JPS61120302A - 磁気デイスクの摺動強度測定方法 - Google Patents
磁気デイスクの摺動強度測定方法Info
- Publication number
- JPS61120302A JPS61120302A JP24172984A JP24172984A JPS61120302A JP S61120302 A JPS61120302 A JP S61120302A JP 24172984 A JP24172984 A JP 24172984A JP 24172984 A JP24172984 A JP 24172984A JP S61120302 A JPS61120302 A JP S61120302A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic disk
- sliding
- magnetic
- head
- recording
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/02—Recording, reproducing, or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
Landscapes
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、磁気ディスクの摺動強度測定方法に関し、特
に磁気ディスクが摺動によって再生出力を低下するのを
９期に検知するのに好適な摺動強度測定方法に関するも
のである６ 〔発明Ω背景〕 従来、磁気ディスクの耐摺動を試験する方法としては、
ＡＮＳ Ｉ （ＡＳＡ）規格のｒＸ３Ｂ７Ｊがある。
に磁気ディスクが摺動によって再生出力を低下するのを
９期に検知するのに好適な摺動強度測定方法に関するも
のである６ 〔発明Ω背景〕 従来、磁気ディスクの耐摺動を試験する方法としては、
ＡＮＳ Ｉ （ＡＳＡ）規格のｒＸ３Ｂ７Ｊがある。
上記は、被測定体の磁気ディスクに対して、記録・再生
用の磁気ヘッドをコンタクトスタート・ストップさせる
動作を多数回行って、その前後の再生出力差から再生出
力の低下（以下、減磁と呼ぶ）現象を検知する方法であ
る。
用の磁気ヘッドをコンタクトスタート・ストップさせる
動作を多数回行って、その前後の再生出力差から再生出
力の低下（以下、減磁と呼ぶ）現象を検知する方法であ
る。
しかしながら、上記方法においては、摺動時間を長く掛
けないと希望する減磁現象のカーブが得られないこと。
けないと希望する減磁現象のカーブが得られないこと。
また、そのために、磁気ディスクの表層が摺動によって
損傷した程度を、再生出力の低下から検出するのは不向
きであるなどの問題があった。
損傷した程度を、再生出力の低下から検出するのは不向
きであるなどの問題があった。
本発明の目的は、このような従来の問題を解決し、簡単
かつ安価な方法により、磁気ディスクの耐摺動の評価を
効率良く、かつ正確に行えて、また、摺動による事故防
止のできる磁気ディスクの摺動強度測定方法を提供する
ことにある。
かつ安価な方法により、磁気ディスクの耐摺動の評価を
効率良く、かつ正確に行えて、また、摺動による事故防
止のできる磁気ディスクの摺動強度測定方法を提供する
ことにある。
上記目的を達成するため１本発明の磁気ディスクの摺動
強度測定方法は、記憶媒体である磁気ディスフの表面を
ｍ動部材により摺動し、該磁気ディスクに記録した信号
を再生することにより磁気ディスクの摺動強度を測定す
る方法において、上記再生する信号を未飽和磁化状態で
記録することに特徴がある。
強度測定方法は、記憶媒体である磁気ディスフの表面を
ｍ動部材により摺動し、該磁気ディスクに記録した信号
を再生することにより磁気ディスクの摺動強度を測定す
る方法において、上記再生する信号を未飽和磁化状態で
記録することに特徴がある。
