらに上記光源を通過した光を受光するよ
うに、上記光源の出力光出射端の反対側に設置されたこ
とを特徴とする光ファイバの試験装置。 - （４）光源は半導体レーザにより構成され、駆動電源回
路は、光源が光パルス信号を発生するパルス状の駆動電
流を送出した後に、被試験光ファイバの内部で発生する
逆方向伝播光が通過するタイミングに上記光源がその通
過する光を増幅する領域の低いレヘルの駆動電流を送出
するように構成された特許請求の範囲第（３）項に記載
の光ファイバの試験装置。 - （５）受光手段には光電変換器に入射する光に対して光
ゲート回路を備え、光源が光パルス信号を発生ずるタイ
ミングでは、上記光ゲート回路が遮断状態になるように
制御される特許請求の範囲第（３）項に記載の光ファイ
バの試験装置。 - （６） 光ゲート回路が半導体レーザにより構成され、
この光ゲート回路を逆方向の伝播光が通過するタイミン
グでは上記半導体レーザがその通過光を増幅するレベル
に駆動電流を供給する手段を備えた特許請求の範囲第（
５）項に記載の光ファイバの試験装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19502483A JPS6086438A (ja) | 1983-10-18 | 1983-10-18 | 光フアイバの試験方法および装置 |
| EP19840307138 EP0138623B1 (en) | 1983-10-18 | 1984-10-17 | Test method for optical fibres and apparatus for performing the test method |
| CA000465698A CA1224936A (en) | 1983-10-18 | 1984-10-17 | Test method for optical fibers and apparatus therefor |
| DE8484307138T DE3478499D1 (en) | 1983-10-18 | 1984-10-17 | Test method for optical fibres and apparatus for performing the test method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19502483A JPS6086438A (ja) | 1983-10-18 | 1983-10-18 | 光フアイバの試験方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6086438A true JPS6086438A (ja) | 1985-05-16 |
Family
ID=16334263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19502483A Pending JPS6086438A (ja) | 1983-10-18 | 1983-10-18 | 光フアイバの試験方法および装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0138623B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6086438A (ja) |
| CA (1) | CA1224936A (ja) |
| DE (1) | DE3478499D1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6246227A (ja) * | 1985-08-24 | 1987-02-28 | Anritsu Corp | 光部品の反射点測定方法 |
| JP2018013346A (ja) * | 2016-07-19 | 2018-01-25 | 横河電機株式会社 | 安定化光源機能付光パルス試験器 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IT1179209B (it) * | 1984-06-13 | 1987-09-16 | Bordoni Ugo Fondazione | Metodo per la rivelazione di rotture in un cavo in fibra ottica |
| US5028775A (en) * | 1989-06-30 | 1991-07-02 | Anritsu Corporation | Optical time domain reflectometer using optical element with three control modes of oscillation, attenuation and amplification |
| US5013907A (en) * | 1990-03-27 | 1991-05-07 | Tektronix, Inc. | Optical time domain testing instrument |
| EP1632766A1 (de) | 2004-09-03 | 2006-03-08 | Alcatel | Verfahren zum reflektometrischen Über-prüfen einer optischen Übertragungs-leitung, sowie optische Einrichtung und optische Sende- und Empfangseinrichtung |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5183546A (ja) * | 1974-12-07 | 1976-07-22 | Licentia Gmbh |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5478156A (en) * | 1977-12-05 | 1979-06-22 | Hitachi Ltd | Detector of break point of optical fibers |
| US4243320A (en) * | 1979-03-20 | 1981-01-06 | Northern Telecom Limited | Methods for testing optical fibres |
-
1983
- 1983-10-18 JP JP19502483A patent/JPS6086438A/ja active Pending
-
1984
- 1984-10-17 CA CA000465698A patent/CA1224936A/en not_active Expired
- 1984-10-17 DE DE8484307138T patent/DE3478499D1/de not_active Expired
- 1984-10-17 EP EP19840307138 patent/EP0138623B1/en not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5183546A (ja) * | 1974-12-07 | 1976-07-22 | Licentia Gmbh |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6246227A (ja) * | 1985-08-24 | 1987-02-28 | Anritsu Corp | 光部品の反射点測定方法 |
| JP2018013346A (ja) * | 2016-07-19 | 2018-01-25 | 横河電機株式会社 | 安定化光源機能付光パルス試験器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0138623A3 (en) | 1986-01-02 |
| CA1224936A (en) | 1987-08-04 |
| EP0138623A2 (en) | 1985-04-24 |
| EP0138623B1 (en) | 1989-05-31 |
| DE3478499D1 (en) | 1989-07-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10985520B2 (en) | Long-distance fiber optic distributed acoustic sensing amplification system and method thereof | |
| CN105762621B (zh) | 具有完整光学计量功能的掺稀土光纤放大器 | |
| JP2957696B2 (ja) | 光学的時間ドメイン反射計 | |
| US4960989A (en) | Optical time domain reflectometer having a receiver with selectively controlled gain | |
| JP3411436B2 (ja) | 光通信線路の監視方法 | |
| EP0605301B1 (en) | Optical time domain reflectometer | |
| JPH0387627A (ja) | 光パルス試験器 | |
| JPH04218744A (ja) | オプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメータ | |
| JPH07147565A (ja) | ポンプパワーと入力パワーを監視する装置を有する光ファイバ増幅器 | |
| CN115963477A (zh) | 一种基于外腔受激拉曼放大的激光雷达光源 | |
| EP0138623B1 (en) | Test method for optical fibres and apparatus for performing the test method | |
| JP5515199B2 (ja) | 光パルス試験装置及びその調整方法 | |
| JP3222046B2 (ja) | 光ファイバ歪測定装置 | |
| US5500731A (en) | Optical time domain reflectometer using ring laser light source | |
| JPH0244225A (ja) | 光パルス試験装置 | |
| JPH05102583A (ja) | 光フアイバ増幅器 | |
| JPH039237A (ja) | 光パルス試験器 | |
| JPS6173051A (ja) | 光フアイバの試験装置 | |
| JP2769504B2 (ja) | 光パルス試験装置 | |
| JPH02266245A (ja) | 光伝送システム監視方法 | |
| JP2665458B2 (ja) | 光ファイバアナライザ用光回路 | |
| CN210741668U (zh) | 一种光纤振动测量的光路结构 | |
| JPH06109584A (ja) | 光ファイバ測定装置 | |
| JP5189435B2 (ja) | 光パルス試験器 | |
| JP4041242B2 (ja) | 光パルス試験器 |