JPS6097230A - 圧力変換器 - Google Patents
圧力変換器Info
- Publication number
- JPS6097230A JPS6097230A JP58205234A JP20523483A JPS6097230A JP S6097230 A JPS6097230 A JP S6097230A JP 58205234 A JP58205234 A JP 58205234A JP 20523483 A JP20523483 A JP 20523483A JP S6097230 A JPS6097230 A JP S6097230A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resistors
- temperature
- resistor
- amplifier circuit
- pressure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 12
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 12
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract description 8
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/20—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress
- G01L1/22—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges
- G01L1/2268—Arrangements for correcting or for compensating unwanted effects
- G01L1/2281—Arrangements for correcting or for compensating unwanted effects for temperature variations
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は圧力変換器に関し、特に半導体感圧素子を用い
た圧力変換器の温度特性の改良に関する。
た圧力変換器の温度特性の改良に関する。
従来、この種の半導体圧力変換器では、半導体ダイアフ
ラム上に形成された感圧素子を用いてホイートストンブ
リッジ回路(以下、単にブリッジ変化を、該ブリッジ回
路を定電圧あるいは定電流源で駆動することによって該
ブリッジ回路の不平衡電圧として検出し、該不平衡電圧
を差動増幅回路でさらに増幅することにより印加圧力ζ
こ比例した出力信号を取り出していた。第1図に該圧力
変換器の具体的な構成例を示す。図において、−リーシ
は感圧素子1.2.3.4で構成されるブリッジ回路、
5は該ブリッジ回路に定電圧を印加するための駆動端子
、6及び7は該ブリッジ回路の不平衡電圧検出端子をそ
れぞれ示す。感圧素子1〜4としては例えば半導体ダイ
アフラム上に選択拡散、イオン注入等により形成された
不純物拡散領域が用いられ、感圧素子1.3と感圧素子
2.4は、それぞれ同一印加圧力に対し互いに逆方向の
抵抗値変化を示すよう、その長手及び横手方向の結晶軸
が選択されて配列されている。この結果、印加圧力に対
して例えば感圧素子2.4の抵抗値が増大すると、感圧
素子1.3の抵抗値は逆に減少し、この結果、ブリッジ
回路100の不平衡電圧検出端子6.7間には印加圧力
に比例した不平衡電圧△Eが得られる。該不平衡電圧△
Eは、3個の演算増幅器8.9.10と抵抗11.12
.13.14.15.16.17とで構成される増幅回
路、姐頂こよって増幅・シングルエンド化される。該増
幅回路200において、抵抗11.12.13及び演算
増幅器8.9から成る前段増幅回路(201)は、イン
ピーダンス変換(高入力抵抗−低出力抵抗)を達成する
と同時にブリッジ回路1」の不平衡電、圧△E(該前段
増幅回路にとっては差動入力)を増幅する。すなわち、
圧力が印加されない状態でのブリッジ回路上の端子6及
び7の電圧をともにVcm、印加圧力によって生じる端
子6及び7の対称な電圧変化分をそれぞれvz(=△E
/2)及びvl(=−△E/2)、抵抗11.12及び
13の抵抗値をそれぞれR,、Rs及びR8とすると、
演算増幅器8及び9の出力端子18及び19に得られる
電圧V。1及如はそれぞ撤式で与えられる。
ラム上に形成された感圧素子を用いてホイートストンブ
リッジ回路(以下、単にブリッジ変化を、該ブリッジ回
路を定電圧あるいは定電流源で駆動することによって該
ブリッジ回路の不平衡電圧として検出し、該不平衡電圧
を差動増幅回路でさらに増幅することにより印加圧力ζ
こ比例した出力信号を取り出していた。第1図に該圧力
変換器の具体的な構成例を示す。図において、−リーシ
は感圧素子1.2.3.4で構成されるブリッジ回路、
