JPS61120248A - 診断方式 - Google Patents
診断方式Info
- Publication number
- JPS61120248A JPS61120248A JP59241741A JP24174184A JPS61120248A JP S61120248 A JPS61120248 A JP S61120248A JP 59241741 A JP59241741 A JP 59241741A JP 24174184 A JP24174184 A JP 24174184A JP S61120248 A JPS61120248 A JP S61120248A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- eif
- representative
- group
- error detection
- key
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は診断方式、とくに情報処理システムの組込型診
断を行なう診断方式に関するものである。
断を行なう診断方式に関するものである。
一般に情報処理システムの故障診断方式には、いわゆる
マイクロ診断方式と％組込型診断方式（Ｂｕｉｌｔ Ｉ
ｎ Ｄｉａｇｏｎｏｓｔｉｃｓ ：以１ＢＩＤ万式と略
称する）とがめる０ 前者のマイクロ診断方式は、マイクログログラムで制御
される装置の障害発生時に、この装置の制御記憶の内容
を通常の制−用のマイクロプログラムから、故障診断用
のマイクロプログラムに置換え、これＫよってマイクロ
命令のレベルで診断対象回路へテストデータを印加し、
実行結果のチェックから診断するものであるが、一般に
診断用のマイクログログラムを開発するために多大の工
数を必要とし、また間けり型の故障に対しては正確な診
断が困難になるという欠点を有している。
マイクロ診断方式と％組込型診断方式（Ｂｕｉｌｔ Ｉ
ｎ Ｄｉａｇｏｎｏｓｔｉｃｓ ：以１ＢＩＤ万式と略
称する）とがめる０ 前者のマイクロ診断方式は、マイクログログラムで制御
される装置の障害発生時に、この装置の制御記憶の内容
を通常の制−用のマイクロプログラムから、故障診断用
のマイクロプログラムに置換え、これＫよってマイクロ
命令のレベルで診断対象回路へテストデータを印加し、
実行結果のチェックから診断するものであるが、一般に
診断用のマイクログログラムを開発するために多大の工
数を必要とし、また間けり型の故障に対しては正確な診
断が困難になるという欠点を有している。
これに対して後者のＢＩＤ方式は以下のような方式であ
る。
る。
すなわち、情報処理システムを構成する各装置の中に、
ハードウェアによる各種のエラー検出回路が設けられ、
これらのエラー検出回路がエラーを検出したときに、こ
れに応じてセットされるエラーインディケータ７す、グ
ノロッグ（以１ＥＩＦ）が各エラー検出回路に対応して
ｉけら６％ざらにシステム中に各装置のこれらＥＩＦお
よび他の必要なレジスタ撃を必要に応じて直列に接続し
て診断用の７７トパスを形成するように制御する診断ユ
ニットが含まれている。
ハードウェアによる各種のエラー検出回路が設けられ、
これらのエラー検出回路がエラーを検出したときに、こ
れに応じてセットされるエラーインディケータ７す、グ
ノロッグ（以１ＥＩＦ）が各エラー検出回路に対応して
ｉけら６％ざらにシステム中に各装置のこれらＥＩＦお
よび他の必要なレジスタ撃を必要に応じて直列に接続し
て診断用の７７トパスを形成するように制御する診断ユ
ニットが含まれている。
エラー発生時には、これら各ＥＩＦのセット／リセット
の状態を示す情報を含むエラーログがこの診断ユニット
を介してシステム中のサービスプロセッサにより収集さ
れ、ディスク叫に記録されるＯ エラー発生時にこうして収集されたエラーログは、必要
