JPS61100665A - 絶縁抵抗の測定方法 - Google Patents
絶縁抵抗の測定方法Info
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- JPS61100665A JPS61100665A JP22272084A JP22272084A JPS61100665A JP S61100665 A JPS61100665 A JP S61100665A JP 22272084 A JP22272084 A JP 22272084A JP 22272084 A JP22272084 A JP 22272084A JP S61100665 A JPS61100665 A JP S61100665A
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- 238000009413 insulation Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、系統のアースに対する絶縁抵抗を測定する方
法に関するものである。
法に関するものである。
従来の技術
第６図は系統を示す回路図であり、ＥＲ，Ｅ３゜ＥＴは
三相電源、ＥＯは三相電源ＥＲ，ＥＯ，ＥＴと同−周波
数或いは異なる周波数の零相回路用の電源であってその
電圧は電源Ｅｎ等よりも充分低い値とされている。ｚｃ
’ｒｏは母線用の零相変流器、ＺＣＴ１〜ＺＣＴｎは夫
々フィーダ１１〜ｌｔＩ用の零相変流器である。Ｚｏｉ
〜Ｚｏ−ｆ夫々フィーダ１１〜１ｎの零相インピーダン
スとすると次のように表わされる。
三相電源、ＥＯは三相電源ＥＲ，ＥＯ，ＥＴと同−周波
数或いは異なる周波数の零相回路用の電源であってその
電圧は電源Ｅｎ等よりも充分低い値とされている。ｚｃ
’ｒｏは母線用の零相変流器、ＺＣＴ１〜ＺＣＴｎは夫
々フィーダ１１〜ｌｔＩ用の零相変流器である。Ｚｏｉ
〜Ｚｏ−ｆ夫々フィーダ１１〜１ｎの零相インピーダン
スとすると次のように表わされる。
Ｚｏ１＝ Ｒ１−ｊ （１／ ωｏｃｔ ）Ｚｏｎ＝
Ｒｎ −Ｊ （１／ ＊ｏＣｎ ）ただしＲ１−Ｒ１１
は夫々フィーダ１１〜１ｎのアースに対する絶縁抵抗Ｃ
１−Ｃ−は夫々フィーダ１１〜１ｎのアースに対する静
電容量、ω０ は零相電圧の角周波数である。
Ｒｎ −Ｊ （１／ ＊ｏＣｎ ）ただしＲ１−Ｒ１１
は夫々フィーダ１１〜１ｎのアースに対する絶縁抵抗Ｃ
１−Ｃ−は夫々フィーダ１１〜１ｎのアースに対する静
電容量、ω０ は零相電圧の角周波数である。
また母線全体の零相インピーダンスＺｏｏはＺｏｏ ＝
Ｒｏ −ｊ （１／ω０ＣＯ）となる。ただし １／Ｚ００＝１／ＺＯ１＋・・・＋１／ＺＯｎ１ ／
Ｒｏ ＝ １ ／ Ｒ１＋＝・＋ １ ／ Ｒ−ＣＯ
＝Ｃｔ＋・・・→−Ｃｎ の関係が成り立っている。
Ｒｏ −ｊ （１／ω０ＣＯ）となる。ただし １／Ｚ００＝１／ＺＯ１＋・・・＋１／ＺＯｎ１ ／
Ｒｏ ＝ １ ／ Ｒ１＋＝・＋ １ ／ Ｒ−ＣＯ
＝Ｃｔ＋・・・→−Ｃｎ の関係が成り立っている。
そして母線全体に流れる零相電流はＩｏｏ＝ＥＯ／Ｚｏ
１ で浅わされ、フィーダｌｔ、 ｌ！ｌ に流れ
る零相電流は夫々Ｉｏ１＝ Ｅｏ ／Ｚｏｏ、Ｉｏｒｌ
＝ＥｏμＯ０で表わされる。
１ で浅わされ、フィーダｌｔ、 ｌ！ｌ に流れ
る零相電流は夫々Ｉｏ１＝ Ｅｏ ／Ｚｏｏ、Ｉｏｒｌ
＝ＥｏμＯ０で表わされる。
今フィーダ１１に着目すると、通常容ＪＩＩｋＣ１に流
れる電流（零相電流）Ｉｃｌは絶縁抵抗Ｒ１に流れる電
流（零相電流） ＩＡＩに比べて可成り大きく、従って
第７図に示すようにフィーダＩＩＫ流れる電流（零相電
流）ベクトルと絶縁抵抗Ｒ１を流れる電流ベクトルとの
なす角φは９０度に可成り近くなる。ここで絶縁抵抗Ｒ
１が少し低下してその電流がＩＲＩ’のようになると、
フィーダ１工に流れる電流Ｉｏｔは位相が−だげ変化し
