JPS61100645A - サンプル物体のｎｍｒ検査を行なう方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の青貝 この発明は核磁気共鳴（ＮＭＲ）検査を行なう方法に関
する。更に具体的に云えば、この発明はベースライン誤
丹を略同じ様に減少しながら、従来の方式よりも一層短
い時間内にＮＭＲ検査を行なうのに有用なＮＭＲ方法に
関する。

米国特許第３，７８１，６５０号には、スピン共鳴分光
計の受信機に於ける干渉を減少する方法が記載されてい
る。この方法では、一方の位相角を持つ第１組の無線周
波（ＲＦ）励振パルス及び第１１１に対して１８０°位
相がずれた第２ＩｌのＲＦ励振パルスを発生する。一方
の組のパルスによって発生された歳差運動の自由減衰信
号を、他方の組によって発生された歳差運動の自由減衰
信号から減算する。励振されたサンプルからの信号は強
め合うが、干渉信号は相殺される。

この米国特許では、ＮＭＲ解析分光計の場合の方法が記
載されており、従って、人間である被検体のＮＭＲ検査
の場合の様に、走査時間の短ｗＪ並びに磁界勾配の影響
には関係がない。人間である被検体を検査する場合には
、ＮＭＲを医学に用いる場合の患者の処理値を増加する
為、並びに患者の動きによる人為効果の慣れを減少する
為に、走査時間の短縮が重要である。作像の様なＮＭＲ
の検査では、像を再生することが出来る様に、ＮＭＲ信
号に空間情報を符号化する為に、磁界勾配が必要である
。

米国特許４，４４３．７６ＯＮには、ＮＭＲスピンエコ
ー信号を発生するのに用いる１８０”ＲＦ時間反転パル
スが不完全であることによって生ずる擬似自由誘導減衰
（ＦＩＤ＞信号による干渉を除く方法が記載されている
。この目的を達成する１つの方法は、相次ぐ励振パルス
を相対的に１８０°移相し、この結果得られたＮＭＲ信
号を減算して、擬似ＦＩＤ信号を除くことである。この
方法は、直流電圧オフセット並びに磁界勾配に伴う残留
効果の様なこの他の誤差成分を除（のにも有効である。

擬似ＦＩＤ信号、直流電圧オフセット及び勾配の残留効
果を以下明細書では包括的に「ベースライン誤差成分」
と呼／Ｋ　６擬似ＦＩＤの影響を除く別の方法は、スピ
ンエコーを発生する相次ぐ１８０’ＲＦパルスを移相し
、ＮＭＲ信号を加偉することである。擬似ＦＥＤ信号が
移相していて相殺され、これに対して所望の信号は強め
合う。

米国特許第４．４４３．７６０号について上に述べた種
類の位相交番ＲＦ励振を使うことに伴う欠点は、ＮＭＲ
作像の用途では、９０°ＲＦパルスの符号を反転して、
作像パルス順序の一部分を繰返すことである。成る用途
では、こうすると、雑音が除かれるだけでなく、信号対
雑音比が改善されるので、こういうことが望ましいこと
がある。

成る装置、特に強い磁界を用いる装置では、信号対雑音
比をよくする必要がないことがある。この場合、この方
法によると、データ収集過程が不要に長びく。

従って、この発明の目的は、データ収集時間を短縮しな
がら、ベースライン誤差成分を実質的に除く方法を提供
することである。

発明の概要 サンプル物体のＮＭＲ検査を行なう方法が、サンプル物
体の領域内にある核スピンを励振し、その結果出来るＮ
ＭＲ信号を受信する多重工程を含む。更にこの方法は、
互いに１８０°位相がずれた少なくとも１対のＲＦパル
スを用いてサンプル物体を照射することを含む。１対の
ＲＦパルスによるＮＭＲ信号を用いて、ベースライン誤
差信号を取出し、これを使って他のＮＭＲ信号のベース
ライン誤差成分を補償することが出来る。

