JPS61122847A - 放射線撮影装置 - Google Patents
放射線撮影装置Info
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- JPS61122847A JPS61122847A JP60208582A JP20858285A JPS61122847A JP S61122847 A JPS61122847 A JP S61122847A JP 60208582 A JP60208582 A JP 60208582A JP 20858285 A JP20858285 A JP 20858285A JP S61122847 A JPS61122847 A JP S61122847A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/166—Scintigraphy involving relative movement between detector and subject
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/06—Diaphragms
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分舒
本発明は放射線撮影装置に関するものである0放射線撮
影法は古くから周知の医療診断用写像技術である。
影法は古くから周知の医療診断用写像技術である。
(ロ)従来の技術
域ビームを患者に照射する。xIs感応螢光1体スクリ
ーンならびに光とxsに感応するフィルムを有するカセ
ットは、該x、ill源と反対の患者側におけるx@通
路に位置ぎめされている。患者の体を通過するX線は減
衰され、xlJが通過する患者の1部分についての陰影
を発生する。
ーンならびに光とxsに感応するフィルムを有するカセ
ットは、該x、ill源と反対の患者側におけるx@通
路に位置ぎめされている。患者の体を通過するX線は減
衰され、xlJが通過する患者の1部分についての陰影
を発生する。
ごく最近になって、ディジタルX線撮影技術ならびに装
置が開発されて来ている。ディジタルX線撮影において
、x@源は、患者の身体を通って、患者の向う個のビー
ム通路に置かれている検出器アセンブリに対してxll
を当てる。
置が開発されて来ている。ディジタルX線撮影において
、x@源は、患者の身体を通って、患者の向う個のビー
ム通路に置かれている検出器アセンブリに対してxll
を当てる。
該検出器は、患者から出現する放射線パターンを定める
電気信号を発生する。次いで、これらの信号は処理され
て、像についての視覚的な表示を発生する。
電気信号を発生する。次いで、これらの信号は処理され
て、像についての視覚的な表示を発生する。
該検出器アセンブリには個別の検出器素子からなる細長
いアレーが含まれている。各検出器素子は入射するxi
lに応答して、そのような放射IIiを表わすアナログ
電荷信号を発生する。これらのアナログ電気信号は、患
者の体から出現し、検出器アレー上に入射する放射線パ
ターンすなわち画像を表示する。
いアレーが含まれている。各検出器素子は入射するxi
lに応答して、そのような放射IIiを表わすアナログ
電荷信号を発生する。これらのアナログ電気信号は、患
者の体から出現し、検出器アレー上に入射する放射線パ
ターンすなわち画像を表示する。
該アナログ信号は写像回路によってサンプルされ、処理
されて、先ずその信号対雑音比?改良し、そして後続的
にディジタル化される。
されて、先ずその信号対雑音比?改良し、そして後続的
にディジタル化される。
該ディジタル信号は、ディジタルデータ処理装置(DP
U)に与えられる。データ処理装置は、ディジタルデー
タを記載しおよび/lたは処理し、さらにそれを増強す
る。
U)に与えられる。データ処理装置は、ディジタルデー
タを記載しおよび/lたは処理し、さらにそれを増強す
る。
表示装置は画像を表わす適切なディジタルデータに応答
して、該ディジタル情報を再びアナログ形式に変換し、
そして放射線によシ取得した像のパターンに由来する患
者の内部的身体構造についての視覚的表示を発生する。
して、該ディジタル情報を再びアナログ形式に変換し、
そして放射線によシ取得した像のパターンに由来する患
者の内部的身体構造についての視覚的表示を発生する。
該表示装置は、実質的に実時間写像を行なうディジタル
データ処理装置に直接結合することもできるし、あるい
は以前の研究によシ生じた患者の像を表わすテープやデ
ィスクなどのようなディジタル記憶手段から、記憶され
たディジタルデータを供給されることもできる。
データ処理装置に直接結合することもできるし、あるい
は以前の研究によシ生じた患者の像を表わすテープやデ
ィスクなどのようなディジタル記憶手段から、記憶され
たディジタルデータを供給されることもできる。
ディジタルX線撮影法には、細いxgAの拡散ビームを
利用する技術も含まれている。「走査(スリット)投射
xII撮影法J (8PR)と通常称されるこの技術
を実行する場合、拡散ビームは患者を横切って走査され
る、すなわち、患者は拡散ビームxs源と検出器アセン
ブリの間に可動的に位置ぎめされ、検出器は該ビームと
絶えず一直線になるよう保持される。xII源検出器構
成と患者の体との間で行なわれる相対運動によって患者
の大部分にわたって走査するのである。
利用する技術も含まれている。「走査(スリット)投射
xII撮影法J (8PR)と通常称されるこの技術
を実行する場合、拡散ビームは患者を横切って走査され
る、すなわち、患者は拡散ビームxs源と検出器アセン
ブリの間に可動的に位置ぎめされ、検出器は該ビームと
絶えず一直線になるよう保持される。xII源検出器構
成と患者の体との間で行なわれる相対運動によって患者
の大部分にわたって走査するのである。
個別の検出器は一行の検出器素子を備えているように提
案されてきている。その他の提案として、正方形検出器
素子から成る矩形の検出器アレーがある。
案されてきている。その他の提案として、正方形検出器
素子から成る矩形の検出器アレーがある。
ここで説明されているようなディジタルX線撮影装置の
幾つかの様相についての詳細は、下記の出版物の中で明
らかにされているが、参照のためにここに記載すると、 (1) MattsOn N B。人、他による「ディ
ジタルチェスト装置に関する設計ならびに物理的特徴」
8、P。1. E、 314巻、ディジpルxm撮影法
(1981年)、 (’l) Arnold、 B、 A、他による[デ
ィジタルxll撮影法:概観J 8. P、 I。E、
会報第275巻、1981年3月、 (3)Kruger 、 R,A、他による「実時間X
線減算写像のためのディジタル映像処理装置、光学エン
ジニャリング第17巻、A6 (1978年)、(4
) 1982年11月26日、Gary LXBar
nesによシ出願された「分離エネルギーレベル放射線
検出」と題する米国特許出願第444,605号、(5
)「ディジタル走査投射xIs撮影における信号特性の
改良方法」と題する、Mattson他に二り、198
3年10月17日出願の米国特許出願第542,384
号などがある。
幾つかの様相についての詳細は、下記の出版物の中で明
らかにされているが、参照のためにここに記載すると、 (1) MattsOn N B。人、他による「ディ
ジタルチェスト装置に関する設計ならびに物理的特徴」
8、P。1. E、 314巻、ディジpルxm撮影法
(1981年)、 (’l) Arnold、 B、 A、他による[デ
ィジタルxll撮影法:概観J 8. P、 I。E、
会報第275巻、1981年3月、 (3)Kruger 、 R,A、他による「実時間X
線減算写像のためのディジタル映像処理装置、光学エン
ジニャリング第17巻、A6 (1978年)、(4
) 1982年11月26日、Gary LXBar
nesによシ出願された「分離エネルギーレベル放射線
検出」と題する米国特許出願第444,605号、(5
)「ディジタル走査投射xIs撮影における信号特性の
改良方法」と題する、Mattson他に二り、198
3年10月17日出願の米国特許出願第542,384
号などがある。
上述の検出器素子アレーに対するまた別の提案として、
正方形の検出器素子からなる2列の並んだ縦の列から成
る検出器アレーがある0しかし、数列の1つは、他方に
関して、単一検出器素子の高さの2分の1に等しい距離
だけ僅かく、垂直方向に変位され、すなわちオフセット
されている。そのような構成はBarnesによる前記
出願に述べられている。
正方形の検出器素子からなる2列の並んだ縦の列から成
る検出器アレーがある0しかし、数列の1つは、他方に
関して、単一検出器素子の高さの2分の1に等しい距離
だけ僅かく、垂直方向に変位され、すなわちオフセット
されている。そのような構成はBarnesによる前記
出願に述べられている。
検出器アレーが正方形検出器素子からなる矩形アレーを
備えている場合、遅延集積(TDI)回路を利用するこ
とによって、該検出器によシ発生される情報の信号対雑
音比を改良することもまた提案されている。そのような
提案装置の実施例が、参照のために記載するが、198
3年5月10日、Krugerに付与された米国特許第
4.583,527号において、説明されている。提案
されているそのようなTDI装置は、検出運動の規則的
間隔でのサンプリングおよび、個別の検出器により発生
されたアナログ電荷信号を同期的にシフトし加算する段
階を利用している。そのような装置において、TDI回
路は検出器素子と統合されることができる。
備えている場合、遅延集積(TDI)回路を利用するこ
とによって、該検出器によシ発生される情報の信号対雑
音比を改良することもまた提案されている。そのような
提案装置の実施例が、参照のために記載するが、198
3年5月10日、Krugerに付与された米国特許第
4.583,527号において、説明されている。提案
されているそのようなTDI装置は、検出運動の規則的
間隔でのサンプリングおよび、個別の検出器により発生
されたアナログ電荷信号を同期的にシフトし加算する段
階を利用している。そのような装置において、TDI回
路は検出器素子と統合されることができる。
走査スリン)xM撮影法の重要な利点は、すぐれた散乱
阻止性ならびにディジタル像感知器との両立性である。
阻止性ならびにディジタル像感知器との両立性である。
そのような装置の重要な欠点は、X線出力を非能率的に
利用することから生ずる重いX線管を装備するという要
件である。
利用することから生ずる重いX線管を装備するという要
件である。
この非能率性は、X線管の焦点におけるごく小さい立体
角を示す拡散ビームを定めている開口の幅によって生ず
る。
角を示す拡散ビームを定めている開口の幅によって生ず
る。
・ この欠点を軽減するために、細いビームを利用する
そのような装置の固有の良好な散乱阻止性を不当に危う
くすることなしに、できるだけ太い拡散ビームを利用す
ることが提案されている。Mattson他による前記
特許出願を参照されたい。しかし、拡散ビームが広げら
れる場合、矩形検出器アレーを利用することはさらに困
難となる。それは、拡散ビームが太くなるにつれて、よ
シ多くの検出器素子が必要となるし、データ率は高く従
って処理しにくくなるためにそのような困難が生ずるの
であって、そこでTDI技術が、走査運動と同期してデ
ータをシフトし加算するために利用されねばならず、そ
の結果、各画像部分すなわち「画素」に関するデータは
適切に重畳されて像のぼけを回避する。
そのような装置の固有の良好な散乱阻止性を不当に危う
くすることなしに、できるだけ太い拡散ビームを利用す
ることが提案されている。Mattson他による前記
特許出願を参照されたい。しかし、拡散ビームが広げら
れる場合、矩形検出器アレーを利用することはさらに困
難となる。それは、拡散ビームが太くなるにつれて、よ
シ多くの検出器素子が必要となるし、データ率は高く従
って処理しにくくなるためにそのような困難が生ずるの
であって、そこでTDI技術が、走査運動と同期してデ
ータをシフトし加算するために利用されねばならず、そ
の結果、各画像部分すなわち「画素」に関するデータは
適切に重畳されて像のぼけを回避する。
遅延積分およびシフトと加算回路が利用される場合、検
出器素子出力信号は、単一検出器素子の一辺の長さに等
しい検出器運動の連続する増分でサンプルされる。以下
でよシ詳細に説明する理由のために、上述の’I’DI