てＩＯＩ／となり、電流■ｏ に対する位相差はφ′
となる。従って絶縁抵抗Ｒ１を流れる電流ＩＲＩ’は、
ベクトル表示するとｌ ｉａｔ’ Ｉ ＝ Ｉ ＩＯＩ
’ ｌ ｃａｉφ′として表わされる。このようなこと
から従来絶縁抵抗を求めるためには、零相変流器ＺＣＴ
１の出力が微小であることから先ずこの出力を増幅し、
更にノイズを除去するため、零相電流の周波数を中心周
波数とするバンドパスフィルターを経て計算回路に入力
し、この計算回路にて入力信号と芥相電圧とを比較して
ｌ Ｉ（，１１ｅａｓφを求めることにより絶縁抵抗を
測定するようにしていた。尚他のフィーダについても同
様にして絶縁抵抗が測定される。
れる電流（零相電流）Ｉｃｌは絶縁抵抗Ｒ１に流れる電
流（零相電流） ＩＡＩに比べて可成り大きく、従って
第７図に示すようにフィーダＩＩＫ流れる電流（零相電
流）ベクトルと絶縁抵抗Ｒ１を流れる電流ベクトルとの
なす角φは９０度に可成り近くなる。ここで絶縁抵抗Ｒ
１が少し低下してその電流がＩＲＩ’のようになると、
フィーダ１工に流れる電流Ｉｏｔは位相が−だげ変化し
てＩＯＩ／となり、電流■ｏ に対する位相差はφ′
となる。従って絶縁抵抗Ｒ１を流れる電流ＩＲＩ’は、
ベクトル表示するとｌ ｉａｔ’ Ｉ ＝ Ｉ ＩＯＩ
’ ｌ ｃａｉφ′として表わされる。このようなこと
から従来絶縁抵抗を求めるためには、零相変流器ＺＣＴ
１の出力が微小であることから先ずこの出力を増幅し、
更にノイズを除去するため、零相電流の周波数を中心周
波数とするバンドパスフィルターを経て計算回路に入力
し、この計算回路にて入力信号と芥相電圧とを比較して
ｌ Ｉ（，１１ｅａｓφを求めることにより絶縁抵抗を
測定するようにしていた。尚他のフィーダについても同
様にして絶縁抵抗が測定される。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら位相差φは零相変流器ＺＣＴＩ の入力レ
ベルによって或いはバンドパスフィルターの温度特性等
によって、計算回路に入力されるときには第８図に示す
ように士−′だけずれ、電流ＩｏｚがＩｏｌやＩｏｔの
ように変化したものとなる。しかもｌ Ｉｏｚ ｌ ＝
ｌ Ｉｏｔ川であるから位相の変化分θは非常に小さ
く、このためθ′が０よりも大きい場合があり、絶縁抵
抗を精度よく測定することが困難であった。
ベルによって或いはバンドパスフィルターの温度特性等
によって、計算回路に入力されるときには第８図に示す
ように士−′だけずれ、電流ＩｏｚがＩｏｌやＩｏｔの
ように変化したものとなる。しかもｌ Ｉｏｚ ｌ ＝
ｌ Ｉｏｔ川であるから位相の変化分θは非常に小さ
く、このためθ′が０よりも大きい場合があり、絶縁抵
抗を精度よく測定することが困難であった。
本発明はこのような問題点を解決しようとする。 、
ものであり、系統のアースに対する絶縁抵抗を精度よく
測定することのできる絶縁抵抗の測定方法を提供するこ
とを目的とするものである。
ものであり、系統のアースに対する絶縁抵抗を精度よく
測定することのできる絶縁抵抗の測定方法を提供するこ
とを目的とするものである。
問題点を解決するための手段
本発明は、零相電流のうち容量を流れる電流Ｉｃの逆相
の電流ＩＣＨ，或いは抵抗を流れる電流の逆相の電流Ｉ
ＲＨを求め、求めた電流ＩｃｎまたはＩＲＨを零相電流
ＩＯと加算し、そして電流ＩＣＨ又はＩＲＨのレベルを
変化させて加算値が最小になるときの当該加算値ＩＣＥ
＋ＩＯまたはＩＲｌ［に基づいて絶縁抵抗を求めるもの
である。電流Ｉｃｉについては、第１図に示すように零
相電圧の位相ｔ−９０度遅らせることにより求められ、
この電流Ｉｃａのレベルを変化させて加算値ＩＣＩＩ
−）−Ｉｏ ｆ変えると、ＩＣＨ＋ＩＯの最小値が抵抗
を流れる電流Ｉｎに等しくなる。従って加算値の最小値