以下、本発明の実施例を図面により説明する。
第２図は、本発明の一実施例である磁気ディスクの耐摺
動試験装置の構成慨略図である。
動試験装置の構成慨略図である。
第２図において、ｌはベース、２は回転体、３゜４はキ
ャリッジ、５は摺動用の摺動へラド、６は記録・再生用
の磁気ヘッド（実際に磁気ディスク装置で使用している
もの）、７は荷重測定ユニット、８は記録・再生制御部
、９は再生出力処理部、１０は再生出力の観察・記録部
、１１は磁気ディスク、１２はアーム、１３は顕微鏡で
ある。
ャリッジ、５は摺動用の摺動へラド、６は記録・再生用
の磁気ヘッド（実際に磁気ディスク装置で使用している
もの）、７は荷重測定ユニット、８は記録・再生制御部
、９は再生出力処理部、１０は再生出力の観察・記録部
、１１は磁気ディスク、１２はアーム、１３は顕微鏡で
ある。
上記装置を用いて、磁気ディスクの耐摺動に対する評価
試験を行う場合、摺動ヘッド５の材質および形状は、短
時間の摺動で減磁現象を発生できるように９種々が考え
られる６摺動ヘツド５の摺動子の材質としては、磁気デ
ィスク装置に実際に組合せて使用ができて、磁気ディス
クとの相性も評価可能なことからＭｎＺｎ、ＮｉＺｎ、
ＡＴＣ，Ｚｒ、０２などが良い。また、摺動の接触点を
顕微鏡１３により、摺動子の上方から容易にｍ察ができ
て、摺動による摺動子の損傷が少ないことから透明で硬
いサファイアやダイアモンドも使用できる。
試験を行う場合、摺動ヘッド５の材質および形状は、短
時間の摺動で減磁現象を発生できるように９種々が考え
られる６摺動ヘツド５の摺動子の材質としては、磁気デ
ィスク装置に実際に組合せて使用ができて、磁気ディス
クとの相性も評価可能なことからＭｎＺｎ、ＮｉＺｎ、
ＡＴＣ，Ｚｒ、０２などが良い。また、摺動の接触点を
顕微鏡１３により、摺動子の上方から容易にｍ察ができ
て、摺動による摺動子の損傷が少ないことから透明で硬
いサファイアやダイアモンドも使用できる。
なお１本実施例では、Ｍ ｎ Ｚ ｎ材を使用する。
一方、摺動ヘッド５の摺動子の形状には球面体を使用し
、球面体の半径は、磁気ディスク１１との相対周速や押
付荷重によって決めるが、１０〜１００■の範囲で良い
。なお、本実施例では、半径３０＋＋＋ｍの球面体を使
用する。
、球面体の半径は、磁気ディスク１１との相対周速や押
付荷重によって決めるが、１０〜１００■の範囲で良い
。なお、本実施例では、半径３０＋＋＋ｍの球面体を使
用する。
また、例えば、コンタクトスタート・ストップのできる
実用の記録・再生用磁気ヘッドを摺動用として用いる場
合は、浮上スライダ幅を細くしたり、押付荷重を大きく
したり、ガイドアームに振動を加えるなどを行って、磁
気ディスク１１に接触・摺動させる。
実用の記録・再生用磁気ヘッドを摺動用として用いる場
合は、浮上スライダ幅を細くしたり、押付荷重を大きく
したり、ガイドアームに振動を加えるなどを行って、磁
気ディスク１１に接触・摺動させる。
摺動ヘッド５の押付荷重は、摺動ヘッド５を荷重測定ユ
ニット７上に載せてアーム１２やキャリッジ３により調
整し、値を決める。
ニット７上に載せてアーム１２やキャリッジ３により調
整し、値を決める。
第１図は、磁気ディスク評価のための減磁現象の変化を
示す図である。
示す図である。
上述の耐摺動試験装置を動作させて、第１図に示す減磁
現象のカーブを得るために、先ず、磁気ディスク１１を
所定の（１０〜７０ｍ／ｓ）周速で回転させたとき、両
ヘッド５，６を同一半径位置にするための位置決め信号
を磁気ディスク１１に書込む。磁気ヘッド６が書込んだ
位置決め信号を摺動ヘッド５が再生して位置決めを行う
。
現象のカーブを得るために、先ず、磁気ディスク１１を
所定の（１０〜７０ｍ／ｓ）周速で回転させたとき、両
ヘッド５，６を同一半径位置にするための位置決め信号
を磁気ディスク１１に書込む。磁気ヘッド６が書込んだ
位置決め信号を摺動ヘッド５が再生して位置決めを行う
。
