JPS61114122A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
- Publication number
- JPS61114122A JPS61114122A JP23511284A JP23511284A JPS61114122A JP S61114122 A JPS61114122 A JP S61114122A JP 23511284 A JP23511284 A JP 23511284A JP 23511284 A JP23511284 A JP 23511284A JP S61114122 A JPS61114122 A JP S61114122A
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- JP
- Japan
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- light
- distance
- optical position
- infrared beam
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- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 14
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 abstract description 6
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Landscapes
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は高輝度照明の下での撮影時の誤測距を防止した
測距装置に関する。
測距装置に関する。
（ロ）従来技術
近年自動焦点カメラや自動焦点調整式のビデオカメラが
開発され、撮影が大変楽になったが、このようなカメラ
において被写体像の合焦を光学的をこ検知する方法には
、被写体像のシャープさを検出するボケ像検出式、左右
２つの被測定物の重なりを検出する二重像合致検出式、
あるいは上下像合致検出式、被測定物に向けて発射した
光線の反射光を利用して基線長と見込み角より三角測量
式に距離を求める光線距離式など種々の方式が知られて
いる。
開発され、撮影が大変楽になったが、このようなカメラ
において被写体像の合焦を光学的をこ検知する方法には
、被写体像のシャープさを検出するボケ像検出式、左右
２つの被測定物の重なりを検出する二重像合致検出式、
あるいは上下像合致検出式、被測定物に向けて発射した
光線の反射光を利用して基線長と見込み角より三角測量
式に距離を求める光線距離式など種々の方式が知られて
いる。
第２図は光線距離式による測距の原理を示しており、赤
光コントロールパルスにより駆動される赤外発光ダイオ
ード１から投光レンズ２を通して被写体３に赤外線の細
いビームを投射する。被写体３より反射される赤外光ビ
ームは受光レンズ４を通して光位置検出器５上にスポッ
ト光として受光される。光位置検出器５は、第３図（イ
）に示すように、２つの電［ｉ Ｐｌ、 、 Ｐ２に
それぞれ接続された充電流出力端子５ａ、５ｂと共通電
極端子５ｃとを有するホトダイオードで、検出器５上で
の赤外スポット光の位置ｄは、投光レンズ２から被写体
３までの距離を１、受光レンズ４の焦点距離をｆ１投光
、受光レンズ２．４の光軸間の距離（基線長と呼ばれて
いる）をＳとすれば、 ｆ ｄ＝Ｓｘ− ！ となり、赤外スポット光の結像位置は被写体３までの距
離１１こより変わることがわかる。一方、光位置検出器
５の出力端子５ａ、５ｂがら出力する光電流Ｉ］、１２
の大きさは赤外スポット光の結像位置により変化し、次
の関係式で表わされる。ここでＣは光位置検出器５の受
光面の長さである。
光コントロールパルスにより駆動される赤外発光ダイオ
ード１から投光レンズ２を通して被写体３に赤外線の細
いビームを投射する。被写体３より反射される赤外光ビ
ームは受光レンズ４を通して光位置検出器５上にスポッ
ト光として受光される。光位置検出器５は、第３図（イ
）に示すように、２つの電［ｉ Ｐｌ、 、 Ｐ２に
それぞれ接続された充電流出力端子５ａ、５ｂと共通電
極端子５ｃとを有するホトダイオードで、検出器５上で
の赤外スポット光の位置ｄは、投光レンズ２から被写体
３までの距離を１、受光レンズ４の焦点距離をｆ１投光
、受光レンズ２．４の光軸間の距離（基線長と呼ばれて
いる）をＳとすれば、 ｆ ｄ＝Ｓｘ− ！ となり、赤外スポット光の結像位置は被写体３までの距
離１１こより変わることがわかる。一方、光位置検出器
５の出力端子５ａ、５ｂがら出力する光電流Ｉ］、１２
の大きさは赤外スポット光の結像位置により変化し、次
の関係式で表わされる。ここでＣは光位置検出器５の受
光面の長さである。
−（−’＋ ｆｓ ） ／ （−ｊ −ｆｓ）この関係
を図示すると第３図（ロ）のようになりＩ２／１１はほ
ぼ１．／／ｆに比例することがわかる。
を図示すると第３図（ロ）のようになりＩ２／１１はほ
ぼ１．／／ｆに比例することがわかる。
上式かられかるように、■２／１１＃よ基５ｉｓ１受光
レンズ４の焦点距離ｆ１光位置検出器５の受光面長さＣ
のみによって決まるので被写体の反射率の違いや赤外発
光ダイオード１の経時劣化などによるスポット光の強弱
には関係なく測距が可能になる。また第３図（ロ）から