に応じてディスクから読出され、サービスグロセッサ罠
よる診断解析が行なわれ障害を発生した箇所が指摘され
、これによって保守交換部品が決定される０ 〔発明が解決しようとする問題点〕 このようなりＩＤ方式において、従来は、システム全体
から入力される各ＥＩＦのセットリセット状態を示す情
報に基づいて７ステムをｅＩｌｆｌＶｊ、する各装置に
対する診断を行なっていた。
の状態を示す情報を含むエラーログがこの診断ユニット
を介してシステム中のサービスプロセッサにより収集さ
れ、ディスク叫に記録されるＯ エラー発生時にこうして収集されたエラーログは、必要
に応じてディスクから読出され、サービスグロセッサ罠
よる診断解析が行なわれ障害を発生した箇所が指摘され
、これによって保守交換部品が決定される０ 〔発明が解決しようとする問題点〕 このようなりＩＤ方式において、従来は、システム全体
から入力される各ＥＩＦのセットリセット状態を示す情
報に基づいて７ステムをｅＩｌｆｌＶｊ、する各装置に
対する診断を行なっていた。
このため障害発生時にはいつもシステム全体から入力さ
れるＥＩＦのセット／リセットの状態を示す情報が障害
解析の対象となシ故障箇所の指゛摘に不必安に長い時間
を要するという欠点がめった。
れるＥＩＦのセット／リセットの状態を示す情報が障害
解析の対象となシ故障箇所の指゛摘に不必安に長い時間
を要するという欠点がめった。
本発明の目的は、上述の従来の欠点を除去してＢＩＤ方
式の故障箇所の指摘時間をできるかぎり短縮することＫ
ある。
式の故障箇所の指摘時間をできるかぎり短縮することＫ
ある。
本発明の方式は、情報処理システムを構成する各装置か
らの故障検出情報に基づく組込型故障診断方式であって
、前記各装置中にハードウェアによる複数のエラー検出
回路と前記各エラー検出回路のエラー検出に応じてセッ
トされる前記エラー検出回路に対応するＥＩＦを設け、
前記ＥＩＦを複数個集めてＥＩＦグループを構成し同じ
ＥＩＦグループＧ’ｌする各Ｅ Ｉ Ｆ出力の論理和に
よリセットされる代表ＥＩＦを前記各ＥＩＦグループと
と（設け、故障の診断解析に際して前記各代表ＥＩＦの
セット／リセット状態を最初にチェックし代表ＥＩＦが
セットされている前記Ｅ Ｉ Ｆグループに対しこのＥ
ＩＦグループに属する各ｇＩＦのセット／リセットを示
す情報を用いて評細な故障診断解析を続いて行なうよう
にしたものである。
らの故障検出情報に基づく組込型故障診断方式であって
、前記各装置中にハードウェアによる複数のエラー検出
回路と前記各エラー検出回路のエラー検出に応じてセッ
トされる前記エラー検出回路に対応するＥＩＦを設け、
前記ＥＩＦを複数個集めてＥＩＦグループを構成し同じ
ＥＩＦグループＧ’ｌする各Ｅ Ｉ Ｆ出力の論理和に
よリセットされる代表ＥＩＦを前記各ＥＩＦグループと
と（設け、故障の診断解析に際して前記各代表ＥＩＦの
セット／リセット状態を最初にチェックし代表ＥＩＦが
セットされている前記Ｅ Ｉ Ｆグループに対しこのＥ
ＩＦグループに属する各ｇＩＦのセット／リセットを示
す情報を用いて評細な故障診断解析を続いて行なうよう
にしたものである。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すプロ、り図である０
この実施例は演算処理装置１（ＣＰＵ）１．入出力制御
装［（ＩＯＰ）２、主記憶装置ｔ（ＭＭＵ）３、診断ユ
ニッ）（ＤＧＵ）４、サービスグロセッ？（ＳＶＰ）５
、ディスク６、コンノール７およびプリンタ８を含んで
いる。
装［（ＩＯＰ）２、主記憶装置ｔ（ＭＭＵ）３、診断ユ
ニッ）（ＤＧＵ）４、サービスグロセッ？（ＳＶＰ）５
、ディスク６、コンノール７およびプリンタ８を含んで
いる。
これらのＣＰＵＩ、ｌ０Ｐ２、ＭＭＵ３等の諸装＋ＮＫ
は、エラー発生を検出するハードウェアのエラー検出回
路が含まれており、各エラー検出回路は、この検出回路
