JPS61110002A - 光学濃度/網点面積率測定装置における自動レンジ制御方法 - Google Patents

光学濃度/網点面積率測定装置における自動レンジ制御方法

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JPS61110002A
JPS61110002A JP59230399A JP23039984A JPS61110002A JP S61110002 A JPS61110002 A JP S61110002A JP 59230399 A JP59230399 A JP 59230399A JP 23039984 A JP23039984 A JP 23039984A JP S61110002 A JPS61110002 A JP S61110002A
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gain
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measurement
optical density
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JP59230399A
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Yuji Kobayashi
雄二 小林
Tokuo Takahashi
徳男 高橋
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Dai Nippon Printing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) この発明は通常のライトテーブルを光源として使用でき
、小型で測定精度の良い、携帯可能な測定結果をディジ
タル表示できる光学濃度/網点面積率測定装置における
自動レンジ制御方法に関する。
(発明の技術的背景とその問題点) 光学濃度計は試料を照射する光源、及び試料からの透過
光又は反射光の強度を検出して表示する計器であり、通
常は試料を透過した光を光電変換素子で電気信号に変換
し、この電気信号をアナログ的な手段、又はA/D変換
した後にマイクロコンピュータ等のディジタル手段で濃
度値へ変換して表示するようになっている。ここに、網
点面積率計は網点面積の変化により再現された階調(集
合濃度)を、被測定物の透過率又は反射率を測定するこ
とにより測定する計器であり、光学濃度計と網点面積率
計とは表示値への換算方法を切換えるだけで共用するこ
とができる。
先ず光学濃度計について説明し、その後に網点面積率計
について説明する。光学濃度計は、広い光学濃度レンジ
にわたって光量測定を行なう必要があるため、前述の光
電変換素子とA/D変換器との間にプログラマブルゲイ
ンのアンプを設け、このアンプで微小な入力信号を増幅
した後にA/D変換を行ない、AID変換の精度を確保
中る方式が考えられる。
第4図は上記のような光学濃度測定装置を例示するブロ
ック図である。センサ、プログラマブルゲインアップ、
 A/D変換器、マイクロコンピュータを用いたシステ
ムは従来から良く知られており、例えばインテル社製5
BC711A/D変換ボード等を挙げることができる。
この5BC711A/D変換ボードのシステムは、アナ
ログマルチプレクサ、プログラマブルゲインアンプ、サ
ンプル−ホールド回路、 A/D変換器及びCPUから
成っているが、この市販のシステムからアナログマルチ
プレクサ、サンプル・ホールド回路を除去し、かつ測定
用光源、光電変換素子!1.プリアンプ12及び表示器
18を付加すれば 第4図に示す従来の光学濃度測定装
置を構成することができる。このような構成の光学濃度
測定装置において、濃度測定レンジを0.0〜4.0と
すると、プログラマブルゲインアンプ13のゲイン切換
範囲はXI〜x toooの範囲となる。このような広
範囲のゲイン切換を行なうと1通常はプリアンプ12の
出力電圧のオフセット電圧も同時に増幅するために、高
精度の測定を行なうには高精度のプリアンプ12が必要
とされ、そのため高価なプリアンプ12を使用しなけれ
