JPS6388765U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6388765U JPS6388765U JP18449486U JP18449486U JPS6388765U JP S6388765 U JPS6388765 U JP S6388765U JP 18449486 U JP18449486 U JP 18449486U JP 18449486 U JP18449486 U JP 18449486U JP S6388765 U JPS6388765 U JP S6388765U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grid plate
- inspection machine
- grid
- probe head
- pin insertion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 14
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 5
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 4
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 4
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
第１図は本考案に係る布線検査機用アダプタを
用いたプリント基板の布線検査状態の一実施例を
示す概略的分解斜視図、第２図は同じく布線検査
機用アダプタのカセツト構造を示す概略的分解斜
視図、第３図は第１図―線におけるピン挿入
状態を示す要部拡大断面図、第４図は従来の布線
検査機用アダプタを用いたプリント基板の布線検
査状態の概略的分解斜視図、第５図は同じく布線
検査機用アダプタの斜視図である。 １……布線検査機本体、２……プローブヘツド
ピン、３……オングリツド板、４……連結具、５
……オフグリツド板、６……プリント基板、６ａ
，６ｂ……検査ポイント、Ｌ０……プローブヘツ
ドピンのピツチ間隔、ｌ１，ｌ２，ｌ３……検査
ポイントのピツチ間隔。
用いたプリント基板の布線検査状態の一実施例を
示す概略的分解斜視図、第２図は同じく布線検査
機用アダプタのカセツト構造を示す概略的分解斜
視図、第３図は第１図―線におけるピン挿入
状態を示す要部拡大断面図、第４図は従来の布線
検査機用アダプタを用いたプリント基板の布線検
査状態の概略的分解斜視図、第５図は同じく布線
検査機用アダプタの斜視図である。 １……布線検査機本体、２……プローブヘツド
ピン、３……オングリツド板、４……連結具、５
……オフグリツド板、６……プリント基板、６ａ
，６ｂ……検査ポイント、Ｌ０……プローブヘツ
ドピンのピツチ間隔、ｌ１，ｌ２，ｌ３……検査
ポイントのピツチ間隔。
Claims (1)
- 検査機本体の一定のピツチでグリツド状に配列
された多数のプローブヘツドピン側に位置するオ
ングリツド板と、このオングリツド板に適宜の間
隔を存して重ね合せ配置されかつ検査すべきプリ
ント基板側に位置するオフグリツド板とから組合
せ構成され、このオフグリツド板に、前記検査機
本体のプローブヘツドピンが挿入されるピン挿入
孔を前記検査すべきプリント基板の検査ポイント
と同一の位置に穿設してなる一方、この各々のオ
フグリツド板のピン挿入孔に対応するピン挿入孔
を、前記検査機本体に配列されたプローブヘツド
ピンと同一のピツチで前記オングリツド板に穿設
したことを特徴とする布線検査機用アダプタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986184494U JPH0637336Y2 (ja) | 1986-11-29 | 1986-11-29 | 布線検査機用アダプタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986184494U JPH0637336Y2 (ja) | 1986-11-29 | 1986-11-29 | 布線検査機用アダプタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6388765U true JPS6388765U (ja) | 1988-06-09 |
| JPH0637336Y2 JPH0637336Y2 (ja) | 1994-09-28 |
Family
ID=31132223
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986184494U Expired - Lifetime JPH0637336Y2 (ja) | 1986-11-29 | 1986-11-29 | 布線検査機用アダプタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0637336Y2 (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55163468A (en) * | 1979-06-06 | 1980-12-19 | Toshiba Corp | Inspecting method and device for circuit substrate |
| JPS5629475U (ja) * | 1979-08-15 | 1981-03-20 | ||
| JPS5662577U (ja) * | 1979-10-19 | 1981-05-27 | ||
| JPS61190867U (ja) * | 1985-05-20 | 1986-11-27 |
-
1986
- 1986-11-29 JP JP1986184494U patent/JPH0637336Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55163468A (en) * | 1979-06-06 | 1980-12-19 | Toshiba Corp | Inspecting method and device for circuit substrate |
| JPS5629475U (ja) * | 1979-08-15 | 1981-03-20 | ||
| JPS5662577U (ja) * | 1979-10-19 | 1981-05-27 | ||
| JPS61190867U (ja) * | 1985-05-20 | 1986-11-27 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0637336Y2 (ja) | 1994-09-28 |