5は該ブリッジ回路に定電圧を印加するための駆動端子
、6及び7は該ブリッジ回路の不平衡電圧検出端子をそ
れぞれ示す。感圧素子1〜4としては例えば半導体ダイ
アフラム上に選択拡散、イオン注入等により形成された
不純物拡散領域が用いられ、感圧素子1.3と感圧素子
2.4は、それぞれ同一印加圧力に対し互いに逆方向の
抵抗値変化を示すよう、その長手及び横手方向の結晶軸
が選択されて配列されている。この結果、印加圧力に対
して例えば感圧素子2.4の抵抗値が増大すると、感圧
素子1.3の抵抗値は逆に減少し、この結果、ブリッジ
回路100の不平衡電圧検出端子6.7間には印加圧力
に比例した不平衡電圧△Eが得られる。該不平衡電圧△
Eは、3個の演算増幅器8.9.10と抵抗11.12
.13.14.15.16.17とで構成される増幅回
路、姐頂こよって増幅・シングルエンド化される。該増
幅回路200において、抵抗11.12.13及び演算
増幅器8.9から成る前段増幅回路(201)は、イン
ピーダンス変換(高入力抵抗−低出力抵抗)を達成する
と同時にブリッジ回路1」の不平衡電、圧△E(該前段
増幅回路にとっては差動入力)を増幅する。すなわち、
圧力が印加されない状態でのブリッジ回路上の端子6及
び7の電圧をともにVcm、印加圧力によって生じる端
子6及び7の対称な電圧変化分をそれぞれvz(=△E
/2)及びvl(=−△E/2)、抵抗11.12及び
13の抵抗値をそれぞれR,、Rs及びR8とすると、
演算増幅器8及び9の出力端子18及び19に得られる
電圧V。1及如はそれぞ撤式で与えられる。
一方、抵抗14〜17及び演算増幅器10から感゛る出
力段増幅回路(202)は差動入力をシングル・エンド
出力に変換する。いま、抵抗14.15,16及び17
の抵抗値をR4、Rs、R6及びR7とすると、演算増
幅器10の出力端子20に得られる出力電圧V。は次式
で与えられる。
力段増幅回路(202)は差動入力をシングル・エンド
出力に変換する。いま、抵抗14.15,16及び17
の抵抗値をR4、Rs、R6及びR7とすると、演算増
幅器10の出力端子20に得られる出力電圧V。は次式
で与えられる。
ここでvu 、Vll及びV、。は該出力段増幅回路(
202)に対する入力電圧の差動成分及び同相成分で、
前段増幅回路(201)の出力電圧v6I及びVo2と
の関係は、それぞれV4z−C%2 V。1)/2=V
ll。
202)に対する入力電圧の差動成分及び同相成分で、
前段増幅回路(201)の出力電圧v6I及びVo2と
の関係は、それぞれV4z−C%2 V。1)/2=V
ll。
vlc =(vat + VO2)/2で定義される。
そこでいま、前段増幅回路(201’)における抵$1
2と13の抵抗値が等しく選定されていると(& =R
s )、V+□11.及びviaはそれぞれ次のように
なる。
2と13の抵抗値が等しく選定されていると(& =R
s )、V+□11.及びviaはそれぞれ次のように
なる。
ViI、=vcIrL(’、゛V、 = −V2 )
(5)したがって、出力段増幅回路(202)における
抵抗14.15.16及び17の抵抗値R4、Rs 、
R6及びR7をRs / R4= R7/ R4(R
4R)= & R8)に選定すれば、(3)式は となり、同相電圧成分VcrrLは除去され、プリソジ
不平衡電圧△E(= vz Vl ) が増幅、シング
ルエンド化された出力電圧■。が出力端子20に得られ
る。
(5)したがって、出力段増幅回路(202)における
抵抗14.15.16及び17の抵抗値R4、Rs 、
R6及びR7をRs / R4= R7/ R4(R
4R)= & R8)に選定すれば、(3)式は となり、同相電圧成分VcrrLは除去され、プリソジ
不平衡電圧△E(= vz Vl ) が増幅、シング
ルエンド化された出力電圧■。が出力端子20に得られ
る。
しかしながら、定電、圧で駆動される上記圧力変換器で
は、ピエゾ抵抗係数の負の温度係数により温度の上昇と
ともに圧力感度が低下する欠点があった。
は、ピエゾ抵抗係数の負の温度係数により温度の上昇と
ともに圧力感度が低下する欠点があった。
この感度の温度変動を補償するため、従来、出力段増幅
回路(202)を構成する演算増幅器10のフィードバ
ック回路を正の温度係数をもつ拡散抵抗で構成すること
により増幅度に正の温度係数を与える第2図に示すよう
な構成の圧力変換器(特開昭56−145327 )が
提案されている。図において、21は感圧素子1〜4と
同一半導体基板上の 。
回路(202)を構成する演算増幅器10のフィードバ
ック回路を正の温度係数をもつ拡散抵抗で構成すること
により増幅度に正の温度係数を与える第2図に示すよう
な構成の圧力変換器(特開昭56−145327 )が
提案されている。図において、21は感圧素子1〜4と
同一半導体基板上の 。
圧力不感部に設けられた拡散抵抗、22は半導体基板外
の抵抗で、これらが並列接続されて演算増幅器10のフ
ィードバンク回路(出力端子−反転入力端子間)が構成
されている。なお、同図において抵抗23及び24は、
