JPS61108945A - 分光分析用試料保持装置 - Google Patents
分光分析用試料保持装置Info
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- JPS61108945A JPS61108945A JP22996084A JP22996084A JPS61108945A JP S61108945 A JPS61108945 A JP S61108945A JP 22996084 A JP22996084 A JP 22996084A JP 22996084 A JP22996084 A JP 22996084A JP S61108945 A JPS61108945 A JP S61108945A
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Links
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- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（発明の技術分野）
本発明ハ、ゴム、プラスチック等のフィルム状試料の分
光測定において試料を保持する装置に関する。
光測定において試料を保持する装置に関する。
（発明の技術的背景とその問題点）
従来からゴム、プラスチック等の試料の赤外線分光分析
や紫外線分光分析には、該材料をプレス成形によりフィ
ルム状にしフィルム状試料の分光測定を行なう方法が採
られている。
や紫外線分光分析には、該材料をプレス成形によりフィ
ルム状にしフィルム状試料の分光測定を行なう方法が採
られている。
しかしながら、このようなフィルム状試料は、表面が非
常に平滑で表裏両面が平行になっているため、赤外分光
スペクトル等を測定すると、表面の間で透過光の一部が
反射することにより干渉が生じてスペクトルのベースに
多数の擬似ビークが現われ、これがスペクトル解析にあ
たって間違った情報を与えやすいという問題があつ友。
常に平滑で表裏両面が平行になっているため、赤外分光
スペクトル等を測定すると、表面の間で透過光の一部が
反射することにより干渉が生じてスペクトルのベースに
多数の擬似ビークが現われ、これがスペクトル解析にあ
たって間違った情報を与えやすいという問題があつ友。
（発明の目的）
本発明はこのような問題を解決するためになされたもの
で、ゴム、プラスチック等のフィルム状試料の分光測定
において、表面間反射を減少させ干渉波を無視できるほ
ど小さくすることができる試料の保持装置ｔ−提供する
ことを目的とする。
で、ゴム、プラスチック等のフィルム状試料の分光測定
において、表面間反射を減少させ干渉波を無視できるほ
ど小さくすることができる試料の保持装置ｔ−提供する
ことを目的とする。
（発明の概要）
すなわち本発明の分光分析用試料保持装置は、光路に直
交するように架台上に設置された偏光フィルタと、該偏
光フィルタと主面を対向させ前記架台上に立設され几フ
ィルム状試料のホルダーとから成り、その主面が光路に
対して水平面上で任意の角Ｕ’になすように、前記試料
ホルダーを架台に垂直な軸の周りに回動自在に構成して
なることを特徴としている。
交するように架台上に設置された偏光フィルタと、該偏
光フィルタと主面を対向させ前記架台上に立設され几フ
ィルム状試料のホルダーとから成り、その主面が光路に
対して水平面上で任意の角Ｕ’になすように、前記試料
ホルダーを架台に垂直な軸の周りに回動自在に構成して
なることを特徴としている。
（発明の実施例）
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図および第２図はそれぞれ本発明の一実施例の斜視
図および上面図である。
図および上面図である。
これらの図において符号１は上面が平らな架台を示し、
この架台１上には、全体を測定装置の試料室内にセット
し友とき光路ＡＶｃ４念る位置にかつ主面が光路Ａと直
交するように偏光フィルタ２が立設されている。また同
じ架台１上の前記光路ＡＫあたる位置には、偏光フィル
タ２と互いに向きあってフィルム状試料のホルダー３が
立設されている。
この架台１上には、全体を測定装置の試料室内にセット
し友とき光路ＡＶｃ４念る位置にかつ主面が光路Ａと直
交するように偏光フィルタ２が立設されている。また同
じ架台１上の前記光路ＡＫあたる位置には、偏光フィル
タ２と互いに向きあってフィルム状試料のホルダー３が
立設されている。
さらにこの試料ホルダー３は主面の中心線全通り架台１
に垂直な軸の周りに自由に回動できるように構成されて
いる。また架台１上のこの回動軸の周囲には、光路Ａの
方向を基線としこれから両方向への角度を示す目盛４が
付設されており、さらに試料ホルダー３の回動軸の基部
には、主面に垂直に指針５が取着されている。
に垂直な軸の周りに自由に回動できるように構成されて
いる。また架台１上のこの回動軸の周囲には、光路Ａの
方向を基線としこれから両方向への角度を示す目盛４が
付設されており、さらに試料ホルダー３の回動軸の基部