ばならないという短所がある。
また、第5図は従来のレンジ切換回路を例示する図であ
る。前述した光学濃度測定装置の短所は照度計のレンジ
切換時の問題点としても知られており、この問題点の解
決方法として従来から知られている手法が、第5図のレ
ンジ切換回路を使用する方法である。このレンジ切換回
路は、「実用電子回路ハンドブック2」 (昭和50年
lθ月発行、CQ出版社)等に開示されている。このレ
ンジ切換回路は、レンジの切換えをプリアンプ12の帰
還抵抗17の値をレンジ切換スイッチ18で切替えるこ
とによって行ない、プリアンプ12のオフセット電圧が
増幅されないようにしている。但し、プリアンプ12の
バイアス電流は増幅されるために、FETトランジスタ
を入力部に設けてバイアス電流の小さなアンプをプリア
ンプ12として使用する必要がある。
一方、第6図は第5図に示すレンジ切換回路を適用した
従来の光学濃度測定装置を例示する回路構成図である。
この従来の装置は特開間第58−7984[1号公報に
表示されている光学濃度計であり、光電変換素子1N、
演算増幅器19. A/D変換器20.演算処理回路2
1.表示器22.帰還抵抗部2+(23a 〜23d)
及びアナログスイッチ郡24(24a〜24d)から構
成されている。しかしながら、アナログスイッチは理想
的なスイッチではなく。
オフ状態でも漏れ電流があり、測定誤差が発生するとい
う問題点がある。この測定誤差は当然スイッチの数に比
例して増大することになる。
この測定誤差を少なくするには、スイッチとしての特性
が、漏れ電流がなくオン抵抗がOであって、オフ抵抗が
無限大という理想的特性に近いスイッチを用いれば解決
される。しかし、そのためには高価な素子を用いなけれ
ばならないという問題点がある。従って、光学濃度測定
装置に使用するアナログスイッチの個数は1つでも少な
くすることが、測定精度の向上1回路(7) 小1化、
ローコスト化のためには望ましい。
更に、従来の光学濃度計/網点面積率計は設置型が多く
、安定化電源で点燈されたノ\ロゲンランブ等の光源の
ちらつきや変動を無視できる安定な光源を用いており、
通常の商用のライトテーブルを光源として使用するには
適さず、また回路部品点数も多く、外形寸法も大きいた
め゛に持運びできる携帯型の光学濃度測定装置又は網点
面積率測定vt置として使用できないという問題点もあ
った。
(発明の目的) この発明の目的は、光源として通常のライトテーブルを
使用でき、商用周波数に起因する光源のちらつき及び測
定場所の変更に伴なう光源光量の変化等の条件下でも十
分精度良く測定を行なうことが可能であり、また部品点
数も減少させた携帯型の光学濃度/網点面積率測定装匠
における効率的なレンジの切換方法を提供することにあ
る。
(発明の概要) この発明は、低域フィルタと独自の自動測定制gi装置
とを採用することにより1通常のライトテーブルを光源
として使用することを可能にした携帯型の光学濃度/網
点面積率測定装置に関し、この発明の自動測定レンジ制
御方法は。
測定レンジ切換回数を減少させ測定時間を短縮できるの
で、移動に伴なう光源光量の変動を迅速に補償でき、低
域フィルタの挿入による応答時間の遅れもカバーでき、
また回路部品点数も減少させることができる。すなわち
、この発明は、被測定物からの透過光又は反射光を光電
変換により光電流とする光電変換素子と、上記光電流を
電圧信号に変換して増幅する演算増幅器と、この演算増
幅器からの電圧信号の交流成分を遮断する低域フィルタ
と、この低域フィルタからの電圧信号をアナログ値から
ディジタル値に変換するA/D変換器と、上記ディジタ
ル信号に応じて複数のアナログスイッチのオンオフを制
御するスイッチ制御信号及び表示データを出力する演算
制御部と、上記演算増幅器の入出力端子間に接続された
複数の帰還抵抗及びアナログスイッチを有して測定レン
ジを切換えるようになっているゲイン切換回路とを具備
した光学濃度/、飼点点面積率測定装置おける自動レン
ジ制御方法に関するもので、上記ゲイン切換回路に対し
て上記演算制御部が、適宜に与えられたゲインGiで測
定値をA10変換して得た値Viから値IimVi/G
iを計算し、この値Iiが予め定められた複数のレンジ