で利用される場合の矩形検出器アレーの空間的解像度は
固有に得られる解像度の最大値よシ小さくなっている。
出器素子出力信号は、単一検出器素子の一辺の長さに等
しい検出器運動の連続する増分でサンプルされる。以下
でよシ詳細に説明する理由のために、上述の’I’DI
で利用される場合の矩形検出器アレーの空間的解像度は
固有に得られる解像度の最大値よシ小さくなっている。
従来技術ならびに本発明の両方を容易に理解するには、
写像光学装置に関する若干の情報および定義が有用であ
る。
写像光学装置に関する若干の情報および定義が有用であ
る。
いずれの光学素子あるいは装置についての解像能力でも
、その[変調伝達関数J (MTF)によって説明さ
れることが多い。通常、像の一部分を解像するための光
学装置の性能は、像部分の詳細についての精細度(単位
距離らたりのライン数)が増加するにつれて減少する。
、その[変調伝達関数J (MTF)によって説明さ
れることが多い。通常、像の一部分を解像するための光
学装置の性能は、像部分の詳細についての精細度(単位
距離らたりのライン数)が増加するにつれて減少する。
単位距1IIiあたシのライン@は「ミリメータあたシ
のライン組」として、しばしば表わされ、問題となって
いる像部分の「空間周波数」として周知である。詳細の
増加につれての解像度の劣化は像部分の明暗領域間にお
けるコントラストの低減として現われる。MTFはコン
トラスト比対空間周波数の関数となっている。
のライン組」として、しばしば表わされ、問題となって
いる像部分の「空間周波数」として周知である。詳細の
増加につれての解像度の劣化は像部分の明暗領域間にお
けるコントラストの低減として現われる。MTFはコン
トラスト比対空間周波数の関数となっている。
矩形検出器素子は、そのエネルギー受容面のxylI様
の各々におけるMTFt−有する。正方形検出器素子に
おいてMTFx: MTFア、さらに両開数は、式th
e(pf)で表わされるように示すことができるが、但
し、pは正方形素子受信面の一辺の長さであり、fは写
像しようと求められている空間周波数であり、さらにi
C関数は5inO(=sin(πX)/(πX)として
定義される。
の各々におけるMTFt−有する。正方形検出器素子に
おいてMTFx: MTFア、さらに両開数は、式th
e(pf)で表わされるように示すことができるが、但
し、pは正方形素子受信面の一辺の長さであり、fは写
像しようと求められている空間周波数であり、さらにi
C関数は5inO(=sin(πX)/(πX)として
定義される。
上記の関係により、XとyのMTFの各々は、空間周波
数がf=1/pに増加する場合、先ず0に低減される。
数がf=1/pに増加する場合、先ず0に低減される。
この最初のゼロは、一般に、正方形検出器素子が確実に
写像することができる最大空間周波数(詳細)を表わす
ものと考えられる。
写像することができる最大空間周波数(詳細)を表わす
ものと考えられる。
この現象はいずれの正方形検出器素子の解像性能におい
ても1つの限定要因であって、その大きさ、すなわち「
開口」に依存する。こめパラメータは「開口カットオフ
周波数」として参照される。
ても1つの限定要因であって、その大きさ、すなわち「
開口」に依存する。こめパラメータは「開口カットオフ
周波数」として参照される。
検出器素子は、「ナイキスト周波数」として周知の別の
解像度制約によってもまた限定される◇ナイキスト周波
数は、それ以上検出器素子が個別ラインを解像すること
ができない空間周波数である。しかし、検出器の大きさ
の関数であるよシはむしろ、ナイキスト周波数は、検出
器素子出力信号の連続するサンプリングが生ずる、増分
的な距離に関連する。TDI回路を利用することによっ
て反復する検出器出力サンプリングを必要とするので、
ナイキストカットオフ周波数が関連する。
解像度制約によってもまた限定される◇ナイキスト周波
数は、それ以上検出器素子が個別ラインを解像すること
ができない空間周波数である。しかし、検出器の大きさ
の関数であるよシはむしろ、ナイキスト周波数は、検出
器素子出力信号の連続するサンプリングが生ずる、増分
的な距離に関連する。TDI回路を利用することによっ
て反復する検出器出力サンプリングを必要とするので、
ナイキストカットオフ周波数が関連する。
矩形アレー(おいてX座標で延長する、正方形検出器の
1行が、各連続素子の幅の増分ごとに1回サンプルされ
る場合、(サンプリング距離)(従来技術におけるよう
に)、以下で参照する出版物に訃いて示されるように、
ナイキスト周波数は、両座振軸に沿って、僅かに1/
(2p)となっていることが述べられている。従って、
そのような矩形アレーにおいて説明されるようにサンプ
ルすると、ナイキスト周波数は、開ロカットオ7の2倍
も解像度に制限を与えることになる。従って、解像性能
がナイキスト規準の下で失なわれる空間周波数は、解像
性能が開口カットオ7周波数規準の下で失なわれる周波
数の半分だけとなっている。
1行が、各連続素子の幅の増分ごとに1回サンプルされ
る場合、(サンプリング距離)(従来技術におけるよう
に)、以下で参照する出版物に訃いて示されるように、
ナイキスト周波数は、両座振軸に沿って、僅かに1/
(2p)となっていることが述べられている。従って、
そのような矩形アレーにおいて説明されるようにサンプ
ルすると、ナイキスト周波数は、開ロカットオ7の2倍
も解像度に制限を与えることになる。従って、解像性能
がナイキスト規準の下で失なわれる空間周波数は、解像
性能が開口カットオ7周波数規準の下で失なわれる周波
数の半分だけとなっている。
この事は、正方形素子から成る移動性矩形アレーが利用
され、そして素子の行が1検出器幅の連続的増分でだけ
サンプルされる場合、そのような検出器の空間解像度は
、開口カットオフ規準の下に、検出器素子の大きさ、す
なわち開口、によって指定されるような、取得できる最
大値より少ないということを意味する。また、そのよう
な検出器から発生される像には付随的要因も存在するこ
ともある。
され、そして素子の行が1検出器幅の連続的増分でだけ
サンプルされる場合、そのような検出器の空間解像度は
、開口カットオフ規準の下に、検出器素子の大きさ、す
なわち開口、によって指定されるような、取得できる最
大値より少ないということを意味する。また、そのよう
な検出器から発生される像には付随的要因も存在するこ
ともある。
ナイキスト規準はまた、矩形アレーのy座標(も利用す
ることができる。y方向では、正方形素子の隣接行の間
における等しいサンプリング距離は1素子の1辺の長さ
pとなっている。
ることができる。y方向では、正方形素子の隣接行の間
における等しいサンプリング距離は1素子の1辺の長さ
pとなっている。
以下の出版物は、本技術に精通していない者の補助手段
として記載するが、それらは前記結論に関する理論につ
いて説明している。
として記載するが、それらは前記結論に関する理論につ
いて説明している。
5ones 、R,A、他による「ディジタA/X1m
1装置のMTFの測定方法」医用物理学11(2)、1
984年3月/り月、166〜171ページ、Gi g
e r 。
1装置のMTFの測定方法」医用物理学11(2)、1
984年3月/り月、166〜171ページ、Gi g
e r 。
M、 L、他による「ディジタル1M撮影法における基
本的写像特性についての研究:変調伝達関数」医用物理
学11 (5) 、1984年5月/り月、287〜2
95ページ。
本的写像特性についての研究:変調伝達関数」医用物理
学11 (5) 、1984年5月/り月、287〜2
95ページ。
正方形素子から成る矩形アレーが、各連続する素子の運
動の幅に対して1回だけテンプルされる場合、装置は、
該素子の大きさによって指定されるような素子の解像力
を十分利用することができない、ということが明らかに
されているO 矩形アレーのy座標における解像度にも同じ結論が適用
される。これは、該アレーのrlsti!行の間の有効
サンプリング距離が、X方向においてと同様に、pと定
められているからである。
動の幅に対して1回だけテンプルされる場合、装置は、
該素子の大きさによって指定されるような素子の解像力
を十分利用することができない、ということが明らかに
されているO 矩形アレーのy座標における解像度にも同じ結論が適用
される。これは、該アレーのrlsti!行の間の有効
サンプリング距離が、X方向においてと同様に、pと定
められているからである。
従って、増分距離pです/プルされる矩形アレーは、X
座標、y座標のいずれにおいても、その固有の解像力を
十分に利用することができないのである。
座標、y座標のいずれにおいても、その固有の解像力を
十分に利用することができないのである。
2列だけを有するオフセットアレーを利用することによ
って、y方向での有効す/プリング距離増分を改良(減
少)することも提案されている。しかし、これも、X座
標におけるサンプリング距離には何らの減少ももたらさ
ないので、部分的改良にすぎない。
って、y方向での有効す/プリング距離増分を改良(減
少)することも提案されている。しかし、これも、X座
標におけるサンプリング距離には何らの減少ももたらさ
ないので、部分的改良にすぎない。
さらに、そのような検出器は2列の素子だけであシ、検
出器アレーは数列に対して垂直に走査するので、そのよ
うなアレーはTDI写像回路と共には利用されていない
。従って、そのような回路の口舌強化利益は、いずれの
屑知のスタガーアレー、すなわちオフセットアレー、に
関しても有用ではないのである。
出器アレーは数列に対して垂直に走査するので、そのよ
うなアレーはTDI写像回路と共には利用されていない
。従って、そのような回路の口舌強化利益は、いずれの
屑知のスタガーアレー、すなわちオフセットアレー、に
関しても有用ではないのである。
(ハ)問題点を解決するための手段
本発明の目的は、開口カットオ7規準によって定められ
ている、検出器アレーの個々の検出器素子の解像性能を
、Xとyの両座様におけるナイキスト周波数制限を取除
くことによって最大限に利用し、一方、遅延積分回路の
十分な利益を保持して、該検出器アレーによって捕捉さ
れるデータの信号対雑音比を増大することである0 上述の従来技術についての欠点は、改良検出器アレー配
列ならびにそれに関連する新規遅延積分回路を組み込み
、さらに該新規検出器配列で利用されるよう特に適応さ
れた改良動作シーケンスを利用する、x@撮影装置およ
び方法によって、低減されあるいは除去されるのである
。
ている、検出器アレーの個々の検出器素子の解像性能を
、Xとyの両座様におけるナイキスト周波数制限を取除
くことによって最大限に利用し、一方、遅延積分回路の
十分な利益を保持して、該検出器アレーによって捕捉さ
れるデータの信号対雑音比を増大することである0 上述の従来技術についての欠点は、改良検出器アレー配
列ならびにそれに関連する新規遅延積分回路を組み込み
、さらに該新規検出器配列で利用されるよう特に適応さ
れた改良動作シーケンスを利用する、x@撮影装置およ
び方法によって、低減されあるいは除去されるのである
。
に)作用
本発明を具体化するxlil撮影装置は、放射線源なら
びに該放射線源から十分に間隔を置かれた検出器アレー
を有しており、放射線源と検出器の間に身体が位置ぎめ
できるようになっている。放射線源と一直線になって、
身体に対して検出器アレーを走査する機構が設けられて
いる。
びに該放射線源から十分に間隔を置かれた検出器アレー
を有しており、放射線源と検出器の間に身体が位置ぎめ
できるようになっている。放射線源と一直線になって、
身体に対して検出器アレーを走査する機構が設けられて
いる。
走査中、身体を通って検出器アレーに向って放射線を当
てるよう放射線源を作動する電力装置が利用される。該
アレーは、各々が入射する放射線に応答して、該放射線
を表わす電気信号を発生する、多くの検出器素子から成
っている。
てるよう放射線源を作動する電力装置が利用される。該
アレーは、各々が入射する放射線に応答して、該放射線
を表わす電気信号を発生する、多くの検出器素子から成
っている。
検出器アレーに結合される回路はこれらの信号に応答し
て、身体から出現して検出器アレーに入射する放射線ハ
ターンによって表わされる、身体の内部構造を説明する
像を発生する。
て、身体から出現して検出器アレーに入射する放射線ハ
ターンによって表わされる、身体の内部構造を説明する
像を発生する。