を求めれば絶縁抵抗が求まる。また電流ＩＲＨについて
は第２図に示すように零相電圧の位相１＆：１８０度変
換することにより求められ、この電流Ｉａｕのレベルを
変化させて加算値ＩＲＨ＋ＩＯを変えると、ＩＲＨ＋Ｉ
Ｏの最小値がＩｃＫ相当し、且つそのときのＩａｕがＩ
ｎの逆相に等しくなる。従って加算値が最小値になると
きのＩａａ ｆ求めればその値に基づいて絶縁抵抗が求
まる。
の電流ＩＣＨ，或いは抵抗を流れる電流の逆相の電流Ｉ
ＲＨを求め、求めた電流ＩｃｎまたはＩＲＨを零相電流
ＩＯと加算し、そして電流ＩＣＨ又はＩＲＨのレベルを
変化させて加算値が最小になるときの当該加算値ＩＣＥ
＋ＩＯまたはＩＲｌ［に基づいて絶縁抵抗を求めるもの
である。電流Ｉｃｉについては、第１図に示すように零
相電圧の位相ｔ−９０度遅らせることにより求められ、
この電流Ｉｃａのレベルを変化させて加算値ＩＣＩＩ
−）−Ｉｏ ｆ変えると、ＩＣＨ＋ＩＯの最小値が抵抗
を流れる電流Ｉｎに等しくなる。従って加算値の最小値
を求めれば絶縁抵抗が求まる。また電流ＩＲＨについて
は第２図に示すように零相電圧の位相１＆：１８０度変
換することにより求められ、この電流Ｉａｕのレベルを
変化させて加算値ＩＲＨ＋ＩＯを変えると、ＩＲＨ＋Ｉ
Ｏの最小値がＩｃＫ相当し、且つそのときのＩａｕがＩ
ｎの逆相に等しくなる。従って加算値が最小値になると
きのＩａａ ｆ求めればその値に基づいて絶縁抵抗が求
まる。
このように本発明は、零相電圧に相当する信号の位相を
変換し、変換した信号と零相電流とを加算し、加算値が
最小値となるように上記の変換した信号のレベルを調整
し、これにより絶縁抵抗の測定を行５ものである。
変換し、変換した信号と零相電流とを加算し、加算値が
最小値となるように上記の変換した信号のレベルを調整
し、これにより絶縁抵抗の測定を行５ものである。
第１の発明は、母線の零相電圧に相当する信号を位相調
整手段及びレベル調整手段を通して位相が９０度遅れ且
つレベルが調整された電流信号とすると共に、母線の零
相電ａｔ検出してこの検出零相電流と前記電流信号とを
加算し、その加算値をバンドパスフィルターを通して制
御部に導入し、この制御部においそ前記加算値が最小値
となるように前記レベル調整手段に指令を発してそのレ
ベル調整を行い、前記最小値に基づいて系統のアースに
対する絶縁抵抗を求めるものである。
整手段及びレベル調整手段を通して位相が９０度遅れ且
つレベルが調整された電流信号とすると共に、母線の零
相電ａｔ検出してこの検出零相電流と前記電流信号とを
加算し、その加算値をバンドパスフィルターを通して制
御部に導入し、この制御部においそ前記加算値が最小値
となるように前記レベル調整手段に指令を発してそのレ
ベル調整を行い、前記最小値に基づいて系統のアースに
対する絶縁抵抗を求めるものである。
第２の発明は、母線の零相電圧に相当する信号を位相調
整手段及びレベル調整手段を通して位相が１８０度変換
され且つレベルが調整された電流信号とすると共に、母
線の零相電流を検出してこの検出零相電流と前記電流信
号とを加算し、その加ｇ 値ｅバンドパスフィルターを
通して制御部に導入し、この制御部において前記加算値
が最小値となるように前記レベル調整手段に指令を発し
てそのレベル調整を行い、前記加算値の最小時におげろ
前記電流信号に基づいて系統のアースに対する。ｅ線抵
抗を求めるものである。
整手段及びレベル調整手段を通して位相が１８０度変換
され且つレベルが調整された電流信号とすると共に、母
線の零相電流を検出してこの検出零相電流と前記電流信
号とを加算し、その加ｇ 値ｅバンドパスフィルターを
通して制御部に導入し、この制御部において前記加算値
が最小値となるように前記レベル調整手段に指令を発し
てそのレベル調整を行い、前記加算値の最小時におげろ
前記電流信号に基づいて系統のアースに対する。ｅ線抵
抗を求めるものである。