には、主面に垂直に指針５が取着されている。
このように構成される試料保持装置を使用するには、ま
ずゴム、プラスチック等のフィルム状試料を試料ホルダ
ー３０所冗の位置に装着した後、定する。
ずゴム、プラスチック等のフィルム状試料を試料ホルダ
ー３０所冗の位置に装着した後、定する。
こうしてフィルム状試料をその主面が光路に対して一定
の角度をなすように保持した後、装置全体を分光光度計
の試料室内の所定の位置にセットすることにより、偏光
フィルタ２を通り偏光しｔ光が試料面に所望の入射角で
当たることになり、試料の表面間反射がなく、反射波の
干渉に起因する疑似ピークのは左んどないスペクトルが
得られる。
の角度をなすように保持した後、装置全体を分光光度計
の試料室内の所定の位置にセットすることにより、偏光
フィルタ２を通り偏光しｔ光が試料面に所望の入射角で
当たることになり、試料の表面間反射がなく、反射波の
干渉に起因する疑似ピークのは左んどないスペクトルが
得られる。
例えば実施例の装置を用いてポリエチレンのフィルム試
料を固定保持し赤外分光スペクトルを測定したところ、
第２図に示すように、従来からの保持装置を用いて測定
し之スペクトル（ｇ３図に示す、）に比べて疑似ビーク
が現われることがなかった。
料を固定保持し赤外分光スペクトルを測定したところ、
第２図に示すように、従来からの保持装置を用いて測定
し之スペクトル（ｇ３図に示す、）に比べて疑似ビーク
が現われることがなかった。
尚、本発明においては試料ホルダ３の主面への垂線と光
路Ａとがなす角度θと試料の屈折率りとの間の関係式（
ｔａｎ± ）を用いて角度に相当する屈折率の値を予め
計算しておき、この値を屈折率目盛として角度目盛４に
付設しておくこともできる。
路Ａとがなす角度θと試料の屈折率りとの間の関係式（
ｔａｎ± ）を用いて角度に相当する屈折率の値を予め
計算しておき、この値を屈折率目盛として角度目盛４に
付設しておくこともできる。
（発明の効果）
以上の記載から明らかなように、本発明の装置によれば
干渉波に起因するベースラインの疑似ピークをほぼ完全
に取り除き、解析しやすい分光スペクトルを得ることが
できる。
干渉波に起因するベースラインの疑似ピークをほぼ完全
に取り除き、解析しやすい分光スペクトルを得ることが
できる。
第１図および第２図はそｎ−ｔ’ｎ本発明の一実施例の
斜視図、および上面図、°第３図シよび８１！４図はそ
れぞれ実施例の保持装置および従来からの保持装置を用
いて測定を行なつ几結果得られたポリエチレンの赤外分
光スペクトルである。
斜視図、および上面図、°第３図シよび８１！４図はそ
れぞれ実施例の保持装置および従来からの保持装置を用
いて測定を行なつ几結果得られたポリエチレンの赤外分
光スペクトルである。
Claims (1)
- １、光路に直交するように架台上に設置された偏光フィ
ルタと、該偏光フィルタと互いの主面を対向させ前記架
台上に立設されたフィルム状試料のホルダーとから成り
、その主面が光路に対して水平面上で任意の角度をなす
ように、前記試料ホルダーを架台に垂直な軸の周りに回
動自在に構成してなることを特徴とする分光分析用試料
保持装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22996084A JPS61108945A (ja) | 1984-10-31 | 1984-10-31 | 分光分析用試料保持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22996084A JPS61108945A (ja) | 1984-10-31 | 1984-10-31 | 分光分析用試料保持装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61108945A true JPS61108945A (ja) | 1986-05-27 |
Family
ID=16900400
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22996084A Pending JPS61108945A (ja) | 1984-10-31 | 1984-10-31 | 分光分析用試料保持装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61108945A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH027552U (ja) * | 1988-06-30 | 1990-01-18 |
-
1984
- 1984-10-31 JP JP22996084A patent/JPS61108945A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH027552U (ja) * | 1988-06-30 | 1990-01-18 |
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