１実施例では、この方法をＮＭＲ作像方法と共に用いて
、ベースライン誤差成分を目立って減少しながら、走査
時間を短縮する。

この発明の新規と考えられる特徴は特許請求の範囲に具
体的に記載しであるが、この発明自体の構成、作用及び
その他の目的並びに利点は、以下図面について説明する
所から最もよく理解されよう。

発明の詳細な説明 第１図のこの発明の好ましい実施例を説明する為のＮＭ
Ｒ作像装置の簡略ブロック図である。然し、この発明を
任意の適当な装置を用いて有利に実施することが出来る
ことを承知されたい。装置１００はパルス制御モジュー
ル１１２を持ち、これがホスト・コンピュータ１１４の
制御の下に、包括的に１１６で示した磁界勾配電源に対
し、正しいタイミングのパルス信号を供給し、全体をブ
ロック１１８で示した勾配コイル集成体の一部分を構成
する勾配コイルを付勢する。この集成体は、電源によっ
て付勢された時、デカルト座標系の夫々ｘ、■及び２方
向の向きを持つＧｘ、Ｇｙ及びＧ２磁界勾配を発生する
コイルを持っている。へＭＲ，作像の用途でＧｘ、Ｇｙ
及びＧ２勾配′を使うことは後で第２図及び第３図につ
いて説明する。

更に第１図の説明を続けると、パルス制御モジュールが
ＲＦ合成器１２０に作動パルスを供給する。ＲＦ合成器
はＲＦ送受信装置の一部分であり、この送受信装置の一
部分が破線のブロック１２２の中に入っている。パルス
制御モジュールは、ＲＦ周波数合成器の出力を変調する
変調器１２４にも変調信号を供給する。変調されたＲＦ
倍信号ＲＦ電力増幅器１２８及び発信／受信スイッチ１
３　。

０を介して、ＲＦコイル集成体１２６に印加される。こ
のＲＦ倍信号使って、検査を受けるサンプル物体く図に
示してない）内の核スピンを励振りる。

励振された核スピンから゛のＮＭＲ信号をＲＦコイル集
成体で拾い、発信／受信スイッチを介してＲＦ前置増幅
器１３２に印加し、その後直角位相検波器１３４に印加
する。検出された信号がＡ／Ｄ変換器１３６によってデ
ィジタル化され、例えばサンプルのＮＭＲ９を再生する
為に、周知の形で処理する為にコンピュータ１１４に印
加される。

第２図は４つのグラフを示している。これらのグラフは
、２次元フーリエ変換（２ＤＦＴ）と呼ばれ、「スピン
捩れ形」とも呼ばれる形式の普通の作像パルス順序と呼
ぶことが出来る。このパルス順序は、検査しているサン
プルの像を再生する為の作像データを周知の形で求める
のに役立つ。

このパルス順序は、前掲米国特許第４．４４３゜７６０
号に記載されていて、この明ｌｌ１ｍでも後で簡単に説
明する位相交番ＲＦ励振パルスをも利用する。このＲＦ
励振パルスによって位相交番のＮＭＲ信号が発生される
。これらの信号を減ｉする時、位相が反転した信号成分
は強め合うが、その位相が反転されなかったベースライ
ン誤差成分は相殺される。

こういうことを普通のパルス順序で達成するや　　　　
゛り方を次に第２因について説明する。第２図はパルス
順序の４つの位相符号化の図Ａ、Ａ’　、Ｂ及びＢ′を
示している。実際には、パルス順序は゛例えば１２８個
、２５６個又は５１２個の位相符号化の図を持つている
。第２図の図Ａについて説明すると、（横軸に沿って示
す）期間１に、正のＧＺ１ｉ界勾配パルスの存在の下に
印加される選択゛　性９０°ＲＦ励振パルスが示されて
いる。第１図のパルスミ制御モジュール１２が周波数合
成器及び変調器に対して所要のｌ１８！１ＩＩｌ信号を
供給して、この結果得られる励振パルスが正しい周波数
であると共に、サンプルの予定の領域にある核スピンだ
けを励振する様に正しく変調される様にする。典型的に
は、励振パルスは５ｉｎｘ／Ｘ関数によって振幅変調す
ることが出、来る。パルスの周波数は、印加された磁界
の強さ並びに作像するＮＭＲ種目に従って、周知のラー
マ方程式に従って変化する。