検出器アレーは、ずらした列の形式で配置された、複数
の個別検出器素子から成っており、該アレーは列に対し
て実質的に垂直な方向に走査される。
の個別検出器素子から成っており、該アレーは列に対し
て実質的に垂直な方向に走査される。
検出器素子列についてのずらした特性によって、検出器
素子の隣接行の間における有効サンプリング距離を、列
に沿った方向で計られた単一検出器素子の寸法の1/2
に等しいitで、幾何学的に低減する。素子の各ずらし
た列は、単一検出器素子の大きさの1/2に等しい量だ
け、隣接列から、列に沿って変位されるという本発明の
特定の様相のために、この現象が生ずるのである。この
構成は、検出器素子の隣接行が部分的に相互に散在する
という結果になる。
素子の隣接行の間における有効サンプリング距離を、列
に沿った方向で計られた単一検出器素子の寸法の1/2
に等しいitで、幾何学的に低減する。素子の各ずらし
た列は、単一検出器素子の大きさの1/2に等しい量だ
け、隣接列から、列に沿って変位されるという本発明の
特定の様相のために、この現象が生ずるのである。この
構成は、検出器素子の隣接行が部分的に相互に散在する
という結果になる。
この配列によって、y方向における(列に平行な)検出
器アレーの解像性能上、素子の寸法によって判定される
開口カットオフ周波数により指示されるその解像力の限
界にまで改良する0該配列によって、y方向における検
出器のナイキスト周波数を、ナイキスト周波数に開口カ
ットオ7規準より以上の制限を解像度に加えさせるので
なく、開口カットオフ周波数に実質的に一致する値にま
で変調する。
器アレーの解像性能上、素子の寸法によって判定される
開口カットオフ周波数により指示されるその解像力の限
界にまで改良する0該配列によって、y方向における検
出器のナイキスト周波数を、ナイキスト周波数に開口カ
ットオ7規準より以上の制限を解像度に加えさせるので
なく、開口カットオフ周波数に実質的に一致する値にま
で変調する。
X方向における(列に垂直な)検出器の解像度は、新規
の遅延積分回路を利用することによって、そして新規シ
ーケンスでのその動作を準備することによって改良され
る。よシ特定的には、TD■回路は、列に対して垂直な
方向、すなわち、検出器素子行に平行な方向に、単一検
出器素子の幅の172に等しい検出器運動の連続的増分
で、検出器素子出力をサンプルする。サンプリング距離
におけるこの実際の低減によって、X方向におけるナイ
キスト周波数を改良して、それを実質的に開口カットオ
フ周波数に等しくし、その結果、ナイキスト周波数は、
開口カットオフ制限によって可能であったそれより少な
いレベルにまで解像度を限定することはない。
の遅延積分回路を利用することによって、そして新規シ
ーケンスでのその動作を準備することによって改良され
る。よシ特定的には、TD■回路は、列に対して垂直な
方向、すなわち、検出器素子行に平行な方向に、単一検
出器素子の幅の172に等しい検出器運動の連続的増分
で、検出器素子出力をサンプルする。サンプリング距離
におけるこの実際の低減によって、X方向におけるナイ
キスト周波数を改良して、それを実質的に開口カットオ
フ周波数に等しくし、その結果、ナイキスト周波数は、
開口カットオフ制限によって可能であったそれより少な
いレベルにまで解像度を限定することはない。
本発明のより特定的特徴は、実質的に均一な正方形断面
を有する個別検出器素子を利用することに存する。その
ような正方形素子(例えば、円形素子に対して)を利用
することによって、与えられた全検出器アセンブリの大
きさに関して、最大の放射線感応表面積を容易に得るこ
とができる。
を有する個別検出器素子を利用することに存する。その
ような正方形素子(例えば、円形素子に対して)を利用
することによって、与えられた全検出器アセンブリの大
きさに関して、最大の放射線感応表面積を容易に得るこ
とができる。
本発明のTDI回路の1様相は、該回路が個別検出器素
子と一体になっているのではなく、それから分離されね
ばならない、という点にある。
子と一体になっているのではなく、それから分離されね
ばならない、という点にある。
この様相によって、別の遅延回路を、個々の検出器素子
のそれぞれの出力に挿入することを可能にしている。
のそれぞれの出力に挿入することを可能にしている。
若干の検出器素子からの出力に個々のそれぞれの遅延装
置を与えることによって、アレー配列のずらした特性な
らびに連続する検出器素子幅の2分の1増分でのサンプ
リングの利用の両方の利益を容易に得ることができる。
置を与えることによって、アレー配列のずらした特性な
らびに連続する検出器素子幅の2分の1増分でのサンプ
リングの利用の両方の利益を容易に得ることができる。
これらの利益は本発明のよシ特定的特徴によって実行さ
れるのであって、すなわち、本発明において、検出器素
子行の各素子からの出力信号が、すぐ前の検出器素子の
それに関して、X方向サンプリング距離の関数として、
かつ、隣接行の散在から生ずる膝行の素子の分離の程度
だけ、遅延されるように遅延回路が備えられている。こ
の技術によってTDI回路は、特定の像画素に関する全
検出素子信号を、出力に、同時に送信することができる
。
れるのであって、すなわち、本発明において、検出器素
子行の各素子からの出力信号が、すぐ前の検出器素子の
それに関して、X方向サンプリング距離の関数として、
かつ、隣接行の散在から生ずる膝行の素子の分離の程度
だけ、遅延されるように遅延回路が備えられている。こ
の技術によってTDI回路は、特定の像画素に関する全
検出素子信号を、出力に、同時に送信することができる
。
本発明についてのこれらのそしてまた他の特徴ならびに
様相は、以下の特定の説明および図面により、明らかに
なるであろう。
様相は、以下の特定の説明および図面により、明らかに
なるであろう。
(ホ)実施例
第1図および第2図は、本発明が組込まれている、スリ
ット投射タイプのディジタルX線撮影装置Sf:示す。
ット投射タイプのディジタルX線撮影装置Sf:示す。
該装置Sは、患者の胸部を横切る垂直軸の周囲で、太さ
が約1〜2センチメートルのxll拡散ビームを走査し
、該患者の身体から出現するX線のパターンを検出する
。該検出Xisによって表わされる情報は処理され、表
示されて患者の内部的身体構造、すなわち状態について
の像の表示を説明する。
が約1〜2センチメートルのxll拡散ビームを走査し
、該患者の身体から出現するX線のパターンを検出する
。該検出Xisによって表わされる情報は処理され、表
示されて患者の内部的身体構造、すなわち状態について
の像の表示を説明する。
よ)特定すれば、装置Sは取付は構成Mに取付けられた
xli源Xを有して、患者pの体を通ってX線の拡散ビ
ームBを投射し、複数の検出器素子から成る整列した検
出器アセンプIJ l)を照射する。該拡散ビームBは
、前方スリン)Kによって、実質的に垂直な面に限定さ
れる。検重器アセンプIJ Dは、個別検出素子Eから
成る一般に垂直に延長したスタガーアレーを備えておシ
(以下でより詳細に述べるが)、さらに拡散ビームBに
よって定められる垂直面と一直線になっている。検出器
アセンプ゛すDに付随する後方スリットJは、拡散ビー
ムBをさらに画定する働きをする。
xli源Xを有して、患者pの体を通ってX線の拡散ビ
ームBを投射し、複数の検出器素子から成る整列した検
出器アセンプIJ l)を照射する。該拡散ビームBは
、前方スリン)Kによって、実質的に垂直な面に限定さ
れる。検重器アセンプIJ Dは、個別検出素子Eから
成る一般に垂直に延長したスタガーアレーを備えておシ
(以下でより詳細に述べるが)、さらに拡散ビームBに
よって定められる垂直面と一直線になっている。検出器
アセンプ゛すDに付随する後方スリットJは、拡散ビー
ムBをさらに画定する働きをする。
X線源Xは構成Mに取付けられて、第2図では紙面上で
延長しているように示される、垂直軸の周りを回転する
。機械的連結部りはX線管Xt−検出器アレーDおよび
スリットにとJに結合し、そして該検出器アレーを、矢
印A、にで定められる弧状通路沿いに患者の背後で走査
させ、検出器アセンブリDが、ビームの走査回転連動の
間中、ビームBと一直線になるよう保持する。
延長しているように示される、垂直軸の周りを回転する
。機械的連結部りはX線管Xt−検出器アレーDおよび
スリットにとJに結合し、そして該検出器アレーを、矢
印A、にで定められる弧状通路沿いに患者の背後で走査
させ、検出器アセンブリDが、ビームの走査回転連動の
間中、ビームBと一直線になるよう保持する。
走査機構の具体例は、移動されるべき素子を接続する固
定のあるいは剛性の機械的連結部に限定されるわけでは
ない。サーボ制御および関連するパワー駆動装置による
実施例もまた当業者により適応されて、所望の走査運動
を達成することができる。
定のあるいは剛性の機械的連結部に限定されるわけでは
ない。サーボ制御および関連するパワー駆動装置による
実施例もまた当業者により適応されて、所望の走査運動
を達成することができる。
この実施例のまた別の様相によると、X線管Xはまたそ
の焦点の周シで回動することもできて、ビームBt−走
査検出器と一直線になるように保持する。
の焦点の周シで回動することもできて、ビームBt−走
査検出器と一直線になるように保持する。
x!!i源Xは電力装置によって制御されて、拡散ビー
ムBを、連続するX線ビームとしであるいは急速に連続
するX線パルスとして発散する。
ムBを、連続するX線ビームとしであるいは急速に連続
するX線パルスとして発散する。
X線管Xおよび検出器アセンブリDは、垂直軸の周シで
、患者の身体の一方から他方へ横切って、同期的に走査
する。検出器素子の各々からのアナログ検出器出力は定
期的にサンプルされる。各サンプルごとに画像情報の一
部分を表わすアナログ信号を発生する。一方から他方へ
の走査の過程において、複数の像ラインを描く信号が発
生され、該ラインは一緒になって、患者の内部的身体構
造についての領域画像を構成する。
、患者の身体の一方から他方へ横切って、同期的に走査
する。検出器素子の各々からのアナログ検出器出力は定
期的にサンプルされる。各サンプルごとに画像情報の一
部分を表わすアナログ信号を発生する。一方から他方へ
の走査の過程において、複数の像ラインを描く信号が発
生され、該ラインは一緒になって、患者の内部的身体構
造についての領域画像を構成する。
検出器アセンブリによって発生されるアナログ信号は、
アナログ/ディジタル変換器Cに与えられ、該変換NC
は出力をディジタル化し、それをディジタル処理受信装
置DPUに与える0DPUはこれらのディジタル化出力
信号を処理して、xmビームBによって走査された患者
の内部的身体構造の画像についてのディジタル表示を、
1画素づつのベースで、構成する。DPUからのディジ
タル信号は、ディジタル/アナログ変換器DACによっ
て、アナログ形式に変換され、そして表示装置Tに与え
られるが、それに応答して、該表示装置は、DPUから
の画像表示信号に対応する画像を可視形式で発生する。
アナログ/ディジタル変換器Cに与えられ、該変換NC
は出力をディジタル化し、それをディジタル処理受信装
置DPUに与える0DPUはこれらのディジタル化出力
信号を処理して、xmビームBによって走査された患者
の内部的身体構造の画像についてのディジタル表示を、
1画素づつのベースで、構成する。DPUからのディジ
タル信号は、ディジタル/アナログ変換器DACによっ
て、アナログ形式に変換され、そして表示装置Tに与え
られるが、それに応答して、該表示装置は、DPUから
の画像表示信号に対応する画像を可視形式で発生する。
DPUに連絡して、選択的に、ディジタル記憶装置を備
えることもでき将来の利用のために、原像の表示をディ
ジタル的に記憶する。そのような場合、該ディジタル記
憶された信号は、後にDPUによって利用され、アナロ
グ形式に変換され、次いでその対応する画像が表示され
る。
えることもでき将来の利用のために、原像の表示をディ
ジタル的に記憶する。そのような場合、該ディジタル記
憶された信号は、後にDPUによって利用され、アナロ
グ形式に変換され、次いでその対応する画像が表示され
る。
遅延積分回路TDIは検出器アセンブリDの各素子E(
第3図参照)に結合されている。該遅延積分回路は作動
して、検出器素子Eからのアナログ信号をシフトし、加
算して、改良された信号対雑音比を有する、検出器素子
Eからのデータを表わす他のアナログ信号を発生する。