実施例
以下図面によって本発明の詳細な説明する。
第３図は本発明方法を実施するために用いる装置の回路
構成図である。第１の発明においては、制御部２から母
線の零相電圧に相当する信号を出力し、例えば零相電源
よりの零相電圧を制御部２を通じて電圧ｖＯとして出力
し、この電圧Ｖｏを位相調整手段３に入力してここで入
力信号の位相を９０度遅らせた電流を出力し、その電流
をレベル調整手段４に入力してこのレベル調整手段３に
て制御部２からの指令に基づき入力信号のレベルを調整
する。一方零相変流器５により母線の零相電流を検出す
ると共に、この零相変流器５の１次側に前記レベル調整
手段４よりの電流を通じ、これによっで零相電圧よりも
位相の９０度遅れた電流と零相電流との加算値を零相変
流器５０２次側にて得る。更にその２次側の電流を増幅
器６を介して、零相電流の周波数を中心周波数とするバ
ンドパスフィルター７に入力し、その出力を制御部２に
入力する。この制御部２においては入力信号即ち前記加
算値が最小となるようにレベル調整手段４に指令を発し
てレベル調整を行う。そして前記加算値の最小値が先述
したように零相電流のうちの絶縁抵抗を流れる電流とな
り、この値に基づいて絶縁抵抗が求まる。
構成図である。第１の発明においては、制御部２から母
線の零相電圧に相当する信号を出力し、例えば零相電源
よりの零相電圧を制御部２を通じて電圧ｖＯとして出力
し、この電圧Ｖｏを位相調整手段３に入力してここで入
力信号の位相を９０度遅らせた電流を出力し、その電流
をレベル調整手段４に入力してこのレベル調整手段３に
て制御部２からの指令に基づき入力信号のレベルを調整
する。一方零相変流器５により母線の零相電流を検出す
ると共に、この零相変流器５の１次側に前記レベル調整
手段４よりの電流を通じ、これによっで零相電圧よりも
位相の９０度遅れた電流と零相電流との加算値を零相変
流器５０２次側にて得る。更にその２次側の電流を増幅
器６を介して、零相電流の周波数を中心周波数とするバ
ンドパスフィルター７に入力し、その出力を制御部２に
入力する。この制御部２においては入力信号即ち前記加
算値が最小となるようにレベル調整手段４に指令を発し
てレベル調整を行う。そして前記加算値の最小値が先述
したように零相電流のうちの絶縁抵抗を流れる電流とな
り、この値に基づいて絶縁抵抗が求まる。
このよプな実施例では、レベル調整手段４よりの出力信
号を零相変流器５０１次側を通しているため、零相変流
器５０位相非直線性が悪い場合、即ち検出信号にノイズ
が多く含まれている場合であっても、上記の加算値が位
相非直線性の影響を受けないので正確な測定ができる。
号を零相変流器５０１次側を通しているため、零相変流
器５０位相非直線性が悪い場合、即ち検出信号にノイズ
が多く含まれている場合であっても、上記の加算値が位
相非直線性の影響を受けないので正確な測定ができる。
また零相変流器５０位相非直線性が良好な場合には、零
相変流器５の２次側において検出零相電流とレペ／Ｉ／
ｖ４贅手段４よりの出力信号とを加算しても正確な測定
を行５ことができる。第４図はこのような例を示す図で
あり、この例ではレベル調整手段４よりの信号と零相変
流器５にて検出した検出零相電流とを増幅器６に入力し
、それら入力信号をここで加算、増幅するようにしてい
る。
相変流器５の２次側において検出零相電流とレペ／Ｉ／
ｖ４贅手段４よりの出力信号とを加算しても正確な測定
を行５ことができる。第４図はこのような例を示す図で
あり、この例ではレベル調整手段４よりの信号と零相変
流器５にて検出した検出零相電流とを増幅器６に入力し
、それら入力信号をここで加算、増幅するようにしてい
る。
第５図は、パンドパスフイタ−７の温度変化等の影響に
よりバンドパスフィルター７の入力信号と出力信号との
間に位相差音生じる場合において、零相電流Ｉｏ、レベ