駆動端子5及び26に供給される駆動電圧を分圧し、端
子27に得られる該分圧電圧vbを抵抗17ヲ介して演
算増幅器10の非反転端子に導びくことにより出力端子
20の直流レベルを調整するゼロ点調整回路を構成して
いる。拡散抵抗21 と並列接続された抵抗22とから
成るフィードバック回路の抵抗値をR,とすると、該圧
力変換器の出力電圧V。は、次式で与えられる。
の抵抗で、これらが並列接続されて演算増幅器10のフ
ィードバンク回路(出力端子−反転入力端子間)が構成
されている。なお、同図において抵抗23及び24は、
駆動端子5及び26に供給される駆動電圧を分圧し、端
子27に得られる該分圧電圧vbを抵抗17ヲ介して演
算増幅器10の非反転端子に導びくことにより出力端子
20の直流レベルを調整するゼロ点調整回路を構成して
いる。拡散抵抗21 と並列接続された抵抗22とから
成るフィードバック回路の抵抗値をR,とすると、該圧
力変換器の出力電圧V。は、次式で与えられる。
上式において、同相電圧成分(第3項)を零とし、差M
Kh電圧成分(V1* Vl+ )にのみ比例した出力
型、圧v0を得るためにはR4R7−R,R,= Oな
る関係が恒等的に成立しなければならない。しかしなが
ら、上記構成の圧力変換器では、R8のみが正の温度係
数を示し、R4、R6及びR7は温度依存性をもたない
(またはR,に比び温度係数が極めて小さい)ので、上
記関係式を成立させることができるのは成る一点の温度
のみとなる。この結果、同相利得が温度とともに変化す
るので、印加圧力とは無関係な温度と同相電圧成分Vi
eに依存したオフセット電圧が発生し、これが温度とと
もに変動する欠点があった。また、(力式の第4項から
明らかなように、ゼロ点調整電圧■bに対する利得が温
度依存性をもつことになるので温度変化によりゼロバラ
ンスが崩れる欠点もあった。
Kh電圧成分(V1* Vl+ )にのみ比例した出力
型、圧v0を得るためにはR4R7−R,R,= Oな
る関係が恒等的に成立しなければならない。しかしなが
ら、上記構成の圧力変換器では、R8のみが正の温度係
数を示し、R4、R6及びR7は温度依存性をもたない
(またはR,に比び温度係数が極めて小さい)ので、上
記関係式を成立させることができるのは成る一点の温度
のみとなる。この結果、同相利得が温度とともに変化す
るので、印加圧力とは無関係な温度と同相電圧成分Vi
eに依存したオフセット電圧が発生し、これが温度とと
もに変動する欠点があった。また、(力式の第4項から
明らかなように、ゼロ点調整電圧■bに対する利得が温
度依存性をもつことになるので温度変化によりゼロバラ
ンスが崩れる欠点もあった。
以上、詳しく説明したように、従来の圧力変換器では、
感度の温度補償に伴ない、温度変動による同相利得の増
大(同相除去比の減少)ならびにゼロバランスの変動が
発生する欠点があった。
感度の温度補償に伴ない、温度変動による同相利得の増
大(同相除去比の減少)ならびにゼロバランスの変動が
発生する欠点があった。
本発明は上記従来の圧力変換器の欠点を解消するために
なされたもので、その目的は圧力変換器が備えるべき諸
性能を損なうことなく感度の温度補償が可能な優れた性
能の圧力変換器を提供することにある。
なされたもので、その目的は圧力変換器が備えるべき諸
性能を損なうことなく感度の温度補償が可能な優れた性
能の圧力変換器を提供することにある。
本発明によれば、すくなくとも−辺に半導体タイアノラ
ム上に形成された不純物拡散領域からなる感圧素子を含
むホイートストンブリッジ回路と、非反転入力端子がそ
れぞれ前記ブリッジ回路の不平′#電圧検出端子に導び
かれるとともに反転入力端子が第1の抵抗を介して相互
に接続された第1及び第2の演算増幅器と、該第1及び
第2の演算増幅器の反転入力端子と出力端子の間にそれ
ぞれ接続された第2及び第3の抵抗と、反転及び非反転
入力端子がそれぞれ第4及び第5の抵抗を介してiII
記第1及び第2の演算増幅器の出力端子と接続された第
3の演算増幅器と、該第3の演算増幅器の反転入力端子
と出力端子の間に接続された第6の抵抗と、該第3の演
算増幅器の非反転入力端子とバイアス端子との間に接続
された第7の抵抗から成る圧力変換器において、すくな
くとも前記第6及び第7の抵抗が、前記第4及び第5の
抵抗よりも大きな正の抵抗温度係数を有する感温拡散抵
抗を用いて構成されたことを特徴とする圧力変換器が得
られる。
ム上に形成された不純物拡散領域からなる感圧素子を含
むホイートストンブリッジ回路と、非反転入力端子がそ
れぞれ前記ブリッジ回路の不平′#電圧検出端子に導び
かれるとともに反転入力端子が第1の抵抗を介して相互
に接続された第1及び第2の演算増幅器と、該第1及び
第2の演算増幅器の反転入力端子と出力端子の間にそれ
ぞれ接続された第2及び第3の抵抗と、反転及び非反転
入力端子がそれぞれ第4及び第5の抵抗を介してiII
記第1及び第2の演算増幅器の出力端子と接続された第
3の演算増幅器と、該第3の演算増幅器の反転入力端子
と出力端子の間に接続された第6の抵抗と、該第3の演
