JPS61120486A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPS61120486A
JPS61120486A JP24041884A JP24041884A JPS61120486A JP S61120486 A JPS61120486 A JP S61120486A JP 24041884 A JP24041884 A JP 24041884A JP 24041884 A JP24041884 A JP 24041884A JP S61120486 A JPS61120486 A JP S61120486A
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JP
Japan
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light emitting
optical system
semiconductor
laser
light
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Pending
Application number
JP24041884A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshitami Hara
利民 原
Akira Shimizu
明 清水
Yoshinobu Sekiguchi
芳信 関口
Seiichi Miyazawa
宮沢 誠一
Hideaki Nojiri
英章 野尻
Isao Hakamata
袴田 勲
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPS61120486A publication Critical patent/JPS61120486A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は複数個の半導体発光体がモノリシックに形成さ
れた半導体装置に関する。
〔従来の技術および問題点〕
従来、例えば特開昭59−12’6に開示されているよ
うに、半導体レーザまたは発光ダイオード(LED)を
複数個用いて光走査装置を設計する場合、第7図に示す
ように発光体からの光の出射方向が一点Poで交゛わる
ように光源を配置し、複数の走査スポットを良好な結像
状態を保ち々がら被走査面(不図示)に対して走査でき
るよう工夫されていた。
第7図はその典型的な従来例を示したものであり、光源
と偏向器の間の光学系を偏向走査面と垂直な方向から見
た図である。71a、71bは半導体レーザーであり、
各レーザーはマウント72の上にその光束発生面がマウ
ント7zの端面と平行になるように配されている。半導
体レーザー71a。
71b  が設けられているマウント72の端面72a
、72bは、各レーザー71a、 71bからの発散光
束の中心光線ha、hbが同一の点Poを通過して来た
かの如く設定される。換言すれば、半導体レーザー(7
1a、 71b)が設けられる位置で、端面72a と
 72b  に各々法線をたてると、各々の法線がPo
を通過するように、端面72aと72bは設定されてい
る。更に、偏向走査面と平行な方向から見れば、各々の
半導体レーザーの中心光線ha、hbのPo点を通過す
る位置が、偏向走査面と直交する方向にわずかに変位す
るように、マウント72上に設けられる半導体レーザー
の位置は設定される。上記20点と偏向器の偏向反射面
73の所定の近傍の点Pとは、結像し/スフ4により光
学的共役な関係に保たれている。
このように、複数個の半導体発光体(例えば半導体レー
ザー)をそれぞれの光の出射方向が異なるように配置す
るためには、上記例に示したようにマウント上に位置合
せをしてハイブリッドに構成する必要があった。以下便
宜上、複数個の半導体発光体としてアレーレーザーとい
う言葉を使用するが、原理的にはLEDアレーのような
発光体にも当てはまる。
また、モノリフツクに形成されたアレーレーザーを使用
する場合には、アレーレーザーの前面に何らかの光学系
を設置する必要がある。特開昭58−211735に開
示されている例としては、プリズムがアレーレーザーの
前面に配置されている。
これを第8図に示す。
第8図は半導体アレーレーザが5つの発光部を有する場
合のプリズムの断面を示すものである。
81は5つの発光部(81a、 81b、 81C,8
1d。
81e)を有する半導体アレーレーザーであり、82は
プリズムである。発光部81aから〆の光束の中心光線
haは傾斜面82aにより屈折されあたかもPOを通過
して来たかのように曲げられる。同じ<81bからの中
心光線hbは傾斜面82bにより、81dからの中心光
線hdは傾斜面82dにより、81eからの中心光線h
eは傾斜面828により、それぞれあたかもPoを通過
して来たかのように曲げられる。なお、81Cからの中
心光線haは平面82Cを垂直に通過して行き、この中
心光線hcの延長線上にPoが存在する。このように各
発光部に対応して傾斜角を定めた傾斜平面が設けられ、
プリズム82を出射後の各光束の中心光線は、あたかも
POから出射したかのよってその方向を制御されている
。このPOは前述したように偏向反射面の近傍の所望の
位置P(不図示)と光学系を介して共役に保たれる。
この場合の問題点はプリズム82の微細加工精度及び方
法、プリズム82とアレーレーザー81との位置合せ及
び接合方法などであり、アレーレーザーのピッチが小さ
くなる程難しくなる。実際、100μm以下ではほぼ不
可能である。
一方、第9図は光学系即ちリレー光学系98で同様の効
果を持たせようとしたもので、アレーレーザー91a、
 91bから出射した光を平行化して結像させるコリメ