がエラーを検出した場合にセ、トする各エラー検出回路
圧対応するエラーインディケータ７リツプ７０．グ（以
下ＥＩＦ）を有している。
は、エラー発生を検出するハードウェアのエラー検出回
路が含まれており、各エラー検出回路は、この検出回路
がエラーを検出した場合にセ、トする各エラー検出回路
圧対応するエラーインディケータ７リツプ７０．グ（以
下ＥＩＦ）を有している。
さらに本実施例においては、第２図に示すように、ＣＰ
ＵＩのＥＩＦであるＥＩＦｃｌ 〜ＥＩＦａｎのすべて
の出力はＯＲ回路ＯＲｃによりその論理和がとられ、こ
の０几回路Ｏ几Ｃの出力によりセットされる代表ＥＩＦ
１７）ＥＩＦｃを有している。従ってＣＰＵＩの中の各
ＥＩＦｃ１〜ＥＩＦｃｎのいずれか一つまたはそれ以上
がセットされた場合（はＣＰＵＩの代表ＥＩＦであるＥ
ＩＦｃが必らずセットされることになる。
ＵＩのＥＩＦであるＥＩＦｃｌ 〜ＥＩＦａｎのすべて
の出力はＯＲ回路ＯＲｃによりその論理和がとられ、こ
の０几回路Ｏ几Ｃの出力によりセットされる代表ＥＩＦ
１７）ＥＩＦｃを有している。従ってＣＰＵＩの中の各
ＥＩＦｃ１〜ＥＩＦｃｎのいずれか一つまたはそれ以上
がセットされた場合（はＣＰＵＩの代表ＥＩＦであるＥ
ＩＦｃが必らずセットされることになる。
同様にｌ０Ｐ２も、ｌ０Ｐ２に楓する各ＥＩＦであるＥ
Ｉ Ｆ Ｉ、 〜ＥＩＦ’、ｍのすべての出方の論
理和によってセットされる代表ＥＩＦであるＥＩＦ！を
有し、またＭＭＵ３も、全く同様に、ＭＭＵ３の各ＥＩ
ＦであるＥ Ｉ ＦＭ、 〜ＥＩＦＭ１の各出力の論理
和によってセットされる代表ＥＩＦであるＥＩＦＭを有
している。
Ｉ Ｆ Ｉ、 〜ＥＩＦ’、ｍのすべての出方の論
理和によってセットされる代表ＥＩＦであるＥＩＦ！を
有し、またＭＭＵ３も、全く同様に、ＭＭＵ３の各ＥＩ
ＦであるＥ Ｉ ＦＭ、 〜ＥＩＦＭ１の各出力の論理
和によってセットされる代表ＥＩＦであるＥＩＦＭを有
している。
８ＶＰ５はＣＰＵＩ、ｌ０Ｐ２．ＭＭＵ３ｆ７）中の少
くも一つの装置でエラーを検出した場合に、ＤＧＵ４を
劃−して各装置内の代表ＥＩＦを含むスヘてのＥＩＦ’
を同じ装置中の他の必要なレジスタ類と直列に接続して
診断用のシフトパスを形成しこれ等の内容をディスク６
に転送することによりエラーログを収集することができ
る。
くも一つの装置でエラーを検出した場合に、ＤＧＵ４を
劃−して各装置内の代表ＥＩＦを含むスヘてのＥＩＦ’
を同じ装置中の他の必要なレジスタ類と直列に接続して
診断用のシフトパスを形成しこれ等の内容をディスク６
に転送することによりエラーログを収集することができ
る。
さて本実施例の診断処理は以下のように実行される。
７ステム内に何か異常が発生すると、ＤＧＵ４を介して
５ｖｐｓにエラー検出情報が通知される。
５ｖｐｓにエラー検出情報が通知される。
この通報を受けると、８ＶＰ５は、Ｄ（）Ｕ４を制御し
て各装置ごとＩｃ＃Ｉ述の診断用のシフトパスを形成し
てエラーログを収集し、これをディスク６に記録してエ
ラーログファイルを作成する０次に５ＶＰ５は、こうし
て作成されたログファイルを用いて各装置の代表ＥＩＦ
の内容を順番にチェックする。そして代表ＥＩＦがセッ
トされている装置が見出されると、この装置に対するロ
グファイルすなわち、この装置の谷ＥＩＦの内容および
必要なレジスタ鵠の内容を記録したデータを診断解析す
ることにより、この装置に対する保守交換部品を決定し
、これを指定する情報をコンソール７のディスグレイ上
に表示し、あるいはグリンタ８でタイプアクトする。
て各装置ごとＩｃ＃Ｉ述の診断用のシフトパスを形成し
てエラーログを収集し、これをディスク６に記録してエ
ラーログファイルを作成する０次に５ＶＰ５は、こうし
て作成されたログファイルを用いて各装置の代表ＥＩＦ
の内容を順番にチェックする。そして代表ＥＩＦがセッ
トされている装置が見出されると、この装置に対するロ