パルス制御モジュールが勾配電源にも作動信号を印加し
て、この場合はＧ２勾配パルスを発生する。

第２図について説明を続けると、期間２にＧＸｒＧｙ及
びＧ２勾配パルスが同時に印加される。１４間２のＧ２
勾配は位相戻しパルスであって、期間２にわたる勾配波
形の時間積分が期間１にわたる勾配波形の時間積分の一
１／２に大体等しくなる様に選ぶのが典型的である。こ
のＧ２パルスの作用は、期間１に励振された核スピンの
位相戻しをすることである。Ｇｙ勾配パルスは位相符号
化パルスであって、各々の図Ａ、Ｂ・・・等で異なる振
幅を持つ様に選ばれ、勾配の方向に空間情報を符号化す
る。第２図の実施例では、図Ａ′及びＢ′のＧｙ勾配の
振幅が夫々図へ及びＢの勾配の振幅と等しくなる様に選
ばれている。相異なるＧｙ勾配の振幅の数は、典型的に
は、再生像がｙ軸方向に持つ画素の数に少なくとも等し
くなる様に選ぶのが典型的である。典型的には、１２８
個、２５６個又は５１２個の勾配の振幅が選ばれる。

期間２のＧオ勾配パルスは、スピンエコー信号Ｓ１　（
ｔ）が発生する時刻を期間４に遅延させる為に、励振さ
れた核スピンを予定口だけ位相外しする為に必要な位相
外しパルスである。スピンエコーが、期間３に典型的に
は非選択性の１８０゜ＲＦパルスを印加することによっ
て発生される。

公知であるが、１８０’ＲＦパルスは時間反転パルスで
あって、スピンの位相外しの方向を反転し、　　　　゛
こうしてスピンエコー信号を発生する。勾配の方向の空
間情報を符号化する為の直線的なＧえ勾配パルスの存在
の下に、期間４にスピンエコー信号を標本化する。

精密な時間反転パルスは発生するのが困難である。実際
には、不完全なパルスは関心が持たれるサンプル物体の
領域全体にわたって正確に１８０°だけ核スピンの方向
を反転しない。領域の成る部分では、核スピンが回転す
る角度が１８０゜より小さかったり大ぎくなったりし、
こうして横方向磁化成分を生じ、それが擬似ＮＭＲ信号
（第２図の図Ａ及びＡ′に破線で示す）の原因であり、
これが所望のスピンエコー信号と共に検出されることは
避けられない。擬似ＮＭＲ信号が他のベースライン誤差
成分と共に、望ましくない像の人為効果を発生すること
がある。

第２図のパルス順序で、ベースライン誤差が、追加の位
相符号化の図Ａ′を使うことによって除かれる。図Ａ′
は位相符号化の図Ａと実質的に同一であるが、図Ａ′の
期間５のＲＦ励振パルスが図ＡのＭ間７の励振パルスに
対して（マイナスの符号で示す様に＞１８０”位相がず
れる様に選ばれ、この為、期間８に発生するスピンエコ
ー信号Ｓ２　（ｔ）が期間４のスピンエコー信号Ｓｉ（
ｔ）に対して１８０°位相がずれる点が異なる。然し、
期間７の１８０″ＲＦパルスによって期間７及び８に発
生する擬似ＦＩＤ信号は、期間３のＦＩＤ信月上向じま
為である。この為、信号Ｓｉ（ｔ）及びＳｚ　（ｔ）を
減算すれば、信号５ｚ（ｔ）の符号が反転したく負にな
った）信号成分だけが残る。ベース誤差成分は相殺され
る。