ータレンズ92とシリ/トリカルレンズ95との間にリ
レー系93を介在させてポリゴン面94に結像した例で
あり、良好な結像状態で被走査面(不図示)上に結像さ
れる。
この場合の問題点は光路長であり、リレー系自体で約2
0cm長くなってしまう。
本発明の目的は、ハイブリッドに半導体発光体を配置す
ることに起因する位置合せ誤差や集積密度の制限を排除
すると共に、光出射方向が一定でかつモノリシックに形
成されたアレーレーザを使用する場合のような付加光学
系の煩雑さを避けることを可能にする半導体装置を提供
することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明による半導体装置は、上記目的を達成す、lめK
、複数個の半導体発光体がモノリシックに形成されてい
る半導体装置において、上述の半導体発光体のそれぞれ
からの光の出射方向が異なるようにこれら半導体発光体
が形成されている。
なお、以下の記載において用いられる「それぞれの発光
体からの光の出射方向が異なる」という表現は同一方向
に出射するものが1組もないという意味ではなく、広義
には出射方向の異なるものが1組以上存在するという意
味である。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明
する。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図である。
G a A s基板11’上に例えばダブルへテロ構造
のような半導体発光要素を作成した後、フォトマスクに
より図示されるような扇形のパターンを形成する。それ
ぞれの光出射端面は互いにθ1.θ2ずつずれて形成さ
れる。ファブリベロー共振面全形成する対向する面も同
様にθ工、θ2ずれて形成されるため、共振方向がθ1
.θ2ずつずれて、光出射方向12a〜12eもそれに
ともなって異ってくる。
この場合、出射側と反対側の一点Po付近から出射した
かの如く互いの共振面を形成することにより、前述のプ
リズム82(第8図)やリレー光学系93(第9図)な
どの付加的な構成要素が不要とがる。そして、簡単な走
査光学系を利用した装置で良好な結像状態が得られるよ
うな光源が実現可能となる。なお、図中13a〜138
は電流注入領域を示す。
アレーレーザー間の間隔lや互いの出射方向のずれθ(
θ1.θ2)は一般的には一定値を用いるのが装置設計
上便利である。即ちθl=θ2 となるが、必ずしも一
定値をとる必要はない。そして、lとθの関係は用いる
光学系、特に第9図のコリメータレンズ92の焦点距離
に依存する。即ち、コリメータレンズとPoの距離をL
 (Po)とすれハ、L(PO)に比べてコリメータレ
ンズとアレーレーザーとの距離が小さい時にはおよそL
 (Pa)×θ=lの関係となる。なお、θはラジアン
で表わす。例えば、L (Po)が13龍、/=100
μmの時はθは約1度となる。
第2図は本発明の変形例を示し、第3図は第2図のA−
A′線からみた断面図である。なお、第1図の場合もほ
ぼ同様な断面構造を有しており、以下、これらの図面を
参照して製造プロセスを説明する。
まず、n型G a A s基板31のウェハ上に分子線
エピタキシ法によりn型GaAs 32 + n型A 
I!G aA633、ノンドープGaAs 34 、 
P型A I G’a A s35、P型GaAs 36
を成長した後、第1図あるいは第2図に示されたような
扇形マスクを形成し、リアクティブイオンエッチ法によ
りArおよびcJ2  混合ガス雰囲気で垂直加工し、
n型A I G aAsia層の途中まで堀り下げた。
フォトマスクパターンは第1図あるいは第2図に示すよ
うな扇形を縦横にくり返して形成される。
次に、8i0zスパツタ膜を全面に被覆し、1aa〜1
3eの部分、あるいは23a−23cの部分をエツチン
グで取除き、CrおよびAuの積層電極37でカバーし
た。電極37は13a〜13eの部分あるいは2aa〜
23cの部分を独立に駆動できるように同じくフォトリ
ンゲラフィブロセスで分離した。
裏面はAuおよびGeの合金電極38を形成した。
熱拡散によりオーミックを実現した後、第1図あるいは
第2図に示すように各単位毎にへき開又は切断により分
離した。そして、個々の電極はワイヤボンディングで取
出した。
第2図の場合は、ドライエッチによる堀下げを四方につ
いて行い中央部にオーミック電極を形成した例である。
この場合、L(I’o)=lQm、1=50μm1θ=
0.5度で良好な結像状態を得た。
第4図fal 、 (blは本発明の別の実施例を示し
、それぞれD B R(Distributed Br
agg Reflection )レーザーを用いた場
合の断面図、平面図である。
DBRレーザーを使う場合は、アレーレーザーを放射状
に配置することにより、放射状に拡がるレーザー光が得
られる。
作成方法は通常のDBRレーザー作成と同じであり、複
数のレーザーを放射状に配置する点が異なるだけである
。まず、基板41上に順次クラッド層42.活性層43
.クラッド層44を作成する。
次に、プラグ反射(DBR)部に対応するクラッド層4
4を厚さ数百nmまでエツチング除去し、この上に、干
渉露光により周期数百nmの回折格子45を放射状(第
4図(bl参照)に複数作成する。
最後に、活性部に対応するクラッド層44の上面に電流
注入用の電極46を、回折格子45が形成されている方
向に沿って形成する。各部の長さは、DBR部が数百μ
m〜数μm、活性部が数百μm、DBRおよび導波部が
数百μmである。
なお、D F B (Distributed Fee
d Back )レーザーを使用した場合もほぼ同様に
、アレーレーザーを放射状に配置することによって目的
を達することができる。
これまでの説明は、1次元的な配列で一点Poを通るよ
うな場合について述べたが、発光体が2次元的に配列さ