グファイルすなわち、この装置の谷ＥＩＦの内容および
必要なレジスタ鵠の内容を記録したデータを診断解析す
ることにより、この装置に対する保守交換部品を決定し
、これを指定する情報をコンソール７のディスグレイ上
に表示し、あるいはグリンタ８でタイプアクトする。
このよう（集約された情報を含む各装置の代表ＥＩＦの
内容を最初にチェックし、これがセットされている装置
から、更に詳細な診１１′ｒ解析を実施するという方式
をとることにより、故障箇所の指摘時間を従来方式に比
して短縮することが可能になる。
内容を最初にチェックし、これがセットされている装置
から、更に詳細な診１１′ｒ解析を実施するという方式
をとることにより、故障箇所の指摘時間を従来方式に比
して短縮することが可能になる。
なお、以上の実施例においては、システム中の診断され
る装置を、ＣＰＵＩ、ｌ０Ｐ２およびＭＭＵ３としたが
勿論さらに他の装置を含むようにすることもできる。
る装置を、ＣＰＵＩ、ｌ０Ｐ２およびＭＭＵ３としたが
勿論さらに他の装置を含むようにすることもできる。
また、代表ＥＩＦを上述の実施例のように、必要な各装
置ごとに１個ずつ設けるかわシに、診断解析を行なう上
から、一括して取扱かった方が取扱かいが容易になるよ
りなＥＩＦを一つのグループとしてまとめ、これ等のＥ
ＩＦの出力の論理和によりセットされる代表ＥｉＦを設
け、これを用いて上述の実施例と同様に処理するように
することもできる。すなわち、この場合にはＳＶＰは作
成されたファイルを用いて上述の代表ＥＩＦの内容を順
番にチェックし、セットされている代表ＥＩＦを見出す
と、この代表ＥＩＦが代表しているＥＩＦグループの各
ＥＩＦのデータを用いて診断解析を行なうことによって
このグループに対する保守交換部品を決定する。この場
合には、同じ装置中にｖｌ数個の代表ＥＩＦ’が含まれ
る場合もあるし、また複数個の装置に対して一つの代表
ＥＩＦしか含まなくてもよい。すなわち装置の構成にと
られれることなく、診断解析の観点から最も都合のよい
ようにシステム中の各ＥＩＦをグループ分けして各ＥＩ
Ｆグループごとに代表ＥＩＦを設けるようにすればよい
。
置ごとに１個ずつ設けるかわシに、診断解析を行なう上
から、一括して取扱かった方が取扱かいが容易になるよ
りなＥＩＦを一つのグループとしてまとめ、これ等のＥ
ＩＦの出力の論理和によりセットされる代表ＥｉＦを設
け、これを用いて上述の実施例と同様に処理するように
することもできる。すなわち、この場合にはＳＶＰは作
成されたファイルを用いて上述の代表ＥＩＦの内容を順
番にチェックし、セットされている代表ＥＩＦを見出す
と、この代表ＥＩＦが代表しているＥＩＦグループの各
ＥＩＦのデータを用いて診断解析を行なうことによって
このグループに対する保守交換部品を決定する。この場
合には、同じ装置中にｖｌ数個の代表ＥＩＦ’が含まれ
る場合もあるし、また複数個の装置に対して一つの代表
ＥＩＦしか含まなくてもよい。すなわち装置の構成にと
られれることなく、診断解析の観点から最も都合のよい
ようにシステム中の各ＥＩＦをグループ分けして各ＥＩ
Ｆグループごとに代表ＥＩＦを設けるようにすればよい
。
以上述べたように、本発明によると、組込型診断方式に
おいて、複数個のＥＩＦの出力の論理和によりセットさ
れる代表ＥＩＦを設け、診断解析を行なうに当ってまず
代表ＥＩＦのセット／リセット状態をチェックし、セッ
トされている代表ＥＩＦ’に対応するＥＩＦグループの
各ＥＩＦを用いて詳細な診断解析を実施するようにして
故障箇所の指摘時間を短縮することができる。
おいて、複数個のＥＩＦの出力の論理和によりセットさ
れる代表ＥＩＦを設け、診断解析を行なうに当ってまず
代表ＥＩＦのセット／リセット状態をチェックし、セッ
トされている代表ＥＩＦ’に対応するＥＩＦグループの
各ＥＩＦを用いて詳細な診断解析を実施するようにして
故障箇所の指摘時間を短縮することができる。