ベースライン誤差を相殺する動作は、次の式によって要
約することが出来る。

Ｓｉ　　（ｔ　　）　　−８（ｔ　　）＋Ｂ　　（ｔ　
　）　　　　　　＜１）Ｓｚ　　（ｔ　　）−−８（ｔ
　　）＋Ｂ　　（ｔ　　）　　　　　（２）こ）でＳｚ
＜ｊ）及び８２（ｔ）は夫々期間４及び８のスピンエコ
ー信号であり、Ｓ　（ｔ　）がＮＭＲ信丹の所望の成分
であり、Ｂ（ｔ）がベースライン誤差成分である。信号
Ｓｉ（１）及び５２（１）を処理する普通のやり方は Ｓ　Ｎ　）”＝１／２１Ｓｉ　　（ｊ　）−８２（ｔ　
））であり、この結果、一定のベースライン誤差成分Ｂ
　（ｔ　）が除かれる。式（３）に示す動作は、２つの
信号を平均化することにより、信号対雑音比の、予想さ
れるＦフの改善をも行なう。

位相符号化の図Ａ及びＡ′に対して上に述べた過程が図
Ｂ及びＢ′並びに位相符号化Ｇｙ勾配の全ての振幅に対
する他の図に対しても繰返される。

第２図に示したパルス順序を使ってベースライン誤差成
分を除くことは、必然的に、平均の最低限の数が２であ
ることを意味する。然し、強い磁界の作像装置では、固
有の信号対雑音比が十分高くて、有用な像を発生する為
に２つの平均を必要としない。つまり、信号対雑音比を
Ｊ２倍にすることを必要としない様な状況でのデータ収
集時間は、不必要に２倍になっている。

この発明以＋”ｉｉには、位相符号化の図を繰返す（例
えば第２図のＡ−Ａ’　、Ｂ−８’等）ことをせずに、
ベースライン誤差を除く満足し得る方法がなかった。

この発明では、夫々式（１）及び（２）によって表わさ
れる信号Ｓｉ（ｔ）及び８２（ｔ＞を減算する代りに加
算すれば、所望のＮＭＲ信号５（１）ではなく、ベース
ライン誤差信号Ｂ　（ｔ　）を復元することが出来るこ
とが認識された。即ち、Ｂ　（ｔ　）　＝１／２　［Ｓ
ｉ　　（ｔ　）　＋３２　　（（）　］式（５）を用い
て得られるベースライン信号が位相符号化勾配Ｇｙと無
関係であれば、例えば第２図の図Ａ及びＡ′で得られた
信号Ｓｉ（ｔ）及びＳｚ（［＞を使って、それを１回で
決定することが出来る。この後、このベースライン信号
を使っで相次ぐ図に於ける位相符号化勾配の各々の振幅
に対応する全てのスピンエコー信号で、ベースライン誤
差を補償することが出来る。

然し、Ｇｙをその振幅笥囲にわたって歩進させる時、Ｂ
（ｔ）にかなりの変動があって、Ｂ（ｔ）の１つの値が
、全ての図で構成されたデータの組全体に正確に及ばな
いことが判った。然し、この発明では、例えば位相符号
化勾配Ｇｙの４番目又は８番目（Ｎｂ　＝４又は８）の
振幅毎に、周期的に新しいベースライン誤差Ｂ（［）を
決定すれば、Ｂ（（）信号が位相符号化勾配Ｇ、による
変化に追従して、ベースライン誤差を適切に補償するこ
とが判った。例としてＮｂ＝４及び８を使うが、この他
の値を用いてこの発明を首尾よ〈実施することが出来る
ことが理解されよう。

従って、全般的に云うと、この発明では、例えば（Ｎｂ
／２）番目の図から始めて、Ｎｂ個の口角にだけ、位相
符号化Ｇｙ勾配の振幅を位相交番の励振パルスを用いて
繰返すことが必要である。