算増幅器の非反転入力端子とバイアス端子との間に接続
された第7の抵抗から成る圧力変換器において、すくな
くとも前記第6及び第7の抵抗が、前記第4及び第5の
抵抗よりも大きな正の抵抗温度係数を有する感温拡散抵
抗を用いて構成されたことを特徴とする圧力変換器が得
られる。
以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第3図は、本発明に従う圧力変換器の一実施例を示す構
成図である。図において、1匹−は第1図及び第2図に
示したと同じく感圧素子1.2.3.4で構成されるブ
リッジ回路、27及び28は該ブリッジ回路1世定電圧
駆動するための駆動端子をそれぞれ示し、廷旦は、演算
増幅器aoa、 3ob。
成図である。図において、1匹−は第1図及び第2図に
示したと同じく感圧素子1.2.3.4で構成されるブ
リッジ回路、27及び28は該ブリッジ回路1世定電圧
駆動するための駆動端子をそれぞれ示し、廷旦は、演算
増幅器aoa、 3ob。
30cと抵抗31.32.33.34.36及び抵抗3
4.36よりも大きな正の抵抗温度係数を有する感温拡
散抵抗35.37からなる差動増幅回路を示す。本実施
例における差動増幅回路aOOは、基本的には、2個の
演算増幅器30a、 30b を用いた前段増幅回路(
301)でブリッジ不平衡雷、圧の増幅とインピーダン
ス変換を行ない、演算増幅器30cを用(・た出力段増
幅回路(302)で差動−シングル・エンド変換を達成
する構成となっている。そして、本実施例の特徴とする
ところは、出力段増幅回路(302)の演算増幅器30
cに接続された各抵抗要素34〜37において、35及
び37が抵抗34及び36よりも大きな正の温度係数を
有する感温拡散抵抗を用いて構成されている点にある。
4.36よりも大きな正の抵抗温度係数を有する感温拡
散抵抗35.37からなる差動増幅回路を示す。本実施
例における差動増幅回路aOOは、基本的には、2個の
演算増幅器30a、 30b を用いた前段増幅回路(
301)でブリッジ不平衡雷、圧の増幅とインピーダン
ス変換を行ない、演算増幅器30cを用(・た出力段増
幅回路(302)で差動−シングル・エンド変換を達成
する構成となっている。そして、本実施例の特徴とする
ところは、出力段増幅回路(302)の演算増幅器30
cに接続された各抵抗要素34〜37において、35及
び37が抵抗34及び36よりも大きな正の温度係数を
有する感温拡散抵抗を用いて構成されている点にある。
本実施例における抵抗34及び36としては、抵抗31
.32.33とともに、実用上固定抵抗と見なし得る程
度に温度係数の小さな、例えば金属皮膜抵抗等を用いる
ことができる。また、感温拡散抵抗35及び37として
は、例えば感圧素子1〜4と同一半導体基板上の圧力不
感部に形成された不純物拡散領域からなる拡散抵抗を用
いることができる。
.32.33とともに、実用上固定抵抗と見なし得る程
度に温度係数の小さな、例えば金属皮膜抵抗等を用いる
ことができる。また、感温拡散抵抗35及び37として
は、例えば感圧素子1〜4と同一半導体基板上の圧力不
感部に形成された不純物拡散領域からなる拡散抵抗を用
いることができる。
以下、第3図を参照しつつ本実施例の効果を説明するが
、ここでは便宜上、第1図、第2図の説明と同様、圧力
が印加されない状態でのブリッジ回路100〜の端子6
及び7の電圧をともにV眞(したがって不平衡電圧△E
=O)、印加圧力によって生じる端子6及び7の電圧の
変化をそれぞれv2及びvl(△E = v2 Vl
)とし、 v2−△E/2及びvl=−△E/2なる対
称な市、圧変化が得られるものとする。また、抵抗31
.32.33.34.36の抵抗値は第1図の11.1
2.13.14.16と同じ< R,、R2R5、R4
、R6を用いて表わし、感温拡散抵抗35及び37はR
,I+(1+久t)及びR0フ(1+dt)で表わすこ
ととする。ここで、Ro、及びR07は基準温度におけ
る感温拡散抵抗35及び37の抵抗値、σは該感温拡散
抵抗35及び37の抵抗温度係数、tは前記基準温度か
らの温度の変化を示しており、感温拡散抵抗35及び3
7がそれぞれ同一半導体基板上に同一工程で製造された
同一表面不純物濃度を有する拡散抵抗で構成されるなら
ば、両者についてのべ及びtはともに等しい値となる。
、ここでは便宜上、第1図、第2図の説明と同様、圧力
が印加されない状態でのブリッジ回路100〜の端子6
及び7の電圧をともにV眞(したがって不平衡電圧△E
=O)、印加圧力によって生じる端子6及び7の電圧の
変化をそれぞれv2及びvl(△E = v2 Vl
)とし、 v2−△E/2及びvl=−△E/2なる対
称な市、圧変化が得られるものとする。また、抵抗31
.32.33.34.36の抵抗値は第1図の11.1
2.13.14.16と同じ< R,、R2R5、R4
、R6を用いて表わし、感温拡散抵抗35及び37はR
,I+(1+久t)及びR0フ(1+dt)で表わすこ
ととする。ここで、Ro、及びR07は基準温度におけ