第3図参照)に結合されている。該遅延積分回路は作動
して、検出器素子Eからのアナログ信号をシフトし、加
算して、改良された信号対雑音比を有する、検出器素子
Eからのデータを表わす他のアナログ信号を発生する。
すでに指摘したように、ディジタルX線撮影法で利用さ
れる従来技術のTDI回路の一形式は、前記のKrug
er特許で説明されている。
れる従来技術のTDI回路の一形式は、前記のKrug
er特許で説明されている。
本発明の顕著な様相には、検出器素子のアレーの構成な
らびに、それに関連するTDI回路の構成および動作モ
ードにおける改良装置が含まれている。しかし、従来技
術による検出器構成および対応する従来技術によるサン
プリング回路動作を説明することによって、本発明に対
する理解も容易となるのである。
らびに、それに関連するTDI回路の構成および動作モ
ードにおける改良装置が含まれている。しかし、従来技
術による検出器構成および対応する従来技術によるサン
プリング回路動作を説明することによって、本発明に対
する理解も容易となるのである。
従来技術による正方形検出器素子から成る矩形マトリッ
クス(第3図)にとって必要なシフトならびに加算の動
作が第4図で示されている。
クス(第3図)にとって必要なシフトならびに加算の動
作が第4図で示されている。
患者の基準わくから、第3図で示されるように右へ、X
方向に向って一定速度Yで、検出器アレーは移動する。
方向に向って一定速度Yで、検出器アレーは移動する。
患者は、検出器アレーDの基準わくから、−X方向に、
速度−■で、移動することになる。
速度−■で、移動することになる。
各検出器素子(例えば、第5図のEで示されるような)
は、集積された電荷として表わされる、受信したX線信
号を、それがサンプルされるまで、積分する。検出器素
子が、患者に関連して、を秒ごとにサンプルされる場合
、サンプリング距離d (X方向における)は、式d
= v tによって定義される。
は、集積された電荷として表わされる、受信したX線信
号を、それがサンプルされるまで、積分する。検出器素
子が、患者に関連して、を秒ごとにサンプルされる場合
、サンプリング距離d (X方向における)は、式d
= v tによって定義される。
第4図に示されるように、X方向に延長する10の検出
器素子から成る1行を考慮されたい。
器素子から成る1行を考慮されたい。
式S(j、k)はj番目の検出器素子のに番目のサンプ
リングで集積された電荷を表わすものとするが、但し、
該素子は右から左へ番号を付され、かつ、jは0から9
までの範囲とする。dが検出器素子の中心から中心への
間隔p(「ピッチ」)と同じになるように、サンプリン
グが調整されると仮定してみる。
リングで集積された電荷を表わすものとするが、但し、
該素子は右から左へ番号を付され、かつ、jは0から9
までの範囲とする。dが検出器素子の中心から中心への
間隔p(「ピッチ」)と同じになるように、サンプリン
グが調整されると仮定してみる。
患者の「画素」がサンプル0において素子0と一直線に
位置ぎめされていると考えられたい。
位置ぎめされていると考えられたい。
この画素はサンプル1では素子1に、サンプル2では素
子2に直面するというように、順次続く。従って、問題
となっている画素のX線値を表わす、素子9から最終的
にシフトされる電荷信号の最終値Qは、下記の式によっ
て与えられる0 Q=S (0,0) + 3 (1t 1)+・・・
+s (9,9) (式1)この式はシフトと加算シ
ーケンスを説明するものであることは、当業者にとって
認められるであろう。C(D (電荷結合デバイス)ア
ナログシフトレジスタを利用する遅延積分回路は、前記
Krugerの特許で述べられているように、アナログ
領域においてこのシフトと加算シーケンスを実行するの
に好適であるとして周知である。
子2に直面するというように、順次続く。従って、問題
となっている画素のX線値を表わす、素子9から最終的
にシフトされる電荷信号の最終値Qは、下記の式によっ
て与えられる0 Q=S (0,0) + 3 (1t 1)+・・・
+s (9,9) (式1)この式はシフトと加算シ
ーケンスを説明するものであることは、当業者にとって
認められるであろう。C(D (電荷結合デバイス)ア
ナログシフトレジスタを利用する遅延積分回路は、前記
Krugerの特許で述べられているように、アナログ
領域においてこのシフトと加算シーケンスを実行するの
に好適であるとして周知である。
第5図に示される従来技術の検出器は、長さpの辺を有
する正方形検出器素子から成る矩形マトリックスを備え
ている。この検出器の空間周波数応答はXとyの応答の
積であって、すなわち MTF=(MTFx)(MTF、) (式2)
さらに、MTFx=MTF、 =sinc(pf)
(式3)但し、fは空間周波数であるらXとyの変調
伝達関数は、それぞれ、f=1/pにおいて最初に0と
なる。これは、ここでは、開口カットオ7周波数として
引用される。
する正方形検出器素子から成る矩形マトリックスを備え
ている。この検出器の空間周波数応答はXとyの応答の
積であって、すなわち MTF=(MTFx)(MTF、) (式2)
さらに、MTFx=MTF、 =sinc(pf)
(式3)但し、fは空間周波数であるらXとyの変調
伝達関数は、それぞれ、f=1/pにおいて最初に0と
なる。これは、ここでは、開口カットオ7周波数として
引用される。
y方向では、サンプリング距離は単に検出器素子ピッチ
pとなっている。
pとなっている。
X方向では、サンプリング距離dはサンプル区間tに依
存する。そのような従来技術のTDI利用法では、上側
のように、dイコールpであるようにtが選定されねば
ならない。サンプリングによるナイキスト周波数は、そ
こで、両方向において1/(2p)となっている。従っ
て、ナイキスト周波数は、検出器間ロカットオ7周波数
の半分〆けとなる。このことは、この従来技術の例では
、検出器の空間解像度が検出器素子開口によって指定さ
れたそれよシ少なく、さらに、前に説明したような検出
器から発生される像には、付随的要因が存在するであろ
うということを意味する。画素ピッチ(サンプリングピ
ッチ)は検出器素子ピッチpと同じであることに注目さ
れたい。
存する。そのような従来技術のTDI利用法では、上側
のように、dイコールpであるようにtが選定されねば
ならない。サンプリングによるナイキスト周波数は、そ
こで、両方向において1/(2p)となっている。従っ
て、ナイキスト周波数は、検出器間ロカットオ7周波数
の半分〆けとなる。このことは、この従来技術の例では
、検出器の空間解像度が検出器素子開口によって指定さ
れたそれよシ少なく、さらに、前に説明したような検出
器から発生される像には、付随的要因が存在するであろ
うということを意味する。画素ピッチ(サンプリングピ
ッチ)は検出器素子ピッチpと同じであることに注目さ
れたい。
前述の従来技術に関連して説明した事象ならびに理論は
、通常の当業者の知識の範囲内である。しかし、関連技
術に精通していないかも知れない人々の利益のために、
前述の分析に含まれる原理は、下記の出版物で説明され
ており、参照のためとこにその各々を記載する。
、通常の当業者の知識の範囲内である。しかし、関連技
術に精通していないかも知れない人々の利益のために、
前述の分析に含まれる原理は、下記の出版物で説明され
ており、参照のためとこにその各々を記載する。
()iger SM、 L、他による「ディジタルxI
I撮影法における基礎写像特性の研究:変調伝達関数J
医用物理学11 (3) 1984年5月/り月、28
7〜295ページ。
I撮影法における基礎写像特性の研究:変調伝達関数J
医用物理学11 (3) 1984年5月/り月、28
7〜295ページ。
5ones、 R,A、 他による「ディジタ、It/
x p装置のMTFの測定方法」、医用物理学11
(2)1984年3月/り月、166〜172ページ。
x p装置のMTFの測定方法」、医用物理学11
(2)1984年3月/り月、166〜172ページ。
Qoodman 、 J、 W、 rフーリエ光学回路
入門」マグロウヒル、1968年、21〜25ページ。
入門」マグロウヒル、1968年、21〜25ページ。
Newton 、 J、 H,他ニヨル「頭骨オヨヒ脳
ノX線学」コンピュータ断層撮影法についての技術面、
第5巻、3951ページ、3958ページ。
ノX線学」コンピュータ断層撮影法についての技術面、
第5巻、3951ページ、3958ページ。
本発明は、固有の検出器素子開口カットオフおよびナイ
キスト周波数による制約の間での検出器の解像力におけ
る不一致を除去するものである。本発明によって、解像
度に関する開口カットオ7制限内で固有に可能な最大の
理論的解像度を得ることができるのである。この利点は
、遅延積分回路を十分に利用することと一致して得られ
るのである。
キスト周波数による制約の間での検出器の解像力におけ
る不一致を除去するものである。本発明によって、解像
度に関する開口カットオ7制限内で固有に可能な最大の
理論的解像度を得ることができるのである。この利点は
、遅延積分回路を十分に利用することと一致して得られ
るのである。
第5図では、本発明の検出器マトリックス10が、12
で示される水平行および14で示される垂直列に構成さ
れた、正方形検出器素子から成るスタガーアレーとして
表わされている。
で示される水平行および14で示される垂直列に構成さ
れた、正方形検出器素子から成るスタガーアレーとして
表わされている。
各列14は、pの2分の1に等しい距離、すなわち各正
方形検出器素子の1辺の長さの半分、たけ隣接列から変
位、すなわちオフセットされている。
方形検出器素子の1辺の長さの半分、たけ隣接列から変
位、すなわちオフセットされている。
この構成において、変調伝達関数(MTF)は、やは9
、上述の式2と3で表わされる関係によって、与えられ
る。
、上述の式2と3で表わされる関係によって、与えられ
る。
良好な実施例において、検出器素子の放射線感応正方形
面は、1辺が約Q、35ミl、jメートルとなっている
。該スタガー検出器アレーには、約10.5 X 35
2.8ミリメートルの全面積を有する30列、2016
行が含まれる。
面は、1辺が約Q、35ミl、jメートルとなっている
。該スタガー検出器アレーには、約10.5 X 35
2.8ミリメートルの全面積を有する30列、2016
行が含まれる。
各検出器は、X線シンチレータに結合された光ダイオー
ドのような、周知のタイプであって、その感応面に入射
する放射線の受信に応答して、アナログ電荷信号を発生
する。この電荷は、素子の放射線感応面が放射線に対し
て語呂している時間中、積分される。
ドのような、周知のタイプであって、その感応面に入射
する放射線の受信に応答して、アナログ電荷信号を発生
する。この電荷は、素子の放射線感応面が放射線に対し
て語呂している時間中、積分される。
遅延積分回路は検出器素子の各行に結合される。患者に
対して第5図の矢印で与え゛られる方向に、検出器が移
動するにつれて、TD工回路は独自のシーケンスで、電
荷をサンプルし、遅延させ、かつ、加算して、検出器素
子のスタガーアレーと連絡して解像度を大きく改良する
ことができる。各蓄積ステップはサンプルステップに先
導される。
対して第5図の矢印で与え゛られる方向に、検出器が移
動するにつれて、TD工回路は独自のシーケンスで、電
荷をサンプルし、遅延させ、かつ、加算して、検出器素
子のスタガーアレーと連絡して解像度を大きく改良する
ことができる。各蓄積ステップはサンプルステップに先
導される。
ナイキスト周波数はX方向では、検出器素子をずらすこ
とによって2倍になる。ナイキスト周波数は、スタガー
アレーを利用して、各検出器の幅の半分の増分ごとにサ
ンプルすることによって、X方向で2倍となる。
とによって2倍になる。ナイキスト周波数は、スタガー
アレーを利用して、各検出器の幅の半分の増分ごとにサ
ンプルすることによって、X方向で2倍となる。
本実施例において、p/2の距離による検出器の連続す
る増分的相対運動ごとにサンプリングが生ずるような周
波数で、サンプリングが行われるのである。すなわち、
遅延積分回路は、行に沿った検出器素子の出力に存在す
る電荷パケットを、検出器アレーが、正方形検出器素子
の1つの1辺の長さの半分に等しい距離を移動する度毎
に、サンプルするのである。
る増分的相対運動ごとにサンプリングが生ずるような周
波数で、サンプリングが行われるのである。すなわち、