この発明の１実施例では、式（４）を用いて計算される
ベースライン信号Ｂ（ｔ）を使って、所定の図に一番近
い信号を補４することが出来る。

Ｎｂ個の口角に、新しいＢ（ｔ）信号を使う。

この発明の方法を用いた好ましい作像パルス順序を次に
第３図について説明する。

第３図は、第２図と同様であるが、この発明の１実施例
の方法を取入れた２ＤＦＴパルス順序の６つの図を示す
。この実施例では、Ｎ、が４に選ばれており、この為、
最初の位相交番ＲＦ励振パルスが第３図の期間５に発生
して、信号Ｓｉ（ｔ）と１８０°位相がずれたスピンエ
コー信号Ｓ２（’ｔ）を発生ずる。この後の位相交番Ｒ
Ｆパルスが４番目の口角に発生し、次は図６の期間２１
に発生する。例えば、Ｎｂを８に選ぶと、最初の位相交
番励振パルスが図４で現われ、その後８番目の口角に図
１２．２０・・・等に発生する。

第３図について説明すると、この発明では、（同じＧ、
勾配の振幅で得られる）信号Ｓｉ（（）及び３２　　（
ｊ’）を式（３）に示す様に用いて、図１及び２のベー
スライン誤差を補償する。更に信号Ｓｉ（ｊ）及び５ｚ
（ｊ）を式（４）に用いて、ベースライン信号Ｂ＋（ｉ
）を計ｑする。信号Ｂ＋（ｔ）を使って、夫々図１・及
び２の信号５１（１）及び８２（ｔ）に一番近い（図３
の）信号Ｓ３　（ｔ）の誤差を補償する。この為、観測
された信号５ｓ（ｔ）から、Ｂ＋（ｉ）を減算すること
により、補正信号８３′　（ｔ）が得られる。同様に、
夫々期間２０．２４に発生ずる（やはり同じＧｙ勾配の
振幅で得られた）信号Ｓ５　（【）及　　　　゛び５ｓ
（ｔ）を用いて、図５及び６の誤差を補償すると共に、
新しいベースライン誤差信号８２（１）を計算する。信
号Ｂ２（Ｉ）を使って期間１６の信号８４（ｔ）及びＳ
、ｙ（ｔ）（図に示してない）のベースライン誤差成分
を補償する。この例では、Ｇｙ勾配の振幅が図１及び２
で同一であり、図３．４及び５で増数され、図５及び６
で同一であることが判る。

場合によっては、Ｂ＋（ｔ）及びＢ２　（ｔ）を用いて
補間ベースライン誤差値Ｂ’（ｔ）を計算するのに補間
（例えば１次）を使うのが有利であ　　　　゛ることが
ある。この後、補間値Ｂ’（ｔ）を使って、信号Ｓ１　
（ｔ）及びＳ４　（ｔ）のベースライン誤差成分を補償
する。ベースライン誤差Ｂ１（ｔ）、ｉ＝３．４・・・
に対して同様な補間値を計のする。

この発明の方法を使うことにより、第２図のパルス順序
に較べて、走査時間は（１＋１／Ｎｂ）７２分に短縮さ
”れる。即ち、Ｎｂ＝４及び８では、時間は夫々５／８
及び９／１６に短縮される。

この発明の好ましい実施例を２０ＦＴパルス順序の場合
を例として説明した。当業者であれば、この発明を３次
元形の順序を用いて実施することが出来ることが理解さ
れよう。この場合、第３図の期間２，６．１０．１４等
に可変振幅のＧ２位相符号化勾配パルスを印加して、空
間的な像情報を７軸方向に符号化する。３次元スピン捩
れ形パルス順序が米国特許第４，４３１．９６８号に記
載されている。

更にこの発明をフーリエ変換形の作像順序以外の万象順
序を用いて実施することが出来ることば云うまでもない
。この様な順序の例として、２次元及び３次元の多重角
度投影再生方法がある。こういう順序では、関心のある
サンプル領域内の複数個の角度（例えば２次元形では少
なくとも１８０°の円弧にわたる）からＮＭＲ投影デー
タを求める。各々の方向に対して得られた線積分の投影
データを逆投影することにより、像が再生される。