る感温拡散抵抗35及び37の抵抗値、σは該感温拡散
抵抗35及び37の抵抗温度係数、tは前記基準温度か
らの温度の変化を示しており、感温拡散抵抗35及び3
7がそれぞれ同一半導体基板上に同一工程で製造された
同一表面不純物濃度を有する拡散抵抗で構成されるなら
ば、両者についてのべ及びtはともに等しい値となる。
以上を前提にすると、本実施例の前段増幅回路(301
)における演算増幅器30a及び30bの出力端子38
及び39に得られる電圧Vel及びVatは、第1図と
同じ<(1)及び(2)式で与えられ、抵抗32と抵抗
33の抵抗値が等しく選定されていれば(&=R8)、
出力増幅回路(302)に対する入力電圧の差動成分v
Us vll及び同相成分Vlcはそれぞれ(4)及び
(5)式で与えられる。
)における演算増幅器30a及び30bの出力端子38
及び39に得られる電圧Vel及びVatは、第1図と
同じ<(1)及び(2)式で与えられ、抵抗32と抵抗
33の抵抗値が等しく選定されていれば(&=R8)、
出力増幅回路(302)に対する入力電圧の差動成分v
Us vll及び同相成分Vlcはそれぞれ(4)及び
(5)式で与えられる。
一方、出力段増幅回路(302)における演算増幅器3
0cの出力端子40に得られる出カ雷圧v6は、(3)
式におけるR5及びR,が、本実施例ではそれぞれRa
5 (1+αt)及びu、t (1+訊t)となるよう
構成が修正されているので、端子29に印加されるゼp
点調整電圧をvb−0とすると次式で与えられる。
0cの出力端子40に得られる出カ雷圧v6は、(3)
式におけるR5及びR,が、本実施例ではそれぞれRa
5 (1+αt)及びu、t (1+訊t)となるよう
構成が修正されているので、端子29に印加されるゼp
点調整電圧をvb−0とすると次式で与えられる。
(8)
したがって、出力段増幅回路(302)における抵抗3
4.36の抵抗値R4、Rs及び感温拡散抵抗35.3
7の基準温度における抵抗値Ra8 、 Re? の間
の関係をR,s /R4= R,t / Rs (R4
・R,y Ras −Rs ) に選定すれば、(4)
、(5)式より上式は ・。=〜逆聾す・(1+k)・(v2− vl )R4
R+ (9) となり、同相電圧成分VOWが完全に除去され、ブリッ
ジ回路100の不平衡電圧△E (= vt V+)の
みが増幅、温度補償されたシングルエンド出力が該圧力
変換器の出力端子40に取り出される。すなわち、(9
)式から明らかなように、本実施例では、差動増幅回路
4蜆の増幅度に感温拡散抵抗35及び37の正の温度係
数べに基づく正の温度係数を付与することができるので
、ピエゾ抵抗係数の負の温度係数に基づく圧力感度の負
の温度係数を効果的に補償することが可能である。しか
も、本実施例の出力段増幅回路(302)では、第2図
に示した従来構成の如き温度変化に伴なう各抵抗間のア
ンバランスを生じない。したがって、温度変化による同
相利得の増大は抑止され、上記従来構成の欠点であった
温度と同相電圧成分V(1mに依存して発生する余分な
オフセット電圧を完全に除去することができる。′また
同じ理由から、端子29にゼp点調整を圧V、が印加さ
れても、該電圧■、に対する保たれるので、従来構成の
欠点であったゼロバランスの温度変動も抑止される。
4.36の抵抗値R4、Rs及び感温拡散抵抗35.3
7の基準温度における抵抗値Ra8 、 Re? の間
の関係をR,s /R4= R,t / Rs (R4
・R,y Ras −Rs ) に選定すれば、(4)
、(5)式より上式は ・。=〜逆聾す・(1+k)・(v2− vl )R4
R+ (9) となり、同相電圧成分VOWが完全に除去され、ブリッ
ジ回路100の不平衡電圧△E (= vt V+)の
みが増幅、温度補償されたシングルエンド出力が該圧力
変換器の出力端子40に取り出される。すなわち、(9
)式から明らかなように、本実施例では、差動増幅回路
4蜆の増幅度に感温拡散抵抗35及び37の正の温度係
数べに基づく正の温度係数を付与することができるので
、ピエゾ抵抗係数の負の温度係数に基づく圧力感度の負
の温度係数を効果的に補償することが可能である。しか
も、本実施例の出力段増幅回路(302)では、第2図
に示した従来構成の如き温度変化に伴なう各抵抗間のア
ンバランスを生じない。したがって、温度変化による同
相利得の増大は抑止され、上記従来構成の欠点であった
温度と同相電圧成分V(1mに依存して発生する余分な
オフセット電圧を完全に除去することができる。′また
同じ理由から、端子29にゼp点調整を圧V、が印加さ
れても、該電圧■、に対する保たれるので、従来構成の
欠点であったゼロバランスの温度変動も抑止される。
したがって、本実施例によれは、従来構成の欠点であっ
た温度変化による増幅回路の同相利得の増大ならびにゼ
ロバランスの変動が解消された感度の温度補償が達成さ
れ、高性能の圧力変換器が得られる。
た温度変化による増幅回路の同相利得の増大ならびにゼ
ロバランスの変動が解消された感度の温度補償が達成さ
れ、高性能の圧力変換器が得られる。