ル調整手段４よりの電流ＩＣ！及びそれら加算値の電流
ベクトルを示す図であり、この場合には電流ＩＯ，ＩＣ
Ｅが共にθ′だけ位相変化して夫々Ｉｏ、Ｉｃａ に
なるので、その加算値はθ′だけ位相変化するが、その
加算値に対応する電流ベクトルの大きさは変化しない。
よりバンドパスフィルター７の入力信号と出力信号との
間に位相差音生じる場合において、零相電流Ｉｏ、レベ
ル調整手段４よりの電流ＩＣ！及びそれら加算値の電流
ベクトルを示す図であり、この場合には電流ＩＯ，ＩＣ
Ｅが共にθ′だけ位相変化して夫々Ｉｏ、Ｉｃａ に
なるので、その加算値はθ′だけ位相変化するが、その
加算値に対応する電流ベクトルの大きさは変化しない。
従って絶縁抵抗の測定値はバンドパスフィルター７の影
＃を受けることがなく正確な値となる。
＃を受けることがなく正確な値となる。
次に第２の発明の実施例について説明すると、第２の発
明においても第３図に示す装ｆを利用し、第１の発明の
場合と同様にして行うことができるが、第１の発明と異
なる点は、制御部２から出力された電圧Ｖｏ ｆ位相Ｖ
ｊｉ整手段３にて１８０度位相変換すること、及び前記
加算値が最小になったときにおけるレベル調整手段４よ
りの信号に基づいて゛絶縁抵抗を求めることにある。即
ちこのときのレベル調整手段４よりの信号は第２図に示
す電流■ＲＨに対応するものであり、従って電流ＩＲＨ
の大きさから絶縁抵抗を知ることができるのである。
明においても第３図に示す装ｆを利用し、第１の発明の
場合と同様にして行うことができるが、第１の発明と異
なる点は、制御部２から出力された電圧Ｖｏ ｆ位相Ｖ
ｊｉ整手段３にて１８０度位相変換すること、及び前記
加算値が最小になったときにおけるレベル調整手段４よ
りの信号に基づいて゛絶縁抵抗を求めることにある。即
ちこのときのレベル調整手段４よりの信号は第２図に示
す電流■ＲＨに対応するものであり、従って電流ＩＲＨ
の大きさから絶縁抵抗を知ることができるのである。
また第３図の装置においては、例えば制御部２、位相調
整手段３及びレベル調整手段４は各々１側設けられてお
り、零相変流器５、増幅器６及びバンドパスフィルター
７は各々母線やフィーダの数だけ設げられ、更に一点鎖
線で示す部分に切り替え手段が設けられている。従って
切り替え手段の切り替えにより各フィーダのアースに対
する絶縁抵抗が順次に測定される。尚バンドパスフィル
ター７も制御部２等と同様に１個だけ設げて共通なもの
として用いることもできる。
整手段３及びレベル調整手段４は各々１側設けられてお
り、零相変流器５、増幅器６及びバンドパスフィルター
７は各々母線やフィーダの数だけ設げられ、更に一点鎖
線で示す部分に切り替え手段が設けられている。従って
切り替え手段の切り替えにより各フィーダのアースに対
する絶縁抵抗が順次に測定される。尚バンドパスフィル
ター７も制御部２等と同様に１個だけ設げて共通なもの
として用いることもできる。
同第１の発明では、レベル調整手段４よりの出力信号を
取り出すことによって零相電流の容ｉを流れる電流１ｃ
を同時に求めることができ、第２の発明では、制御部２
に入力された加算値を取り出すことによって電流Ｉｃを
同時に求めることができ、第３図の装置に電流ＩＲ及び
電流Ｉｃの大きさを夫々表示するメータＭＲ，Ｍｃ ＠
組み合わせてもよい。更に電流ＩＲが所定値以上になっ
たときに動作する補助リレーとその整定器とを第３図の
装置に組み合わせることによって保護継電器を構成する
ことができる。
取り出すことによって零相電流の容ｉを流れる電流１ｃ
を同時に求めることができ、第２の発明では、制御部２
に入力された加算値を取り出すことによって電流Ｉｃを
同時に求めることができ、第３図の装置に電流ＩＲ及び
電流Ｉｃの大きさを夫々表示するメータＭＲ，Ｍｃ ＠
組み合わせてもよい。更に電流ＩＲが所定値以上になっ
たときに動作する補助リレーとその整定器とを第３図の