磁気ヘッド６の記録パ再生動作は、記録・再生制御部８
が制御し、再生出力の増幅・レベル化は。
が制御し、再生出力の増幅・レベル化は。
再生出力処理部９が処理して、その再生出力をオツシロ
スコープと記録計からなる再生出力＋１！察・記録部ｌ
Ｏに送出する。
スコープと記録計からなる再生出力＋１！察・記録部ｌ
Ｏに送出する。
本実施例の摺動ヘッド５には、再生機能がないので、両
ヘッド５，６の位置決めを磁性流体を用いて次のように
行う。
ヘッド５，６の位置決めを磁性流体を用いて次のように
行う。
先ず、磁気ディスク１１の位置決め信号トラックの一部
に磁性流体を塗布（磁化パターン）シ。
に磁性流体を塗布（磁化パターン）シ。
磁化パターン上に摺動ヘッド５を移動する。次に。
摺動ヘッド５で磁化パターン面を軽く摺って跡を付け、
摺動ヘッド５の接触線が磁化パターンの中央となるよう
に、顕微鏡１３を見て、キャリッジ３で調節する。一方
の磁気ヘッド６は、上記１−ラックの位置とする。この
時の両キャリッジ３，４の位置を精度良く読取って位置
決めは終了し、塗布した磁性流体は、水で拭き取る。
摺動ヘッド５の接触線が磁化パターンの中央となるよう
に、顕微鏡１３を見て、キャリッジ３で調節する。一方
の磁気ヘッド６は、上記１−ラックの位置とする。この
時の両キャリッジ３，４の位置を精度良く読取って位置
決めは終了し、塗布した磁性流体は、水で拭き取る。
磁気ディスク１１のテスト位置には、上記磁性流体を塗
布しなかった半径位置を使用し、磁気ヘッド６が基準の
再生出力を出力するために摺動前に信号を記録する。
布しなかった半径位置を使用し、磁気ヘッド６が基準の
再生出力を出力するために摺動前に信号を記録する。
第３図は、記録電流ｔｗと再生出力Ｖの関係を示す図で
ある６同図の１％１ｏはピーク電流であり。
ある６同図の１％１ｏはピーク電流であり。
１、ｗｌはＩｗ（１より大きく、磁気ディスク１１を飽
和状態に磁化することのできる通常の記録電流であり、
■ν２は■ｗｏより小さく、磁気ディスク１１を未飽和
状態に磁化する。すなわち本発明における記録電流であ
る。
和状態に磁化することのできる通常の記録電流であり、
■ν２は■ｗｏより小さく、磁気ディスク１１を未飽和
状態に磁化する。すなわち本発明における記録電流であ
る。
したがって、＃ｉ記磁気ヘッド６は、第３図の１ｗ２で
書込みを行い、ｖ２を基準の再生出力とする。なお、Ｔ
ｉｒ２による未飽和状態の磁化とは、磁気ディスク１１
の磁性膜が深層部まで磁化が飽和されていない状態であ
る。
書込みを行い、ｖ２を基準の再生出力とする。なお、Ｔ
ｉｒ２による未飽和状態の磁化とは、磁気ディスク１１
の磁性膜が深層部まで磁化が飽和されていない状態であ
る。
磁気ディスク１１に対する摺動は、回転中の磁気ディス
ク１１面に糸で吊しておいた摺動ヘッド５を静かに降し
ても良く、また、停止中の磁気ディスク１１面に摺動ヘ
ッド５を載せたのちコンタクトスタートさせても良い。
ク１１面に糸で吊しておいた摺動ヘッド５を静かに降し
ても良く、また、停止中の磁気ディスク１１面に摺動ヘ
ッド５を載せたのちコンタクトスタートさせても良い。
上記摺動の条件は、周速と押付荷重によって大きく異な
るが、変化の状況が適格にとらえられる試験にするため
に、試験の加速係数や磁気ディスク１１の表面変化など
から設定する。
るが、変化の状況が適格にとらえられる試験にするため
に、試験の加速係数や磁気ディスク１１の表面変化など
から設定する。
上記摺動が開始された後は、一定時間ごとに。
磁気ヘッド６からの再生出力をＲＭＳメーターで測定す
る。オッシロスコープによる波形観察では定量化が戴し
いので、ＲＭＳメーターを使用して平均実効値を測定す
る。
る。オッシロスコープによる波形観察では定量化が戴し
いので、ＲＭＳメーターを使用して平均実効値を測定す
る。
本実施例における上記測定の結果は、第１図に示すＡ（
未飽和書込）である。同図の正規化出力電圧は、試験前