遅延積分回路は、行に沿った検出器素子の出力に存在す
る電荷パケットを、検出器アレーが、正方形検出器素子
の1つの1辺の長さの半分に等しい距離を移動する度毎
に、サンプルするのである。
TDI回路の特定動作は、第6図に関連して説明される
。
。
第5図に示される検出器の「行」の意味を定めることは
重要である。第5図におけるように、X方向に延長する
検出器素子の「行Jは、腰回において示されるように、
素子16.18.20゜22.24からなるセットで例
示される。従って、X方向に延長する与えられた行にお
ける素子の中心から中心の間隔は2p%すなわち均一の
検出器素子の単一のものの1辺の横方向の長さの2倍と
なっている◇ 第4図に示されるX方向では、スタガーアレー配列によ
って指定されるサンプリング距離はp/2であるが、そ
れは行が部分的に散在するからである。このサンプリン
グ距離のために、f=1/pにおいて、ナイキストサン
プリングカットオフt=生じ、それは開口カットオ7周
波数に等しくなっている。従って、この良好な実施例で
は、X方向において得られる実解像度は、開口カットオ
7周波数によってだけ限定されるものとなっており、そ
れは、上述のように、従来技術の矩形アレー装置におい
て得られる、ナイキスト空間周波数によって指定される
ものの2倍も有利になっている。
重要である。第5図におけるように、X方向に延長する
検出器素子の「行Jは、腰回において示されるように、
素子16.18.20゜22.24からなるセットで例
示される。従って、X方向に延長する与えられた行にお
ける素子の中心から中心の間隔は2p%すなわち均一の
検出器素子の単一のものの1辺の横方向の長さの2倍と
なっている◇ 第4図に示されるX方向では、スタガーアレー配列によ
って指定されるサンプリング距離はp/2であるが、そ
れは行が部分的に散在するからである。このサンプリン
グ距離のために、f=1/pにおいて、ナイキストサン
プリングカットオフt=生じ、それは開口カットオ7周
波数に等しくなっている。従って、この良好な実施例で
は、X方向において得られる実解像度は、開口カットオ
7周波数によってだけ限定されるものとなっており、そ
れは、上述のように、従来技術の矩形アレー装置におい
て得られる、ナイキスト空間周波数によって指定される
ものの2倍も有利になっている。
ナイキスト周波数の限定解像度と開口カットオ7のそれ
との間の同じ一致は、X方向でサンプリング区間tを選
定することによって、X方向において達成され、その結
果、検出器相対運動のサンプリング増分距離はp/2と
なる。
との間の同じ一致は、X方向でサンプリング区間tを選
定することによって、X方向において達成され、その結
果、検出器相対運動のサンプリング増分距離はp/2と
なる。
ナイキスト周波数は、サンプリング距離が半減する場合
、倍加するので、このような改良が生ずるのである。サ
ンプリング距mpに対してナイキスト周波数fn=1/
(29)となっている。
、倍加するので、このような改良が生ずるのである。サ
ンプリング距mpに対してナイキスト周波数fn=1/
(29)となっている。
pにp/2t−代入すると、式は次のようになる。
fn=1/(2(p/2))、すなわちf、=1/p従
って、所定の検出器素子の寸法に対して、本実施例の構
成では両方向において、従来技術のそれの2倍の解像度
を与えるのである。本実施例の画素寸法は、1検出器素
子の面積の僅かに4分の1となっている。
って、所定の検出器素子の寸法に対して、本実施例の構
成では両方向において、従来技術のそれの2倍の解像度
を与えるのである。本実施例の画素寸法は、1検出器素
子の面積の僅かに4分の1となっている。
さらに、本発明の実施例によって、標準的な従来技術に
よる矩形アレーのそれに比較して、付随的要因を実質的
に低減する。
よる矩形アレーのそれに比較して、付随的要因を実質的
に低減する。
これらの改良を達成するために、スタガー検出器アレー
は、その動作が式1で例示された回路とは異なる、関連
する遅延積分回路を必要とするOX方向に延長し、5素
子を備える、第6図における検出素子の1行を考察して
みる。
は、その動作が式1で例示された回路とは異なる、関連
する遅延積分回路を必要とするOX方向に延長し、5素
子を備える、第6図における検出素子の1行を考察して
みる。
s<j、k>はj番目の素子のに番目のサンプルを表わ
すものとするが、この場合、素子は右から左へ番号を付
けられ、jは0から4までの範囲とする(第6図参照)
。さらにまた、参照符号26を与えられ、サンプルOに
おける素子0と一直線になっている画像部分すなわち画
素全考察してみる。この実施例におけるサンプリング距
離はp/2であるので、この特定画素は4番目のサンプ
リングにおいてだけ素子1と1直線になシ、サンプル8
では素子2と、サンプル12では素子3と、というよう
に順次続くのである。
すものとするが、この場合、素子は右から左へ番号を付
けられ、jは0から4までの範囲とする(第6図参照)
。さらにまた、参照符号26を与えられ、サンプルOに
おける素子0と一直線になっている画像部分すなわち画
素全考察してみる。この実施例におけるサンプリング距
離はp/2であるので、この特定画素は4番目のサンプ
リングにおいてだけ素子1と1直線になシ、サンプル8
では素子2と、サンプル12では素子3と、というよう
に順次続くのである。
従って、遅延積分回路によって発生され、この画素に対
応する最終値は下記のようになる。
応する最終値は下記のようになる。
80=s(0,0)+s(1,4)+ ++ +B4,
17) (4a)サンプル時間1,2および3におけ
る素子0と1直線に並ぶ他の画素に対しても類似式が与
えられる。
17) (4a)サンプル時間1,2および3におけ
る素子0と1直線に並ぶ他の画素に対しても類似式が与
えられる。
51=s(o、1)+s(1,5)+ ・” +s(4
,17) (4b)S2=s(0,2)+8(1,d
)+ −−1−s(4,18) (4c)S 5 ”
” S (Or 3 ) + $ (1+ 7 ) +
”’ + 6 (4,19) (4d)式4a〜4
dによって表わされた関係を一般化することによって、
発生される全体像の、i番目の行のj番目の画素、すな
わちP(i、j)に対応する全集積電荷は下記の式によ
って与えられる。
,17) (4b)S2=s(0,2)+8(1,d
)+ −−1−s(4,18) (4c)S 5 ”
” S (Or 3 ) + $ (1+ 7 ) +
”’ + 6 (4,19) (4d)式4a〜4
dによって表わされた関係を一般化することによって、
発生される全体像の、i番目の行のj番目の画素、すな
わちP(i、j)に対応する全集積電荷は下記の式によ
って与えられる。
k=0
但し、d (m、 n、 k) はに番目のサンプリ
ング期間中のm行のn検出素子において集積された電荷
である。
ング期間中のm行のn検出素子において集積された電荷
である。
そしてNは1行あたシの検出素子の数である。
式5の表示について図示したものとして第7図を参照さ
れたい。
れたい。
第7図は、移動検出器アセンブリが検出器素子群に細分
されかつm、nがm番目の行のn番目の検出器素子を示
すと共に、静止画像面もi。
されかつm、nがm番目の行のn番目の検出器素子を示
すと共に、静止画像面もi。
1画素に細分される様子を示す。
式4および5によって表わされるシフトと加算シーケン
スは様々な方法で実行されることができる。良好な実行
方法には、遅延積分構成においてCODアナログシフト
レジスタの利用が考えられる。しかし、このシーケンス
で作動する場合、TDI CODセルはそれ自体で検出
器素子の一部を構成することはできないということに注
目すべきである。むしろ、検出器素子はTDI回路に結
合されるのでなく、分離されねばならない。
スは様々な方法で実行されることができる。良好な実行
方法には、遅延積分構成においてCODアナログシフト
レジスタの利用が考えられる。しかし、このシーケンス
で作動する場合、TDI CODセルはそれ自体で検出
器素子の一部を構成することはできないということに注
目すべきである。むしろ、検出器素子はTDI回路に結
合されるのでなく、分離されねばならない。
第8図は、式4および5によって表わされる遅延と積分
のシーケンスを実行する回路の構成ならびに動作を示す
。第8図は、患者に対する相対的な検出器運動の11の
異なる段階における検出器アレーの一部分を示しており
、これらの段階は0〜10まで番号をつけられている。
のシーケンスを実行する回路の構成ならびに動作を示す
。第8図は、患者に対する相対的な検出器運動の11の
異なる段階における検出器アレーの一部分を示しており
、これらの段階は0〜10まで番号をつけられている。
段階0に対応する図例に見られるように、2行の検出器
素子が図示されていて、゛各行にはその中心から中心の
間隔が2pとなっている2つの検出器素子があるが、こ
の場合、pは各正方形素子の1辺の長さとなっている。
素子が図示されていて、゛各行にはその中心から中心の
間隔が2pとなっている2つの検出器素子があるが、こ
の場合、pは各正方形素子の1辺の長さとなっている。
段階0の図例では、そのような素子の1行は30.32
と称され、もう1行は54.56と称される。
と称され、もう1行は54.56と称される。
検出器素子32は、リード(線)38によって、2セル
シフトレジスタ40に結合されも検出器素子30は、リ
ード42によって、6素子シフトレジスタ44に結合さ
れる。レジスタ40.44の出力は出力ライン46に並
列で接続される。問題となっている検出器素子行におけ
る検出器素子′50と32の両方によって「読み出され
た」特定画素すなわち画像部分に対応する全電荷値を表
わす、レジスタ40と42からのアナログ信号を、出力
ライン46が受信する。
シフトレジスタ40に結合されも検出器素子30は、リ
ード42によって、6素子シフトレジスタ44に結合さ
れる。レジスタ40.44の出力は出力ライン46に並
列で接続される。問題となっている検出器素子行におけ
る検出器素子′50と32の両方によって「読み出され
た」特定画素すなわち画像部分に対応する全電荷値を表
わす、レジスタ40と42からのアナログ信号を、出力
ライン46が受信する。
出力リード46は入力としてADCに結合される。
検出器素子34のアナログ出力は、リード50によって
、4セルシフトレジスタ52に結合される◇検出器素子
36の出力は、リード54によって、シフトレジスタ5
2の出力と並列に、直接結合され、該合成出力は合計さ
れて出力リード56に現われる。リード56に現われる
アナログ信号はDPUに送信され、周知の技法によりさ
らに処理される。リード56に現われる各出力は、関連
する行の雨検出素子、すなわち素子34と36によって
読み出された画像部分の全画素値を表わすアナログ信号
となっている。
、4セルシフトレジスタ52に結合される◇検出器素子
36の出力は、リード54によって、シフトレジスタ5
2の出力と並列に、直接結合され、該合成出力は合計さ
れて出力リード56に現われる。リード56に現われる
アナログ信号はDPUに送信され、周知の技法によりさ
らに処理される。リード56に現われる各出力は、関連
する行の雨検出素子、すなわち素子34と36によって
読み出された画像部分の全画素値を表わすアナログ信号
となっている。
素子50,32,34.56に直接接続される各リード
は、半透明ポリシリコン導線から成る。
は、半透明ポリシリコン導線から成る。
リード46と56における信号は、全体の画像における
データについての異なる行を表わす信号であって、素子
34と36は上行を、そして素子30と32は下行を表
わしているので、該信号は装置によって混合されない、
ということの理解は重要である 第8図にはまた、放射I!60のハツチング領域が示さ
れている。放射線領域60は、いずれらの放射線は、患
者を通り、すべての検出器素子に向って同時に、連続的
に向けられ、該放射線は、患者の内部的身体構造に依存
して、多量にまた少量に個々の検出器素子上に落下する
。
データについての異なる行を表わす信号であって、素子
34と36は上行を、そして素子30と32は下行を表
わしているので、該信号は装置によって混合されない、
ということの理解は重要である 第8図にはまた、放射I!60のハツチング領域が示さ
れている。放射線領域60は、いずれらの放射線は、患
者を通り、すべての検出器素子に向って同時に、連続的