装置に組み合わせることによって保護継電器を構成する
ことができる。
尚本発明は、３相３線式の系統以外についても通用する
ことができる。
ことができる。
また本発明では、零相電源を設げてここよりの零相電圧
を利用する代りに、常時の系統の零相電圧を利用しても
よい。
を利用する代りに、常時の系統の零相電圧を利用しても
よい。
発明の効果
以上のように本発明は、零相電圧に相当する信号の位相
を変換し、変換した信号と零相電流とを加算して加算値
が最小値となるように上記の変換した信号のレベルを調
整するようにし、加算値の最小値または加算値が最小の
ときのレベル調整手段の出力信号に基づいて絶縁抵抗金
求めるようにしているため、バンドパスフィルターの温
度変化による位相変化があっても上記の加算値の大きさ
には影響がないから、系統のアースに対する絶縁抵抗を
精度よく測定することができる。
を変換し、変換した信号と零相電流とを加算して加算値
が最小値となるように上記の変換した信号のレベルを調
整するようにし、加算値の最小値または加算値が最小の
ときのレベル調整手段の出力信号に基づいて絶縁抵抗金
求めるようにしているため、バンドパスフィルターの温
度変化による位相変化があっても上記の加算値の大きさ
には影響がないから、系統のアースに対する絶縁抵抗を
精度よく測定することができる。
第１図及び第２図は、本発明方法の原理を示す説明図、
第３図は本発明方法を実施するために用いる装置の一例
を示す構成図、第４図は本発明方法を実施するために用
いる装置の他の例の一部を示す構成図、第５図はバンド
パスフィルターの位相変化がある場合の電流ベクトルを
示す説明図、第６図は系統の一例を示す回路図、第７図
は従来方法の原理を示す説明図、第８図はノくンドノ（
スフイルター等の影響による零相電流の位相変化を示す
説明図である。 ＩＯ・・・零相電流、 ＩＲ・・・零相電流のうち抵抗
分を流れる気流、Ｉｃ・・・零相電流の５ち容址分を流
れる電流、２・・・制御部、３・・・位相調整手段、４
・・・レベル調整手段、５・・・零相変流器、７・・・
）くンドノくスフイルター。 第１図 ＠２図 第４図 第５図 ｊ 第６図 第７図 第８図
第３図は本発明方法を実施するために用いる装置の一例
を示す構成図、第４図は本発明方法を実施するために用
いる装置の他の例の一部を示す構成図、第５図はバンド
パスフィルターの位相変化がある場合の電流ベクトルを
示す説明図、第６図は系統の一例を示す回路図、第７図
は従来方法の原理を示す説明図、第８図はノくンドノ（
スフイルター等の影響による零相電流の位相変化を示す
説明図である。 ＩＯ・・・零相電流、 ＩＲ・・・零相電流のうち抵抗
分を流れる気流、Ｉｃ・・・零相電流の５ち容址分を流
れる電流、２・・・制御部、３・・・位相調整手段、４
・・・レベル調整手段、５・・・零相変流器、７・・・
）くンドノくスフイルター。 第１図 ＠２図 第４図 第５図 ｊ 第６図 第７図 第８図
Claims (2)
- （１）母線の零相電圧に相当する信号を位相調整手段及
びレベル調整手段を通して位相が９０度遅れ且つレベル
が調整された電流信号とすると共に、母線の零相電流を
検出してこの検出零相電流と前記電流信号とを加算し、
その加算値をバンドパスフィルターを通して制御部に導
入し、この制御部において前記加算値が最小値となるよ
うに前記レベル調整手段に指令を発してそのレベル調整
を行い、前記最小値に基づいて系統のアースに対する絶
縁抵抗を求めることを特徴とする絶縁抵抗の測定方法。 - （２）母線の零相電圧に相当する信号を位相調整手段及
びレベル調整手段を通して位相が１８０度変換され且つ
レベルが調整された電流信号とすると共に、母線の零相
電流を検出してこの検出零相電流と前記電流信号とを加
算し、その加算値をバンドパスフィルターを通して制御
