JPS6088284U - 検査ヘツドの接続機構 - Google Patents

検査ヘツドの接続機構

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Publication number
JPS6088284U
JPS6088284U JP18117083U JP18117083U JPS6088284U JP S6088284 U JPS6088284 U JP S6088284U JP 18117083 U JP18117083 U JP 18117083U JP 18117083 U JP18117083 U JP 18117083U JP S6088284 U JPS6088284 U JP S6088284U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pins
support plate
connection mechanism
insulating substrate
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18117083U
Other languages
English (en)
Inventor
星合　文広
村田　秀世
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP18117083U priority Critical patent/JPS6088284U/ja
Publication of JPS6088284U publication Critical patent/JPS6088284U/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は従来の検査ヘッドの接続機構を示す側断面図、
第２図は第１図の分解斜視図、第３図は本考案−実施例
の検査ヘッドの接続機構を示す側断面図、第４図は第３
図の分解斜視図である。 １・・・・・・プローブ配列板、２・・・・・・測定プ
ローブ、３・・・・・・配線、４，１４・・・・・・底
板、４ａ、１４ａ・・・・・・孔（部）、５・・・・・
・検査ヘッド装着部、６・・・・・・コネクタ（６ａ・
・・・・・雄コネクタ、６ｂ・・・・・・雌コネクタ）
、７・・・・・・側壁板、８・・・・・・絶縁基板、９
・・・・・・ピン、１０，２０・・・・・・布線試験機
、１１・・・・・・検査測定部、１２・・・・・・接続
プローブ、１３・・・・・・位置決めピン、１４ｂ・・
・・・・位置決め孔、１６・・・・・・加圧機構、１０
ａ・・・・・・棚部、２０ａ・・・・・・中仕切り部、
２０ｂ・・・・・・絶縁支持板、Ａ、　Ｂ・・・・・・
検査ヘッド。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 中段の絶縁基板上に一部ピッチで貫挿植立した複数の導
    電性を有するピンと、前記ピンの上端から配線を介して
    上部のプローブ配列板に貫挿植立した測定プローブの下
    端と接続し、かつ前記ピンの配列と同一位置で下部の絶
    縁支持板に貫挿設立した接続プローブと、前記接続プロ
    ーブの下端を配線を介して検査測定回路の端子に接続さ
    せ、かつ前記接続プローブと前記ピンとの配列位置を一
    致させる位置決めピン及び位置決め孔を前記絶縁基板と
    絶縁支持板の周縁部にそれぞれ設けた構造を有すること
    を特徴とする検査ヘッドの接続機構。
JP18117083U 1983-11-24 1983-11-24 検査ヘツドの接続機構 Pending JPS6088284U (ja)

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JP18117083U JPS6088284U (ja) 1983-11-24 1983-11-24 検査ヘツドの接続機構

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JP18117083U JPS6088284U (ja) 1983-11-24 1983-11-24 検査ヘツドの接続機構

Publications (1)

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JPS6088284U true JPS6088284U (ja) 1985-06-17

Family

ID=30392647

Family Applications (1)

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JP18117083U Pending JPS6088284U (ja) 1983-11-24 1983-11-24 検査ヘツドの接続機構

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55147363A (en) * 1979-05-08 1980-11-17 Toshiba Corp Device for automatically testing wiring bedplate
JPS57122368A (en) * 1981-01-23 1982-07-30 Toshiba Corp Inspecting apparatus for printed circuit board

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55147363A (en) * 1979-05-08 1980-11-17 Toshiba Corp Device for automatically testing wiring bedplate
JPS57122368A (en) * 1981-01-23 1982-07-30 Toshiba Corp Inspecting apparatus for printed circuit board

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