JPS61105471A - 整流回路の診断方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は整流回路の診断方法に関し、特に、密封された
タンク油槽内に収納された整流器の劣化を、その中身を
吊り上げて外へ出すことなく、直流側及び交流側の主回
路Ａ子を利用して診断することができるようにしたもの
である。

く従来の技術〉 従来から、油入シリコン整流器が存在するが、昔は、１
アームの構成が整流素子の直並列接続でなされている整
流回路の場合には、各素子毎に劣化検出用端子がタンク
外に引き出されていた。

しかし、とこ１０数年来はシリコン整流素子の信頼性が
著しく向上したことにより、普通の油入トランスあるい
はフロン冷却のように整流回路全体が１つのタンク油槽
内に収納され、劣化検出用端子は存在せず、第５図ある
いは第６図に示すように、交流側の主回路端子Ｕ、Ｖ、
Ｗと直流側の主回路端子Ｐ、Ｎだけがタンク１から外部
へ出ているという構成が多い。第５図は三相ブリッジ整
流回路の目略図であり、図中、２は整流素子、Ｃ２とＲ
。

は転流サージ吸収と均等分圧化用のコンデンサと抵抗、
Ｃ２とへは交流側開閉サージ吸収用のコンデンサと抵抗
、へは内蔵のダミー抵抗である。また第６図中、３は変
圧型、３ａは−次側＠線、３ｂは二次側巻線である。

〈発明が解決しようとする問題点〉 上述の如くシリコン整流素子の信頼性が高くなったこと
によゆ、素子の劣化診断は不要と考えられて殆ど実施さ
れていなかったが、最近になって整流回路の高性能化等
に伴い劣化診断の必要が生じてきた。

しかし、劣化検出用端子がないため、整流器中身をタン
ク油槽外へ吊り上げて診断する他なく、極めて面倒な作
業であった。

本発明は上述した問題点に鑑み、劣化検出用端子がない
場合でも整流器中身をタンク油槽から吊り上げずとも、
主回路端子を利用することによって劣化診断を行うこと
ができる方法を提供することを目的とする。

く問題点を解決するための手段及び作用〉上述した目的
を達成するため本発明では、ブリッジ整流回路の直流側
主回＊＃子に正弦半波や矩形波など零電圧と所定極性電
圧をとる直流間欠波の電源を接続すると共に直流側主回
路端子間にダミー抵抗を追加接続し、実際に直流側主回
路端子間に印加される間欠波電Ｂの最小値を殆ど零にし
た状態で、交流側主回路端子間に表われる電圧の振幅の
大小から劣化の有無を診断する。ブリッジ整流回路では
直流側主回路端子間に成る電圧を印加しても、各アーム
が正常な限り交流側主回路端子間の電圧はバランスして
殆ど′零′であるが、いずれかのアームに劣化があると
バランスが崩れ電圧が表われる。しかし、直流側主回路
端子間に単に直流間欠波電源を接続したたけでは整流回
路内のコンデンサにより印加電圧波形は平滑化されて交
流分が小さい。第３図に、振幅２００ｖ、周期２０ｍの
正弦半波整流電圧を印加した場合の波形を示すが、平滑
化されて最小電圧が７５Ｖに上っている。

そこでダミー抵抗を追加することによりコンデンサの放
電が早まり、第２図に示すように、最小電圧が′零″ま
で下がるから、交流分が　　　　　　　　：１多くなり
、劣化があった場合に交流側主回路端子間に表われる検
出電圧の交流変化分が大きくなって診断し易くなる。ま
た、直流側から見た整流器回路は高インピーダンス回路
であるため電圧計のインピーダンスによっては検出電圧
が異ってくる場合があるが、ダＥ−抵抗の追加によって
これも解消される。またコンデンサが放電し切れない場
合は波形が特殊であるため電圧計にオシロスコープを使
用することになるが、ダミー抵抗の追加により各種のア
ナ四グあるいはデジタルメータでの測定が可能となる。