の基準再生出力を１００％としたとき、ＲＭＳメーター
の平均実効値の変化量を示すものである。一方、同図に
示すＢ（飽和書込）は、通常の記録電流Ｉｖｌで書込ん
だ場合の測定結果である。
未飽和書込）である。同図の正規化出力電圧は、試験前
の基準再生出力を１００％としたとき、ＲＭＳメーター
の平均実効値の変化量を示すものである。一方、同図に
示すＢ（飽和書込）は、通常の記録電流Ｉｖｌで書込ん
だ場合の測定結果である。
耐摺動試験装置の同一磁気ディスク１１に、同一ヘッド
５，６で書込み電流を変えて試験した場合、第１図に示
すように、摺動による再生出力の変化は、未飽和で書込
んだ方が出力低下の開始時期が早くなり、かつ、その程
度も大きいことが分った。したがって、磁気ディスク１
１の摺動による損傷程度は、飽和、未飽和書込には関係
なく生ずるので、未飽和で書込んだ後に摺動による減磁
現象を調べる方が短時間に、かつ、感度良く行うことが
できる。
５，６で書込み電流を変えて試験した場合、第１図に示
すように、摺動による再生出力の変化は、未飽和で書込
んだ方が出力低下の開始時期が早くなり、かつ、その程
度も大きいことが分った。したがって、磁気ディスク１
１の摺動による損傷程度は、飽和、未飽和書込には関係
なく生ずるので、未飽和で書込んだ後に摺動による減磁
現象を調べる方が短時間に、かつ、感度良く行うことが
できる。
次に、磁気ディスク装置に組込んだ状態のままで、磁気
ディスクが摺動されていることを減磁現象から検出する
場合の一実施例を以下に述べる。
ディスクが摺動されていることを減磁現象から検出する
場合の一実施例を以下に述べる。
第４図は、磁気ディスクのサーフェイスフォーマツ１−
を示す図である。
を示す図である。
磁気ディスク装置に組込むため磁気ディスク２１は、第
４図に示すように、記録トラック２２および各トラック
１周内での番地付けなどがイニシャライズされる。
４図に示すように、記録トラック２２および各トラック
１周内での番地付けなどがイニシャライズされる。
上記イニシャライズでは、実際に入出力される情報デー
タと同様に、第３１！ｌのＩｗｌにより全てを記録して
いるが、例えば、同図に示すように。
タと同様に、第３１！ｌのＩｗｌにより全てを記録して
いるが、例えば、同図に示すように。
記録トラック２２の２本の初めの１番地の１部（基準信
Ｊ）書込部２３）のみを第３図の１ｗ２で記録する。つ
まり、イニシャライズ時に予め未飽和状態の記Ｄ（前述
した基準の再生出力信号）部分を設ける。
Ｊ）書込部２３）のみを第３図の１ｗ２で記録する。つ
まり、イニシャライズ時に予め未飽和状態の記Ｄ（前述
した基準の再生出力信号）部分を設ける。
拳
磁気ディスク装置は、上記基準ｆｎ号書込部２３をデー
タ入出力を行うと同時に再生し、成型の再生出力信号と
比較して、一定範囲以上の差であるときは、１１Ｍ気デ
ィスク不良を予告する。
タ入出力を行うと同時に再生し、成型の再生出力信号と
比較して、一定範囲以上の差であるときは、１１Ｍ気デ
ィスク不良を予告する。
このように１部動による磁気ディスク表面の機械的；熱
的損傷を、磁気ディスク表面（未飽和状態）に記録した
信号を再生し、その減ｆＪ＆現象からその損傷程度を検
知することができる。
的損傷を、磁気ディスク表面（未飽和状態）に記録した
信号を再生し、その減ｆＪ＆現象からその損傷程度を検
知することができる。
以上説明したように１本発明によれば、磁気ディスクの
摺動による減磁現象を、未飽和状態に間部した基準信ぢ
・により早期に実現させるので、磁気ディスクの耐摺動
の評価が効率良く、かつ正確にできると共に、摺動によ
る磁気ディスクの事故が防止できる。
摺動による減磁現象を、未飽和状態に間部した基準信ぢ
・により早期に実現させるので、磁気ディスクの耐摺動
の評価が効率良く、かつ正確にできると共に、摺動によ
る磁気ディスクの事故が防止できる。
第１図は本発明の一実施例を示す磁気ディスクの耐摺動