この発明の方法は、各々の異なる投影を１つの図として
扱えば、こういう順序にもそのま１適用し得る。

この発明は、上に述べた様にスピンエコー信号ではなく
、自由誘導減衰を標本化することによってＮＭＲデータ
を収集する様なパルス順序を用いても実施することが出
来る。この場合、位相交番励振パルスにより、位相交番
のＦＩＤ信号が得られるが、ベースライン誤差成分を除
く為に、この位相交番ＦＩＤ信号をスピンエコー信号と
して扱う。ＦＩＤ信号に伴うベースライン誤差は、Ａ／
Ｄ変換器のオフセット、位相検波器のこの他の精度不良
並びに送受信装置の受信機部門に対するＲＦの漏れの惧
れによるものである。

この発明は前に述べた様に９０°ＲＦパルスではなく、
位相交番の１８０’ＲＦパルスを用いても右利に実施す
ることが出来る。この実施例では、全ての９０’ＲＦパ
ルスが同じ位相であり、その結果、ＮＭＲ信号は相対的
に位相交番にならない。

１８０°ＲＦパルスの位相を萌と同じく、Ｎｂ個の回毎
に、１８０°反転する。この為、例えば第３図の期間３
と７，１９と２３の１８０’ＲＦパルスの位相が反対に
なる。位相交番１８０°ＲＦパルスは、Ｓｚ　　（ｔ　
＞、　８２　　（ｔ　）・・・Ｓｚ（ｊ）１８号又は直
流オフセット信号成分の位相を変えない。然し、（第２
図について説明した）擬似Ｆ［Ｄ信号の位相は反転する
。一般的に、観測された信号は次の様に表わすことが出
来る。

８１　　Ｎ　）＝Ｓ　（ｒ　）＋ＳＰ　　Ｎ　）＋ＤＣ
Ｓ２　　（ｔ　）＝Ｓ　（ｊ　）　　Ｓｐ　　（ｔ　）
＋ＤＣこ１でＳ（［）は所望のＮＭＲ信号成分、５ｐ（
１）は擬似ＦＩＤ信号、ＤＣは直流オフセット信号成分
を表わす。この場合、ベースライン誤差成分Ｂ　（ｔ　
）は次の式で表わされる。

Ｂ　（ｔ　）　＝Ｓｐ　　（ｔ　）　＋ＤＣ（８）−３
Ｐ（ｔ）の値は、式（６）及び（ア）のＳｉ（１）及び
５２（ｔ）を減算することによって次゛の様に計算する
ことが出来る。

Ｓｐ　　（ｊ）＝１／２［Ｓｉ　　（ｊ）　　８２　　
（ｊ＞］ＤＣの値は、回答ＲＦ励振を印加せずに、即ち
ＮＭＲ信号が存在しない状態で、Ａ／Ｄ変換器（第１図
）の出力を測定することによって決定することが出来る
。

Ｓ’ｒ（ｔ）の計粋値及びＤＣの測定値を使って、式（
８）からＢ　（ｔ　）の値を計算する。このＢ（１）の
値を使って、前に位相交番９０’ＲＦパルスを用いるこ
の発明の実施例について述べたのと同様な形で、ベース
ライン誤差を補償することが出来る。