れかるように、被写体までの距離が小さくなるほど出力
値が大きく、変化も大きくなるので精度の高い測距がで
きる。
レンズ４の焦点距離ｆ１光位置検出器５の受光面長さＣ
のみによって決まるので被写体の反射率の違いや赤外発
光ダイオード１の経時劣化などによるスポット光の強弱
には関係なく測距が可能になる。また第３図（ロ）から
れかるように、被写体までの距離が小さくなるほど出力
値が大きく、変化も大きくなるので精度の高い測距がで
きる。
このように光線距離式測距方法は測距が純粋に電気的に
行なわれ何ら機械的な機構や動作は必要でないためにコ
ンパクトで信頼性の高い測距システムを実現することが
できるが、実際の測距は戸外や室内照明下で行なわれる
場合が多いので、測距に当ってはそれらの外来光と発光
ダイオードからの赤外ビーム光とを区別する必要がある
。そのために、従来発光ダイオードは波長が８００〜９
５０ ｍ１ｍの赤外線を発光するものを用い、さらに光
位置検出器の受光面の前に可視光カット用のフィルタを
入れるが、これだ＝ ３ ＝ けでは太陽光や白熱光に対しては役に立たないので、発
光ダイオードをパルス駆動したり交流点灯したりしてそ
の変化分のみを取り出すようにして外来光と区別したり
、光位置検出器の出力電流を電圧に変換した後対数変換
して処理したりして誤測距を避けるようにしている。
行なわれ何ら機械的な機構や動作は必要でないためにコ
ンパクトで信頼性の高い測距システムを実現することが
できるが、実際の測距は戸外や室内照明下で行なわれる
場合が多いので、測距に当ってはそれらの外来光と発光
ダイオードからの赤外ビーム光とを区別する必要がある
。そのために、従来発光ダイオードは波長が８００〜９
５０ ｍ１ｍの赤外線を発光するものを用い、さらに光
位置検出器の受光面の前に可視光カット用のフィルタを
入れるが、これだ＝ ３ ＝ けでは太陽光や白熱光に対しては役に立たないので、発
光ダイオードをパルス駆動したり交流点灯したりしてそ
の変化分のみを取り出すようにして外来光と区別したり
、光位置検出器の出力電流を電圧に変換した後対数変換
して処理したりして誤測距を避けるようにしている。
このような方法をとれば、多くの場合外来光と赤外ビー
ム光とを区別することはできるが、被写体が強いタング
ステン光で照明された場合は光位置検出器の出力電流に
リップルがのってしまいノイズとなって誤測距するおそ
れがある。
ム光とを区別することはできるが、被写体が強いタング
ステン光で照明された場合は光位置検出器の出力電流に
リップルがのってしまいノイズとなって誤測距するおそ
れがある。
（ハ）発明の目的および構成
本発明は、上記の点にかんがみてなされたもので、自動
焦点調整式のカメラまたはビデオカメラにおいてタング
ステン光などの高輝度照明下での撮影時の誤測距を防止
することを目的とし、この目的を達成するために、光位
置検出器の非受光部を遮光するように構成した。
焦点調整式のカメラまたはビデオカメラにおいてタング
ステン光などの高輝度照明下での撮影時の誤測距を防止
することを目的とし、この目的を達成するために、光位
置検出器の非受光部を遮光するように構成した。
に）実施例
以下本発明を図面に基づいて説明する。
第１図は本発明による測距装置に用いる光位置検出ユニ
ットを示す。
ットを示す。
光位置検出ユニットＩＯは枠１０ａの正面中央に半導体
装置検出素子１１を配設して成る。
装置検出素子１１を配設して成る。
この光位置検出素子１１上にスポット光として投射され
る反射赤外ビーム光は被写体までの距離によって変化す
るが、被写体が近距離から無限遠まで変化しても反射赤
外ビーム光が投射しない部分がある。そこで、この部分
に斜線で図示したような遮光部材１２を当てることによ
り外来光の入射を減らすようにする。遮光部材１２とし
ては、遮光紙、遮光塗料などが考えられる。
る反射赤外ビーム光は被写体までの距離によって変化す
るが、被写体が近距離から無限遠まで変化しても反射赤
外ビーム光が投射しない部分がある。そこで、この部分
に斜線で図示したような遮光部材１２を当てることによ
り外来光の入射を減らすようにする。遮光部材１２とし
ては、遮光紙、遮光塗料などが考えられる。
このような遮光部材を設けるほかに、光位置検出素子１
１を固定する窓を小さくする方法も考えられる。
１を固定する窓を小さくする方法も考えられる。
このように光位置検出素子の非受光部分を遮光すること
により、素子の出力電流に含まれるノイズ分が減少し、
タングステン光のような明るい外来光を用いた環境下に
おいても出力電流にリップルがのったり出力電流の処理
回路のアンプ系が飽和しにくくなるため誤測距が可能性
が奢るしく減少する。
により、素子の出力電流に含まれるノイズ分が減少し、
タングステン光のような明るい外来光を用いた環境下に
おいても出力電流にリップルがのったり出力電流の処理
回路のアンプ系が飽和しにくくなるため誤測距が可能性
が奢るしく減少する。
従来の測距方式では被写体が無限遠に近づいた場合は受
光光量が減少し光位置検出素子からの出力電流り、１２
が小さくなるため誤測距し易い。そのため出力電流１１
．．１．、があるレベル以下になったら無限遠と判断し
ている。本発明の装置番こおいては反射赤外ビーム光が
投射する光位置検出素子上の無限遠相当位置を遮光する
ことにより確実に無限遠の判断ができる。
光光量が減少し光位置検出素子からの出力電流り、１２
が小さくなるため誤測距し易い。そのため出力電流１１