に向けられ、該放射線は、患者の内部的身体構造に依存
して、多量にまた少量に個々の検出器素子上に落下する
。
しかし、図を明確にするために、患者から出現する放射
線パターンは、第8図に示される放射線領域60の幅に
等しい幅を有するスリットであると考えられる。
線パターンは、第8図に示される放射線領域60の幅に
等しい幅を有するスリットであると考えられる。
明確さのためには、また、段階0に対応する図例に連絡
して示される参照符号は、図面の不用な混乱を避けるた
めに、他の段階に対しては省略しである。段階0の図例
に関連する参照符号は、後続の段階1〜10の図例の対
応部分にもまた適用され得るものと考えられるべきであ
る。
して示される参照符号は、図面の不用な混乱を避けるた
めに、他の段階に対しては省略しである。段階0の図例
に関連する参照符号は、後続の段階1〜10の図例の対
応部分にもまた適用され得るものと考えられるべきであ
る。
第8図の回路と装置の動作は下記の通りである。
段階0において、放射線領域60はいずれの検出器素子
のいずれの部分にも入射していない従って、いずれの検
出器素子も、入射放射線を表わすアナログ信号を構成す
る電荷パケットを発生していないのである。
のいずれの部分にも入射していない従って、いずれの検
出器素子も、入射放射線を表わすアナログ信号を構成す
る電荷パケットを発生していないのである。
周知のタイプではあるが、第8図では特定して図示され
ていない、クロッキング回路が備えられていることは理
解できる。各段階が増分すると、該クロッキング回路は
、リード38,42゜54セして50において信号をサ
ンプルさせる。
ていない、クロッキング回路が備えられていることは理
解できる。各段階が増分すると、該クロッキング回路は
、リード38,42゜54セして50において信号をサ
ンプルさせる。
それぞれ、シフトレジスタ40.44.52に結合され
ている、リード38.42および50に関して、クロッ
キング回路は、関連する素子からの各自の電荷パケット
を表わす信号を、対応するシフトレジスタの第1セルに
記憶させるのである。クロッキング信号もまた、各シフ
トレジスタにすでに記憶されていた電荷関連信号を、該
レジスタの次に続くセルにシフトさせる。クロッキング
信号はシフトレジスタの最後のセルに記憶されているい
ずれの信号でも、出力46と56のうちの関連するもの
へ進行させるのである。
ている、リード38.42および50に関して、クロッ
キング回路は、関連する素子からの各自の電荷パケット
を表わす信号を、対応するシフトレジスタの第1セルに
記憶させるのである。クロッキング信号もまた、各シフ
トレジスタにすでに記憶されていた電荷関連信号を、該
レジスタの次に続くセルにシフトさせる。クロッキング
信号はシフトレジスタの最後のセルに記憶されているい
ずれの信号でも、出力46と56のうちの関連するもの
へ進行させるのである。
クロッキング回路は、上述のように、一連の動作を、検
出器の走行の1/2の連続的増分で素子がサンプルされ
るような周波数で実行する。
出器の走行の1/2の連続的増分で素子がサンプルされ
るような周波数で実行する。
段#1と称する第8図の部分において、検出器は、患者
に対して右方向へ、p/2の距離、すなわち検出器素子
の幅の半分だけ、移動したことになっている。この点に
おいて、検出器素子30は、検出器素子の半分がスリッ
ト放射線パターン60からの入射放射IMを受けるよう
に位置ぎめされている。素子5oは、該素子の中心に位
置するドツトで示される電荷「パケット」を発生する。
に対して右方向へ、p/2の距離、すなわち検出器素子
の幅の半分だけ、移動したことになっている。この点に
おいて、検出器素子30は、検出器素子の半分がスリッ
ト放射線パターン60からの入射放射IMを受けるよう
に位置ぎめされている。素子5oは、該素子の中心に位
置するドツトで示される電荷「パケット」を発生する。
放射線スリン)60内に入っていない他の素子は、電荷
パケットを発生しない。
パケットを発生しない。
検出器部分がその増分運動の段階2に達する時間までに
、段階10図例におけるドツトで表わされる電荷パケッ
トは、レジスタ44の第1セル内にクロックされている
。そこで素子30はスリットパターン60からの入射放
射線によって完全に照明される。検出器素子は受信する
放射線の量に従って電荷パケットを発生するので、この
素子は、その出力において、段階1におけるドツトで表
わされるパケットの2つに等しい電荷ffiを発生する
。この発生された電荷は、段階2に関連して示されるよ
うに素子3o内の2つのドツトで表わされる。
、段階10図例におけるドツトで表わされる電荷パケッ
トは、レジスタ44の第1セル内にクロックされている
。そこで素子30はスリットパターン60からの入射放
射線によって完全に照明される。検出器素子は受信する
放射線の量に従って電荷パケットを発生するので、この
素子は、その出力において、段階1におけるドツトで表
わされるパケットの2つに等しい電荷ffiを発生する
。この発生された電荷は、段階2に関連して示されるよ
うに素子3o内の2つのドツトで表わされる。
段階3に関連して示される位置に到着する場合、素子3
0によって発生される2倍の電荷パケットは、レジスタ
44め第1セル内にクロックされる。レジスタ44の第
1セルに以前に位置ぎめされた単一電荷パケットは、該
レジスタの第2のセル内にクロックされる。その間、上
述のそれに類似した態様で、30と34の画素子は単一
電荷パケットを発生する。
0によって発生される2倍の電荷パケットは、レジスタ
44め第1セル内にクロックされる。レジスタ44の第
1セルに以前に位置ぎめされた単一電荷パケットは、該
レジスタの第2のセル内にクロックされる。その間、上
述のそれに類似した態様で、30と34の画素子は単一
電荷パケットを発生する。
電荷パケットの発生と記憶についてのこの進行は継続す
る。段@6において初めて、素子30と同じ行にある素
子32からの電荷が2セルレジスタ40内にクロックさ
れる、ことに注目されたい。この図例において、電荷は
、段階2におけるレジスタ44内に最初にクロックされ
、それはレジスタ40に電荷信号が最初に現われるより
4段階前となっていることを想起されたい。従って、レ
ジスタ44内にクロックされる電荷は、レジスタ40に
おける電荷に関して、相対的な検出器運動の4つのp/
2増分だけ遅延される。
る。段@6において初めて、素子30と同じ行にある素
子32からの電荷が2セルレジスタ40内にクロックさ
れる、ことに注目されたい。この図例において、電荷は
、段階2におけるレジスタ44内に最初にクロックされ
、それはレジスタ40に電荷信号が最初に現われるより
4段階前となっていることを想起されたい。従って、レ
ジスタ44内にクロックされる電荷は、レジスタ40に
おける電荷に関して、相対的な検出器運動の4つのp/
2増分だけ遅延される。
式4と5を再吟味することから、第8図の回路構成なら
びに動作シーケンスによって、これらの式で述べられる
動作を実行することもまた明らかになる。よシ特定すれ
ば、第8図の構成により前述の式で述べられた動作を実
行するが、そこでは検出器素子行の各素子からの信号は
、4サンプリング段階の遅延の後にだけ、数行において
すぐ次に続く素子からの信号に結合されるのである。
びに動作シーケンスによって、これらの式で述べられる
動作を実行することもまた明らかになる。よシ特定すれ
ば、第8図の構成により前述の式で述べられた動作を実
行するが、そこでは検出器素子行の各素子からの信号は
、4サンプリング段階の遅延の後にだけ、数行において
すぐ次に続く素子からの信号に結合されるのである。
従って、式4と5で述べられる動作は、行における各検
出器素子に、数行における他のセルの出力に課せられる
遅延とは異なシかつ独立している遅延を与えることによ
って実行されるのである。この方法で、式4と5を実行
するために指定された遅延シーケンスが、それぞれの素
子に結合されるTDI回路内で構成され得る。
出器素子に、数行における他のセルの出力に課せられる
遅延とは異なシかつ独立している遅延を与えることによ
って実行されるのである。この方法で、式4と5を実行
するために指定された遅延シーケンスが、それぞれの素
子に結合されるTDI回路内で構成され得る。
第8図の段階8t−再び参照するに、この時点で適切な
段階が講じられ、DPUに対するデータの出力が開始し
たことが判る。段階8は、線46で二つの電荷パケット
を表わす出力に対応している。二つの電荷パケットに対
応する前記信号は、シフトレジスタ44.40夫々の最
後のセルに存在する信号を表わす二つの単一電荷の加算
によって発生される。
段階が講じられ、DPUに対するデータの出力が開始し
たことが判る。段階8は、線46で二つの電荷パケット
を表わす出力に対応している。二つの電荷パケットに対
応する前記信号は、シフトレジスタ44.40夫々の最
後のセルに存在する信号を表わす二つの単一電荷の加算
によって発生される。
段階9では、前記クロック回路によって四つの電荷パケ
ットを表わす出力が発生され、前記二つの信号を加算し
た結果は、夫々、段階8の前記レジスタ44.40の最
後のセルに存在する二つの電荷パケットを表わしている
。
ットを表わす出力が発生され、前記二つの信号を加算し
た結果は、夫々、段階8の前記レジスタ44.40の最
後のセルに存在する二つの電荷パケットを表わしている
。
前記素子50.32によって読取られた画素を表わす信
号が出力46で発生される際、素子34.36の上部の
行に対応する出力56にも、同様に生成された信号が発
生される。
号が出力46で発生される際、素子34.36の上部の
行に対応する出力56にも、同様に生成された信号が発
生される。
前記素子36からの出力信号に対する前記素子34から
の出力信号の相対的遅延は、線50に四つのセルから成
るシフトレジスタ52が設置されていることと、および
前記素子66からの出力が線54を通って直接出力56
に与えられるという事実とによって達成される。
の出力信号の相対的遅延は、線50に四つのセルから成
るシフトレジスタ52が設置されていることと、および
前記素子66からの出力が線54を通って直接出力56
に与えられるという事実とによって達成される。
第8図で既に説明したTDI回路を使用することによっ
て各画素を表示する出力信号のSN比が増大されること
が判る。第8図に図示の前記TDI回路が使用されなか
った場合、例えば素子30の出力は、前記放射線スリッ
ト60中を通る際段階1,2ならびに3で放出される1
、2および1m荷パケットを夫々表わす一連の三つの信
号となりうる。TDI回路を使用することによって、画
素を読取る各素子の応答の和によシ該画素が区室される
と共に、対応する出力が、段階8,9および10で生じ
る2、4および2電荷パケットヲ表わす信号となる。
て各画素を表示する出力信号のSN比が増大されること
が判る。第8図に図示の前記TDI回路が使用されなか
った場合、例えば素子30の出力は、前記放射線スリッ
ト60中を通る際段階1,2ならびに3で放出される1
、2および1m荷パケットを夫々表わす一連の三つの信
号となりうる。TDI回路を使用することによって、画
素を読取る各素子の応答の和によシ該画素が区室される
と共に、対応する出力が、段階8,9および10で生じ
る2、4および2電荷パケットヲ表わす信号となる。
ここで生成されるようなフォトダイオードアレーからの
逐次発生線表示データ対から写像データを生ずる技術構
成は、米国特許第4,203,037号等の刊行物、お
よびそこに記載されたいくつかの特許ならびに刊行物に
よって既に明らかKされている通常の先行技術の範囲に
含まれるものであるが、前記先行技術は、参考のため、
全てことに組み込まれている。
逐次発生線表示データ対から写像データを生ずる技術構
成は、米国特許第4,203,037号等の刊行物、お
よびそこに記載されたいくつかの特許ならびに刊行物に
よって既に明らかKされている通常の先行技術の範囲に
含まれるものであるが、前記先行技術は、参考のため、
全てことに組み込まれている。
第8図は、環境を単純化して、すなわち二つの検出素子
夫々の二行のみを考慮に入れて、前記TDI回路の動作
および該回路の構成素子を図示したものである。先行技
術におけるこれらの技術は、各行における更に多数の素
子の使用・および更に多数の行の使用に対し同様の態様
でこの図を容易に拡大して利用することができる。
夫々の二行のみを考慮に入れて、前記TDI回路の動作