のどこに該当するかによってゲインGi◆lを選び、こ
のゲインGi+1が現在のゲインGiと一致する場合に
は値Iiを最終の測定値と°し、一致しない場合にはゲ
インGi+1で測定値をA/D変換を行11 ツテWV
iヲ求め、値Ii+1−Vi+1/Gi+1を泪算し、
一致するまで上記手順を縁返すようにスイッチ制御信号
を出力するようにしたものである。
(発明の実施例) 先ず、光″f−濃度の測定に必要な透過光測定精度と網
点面積率の測定に必要な透過光測定精度とについて説明
する。光学濃度りは、 D=−1ogニー= logH−1agl  ・”−・
” (1)で与えられる。ここに、工は測定した透過光
量であり [fはフルスケールの透過光量である。
後述するように、Iogl及びlaglf共に±0.0
05以内の精度になければならず、そのためIfの測定
精度は±If/88 1の測定精度も±z786が必要
であり、測定値の有効桁数を保つ必要がある。
一方、網点面積率Aは、 A= (1−1/H) X100  ・・・・・・・・
・(2)で与えられる。後述のように、精度としては比
t/Ifが±0.5%の精度を有すれば良いから、Hの
測定精度は±111200を必要とし、■の測定精度は
その測定値の大小によらず一定値士T f/200で良
い、従って、綱点測定時には濃度測定時に比し細かいレ
ンジが必要であるが、零調整つまりフルスケールの範囲
のみで良い。
i1図は、この発明の対象となる光学濃度及び網へ面積
率の測定装置の一例を示す図である。先ず、光学濃度測
定装置としてのFI&Xについて説明する。この例は被
測定物からの透過光あるいは反射光を光電変換により光
電流とする例えばフォトダイオード等の半導体光電変換
素子lと、光電流を電圧に変換・増幅して出力する演算
増幅器2と、この演算増幅器2からの電圧信号の交流成
分を遮断する低域フィルタ6と、このフィルタ6からの
アナログ電圧信号をディジタル信号に変換するA/D変
換器3と、このディジタル信号に基づいてアナログスイ
ッチ5WI−5W3のオンオフを後述するこの発明の自
動レンジ制御方法によって制御するスイッチ制御信号#
1〜#3及び上記ディジタル信号を表示すべきデータに
変換したデータ信号を出力すル例工ばマイクロコンピュ
ータで成る演算制御部4と、この演算制御部4からのデ
ータを表示する表示器5とを有し、更に演算増幅器2の
入出力端子間に複数の帰還抵抗R,9R,llOR,9
00Rを直列に接続し、これら抵抗の両端のうち、演算
増幅器2の入力端子に接続された端子以外の湯量抵抗の
端子と演算増幅器2の出力端子との間にアナログスイッ
チSWt〜SW3を接続して成るゲイン切換回路7を有
している。必要に応じて低域フィルタ6とA/D変換器
3との間に、演算制御部4によりそのゲインを制御され
るプログラマブルゲインアンプを設けることができる。
尚、アナログスイッチS讐1〜SW3の動作は、後述す
る表1のように制御される。このようにすることによっ
て、従来アナログスイッチ4個用いる必要があったのが
、3個に減らすことができる。
と−一一ユ 表中X印はオンφオフどちらでもよいことを示す。
この例では新たに低域フィルタ6がrii算増算器幅器
2に挿入されている。これは1通常の設置型の濃度測定
器のように定電圧・電源で駆動したハロゲンランプ等の
光源と異なり1通常のライトテーブルを光源として用い
るためである0通常のライトテーブルを光源として使用
すると、(1)駆動交流電源の倍の周波数のちらつき成
分が信号中に含まれていること、(2)ライトテーブル
の位置によって光量が変動すること、という弊害がある
。低域フィルタ6は上記(1)の弊害を除去するために
、信号中の交流成分を遮断し直流成分のみを測定対象と
するものである。
また、この例では上述(2)の弊害の対策として、従来
のボリューム等による手動による煩雑なフルスケール調
整を採用せず、後述する自動レンジ制御方法を採用する
ことにより、ワンタッチの短時間でフルスケール調整が
可能なようにしている。この発明の自動レンジ制御方法
は、低域フィルタ6を挿入した場合に測定レンジ(ゲイ
ン)を切換えた際の信号の応答速度が遅くなり、データ
が安定して^/D変検を行なうことができるまでの待ち