上記本実施例において、圧力感度の温度係数を零にする
ためには、増幅回路3 (l Oの増幅度の温度係数、
すなわち感温拡散抵抗35.37の抵抗温度係数(正の
値)を、ブリッジ回路1匹を構成する感圧素子1〜4の
ピエゾ抵抗係数の温度係数(負の値)の絶対値と等しく
選べばよい。これは、一般には、感圧素子1〜4と感温
拡散抵抗35.37を構成する不純物拡散領域の不純物
濃度をそれぞれ適宜制御することにより達成される。
ためには、増幅回路3 (l Oの増幅度の温度係数、
すなわち感温拡散抵抗35.37の抵抗温度係数(正の
値)を、ブリッジ回路1匹を構成する感圧素子1〜4の
ピエゾ抵抗係数の温度係数(負の値)の絶対値と等しく
選べばよい。これは、一般には、感圧素子1〜4と感温
拡散抵抗35.37を構成する不純物拡散領域の不純物
濃度をそれぞれ適宜制御することにより達成される。
なお、n形シリコン基板に形成されたp形不純物領域か
らなる拡散抵抗の場合、表面不純物濃度が10”cm−
”及び10%−”の2点において、抵抗温度係数(正の
値)とピエゾ抵抗係数温度係数(負の値)の絶体値が等
しくなる。したがって、表面不純物濃度を上記条件に選
べば、感度温度補償のだめの感温拡散抵抗35,37を
感圧素子1〜4と同一工程で製造することが可能となり
、きわめて効果的で、かつ製造の容易な感度温度補償が
達成できる。
らなる拡散抵抗の場合、表面不純物濃度が10”cm−
”及び10%−”の2点において、抵抗温度係数(正の
値)とピエゾ抵抗係数温度係数(負の値)の絶体値が等
しくなる。したがって、表面不純物濃度を上記条件に選
べば、感度温度補償のだめの感温拡散抵抗35,37を
感圧素子1〜4と同一工程で製造することが可能となり
、きわめて効果的で、かつ製造の容易な感度温度補償が
達成できる。
上記実施例においては、増幅回路300の前段増幅回路
(301)を構成する抵抗31.32.33を、抵抗3
4.36とともに実用上固定抵抗と見なし得る程度に温
度係数の小さな、例えば金属皮膜抵抗等としたが、これ
らはかならずしも温度係数の小さな抵抗である必要はな
く温度依存性をもつ抵抗であってもよい。すなわち、抵
抗31.32.33の間の温度係数さえ等しく選定され
ていれば、これらの温度係数は互いにキャンセルされ、
前段増幅回路(301)の増幅度は温度依存性をもたな
くなるので、抵抗31,32.33を例えば感温拡散抵
抗35.37と同一工程で形成された拡散抵抗等として
も上記実施例と全く同様な効果が得られる。この場合、
感圧素子1〜4、感温拡散抵抗35.37及び拡散抵抗
31.32.33をすべて同一工程で製造できるので、
容易にIC化し得る演算増幅器も含め、抵抗34.36
を除く上記実施例の構成要素が同一半導体基板上にオン
チップ可能となる。この結果、外付部品数が大幅に削減
され、組立・調整工数の大幅な削減がはかれる。
(301)を構成する抵抗31.32.33を、抵抗3
4.36とともに実用上固定抵抗と見なし得る程度に温
度係数の小さな、例えば金属皮膜抵抗等としたが、これ
らはかならずしも温度係数の小さな抵抗である必要はな
く温度依存性をもつ抵抗であってもよい。すなわち、抵
抗31.32.33の間の温度係数さえ等しく選定され
ていれば、これらの温度係数は互いにキャンセルされ、
前段増幅回路(301)の増幅度は温度依存性をもたな
くなるので、抵抗31,32.33を例えば感温拡散抵
抗35.37と同一工程で形成された拡散抵抗等として
も上記実施例と全く同様な効果が得られる。この場合、
感圧素子1〜4、感温拡散抵抗35.37及び拡散抵抗
31.32.33をすべて同一工程で製造できるので、
容易にIC化し得る演算増幅器も含め、抵抗34.36
を除く上記実施例の構成要素が同一半導体基板上にオン
チップ可能となる。この結果、外付部品数が大幅に削減
され、組立・調整工数の大幅な削減がはかれる。
まだ、上記実施例では、抵抗34,36を金属皮膜抵抗
等の温度係数の小さな外付抵抗とし、抵抗35.37を
半導体基板上の拡散抵抗とすることにより増幅度に正の
温度係数を与えたが、抵抗34.36を感温拡散抵抗3
5及び37と同一基板上に形成された比較的温度係数の
小さな拡散抵抗で構成することによっても同様に増幅度
に正の温度係数を与えることが可能である。これは、例
えば、抵抗34.36と抵抗35.37を構成する不純
物拡散領域の不純物濃度をそれぞれ異なる値に設定する
等の方法により達成され、全IC化圧力変換器の提供を
可能にする。
等の温度係数の小さな外付抵抗とし、抵抗35.37を
半導体基板上の拡散抵抗とすることにより増幅度に正の
温度係数を与えたが、抵抗34.36を感温拡散抵抗3
5及び37と同一基板上に形成された比較的温度係数の
小さな拡散抵抗で構成することによっても同様に増幅度
に正の温度係数を与えることが可能である。これは、例
えば、抵抗34.36と抵抗35.37を構成する不純
物拡散領域の不純物濃度をそれぞれ異なる値に設定する
等の方法により達成され、全IC化圧力変換器の提供を
可能にする。