および該回路の構成素子を図示したものである。先行技
術におけるこれらの技術は、各行における更に多数の素
子の使用・および更に多数の行の使用に対し同様の態様
でこの図を容易に拡大して利用することができる。
例えば、三つの素子が各行に使用される場合は、第8図
における右側の素子の出力1ft10個のセルから成る
シフトレジスタに結合させてもよい。
における右側の素子の出力1ft10個のセルから成る
シフトレジスタに結合させてもよい。
−中の素子は6個のセルから成るレジスタに結合させ、
左側すなわち第3の素子は2個のセルから成るレジスタ
に結合させてもよい。この構成によって、上式4および
5で表わされた各素子からの信号を総和する際の各遅延
関係が維持されることになる。
左側すなわち第3の素子は2個のセルから成るレジスタ
に結合させてもよい。この構成によって、上式4および
5で表わされた各素子からの信号を総和する際の各遅延
関係が維持されることになる。
本発明のこの実施例に関する説明は、本発明を説明して
はいるが完全なものではなく、関連する先行技術のこれ
ら通常の技術によって、特許請求の範囲に記載された本
発明の精神およびその範囲から逸脱せずに多少の追加、
削除ならびに改変がなされうろことが判る。
はいるが完全なものではなく、関連する先行技術のこれ
ら通常の技術によって、特許請求の範囲に記載された本
発明の精神およびその範囲から逸脱せずに多少の追加、
削除ならびに改変がなされうろことが判る。
第1図は本発明を組込んでいるディジタルX線撮影装置
の斜視図、第2図は本発明を組込んでいるディジタルX
線撮影装置についての、一部は線図で一部は概略図で表
わした、平面図、第3図は従来技術によるディジタルX
線撮影装置の構成要素を示す、部分的に切離された正面
図、第4図は第3図に示され念構成要素の利用に関連す
る動作シーケンスの実例図、第5図は第1図と第2図に
示された装置の構成要素の一部を示す、部分的に切離さ
れた正面図、第6図は第5図に示された構成要素の利用
に関連する動作シーケンスの実例図、第7図は第1図と
第2図の装置の構成要素の実例図であって、本明細書の
一部を説明する数学的記号の特定形式全指わし、そして
第8図は、第5図の構成要素も含めて、第1図と第2図
の装置の構成要素の動作のシーケンスを示す実例図であ
る。 図中、Bは拡散ビーム、Dは検出器アセンブリ、Eは検
出器素子、KとJはスリット、Xはxls源をそれぞれ
示す。
の斜視図、第2図は本発明を組込んでいるディジタルX
線撮影装置についての、一部は線図で一部は概略図で表
わした、平面図、第3図は従来技術によるディジタルX
線撮影装置の構成要素を示す、部分的に切離された正面
図、第4図は第3図に示され念構成要素の利用に関連す
る動作シーケンスの実例図、第5図は第1図と第2図に
示された装置の構成要素の一部を示す、部分的に切離さ
れた正面図、第6図は第5図に示された構成要素の利用
に関連する動作シーケンスの実例図、第7図は第1図と
第2図の装置の構成要素の実例図であって、本明細書の
一部を説明する数学的記号の特定形式全指わし、そして
第8図は、第5図の構成要素も含めて、第1図と第2図
の装置の構成要素の動作のシーケンスを示す実例図であ
る。 図中、Bは拡散ビーム、Dは検出器アセンブリ、Eは検
出器素子、KとJはスリット、Xはxls源をそれぞれ
示す。
Claims (17)
- (1)放射線撮影装置において、放射線源(X)と、前
記放射線源(X)および検出器アレー(D)間の空部へ
の身体の挿入に適合するよう前記放射線源(X)から十
分に間隔を置いて並べられた検出素子(E)の二列(1
4)以上のパターンから成る前記検出アレー(D)と、
前記検出素子(E)の列にほぼ垂直な方向に前記検出器
アレー(D)および前記空間に位置決めされた身体間の
相対的走査運動を行なう走査手段(L、M)と、前記放
射線源(X)を作動して、前記空間を通り前記検出器ア
レー(D)に向かうよう放射させる手段と、および前記
検出器アレー(D)に結合され、前記身体から出現する
と共に前記検出器アレー(D)に入射する放射線によっ
て明示された前記身体の内部構造に関する像を生成する
回路(TDI、C、T)とによって構成されていると共
に、前記列(14)は段違いパターンで配列されている
ことを特徴とする上記放射線撮影装置。 - (2)特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記
検出素子(E)は、夫々が前記放射線源(X)に向けて
配置されたほぼ正方形の放射線を感知する受信面によっ
て構成されていることを特徴とする上記放射線撮影装置
。 - (3)特許請求の範囲第1項または第2項記載の装置に
おいて、前記検出素子(E)の前記各列(14)は該列
(14)に平行に延びる前記素子(E)の一つの素子の
大きさのほぼ半分に等しい、該列(14)に平行なオフ
セットによって隣接する列(14)から変位されている
ことを特徴とする上記放射線撮影装置。 - (4)特許請求の範囲の前記いずれか一項に記載の装置
において、前記回路は前記検出素子(E)によって発生
された電気信号に応答して身体の内部構造を表わす像を
生成すると共に前記走査方向に延びる前記検出素子(E
)のうちの一つの検出素子の大きさに等しい距離以下の
検出アレー走査運動の連続的増分で前記検出素子の電気
信号をサンプリングするサンプリング回路によって構成
された時間遅延集積回路(TDI)によって構成されて
いることを特徴とする上記放射線撮影装置。 - (5)放射線撮影装置において、前記装置は放射線源(
X)と、夫々がそこに入射する放射線に応答して前記入
射する放射線を示す電気出力信号を発生する均一な検出
素子(E)の少なくとも一行(12)によって構成され
た検出アレー(D)と、前記放射線源(X)および前記
検出アレー(D)とを互いに十分な間隔を有するように
取り付け、その間の空間に身体を収容すると共に前記空
間内に位置決めされた身体に対して前記行(12)にほ
ぼ平行な方向に前記検出アレー(D)を走査する手段(
L、M)と、前記放射線源(X)を作動して前記空間に
位置決めされた身体の一部を通り前記放射線源(X)か
ら前記検出アレー(D)に向かう放射線を伝播する手段
と、および前記検出素子(E)に結合され、該検出素子
(E)によって発生される前記電気信号に応答して身体
の内部構造に関する像を生成する時間遅延積分回路であ
って、検出アレー走査運動の連続的増分で前記検出素子
の電気信号をサンプリングするサンプリング回路によっ
て構成された前記時間遅延積分回路(TDI)とによっ
て構成されていると共に、前記連続的増分は前記走査方
向に延びる前記の均一な検出素子(E)のうちの一つの
検出素子の大きさに等しい距離以下であることを特徴と
する上記放射線撮影装置。 - (6)特許請求の範囲第5項記載の前記装置において、
前記検出アレー(D)は前記行(12)に垂直な、かつ
食い違いパターンで配列された、複数の列(14)を定
めるように挿入される素子(E)の複数の前記行(12
)によって構成されていることを特徴とする上記放射線
撮影装置。 - (7)特許請求の範囲第6項記載の装置において、前記
検出アレー(D)は前記検出素子(E)の少なくとも三
つの前記列(14)によって構成されていることを特徴
とする上記放射線撮影装置。 - (8)特許請求の範囲第5項から第7項いずれか一項に
記載の装置において、各前記行(12)に沿う連続的素
子(E)間の中心間の間隔はほぼ前記大きさの2倍であ
ることを特徴とする上記放射線撮影装置。 - (9)特許請求の範囲第8項記載の装置において、前記
連続的増分とは前記大きさの約半分の走査運動増分のこ
とであることを特徴とする上記放射線撮影装置。 - (10)特許請求の範囲第8項または第9項いずれか一
項に記載の装置において、前記時間遅延積分回路(TD
I)によって以下の如く定められる時間遅延積分関数、
すなわち P_(_i_、_j_)=Σ^N^−^1_k_=_0
d(i、k、4k+j)(但し、P_(_i_、_j_
)は前記像のi行目のj番目の画素の総累算電荷であり
、d(m、n、k)はk番目のサンプリング期間のm行
目のn番目の検出素子で累算された電荷であり、かつN
は1行当りの素子数である)が実現されることを特徴と
する上記放射線撮影装置。 - (11)特許請求の範囲第5項から第10項いずれか一
項に記載の装置において、前記時間遅延積分回路(TD
I)は所与の画素に関する所与の素子(E)の出力信号
が単一の検出素子(E)の幅の2倍に等しい距離に渡る
検出運動に等しい検出運動の連続的増分においてのみサ
ンプリングされるようなモードで作動することを特徴と
する上記放射線撮影装置。 - (12)特許請求の範囲第11項または第9項記載の装
置において、前記時間遅延積分回路(TDI)は前記検
出アレー(D)が単一の検出素子(E)の幅の2倍に等
しい距離を移動するのに必要とする時間に等しい遅延を
すぐ前の前記素子(E)の出力に対し各前記素子(E)
の出力信号上に挿入する回路によって構成されているこ
とを特徴とする上記放射線撮影装置。 - (13)特許請求の範囲第5項から第12項いずれか一
項に記載の装置において、前記時間遅延積分回路(TD
I)は前記行のうちの1行に対して平行にとられた個々
の検出素子の幅のほぼ半分に等しい検出運動の連続的増
分における前記検出素子の出力信号をサンプリングする
手段と、単一の画素に関して前記行の前記素子の前記出
力信号を一つの出力で同時に表示するために前記行のう
ちの1行の検出素子からの各出力信号を異なる量だけ遅
延させる手段と、前記同時に表示された出力信号を加算
する手段と、および前記加算された信号を処理して被検
物の内部構造の画像表示を行なう手段とによって構成さ
れていることを特徴とする上記放射線撮影装置。 - (14)特許請求の範囲第13項記載の前記装置におい
て、前記検出アレーは2p(pは素子の一片の大きさ)
だけ間隔の置かれた中心を有する一行の均一な方形検出
素子と、各P/2の連続走査運動増分によって検出素子
出力をサンプリングする前記時間遅延積分回路(TDI
)と、所与の像の部分に対する表示として各検出出力の
各4回目のサンプリングセットのみを累算する手段と、
および別の所与の像の部分に対する表示として前記セッ
トから時間でオフセットされた別の4回目のサンプリン
グセットを累算する手段とによって構成されていること
を特徴とする上記放射線撮影装置。 - (15)特許請求の範囲の前記いずれか一項に記載の装
置において、前記走査手段(L、M)は検出運動と同期
して前記X線源の回動運動を行ない前記検出器および前
記放射線源から放出する放射線間の定整合を維持する手
段によって構成されていることを特徴とする上記放射線
撮影装置。 - (16)特許請求の範囲の前記いずれか一項に記載の装
置において、前記走査手段(L、M)は弧状経路に沿っ
て前記検出アレーを移動させる手段によって構成されて
いることを特徴とする上記放射線撮影装置。 - (17)特許請求の範囲の前記いずれか一項に記載の装
置において、前記放射とはX線放射のことであることを
特徴とする上記放射線撮影装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US65395584A | 1984-09-21 | 1984-09-21 | |
| US653955 | 1984-09-21 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61122847A true JPS61122847A (ja) | 1986-06-10 |
| JPH0661324B2 JPH0661324B2 (ja) | 1994-08-17 |
Family
ID=24622947
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60208582A Expired - Lifetime JPH0661324B2 (ja) | 1984-09-21 | 1985-09-20 | 放射線撮影装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0176314B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0661324B2 (ja) |
| CA (1) | CA1240074A (ja) |