これにより情報処理システムの修理時間を短縮し信頼性
の向上を達成できる。
の向上を達成できる。
第１図は本発明の一実施例を示すプロ、り図、および第
２図はこの実施例の一部の詳細を示すブロック図である
。 図において、 １・・・・・・演算処理装置（ＣＰＵ）、２・・・・・
・入出力側−装置（ＩＯＰ）、３−・−主記憶装置１Ｅ
（ＭＭＵ）、４・・・・・診断ユニ、）（ＤＧＵ）、５
・・・・・・丈−ビスプロセッサＣ３ＶＰ）、６・・・
・・・ディスク、７・・・・・・コンソール、８・・・
・・プリンタ、ＥＩＦｃ！ 〜ＥＩＦ’Ｃｆｉ、ＥＩＦ
１１〜ＥＩＦ Ｘｍ、Ｅ工ＦＨ１〜ＥＩＦＭＩ ・・・
・・・エラーインディケータ７す、グア０、グ、ＥＩＦ
ｃ、ＥＩＦ！、ＥＩＦＭ・・−・・代表ＥＩＦ、ＯＲ，
ｃ。ＯＲ，！、０几Ｍ・・・・・・論理和回路。
２図はこの実施例の一部の詳細を示すブロック図である
。 図において、 １・・・・・・演算処理装置（ＣＰＵ）、２・・・・・
・入出力側−装置（ＩＯＰ）、３−・−主記憶装置１Ｅ
（ＭＭＵ）、４・・・・・診断ユニ、）（ＤＧＵ）、５
・・・・・・丈−ビスプロセッサＣ３ＶＰ）、６・・・
・・・ディスク、７・・・・・・コンソール、８・・・
・・プリンタ、ＥＩＦｃ！ 〜ＥＩＦ’Ｃｆｉ、ＥＩＦ
１１〜ＥＩＦ Ｘｍ、Ｅ工ＦＨ１〜ＥＩＦＭＩ ・・・
・・・エラーインディケータ７す、グア０、グ、ＥＩＦ
ｃ、ＥＩＦ！、ＥＩＦＭ・・−・・代表ＥＩＦ、ＯＲ，
ｃ。ＯＲ，！、０几Ｍ・・・・・・論理和回路。
Claims (3)
- （１）情報処理システムを構成する各装置からの故障検
出情報に基づく組込型故障診断方式において、前記各装
置中にハードウェアによる複数のエラー検出回路と前記
各エラー検出回路のエラー検出に応じてセットされる前
記エラー検出回路に対応するエラーインディケータフリ
ップフロップ（以下ＥＩＦと略称する）を設け、 前記ＥＩＦを複数個集めてＥＩＦグループを構成し同じ
ＥＩＦグループに属する各ＥＩＦ出力の論理和によりセ
ットされる代表ＥＩＦを前記各ＥＩＦグループごとに設
け、 故障の診断解析に際して前記各代表ＥＩＦのセット／リ
セット状態を最初にチェックし代表ＥＩＦがセットされ
ている前記ＥＩＦグループに対しこのＥＩＦグループに
属する各ＥＩＦのセット／リセットの情報を用いて詳細
な故障診断解析を続いて行なうようにしたことを特徴と
する診断方式。 - （２）前記システムを構成する各装置の中で必要な装置
ごとにこの装置に含まれるすべてのＥＩＦにより一つの
前記ＥＩＦグループを構成しこれによりこの装置に対す
る代表ＥＩＦを設けるようにしたことを特徴とする特許
請求の範囲第（１）項記載の診断方式。 - （３）前記システム中の各ＥＩＦを故障診断の解析に適
するようにグループに分けてＥＩＦグループを構成しこ
れにより各ＥＩＦグループごとに前記代表ＥＩＦを設け
るようにしたことを特徴とする第（１）項記載の診断方
式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59241741A JPS61120248A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59241741A JPS61120248A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61120248A true JPS61120248A (ja) | 1986-06-07 |
Family
ID=17078850
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59241741A Pending JPS61120248A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61120248A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008278551A (ja) * | 2007-04-25 | 2008-11-13 | Toyota Motor Corp | ステータコアおよびモータ |