さらに、上記実施例では、説明の便宜上、抵抗31〜3
3.34.36及び35.37がそれぞれ、いずれも単
一の抵抗体で構成されていたが、本発明に従う圧力変換
器では、これらが種々の抵抗値あるいは抵抗温度係数を
有する複数個の抵抗体による■直列接続■並列接続■直
並列接続で構成されたものであっても何らさしつかえな
い。
3.34.36及び35.37がそれぞれ、いずれも単
一の抵抗体で構成されていたが、本発明に従う圧力変換
器では、これらが種々の抵抗値あるいは抵抗温度係数を
有する複数個の抵抗体による■直列接続■並列接続■直
並列接続で構成されたものであっても何らさしつかえな
い。
以上、詳しく説明したように、本発明によれば従来技術
の欠点が解消され、圧力変換器が備えるべき諸性能を損
なうことなく感度温度補償が可能な高性能圧力変換器が
実現される。
の欠点が解消され、圧力変換器が備えるべき諸性能を損
なうことなく感度温度補償が可能な高性能圧力変換器が
実現される。
第1図は従来の圧力変換器の典凰的な構成を示す図、第
2図は感度温度補償を施した圧力変換器の従来例を示す
図、第3図は本発明の一実施例を示す図である。 ■−ブリッジ回路、1.2.3.4・・・感圧素子、5
.25.26.27.28・・・ブリッジ駆動端子、2
00・・・差動増111iA回路、(201)・・・前
段増幅回路、(202)・・・出力段増幅回路、8.9
.10・・・演算増幅器11.12.13.14.15
.16.17・・・抵抗20・・・出力端子、21・・
・拡散抵抗、22・・・抵抗、300・・・差動増幅回
路、(301)・・・前段増幅回路、(302)・・・
出力段増幅回路、 30a、 30b、 30cm演算増幅器、31.32
.33.34.36・・・抵抗、35.37・・・感温
拡散抵抗、 29・・・ゼp点調整電圧印加端子、
2図は感度温度補償を施した圧力変換器の従来例を示す
図、第3図は本発明の一実施例を示す図である。 ■−ブリッジ回路、1.2.3.4・・・感圧素子、5
.25.26.27.28・・・ブリッジ駆動端子、2
00・・・差動増111iA回路、(201)・・・前
段増幅回路、(202)・・・出力段増幅回路、8.9
.10・・・演算増幅器11.12.13.14.15
.16.17・・・抵抗20・・・出力端子、21・・
・拡散抵抗、22・・・抵抗、300・・・差動増幅回
路、(301)・・・前段増幅回路、(302)・・・
出力段増幅回路、 30a、 30b、 30cm演算増幅器、31.32
.33.34.36・・・抵抗、35.37・・・感温
拡散抵抗、 29・・・ゼp点調整電圧印加端子、
Claims (1)
- すくなくとも−辺に半導体ダイアクラム上に形成された
不純物拡散領域からなる感圧素子を含むホイートストン
ブリッジ回路と、非反転入力端子がそれぞれ前記ブリッ
ジ回路の不平衡電圧検出端子に導びかれるとともに反転
入力端子が第1の抵抗を介して相互に接続された第1及
び第2の演算増幅器と、該第1及び第2の演算増幅器の
反転入力端子と出力端子の間にそれぞれ接続された第2
及び第3の抵抗と、反転及び非反転入力端子がそれぞれ
第4及び第5の抵抗を介して前記第1及び第2の演算増
幅器の出力端子と接続された第3の演算増幅器と、該第
3の演算増幅器の反転入力端子と出力端子の間に接続さ
れた第6の抵抗と、該第3の演算増幅器の非反転入力端
子とバイアス端子との間に接続された第7の抵抗から成
る圧力変換器において、すくなくとも前記第6及び第7
の抵抗が、前記第4及び第5の抵抗よりも大きな正の抵
抗温度係数を有する感温拡散抵抗を用いて構成されたこ
とを特徴とする圧力変換器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58205234A JPS6097230A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 圧力変換器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58205234A JPS6097230A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 圧力変換器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6097230A true JPS6097230A (ja) | 1985-05-31 |
Family
ID=16503623
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58205234A Pending JPS6097230A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 圧力変換器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6097230A (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5649933A (en) * | 1979-10-01 | 1981-05-06 | Toshiba Corp | Semiconductor pressure detector |