時間が必要となるという弊害を除去している0例えば、
100Hzのちらつきを1/100迄減衰させようとし
た場合、1次のRCフィルタを使用すると遮断周波数f
cはIHzであtj1時定数では0.1B秒であるから
、レンジ′切換えによる出力の変化が目標値の1/+0
00以内になるには約7で、つまり約1.12秒が必要
である。ここで、 I/1000とは、 IQビットの
A/D変換器の分解能に対応した精度である。このよう
な遅延を減少させるためにも応答の速い自動レンジ制御
が必要となる。
第2図は光学濃度/網点面積率測定装置の別の例を示す
図である。この例は、ゲイン切換回路8が第1図の実施
例と相違する以外は第1図の例と同様である。このゲイ
ン切換回路8は演算増幅器2の入出力端子の間に複数の
抵抗R910J 100R,900Rを並列に接続し、
これらの抵抗のうち最大の抵抗値を有する抵抗900R
以外の抵抗R,lOR,100Rニ直列ニア+tlff
グスイッチ5ll11〜Sw3を接続している。アナロ
グスイッチSWI 〜5il13の動作は表2のように
制御される。このように干ることで、従来4個用いてい
たアナログスイッチを3個に削減できる。
夫−−1 上述のような光学濃度/網点面積率測定装置に対して、
次にこの発明の自動レンジ制御方法について説明する6 通常の自動レンジ制御にあっては増幅率の小さい状態で
最大のレンジで測定し、最上位桁が零以外の数字になっ
たか否かを確認し、零である場合には順次増幅率の大き
い測定レンジの小さい方に切換えるようにしている。最
上位桁が初めて零以外の数字になったときのA/D変換
値と、その時のレンジつまりゲインから測定値が得られ
る。このような通常の自動レンジ動作の場合には、最終
的な測定値を得るまでの測定の回数は、×1→×10→
×100→X 1000と最大4回となり、1回の測定
に1.12秒以上必要であるから、全部の測定に必要な
時間は4.48秒以上となり1人間にとって長い待ち時
間を必要とすると共に作業性が悪い。
これに対し、この発明の自動レンジ制御方法は、 A/
D変換器によって得られた情報を最大限に利用すること
でレンジ選択回数を減らし、全体め測定時間を短縮する
ものである。この発明では、10ビツトのA/D変換器
により先ず×1のレンジでA/D変換を行ない、A/D
変換値を次に示す表3のレンジと対比させ、次に選択す
るゲインを決定し、再度A/D変換を行なう。
現在のゲインが適正なレンジであれば、そのAID変換
値が最終的な測定値となる。この方法によれば、Xl0
QOのレンジを選択するのに×1→x 100− x 
1000の3回のA/D変換で済み、測定時間が短縮さ
れる。更に、10ピツ・トのA/D変換器の桁オーバー
フローを検知することができる構成にすれば、測定を×
IOレンジ又はフルスケール値のレンジから始めること
ができる。この場合には、次の表4に従ってレンジつま
りゲインが選択される。
表−4 表4の特徴は、A/D変換値がオーバーフローした場合
、ゲインを1/10に小さくすることである。このよう
にすると、x toooのレンジを選択τる場合でも×
10のレンジから測定を始めると、×10レンジ→X 
1000レンジと2回のA/D変換で済み、全体の測定
時間は賃来の半分で済むことになる。
以上説明したゲイン選択は、一般的に次のように説明で
きる。すなわち、適宜与えられたゲインGiでA/D変
換を行なって得られた値旧から、値11を式Ii=Vi
/Giに従って求め、このI宜が表5の予め定められた
複数のレンジのどこに含まれるかに応じて次のゲインG
i+1を選ぶものとする。このゲインGi+1が現在の
ゲインGiと一致すれば、値[iを最終的な測定値とす
る。一致しない場合には再度ゲインGi+1で測定を行
ない、一致するまで行なう、尚、(ti■+は最大値を
rlJ として正規化されている。また、実際のレンジ
の設定では、回路素子値の票差によりレンジ間にギャッ
プが発生することを防ぐため。
8L/ンジは少しずつオーバーラツプさせて設定する。
表−5 最初のゲインGには最小のゲイン(×1)又はフルスケ
ール測定時のゲインを用いる。各ゲイン間の比が等しけ
れば、値Iiを計算する必要はなく、vlの値から次の
G151を現在のGiの何倍とするか決定すればよい0