-
1984
- 1984-11-16 JP JP59241741A patent/JPS61120248A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008278551A (ja) * | 2007-04-25 | 2008-11-13 | Toyota Motor Corp | ステータコアおよびモータ |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5410545A (en) | Long-term storage of controller performance | |
| US5253184A (en) | Failure and performance tracking system | |
| US6012148A (en) | Programmable error detect/mask utilizing bus history stack | |
| KR100312355B1 (ko) | 자기진단방법및그제어장치 | |
| CN109117327A (zh) | 一种硬盘检测方法及装置 | |
| CN116186976B (zh) | 装备平台传感器采集数据准确度验证方法及验证系统 | |
| JPS6226734B2 (ja) | ||
| JPS61120248A (ja) | 診断方式 | |
| US12204397B2 (en) | Fault diagnosis apparatus, non-transitory computer-readable recording medium, and fault diagnosis method | |
| KR102945549B1 (ko) | 무기체계 전자장치의 정밀상태 감시 시스템 및 방법 | |
| JPS6289144A (ja) | 論理装置の故障診断方式 | |
| Soi et al. | On built-in test techniques in reliable computer systems | |
| JPS6161426B2 (ja) | ||
| KR930012136B1 (ko) | 다중처리기 시스템의 고장진단방법 | |
| JPS63121935A (ja) | 論理装置の故障診断方式 | |
| JPS6312037A (ja) | 診断装置付電子計算機システム | |
| CN120723523A (zh) | 服务器存储链路故障的诊断方法及电子设备 | |
| JPH04213123A (ja) | 電子計算機の故障予防保全方式 | |
| JPS62190417A (ja) | 誤信号検出装置 | |
| JPH05108398A (ja) | 情報処理装置の障害情報ログ方式 | |
| JPH01177199A (ja) | 異常診断システムの開発支援装置 | |
| RU2020127008A (ru) | Способ повышения надежности функционирования комплексов средств автоматизации систем обработки информации и управления и устройство, его реализующее | |
| JPS5963573A (ja) | 符号方式による自動故障解析装置 | |
| JPH05151018A (ja) | 診断装置 | |
| JPS63198135A (ja) | 診断装置付電子計算機システム |