く実　施　例〉 第１図〜第４図により本発明の一実施例を説明する。第
１図は診断回路を示し、４は三相ブリッジ整流器、Ｕ、
Ｖ及びＷは交流側主回路端子、Ｐ及びＮは直流側の正及
び負の主回路端子、５は可変ダミー抵抗、６は正弦半波
電源、ｐ及びｎは正及び負の出力端子、Ｕ及びＶは交流
入力端子、７及び８はオシロスコープ、９はデジタルメ
ータである。正弦半波電源６は、商用周波数の交流電圧
をフユーズなしのブレーカ６ａを通してスライドトラン
ス６ｂに入れ、ここで電圧調整して整流素子６Ｃで半波
整流するものとしである。６ｄは転流サージ吸収用抵抗
である。なお、整流回路４の主回路端子は交流源及び負
荷から切＃）離しである。

診断としては、スライドトランス６ｂを調整して例えば
振幅２００ｖの正弦半波の直流間欠波を直流側上回＃１
１１１子Ｐ、Ｎ間に印加する。このとき、ダミー抵抗５
がないと印加波形の最小電圧は第３図に示す如く、電流
回路４内のコンデンサで平滑され相当高い。そこでダミ
ー抵抗５を調整しオシロスコープ７を見ながら半波の印
加電圧が電流の接続点となるように、第２図に示す如く
最小電圧を′零′にする。この状態ではダミー抵抗５の
値がコンデンサの容量に見きい、時定数が小さくなって
電圧が半波の期間で丁度′零′になるようにコンデンサ
が放電する。そこで、交流側主回路端子間、例えばＵ、
７間を検出電圧としてオシロスコープ８あるいはデジタ
ルメータ９等で測定する。正常時は第４図（ａｌに示す
如（検出電圧は殆ど零である。整流回路内に素子劣化が
あれば、直流側印加電圧の交流変化分が大きいことに助
けられて、検出電圧は第４図（ｂｌに示す如（大きく表
われる。第４図（ｂｌば！１流素子２が１＠だＣテ短絡
しｔコ場合の波形である。つまり、交流側主回路端子間
の検出電圧が殆ど′零′であれば正常と診断し、検出電
圧が大きければ素子劣化有りと診断することができる。

〈発明の効果〉 以上説明したように本発明によれば、整流回路の主回路
端子を用いるだけで素子劣化の有無を診断することがで
きる。特に直流側主回路端子間にダミー抵抗を追加して
コンデンサによる平滑化を軽減し、直流間欠波の交流変
化分を大きくしたことにより、素子劣化が有る場合の交
流側主回路端子間の検出電圧の交流変化分が大きくなり
、素子劣化の判定が容易になった。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す回路図、第２図はダミ
ー抵抗を追加して調整した直流側主回路端子間印加電圧
の波形図、第３図は追加グＥ−−挺抗のない場合の印加
電圧の波形図、第４図（Ｊｌ）は正常時の交流側主回路
端子間の検出電圧の波形図、第４図（ｂｌは整流素子１
個短絡の場合の検出電圧の波形図、第５図は三相ブリソ
ン整流回路の一例の回路図、第６図はその簡略表示図で
ある。 図　　面　　中、 ２は整流素子、Ｃ１と０２はコンデンサ、４は三相ブリ
ッジ整流器、５はダミー抵抗、６は正弦半波電源、７と
８はオシロスコープ、９はデジタルメータ、Ｕ、Ｖ及び
Ｗは交流側主回路端子、ＰとＮは直流側主回路端子であ
る。 第４１図 ＋

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １アームが整流素子の直並列接続で構成されているブリ
   ッジ整流回路において、直流側主回路端子間に直流間欠
   波電源を接続すると共にダミー抵抗を追加し、ダミー抵
   抗によって直流間欠波の最小電圧を殆ど零に調整し、交
   流側主回路端子間の電圧が大きい場合に整流回路内素子
   に劣化があると判定する診断方法。