れた場合についても各々の光出射方向を一点Poを通る
ように配列することにより、同様に目的を達することが
できる。その−例を第5図に示す。
1に5図は2次元的なアレーレーザーによる本発明の別
の変形例を示す斜視図で、第6図は第5図に示す個々の
レーザ一部分、すなわち発光部の構成断面図である。
以下、作成方法について述べる。まず、n型G a A
 s基板61上に反射多層(n型A I G a A 
s  とn型G a A sの積層)62を形成し、さ
らにn型A / G a Aθ 、n型G a A s
を形成した後ドライエッチにより突起部63を形成した
。つづいてZnの拡散によりP型頭域64を設けてPn
接合を形成した。そして、電流注入用の電極65を形成
した後、ラッピングで約70μmまで薄くした。なお、
66は出射端面を示す。次に、裏面にn型オーミック電
極67を形成し、結晶全体としては第5図に示すように
湾曲させた。その結果、出射方向の異なるレーザーが実
現された。
なお、本発明の出射方向の異なるアレーレーザーは、第
9図に示したような機械的走査による偏向光学系のみな
らず、光の偏向手段として表面弾性波(SAW)による
回折作用を用いたような系(不図示)に対しても有用で
ある。
〔発明の効果〕
本発明は以上述べたように、複数個の半導体発光体をモ
ノリゾツクに形成する際それぞれの光の出射方向が異な
るように設置するという簡単な工夫で多数の点からの発
光を平行化することを実現し、走査光学系を用いて媒体
上に結像走査するような光学装置(例えばレーザービー
ムプリ/りなど)の光源として極めて有効となる効果を
有しており、また、共振方向、従って出射方向の異なる
アレーレーザーを使用するとこの効果は更に顕著である
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による半導体装置における発光体部分の
構成を示す一実施例、第2図は変形例、第3図は第2図
のA−A’線からみた断面図、第4図(al、(b)は
DBRレーザーを用いた場合の実施例を示し、それぞれ
断面図、平面図、第5図は2次元的なアレーレーザーに
よる別の変形例を示す斜視図、第6図は第5図に示す個
々のレーザ一部分の構成断面図、第7図はレーザーがハ
イブリッドに配置された従来例、第8図は出射方向一定
のアレーレーザーとプリズムを合体して出射方向を異な
らせた従来例、第9図は出射方向一定のアレーレーザー
を光学系で補正しようとした場合の従来例、である。 12a〜12’ s 22a〜22C・・・光出射方向
31〜36.41〜44.61〜64・・・半導体発光
体特許出願人   キャノン株式会社 ン1 第  2  図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  複数個の半導体発光体がモノリシックに形成されてい
    る半導体装置において、 前記半導体発光体のそれぞれからの光の出射方向が異な
    るように該半導体発光体が形成されていることを特徴と
    する半導体装置。
JP24041884A 1984-11-16 1984-11-16 半導体装置 Pending JPS61120486A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24041884A JPS61120486A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 半導体装置
FR858516920A FR2582154B1 (fr) 1984-11-16 1985-11-15 Dispositif d'emission de faisceaux multiples comportant des elements semiconducteurs en particulier des diodes lasers
GB08528248A GB2169134B (en) 1984-11-16 1985-11-15 Multibeam emitting device
US07/312,311 US4971415A (en) 1984-11-16 1989-02-17 Multibeam emitting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24041884A JPS61120486A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 半導体装置

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ID=17059178

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JP24041884A Pending JPS61120486A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 半導体装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006032971A (ja) * 2004-07-19 2006-02-02 Trumpf Laser Gmbh & Co Kg ダイオードレーザー装置と該ダイオードレーザー装置のためのビーム形成ユニット

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5530870A (en) * 1978-08-28 1980-03-04 Fujitsu Ltd Multiwave-length semiconductor laser

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