例えば次の表6に従ってゲインGi+1を決定すればよ
い。
聚−−」 この表6で計算したゲインの値が、予め定められた最大
又は最小のゲインを越える場合には、最大又は最小の値
を用いるものとする。
一方、測定時間を短縮する方法としては、上述の自動レ
ンジ制御方法の他に、フィルタの次数を上げる方法があ
る0例えば、1次の低域フィルタの代りに2次の低域フ
ィルタを用いれば、100Hzで1次のRCフィルタと
同一の減衰性能を達成する場合、遮断周波数fc= l
0Hz、時定数で−0,0225秒となり、7τ= 0
.157秒となり、1次のRCフィルタの場合の1.1
2秒に比して、測定時間を短縮できる。このフィルタの
次数を上げる方法に上述の自動レンジ制御方法を併用す
れば、更に測定時間を短縮することができる。また、オ
ートレンジを行なう場合に、最初のレンジとしてフルス
ケール調整時のゲインを用いて測定時間を短縮するこが
できる。
次に1.*点面植率測定装置としての機能について説明
する。網点面積率の測定は対数を用いて測定する必要が
なく、測定レンジは狭くて良°い、徒って、フルスケー
ルに調整した後の測定では、レンジをそのフルスケール
値のレンジに固定してA/D変換を行なう、レンジ切換
えの必要はなく、測定時間は光学濃度の測定より短くて
済む、しかし、網点測定ではフルスケール値の精度は、
光学濃度測定におけるよりも高精度が要求される0例え
ば、光学濃度測定時に通常要求される反復精度は±0.
01以内であるが、網点測定時の反復精度は±1%以内
が要求される。この精度を達成するには、光量の測定精
度を濃度測定時には±o、oosに、網点測定時には±
0.5%以内におさえる必要がある。この値を、測定す
る光量のA/D変換値(整数(rl)の最小カウントに
換算すると、±0.005については88カウントが、
±0.5%については200カウントがそれぞれ必要と
なる。 10ビツトのA/D変換器を用いると、許容で
きるレンジのゲイン比の最大は、光学濃度については1
024/8B = 11.9倍、網点面81率について
は+024/200−5.12倍となる。従って、光学
濃度測定と網点面積率測定とを共用する測定装置では、
測定レンジは細かい方つまり網点測定に合わせる必要が
あるが、このようにするとレンジの種類が例えば×1゜
X 3 、 X31fi、2.XIO,X3.182.
X100.X3.182゜X 1000となり、種類が
増大する。このような場合、前述の自!11I測定レン
ジ制御回路の構成方法の採用のみでは、抵抗、アナログ
スイッチの数が増大してしまい、結局構成が困難となる
第3図はこの点を考慮した別の例を示す図であり、演算
増幅器2の後に直列にプログラマブルゲイン7ンプ10
が接続され、増幅器が2つに分けられている。このよう
な構成によって、演算増幅器2のみで構成した場合に比
較して初段部分での抵抗、アナログスイッチを増加させ
ないで済み、測定精度も向上できる。この実施例では1
段目のレンジ切換回路にXi、XIO,Xtoo、X 
1000のレンジを、2段目のレンジ切換回路にX l
 、 X3.1Bの測定レンジをそれぞれ分担させてい
る。1段目のレンジ切換回路のレンジ切換範囲は×1〜
x toooと広範囲であるのに比し、2段目のレンジ
切換回路のレンジ切換範囲は×l〜X3.182と範囲
が狭いので、前段のオフセット電圧を著るしく増幅して
しまうという弊害は生じない、従って、2段目のレンジ
切換回路−演算増幅器の組合せは1通常用いられるどの
ようなものでも用いることができる。又、上記レンジ切
換回路の演算増幅器と低域フィルタの演算増幅器は共用
するよう構成することも可能である。さらに、零調整を
行なうレンジがX 1 、 X3.+82の2つのレン
ジのみであれば。
全体のレンジの設定をゲインの小さなレンジのみ細かく
設定し、ゲインの大きなレンジでは粗く設定してレンジ
数を減らし、抵抗やスイッチ等の部品点数を減らすと共
に漏れ電流を軽減し、測定精度を向上することができる
。この場合は、レンジ切換回路は1°段のみの構成とす
ることかでSる。
このようにして得られた測定値(ゲイン)G 、 A/
D変換値Vから光学濃度りは次式によって得られる。