試験における減磁現象を示す図、第２図は本発明の一実
施例である耐暦動試験装置の構成概略図、第３図は記録
電流Ｉｖと再生出力Ｖの関係を示す図、第４図は磁気デ
ィスクのサーフェ・イスフォーマットを示す図である。 ｌ：ベース、２：回転体、３，４：キャリッジ。 ５；摺動ヘッド、６：磁気ヘッド、７；荷重測定ユニッ
ト、８：記録・再生制御部、９：再生出力処理部、１０
：再生出力観察・記録部、１１，２１：磁気ディスク、
１２：アーム、１：１：［微鏡。 ２２：記録トラック、２３：基準信号書込部。 第１図 摺動時間（分） 第２図
試験における減磁現象を示す図、第２図は本発明の一実
施例である耐暦動試験装置の構成概略図、第３図は記録
電流Ｉｖと再生出力Ｖの関係を示す図、第４図は磁気デ
ィスクのサーフェ・イスフォーマットを示す図である。 ｌ：ベース、２：回転体、３，４：キャリッジ。 ５；摺動ヘッド、６：磁気ヘッド、７；荷重測定ユニッ
ト、８：記録・再生制御部、９：再生出力処理部、１０
：再生出力観察・記録部、１１，２１：磁気ディスク、
１２：アーム、１：１：［微鏡。 ２２：記録トラック、２３：基準信号書込部。 第１図 摺動時間（分） 第２図
Claims (1)
- （１）記憶媒体である磁気ディスクの表面を摺動部材に
より摺動し、該磁気ディスクに記録した信号を再生する
ことにより、当該磁気ディスクの摺動強度を測定する方
法において、上記再生する信号を未飽和磁化状態で記録
することを特徴とする磁気ディスクの摺動強度測定方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24172984A JPS61120302A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 磁気デイスクの摺動強度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24172984A JPS61120302A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 磁気デイスクの摺動強度測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61120302A true JPS61120302A (ja) | 1986-06-07 |
Family
ID=17078664
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24172984A Pending JPS61120302A (ja) | 1984-11-16 | 1984-11-16 | 磁気デイスクの摺動強度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61120302A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5038625A (en) * | 1989-01-31 | 1991-08-13 | Seagate Technology, Inc. | Tribological head-disk interface testing system |
-
1984
- 1984-11-16 JP JP24172984A patent/JPS61120302A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5038625A (en) * | 1989-01-31 | 1991-08-13 | Seagate Technology, Inc. | Tribological head-disk interface testing system |
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