部に導入し、この制御部において前記加算値が最小値と
なるように前記レベル調整手段に指令を発してそのレベ
ル調整を行い、前記加算値の最小時における前記電流信
号に基づいて系統のアースに対する絶縁抵抗を求めるこ
とを特徴とする絶縁抵抗の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22272084A JPS61100665A (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | 絶縁抵抗の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22272084A JPS61100665A (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | 絶縁抵抗の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61100665A true JPS61100665A (ja) | 1986-05-19 |
Family
ID=16786848
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22272084A Pending JPS61100665A (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | 絶縁抵抗の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61100665A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01260371A (ja) * | 1988-04-12 | 1989-10-17 | Toshiba Corp | ブッシングの汚損状態監視装置 |
| JPH03142379A (ja) * | 1989-10-28 | 1991-06-18 | Tenpaale Kogyo Kk | 絶縁抵抗測定方法 |
| JP2006226879A (ja) * | 2005-02-18 | 2006-08-31 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 漏洩電流測定装置 |
| JP2012122997A (ja) * | 2010-12-08 | 2012-06-28 | General Electric Co <Ge> | 漏洩電流マスキングおよび地絡検出用のシステム、方法、および装置 |
-
1984
- 1984-10-23 JP JP22272084A patent/JPS61100665A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01260371A (ja) * | 1988-04-12 | 1989-10-17 | Toshiba Corp | ブッシングの汚損状態監視装置 |
| JPH03142379A (ja) * | 1989-10-28 | 1991-06-18 | Tenpaale Kogyo Kk | 絶縁抵抗測定方法 |
| JP2006226879A (ja) * | 2005-02-18 | 2006-08-31 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 漏洩電流測定装置 |
| JP2012122997A (ja) * | 2010-12-08 | 2012-06-28 | General Electric Co <Ge> | 漏洩電流マスキングおよび地絡検出用のシステム、方法、および装置 |
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