この発明を特定の実施例及び例について説明したが、以
上の説明から、当業者にはこの他の変更が考えられよう
。従って、特許請求の範囲内で、この発明はこ為に具体
的に説明しなかった形でも実施出来ることを承知された
い。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明を実施するのに役立つ１例としてのＮ
ＭＲ装けの一部分を示すブロック図、第２図はこの発明
がその改良となる様な作像パルス順序の１例を示すグラ
フ、第３図は作像パルス順序に用いたこの発明の１実施
例を示すグラフである。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）サンプル物体の領域内にある核スピンを励振して、
   その結果出来るＮＭＲ信号を受信する多重工程を含んで
   いて、サンプル物体のＮＭＲ検査を行なう方法に於て、
   互いに１８０°位相がずれた少なくとも１対のＲＦパル
   スを用いてサンプル物体を照射し、前記１対のＲＦパル
   スによるＮＭＲ信号から第１のベースライン誤差信号を
   取出し、こうして取出したベースライン誤差信号を用い
   て、少なくとも別の１つのＮＭＲ信号のベースライン誤
   差成分を補償する工程から成る方法。 ２）特許請求の範囲１）に記載した方法に於て、前記１
   対のＲＦパルスが、サンプル物体の予定の領域にある核
   スピンを選択的に励振する様に、磁界勾配の存在の下に
   印加された１対の選択性９０°ＲＦ励振パルスで構成さ
   れる方法。 ３）特許請求の範囲１）又は２）に記載した方法に於て
   、Ｂ（ｔ）をベースライン誤差信号、Ｓｉ（ｔ）を１対
   のＲＦパルスの内の一方によるＮＭＲ信号、Ｓ＿２（ｔ
   ）を１対のＲＦパルスの内の他方によるＮＭＲ信号とし
   て、下記の式 Ｂ（ｔ）＝１／２［Ｓｉ（ｔ）＋Ｓ２（ｔ）］を用いて
   前記ベースライン誤差信号を導き出す方法。 ４）特許請求の範囲３）に記載した方法に於て、核スピ
   ンを励振する各々の工程の後に、前記サンプル物体の前
   記領域に、プログラム可能な少なくとも１つの振幅を持
   つ位相符号化磁界勾配をかけ、直線的な磁界勾配の存在
   の下に受信ＮＭＲ信号を標本化し、前記位相符号化磁界
   勾配及び直線的な磁界勾配が、サンプル物体の領域の像
   を再生するのに役立つ空間情報を前記ＮＭＲ信号に符号
   化する様にした方法。 ５）特許請求の範囲４）に記載した方法に於て、前記位
   相符号化磁界勾配の振幅が前記１対の各々のＲＦパルス
   に対して略同一になる様に選ばれている方法。 ６）特許請求の範囲３）に記載した方法に於て、前記領
   域内の複数個の方向を持つ直線的な磁界勾配の存在の下
   に受信ＮＭＲ信号を観測して、前記領域の少なくとも一
   部分の像を再生するのに十分な線積分の投影データを符
   号化することを含む方法。 ７）特許請求の範囲３）に記載した方法に於て、互いに
   １８０°位相がずれた別の少なくとも１対のＲＦパルス
   を用いてサンプル領域を照射し、前記別の１対のＲＦパ
   ルスによるＮＭＲ信号から第２のベースライン誤差信号
   を取出し、前記第１及び第２のベースライン誤差信号を
   補間して複合ベースライン誤差信号を発生し、該複合ベ
   ースライン誤差信号を用いて少なくとも１つの別のＮＭ
   Ｒ信号のベースライン誤差成分を補償する工程を更に含
   む方法。 ８）特許請求の範囲３）に記載した方法に於て、前記Ｎ
   ＭＲ信号が複数個の１８０°ＲＦパルスを用いて励振さ
   れた核スピンを照射することによって発生されたスピン
   エコー信号で構成される方法。 ９）特許請求の範囲１）に記載した方法に於て、前記Ｎ
   ＭＲ信号が自由誘導減衰信号である方法。 １０）特許請求の範囲１）に記載した方法に於て、前記