．．１．、があるレベル以下になったら無限遠と判断し
ている。本発明の装置番こおいては反射赤外ビーム光が
投射する光位置検出素子上の無限遠相当位置を遮光する
ことにより確実に無限遠の判断ができる。
（ホ）発明の効果
以」−説明したように、本発明は、赤外ビーム光を被測
定物に向けて投射し１被測定物からの反射赤外ビーム光
を光位置検出器で受光し、その受光位置に基づいて被測
定物までの距離を測定する測距装置台こおいて、光位置
検出器の非受光部を遮光するようＧこしたので、輝度の
高いタングステン光などの外来光の環境下で撮影しても
光位置検出器に入射する外来ノイズを減少することがで
き誤測距を防止することができる。
定物に向けて投射し１被測定物からの反射赤外ビーム光
を光位置検出器で受光し、その受光位置に基づいて被測
定物までの距離を測定する測距装置台こおいて、光位置
検出器の非受光部を遮光するようＧこしたので、輝度の
高いタングステン光などの外来光の環境下で撮影しても
光位置検出器に入射する外来ノイズを減少することがで
き誤測距を防止することができる。
第１図は本発明による測距装置に用いる光位置検出ユニ
ットの一実施例の斜視図、第２図は測距の原理を説明す
る図、第３図（イ）は光位置検出器の一実施例、（ロ）
は（イ）に示した光位置検出器の距離と出力電流との関
係を示す特性図である。 ｌ・・・赤外発光ダイオード ２・・・投光レンズ ３・・・被写体４・・・受
光レンズ ５・・・光位置検出器１０・・・光位
置検出ユニット
ットの一実施例の斜視図、第２図は測距の原理を説明す
る図、第３図（イ）は光位置検出器の一実施例、（ロ）
は（イ）に示した光位置検出器の距離と出力電流との関
係を示す特性図である。 ｌ・・・赤外発光ダイオード ２・・・投光レンズ ３・・・被写体４・・・受
光レンズ ５・・・光位置検出器１０・・・光位
置検出ユニット
Claims (1)
- 被測定物にスポット光を投光する投光手段と、前記被測
定物で反射したスポット光を受光するように前記投光手
段から所定距離の位置に配置された受光手段とを有し、
該受光手段として光位置検出器を用いた測距装置におい
て、前記光位置検出器の受光面の非受光部分を遮光した
ことを特徴とする測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23511284A JPS61114122A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23511284A JPS61114122A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61114122A true JPS61114122A (ja) | 1986-05-31 |
Family
ID=16981231
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23511284A Pending JPS61114122A (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-09 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61114122A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01206211A (ja) * | 1988-02-10 | 1989-08-18 | Nikon Corp | 測距装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5540942A (en) * | 1978-09-14 | 1980-03-22 | Nec Corp | Range finder |
| JPS5582903A (en) * | 1978-12-14 | 1980-06-23 | Bosch Gmbh Robert | Distance measuring apparatus |
| JPS58191915A (ja) * | 1982-05-04 | 1983-11-09 | Minolta Camera Co Ltd | 光位置センサ |
-
1984
- 1984-11-09 JP JP23511284A patent/JPS61114122A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5540942A (en) * | 1978-09-14 | 1980-03-22 | Nec Corp | Range finder |
| JPS5582903A (en) * | 1978-12-14 | 1980-06-23 | Bosch Gmbh Robert | Distance measuring apparatus |
| JPS58191915A (ja) * | 1982-05-04 | 1983-11-09 | Minolta Camera Co Ltd | 光位置センサ |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01206211A (ja) * | 1988-02-10 | 1989-08-18 | Nikon Corp | 測距装置 |
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