光学濃度D = −1ogT     ・・・・・・・
・・(4)Gf、Vfはそれぞれフルスケールのゲイン
及びA/D変換値の測定値であり、G、Vは透過光量の
測定値である。
また、網点面積率Aは次式に従って得られる。
網点面11KA = (+ −T) X 100($)
−旧−・(5)このような演算をマイクロコンピュータ
等を用いて演算し、表示器に表示することは容易である
。さらに、特開昭55−27908号公報に示されてい
るような網点のフリンジ及びゴーストドツトに関する補
正も、マイクロコンピュータで容易に行なうことができ
る。
(発明の効果) 以上のようにこの発明の制御方法によれば、測定レンジ
の選択回数を減少することができ、しかも測定精度を向
上できる利点がある。
また1、網点面積率Aは次式に従って得られる。
、網点面uiA=(t −t) X100($)−・−
・(5)このような演算をマイクロコンピュータ等を用
いて演算し、表示器に表示することは容易である。さら
に、特開昭55−27909号公報に示されているよう
な、網点のフリンジ及びゴーストドツトに関する補正も
、マイクロコンピュータで容易に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】 第1図はこの発明の対象となる光学濃度/、11点面積
車面積率測定装置を示す図、第2図は別の例を示す図、
第3図はこの発明に用いる測定装置の別の例を示す図、
第4図は従来の光学濃度測定装置を例示する回路構成図
、第5図は従来のゲイン切換回路を例示する図、第6図
は第5図のゲイン切換回路を適用した従来の光学濃1’
f測定装置を例示する回路構成図である。 1.11・・・光電変換素子 2 、10 、19・・
・演算増幅器3.14.20・・・A/D変換器 4・
・・演算制御部、5゜IB、22・・・表示器 6・・
・低域フィルタ、 7,8.3・・・ゲイン切換回路、
12・・・プリアンプ、13・・・プログラマブルゲイ
ンアンプ、15・・・CPU  17・・・ゲイン切換
抵抗18・・・スイッチ、21・・・演算処理回路23
a〜23d・・・帰還抵抗 24a〜24d・・・アナ
ログスイッチ。 出願人代理人   安 形 雄 三 羊 2 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 被測定物からの透過光又は反射光を光電変 換により光電流とする光電変換素子と、前記光電流を電
    圧信号に変換して増幅する演算増幅器と、この演算増幅
    器からの電圧信号の交流成分を遮断する低域フィルタと
    、この低域フィルタからの電圧信号をアナログ値からデ
    ィジタル値に変換するA/D変換器と、前記ディジタル
    信号に応じて複数のアナログスイッチのオンオフを制御
    するスイッチ制御信号及び表示データを出力する演算制
    御部と、前記演算増幅器の入出力端子間に接続された複
    数の帰還抵抗及びアナログスイッチを有して測定レンジ
    を切換えるようになっているゲイン切換回路とを具備し
    た光学濃度/網点面積率測定装置における自動レンジ制
    御方法において、前記ゲイン切換回路に対して前記演算
    制御部が適宜に与えられたゲインGiで測定値をA/D
    変換して得た値Viから値Ii=Vi/Giを計算し、
    この値Iiが予め定められた複数のレンジのどこに該当
    するかによってゲインGi+1を選び、このゲインGi
    +1が現在のゲインGiと一致する場合には値Iiを最
    終の測定値とし、一致しない場合にはゲインGi+1で
    測定値をA/D変換を行なって値Viを求め、値Ii+
    1=Vi+1/Gi+1を計算し、一致するまで上記手
    順を繰返すようにスイッチ制御信号を出力するようにし
    たことを特徴とする光学濃度/網点面積率測定装置にお
    ける自動レンジ制御方法。
JP59230399A 1984-07-24 1984-11-02 光学濃度/網点面積率測定装置における自動レンジ制御方法 Pending JPS61110002A (ja)

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