   ＮＭＲ信号がスピンエコー信号である方法。 １１）特許請求の範囲１）に記載した方法に於て、前記
   照射する工程が、互いに１８０°位相がずれた少なくと
   も１対の１８０°ＲＦパルスを用いてサンプル物体を照
   射することを含む方法。 １２）特許請求の範囲７）に記載した方法に於て、Ｓ＿
   Ｐ（ｔ）を所望のＮＭＲ信号、Ｓ＿１（ｔ）及びＳ＿２
   （ｔ）を夫々１番目及び２番目の１８０°ＲＦパルスに
   よるＮＭＲ信号として、 Ｓ＿Ｐ（ｔ）＝１／２［Ｓ＿１（ｔ）−Ｓ＿２（ｔ）］
   、ＤＣをＲＦ励振が存在しない時に測定された出力信号
   として、次の式 Ｂ（ｔ）＝Ｓ＿Ｐ（ｔ）＋ＤＣ を用いて、前記ベースライン誤差信号が取出される方法
   。 １３）作像しようとするサンプル物体を略均質な磁界内
   に位置ぎめし、予定の領域にある核スピンを励振して対
   応する複数個のＮＭＲ信号を発生する様に、前記サンプ
   ル物体を複数個のＲＦパルスを用いて照射し、励振され
   た核スピンに関係する少なくとも１つのパラメータに関
   する空間情報を符号化する為の直線的な磁界勾配の存在
   の下に前記ＮＭＲ信号を観測し、前記観測する工程の前
   に、前記予定の領域にプログラム可能な少なくとも１つ
   の振幅を持つ位相符号化磁界勾配を印加して、励振され
   た核スピンに関係する少なくとも１つのパラメータに関
   する空間情報を位相符号化し、前記ＲＦパルスの内の少
   なくとも１対は互いに１８０°位相がずれる様に選び、
   前記位相符号化勾配の振幅は前記１対の内の各々のＲＦ
   パルスに対して略同一になる様に選択し、前記１対のＲ
   ＦパルスによるＮＭＲ信号からベースライン誤差信号を
   取出し、残りの少なくとも１つのＮＭＲ信号のベースラ
   イン誤差成分を補償する工程を含むＮＭＲ作像方法。 １４）特許請求の範囲１３）に記載したＮＭＲ作像方法
   に於て、前記１対のＲＦパルスが、前記サンプル物体の
   予定の領域にある核スピンを選択的に励振する様に、磁
   界勾配の存在の下に印加された１対の選択性９０°ＲＦ
   励振パルスで構成されるＮＭＲ作像方法。 １５）特許請求の範囲１３）又は１４）に記載したＮＭ
   Ｒ作像方法に於て、Ｂ（ｔ）をベースライン誤差信号、
   Ｓ＿１（ｔ）を１対のＲＦパルスの内の一方によるＮＭ
   Ｒ信号、Ｓ＿２（ｔ）を１対のＲＦパルスの内の他方に
   よるＮＭＲ信号として、次の式 Ｂ（ｔ）＝１／２［Ｓ＿１（ｔ）＋Ｓ＿２（ｔ）］を用
   いて前記ベースライン誤差信号を取出すＮＭＲ作像方法
   。 １６）特許請求の範囲１５）に記載したＮＭＲ作像方法
   に於て、互いに１８０°位相がずれた別の少なくとも１
   対のＲＦパルスを用いて前記サンプル領域を照射し、前
   記別の１対のＲＦパルスによるＮＭＲ信号から第２のベ
   ースライン誤差信号を取出し、前記第１及び第２のベー
   スライン誤差信号を補間して複合ベースライン誤差信号
   を発生し、該複合ベースライン誤差信号を用いて少なく
   とも１つの別のＮＭＲ信号のベースライン誤差成分を補
   償する工程を更に含むＮＭＲ作像方法。 １７）特許請求の範囲１５）に記載したＮＭＲ作像方法
   に於て、前記照射する工程によって得られたＮＭＲ信号
   が、励振された核スピンを複数個の１８０°ＲＦパルス
   で照射することによって発生されたスピンエコー信号で
   あるＮＭＲ作像方法。 １８）特許請求の範囲１３）に記載したＮＭＲ作像方法
   に於て、前記ＮＭＲ信号が自由誘導減衰信号であるＮＭ
   Ｒ作像方法。 １９）特許請求の範囲１３）に記載したＮＭＲ作像方法
   に於て、前記ＮＭＲ信号がスピンエコー信号であるＮＭ
   Ｒ作像方法。