| JPS5663227A (en) * | 1979-10-30 | 1981-05-29 | Toshiba Corp | Pressure detecting device |
| JPS56118374A (en) * | 1980-02-22 | 1981-09-17 | Hitachi Ltd | Semiconductor strain gauge |
| JPS56145327A (en) * | 1980-04-15 | 1981-11-12 | Fuji Electric Co Ltd | Pressure transducer |
| JPS5845532A (ja) * | 1981-09-11 | 1983-03-16 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 圧力変換器 |
-
1983
- 1983-11-01 JP JP58205234A patent/JPS6097230A/ja active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5649933A (en) * | 1979-10-01 | 1981-05-06 | Toshiba Corp | Semiconductor pressure detector |
| JPS5663227A (en) * | 1979-10-30 | 1981-05-29 | Toshiba Corp | Pressure detecting device |
| JPS56118374A (en) * | 1980-02-22 | 1981-09-17 | Hitachi Ltd | Semiconductor strain gauge |
| JPS56145327A (en) * | 1980-04-15 | 1981-11-12 | Fuji Electric Co Ltd | Pressure transducer |
| JPS5845532A (ja) * | 1981-09-11 | 1983-03-16 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 圧力変換器 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3071202B2 (ja) | 半導体圧力センサの増巾補償回路 | |
| EP0086462B1 (en) | Pressure sensor employing semiconductor strain gauge | |
| JPS59217375A (ja) | 半導体機械−電気変換装置 | |
| JPS6144242B2 (ja) | ||
| EP0543056B1 (en) | Temperature dependent current generator | |
| JPH0159525B2 (ja) | ||
| JP2002116105A (ja) | 物理量検出装置 | |
| US6101883A (en) | Semiconductor pressure sensor including a resistive element which compensates for the effects of temperature on a reference voltage and a pressure sensor | |
| JPS60152913A (ja) | 圧力変換器 | |
| JPH10339680A (ja) | 半導体圧力センサ | |
| JP2610736B2 (ja) | 半導体圧力センサの増幅補償回路 | |
| JPH08226862A (ja) | センサおよび該センサにおける測定範囲変動を温度補償する方法 | |
| JPH0682844B2 (ja) | 半導体歪変換装置 | |
| JPS6097231A (ja) | 圧力変換器 | |
| JPH05281254A (ja) | 半導体加速度センサ | |
| JPS59188567A (ja) | 信号変換回路 | |
| JPS59188516A (ja) | 信号変換回路 | |
| JPH0611625Y2 (ja) | ストレンゲージ用増幅器 | |
| JPH11304617A (ja) | 半導体センサ | |
| JPS59196416A (ja) | 信号変換回路 | |
| JPS59171822A (ja) | 温度検出回路 | |
| JPS62185137A (ja) | 圧力センサの温度補償回路 | |
| JPS60152912A (ja) | 温度補償回路 | |
| JPS6044822A (ja) | 歪抵抗ブリッジ増幅回路 | |
| JPH0545130B2 (ja) |