| DE (1) | DE3586192T2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6415032A (en) * | 1987-05-11 | 1989-01-19 | Gen Electric | Digital radiation image recording apparatus and method |
| JP2007519461A (ja) * | 2004-01-29 | 2007-07-19 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 画素千鳥状化及び焦点変調を有するコンピュータ断層撮像装置及び方法 |
| WO2014097871A1 (ja) | 2012-12-17 | 2014-06-26 | 株式会社ダイヤメット | 粉末冶金用原料粉末 |
| JP2019531111A (ja) * | 2016-08-11 | 2019-10-31 | プリズマティック、センサーズ、アクチボラグPrismatic Sensors Ab | コンピュータ断層撮影のためのデータ取得 |
Families Citing this family (30)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2668829B1 (fr) * | 1990-11-05 | 1993-10-22 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif et procede de controle non destructif a acquisition simultanee de donnees radiographiques et de donnees tomographiques. |
| GB9608946D0 (en) * | 1996-04-29 | 1996-07-03 | Osteometer Meditech As | Methods and apparatus for X-ray of bone densitometry |
| DE19733338C2 (de) * | 1997-08-01 | 2002-01-17 | Sirona Dental Systems Gmbh | Röntgendiagnostikeinrichtung zur Erstellung von Panorama-Schichtaufnahmen von Körperteilen eines Patienten |
| FI119173B (fi) * | 2001-11-23 | 2008-08-29 | Planmed Oy | Anturijärjestely ja menetelmä digitaalisessa pyyhkäisykuvantamisessa |
| US7963695B2 (en) | 2002-07-23 | 2011-06-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Rotatable boom cargo scanning system |
| US8275091B2 (en) | 2002-07-23 | 2012-09-25 | Rapiscan Systems, Inc. | Compact mobile cargo scanning system |
| US6928141B2 (en) | 2003-06-20 | 2005-08-09 | Rapiscan, Inc. | Relocatable X-ray imaging system and method for inspecting commercial vehicles and cargo containers |
| US7471764B2 (en) | 2005-04-15 | 2008-12-30 | Rapiscan Security Products, Inc. | X-ray imaging system having improved weather resistance |
| US7526064B2 (en) | 2006-05-05 | 2009-04-28 | Rapiscan Security Products, Inc. | Multiple pass cargo inspection system |
| GB0803642D0 (en) | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Drive-through scanning systems |
| GB0803640D0 (en) | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Scanning systems |
| GB0803641D0 (en) | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Scanning systems |
| US12061309B2 (en) | 2008-02-28 | 2024-08-13 | Rapiscan Systems, Inc. | Drive-through scanning systems |
| GB0803643D0 (en) | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Mobile scanning systems |
| US9036779B2 (en) | 2008-02-28 | 2015-05-19 | Rapiscan Systems, Inc. | Dual mode X-ray vehicle scanning system |
| GB0803644D0 (en) | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Scanning systems |
| GB0809109D0 (en) | 2008-05-20 | 2008-06-25 | Rapiscan Security Products Inc | Scanner systems |
| GB0809110D0 (en) | 2008-05-20 | 2008-06-25 | Rapiscan Security Products Inc | Gantry scanner systems |
| GB0809107D0 (en) | 2008-05-20 | 2008-06-25 | Rapiscan Security Products Inc | Scannign systems |
| GB0810638D0 (en) | 2008-06-11 | 2008-07-16 | Rapiscan Security Products Inc | Photomultiplier and detection systems |
| US8963094B2 (en) | 2008-06-11 | 2015-02-24 | Rapiscan Systems, Inc. | Composite gamma-neutron detection system |
| US9310323B2 (en) | 2009-05-16 | 2016-04-12 | Rapiscan Systems, Inc. | Systems and methods for high-Z threat alarm resolution |
| EP3270185B1 (en) | 2011-02-08 | 2023-02-01 | Rapiscan Systems, Inc. | Covert surveillance using multi-modality sensing |
| US9218933B2 (en) | 2011-06-09 | 2015-12-22 | Rapidscan Systems, Inc. | Low-dose radiographic imaging system |
| MX350070B (es) | 2013-01-31 | 2017-08-25 | Rapiscan Systems Inc | Sistema de inspeccion de seguridad portatil. |
| US9557427B2 (en) | 2014-01-08 | 2017-01-31 | Rapiscan Systems, Inc. | Thin gap chamber neutron detectors |
| DE102020117484A1 (de) | 2020-07-02 | 2022-01-05 | Smiths Heimann Gmbh | Dual-energie-detektor und aufbereitungsverfahren für detektordaten |
| WO2022183191A1 (en) | 2021-02-23 | 2022-09-01 | Rapiscan Systems, Inc. | Systems and methods for eliminating cross-talk in scanning systems having multiple x-ray sources |
| EP4427247A4 (en) | 2021-11-04 | 2025-10-01 | Rapiscan Holdings Inc | Targeted collimation of detectors using rear collimators |
| US12385854B2 (en) | 2022-07-26 | 2025-08-12 | Rapiscan Holdings, Inc. | Methods and systems for performing on-the-fly automatic calibration adjustments of X-ray inspection systems |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5784040A (en) * | 1980-11-13 | 1982-05-26 | Hitachi Medical Corp | X-ray photographing apparatus |
| JPS57195444A (en) * | 1981-05-26 | 1982-12-01 | Tokyo Shibaura Electric Co | X-ray photographing apparatus |
| JPS58223083A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-12-24 | ザ・ボ−ド・オブ・トラステイ−ズ・オブ・ザ・リ−ランド・スタンフオ−ド・ジユニア・ユニバ−シテイ | 線走査式放射線システム |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3717762A (en) * | 1970-09-21 | 1973-02-20 | Baird Atomic Inc | Sensing matrix for a radioactivity-distribution detector |
| DE2717349A1 (de) * | 1977-04-19 | 1978-10-26 | Siemens Ag | Roentgenschichtgeraet zur herstellung von transversalschichtbildern |
| US4383327A (en) * | 1980-12-01 | 1983-05-10 | University Of Utah | Radiographic systems employing multi-linear arrays of electronic radiation detectors |
| IL72276A (en) * | 1983-07-28 | 1988-01-31 | Elscint Ltd | Computerized tomographic system with improved resolution |
-
1985
- 1985-09-18 EP EP19850306633 patent/EP0176314B1/en not_active Expired
- 1985-09-18 DE DE19853586192 patent/DE3586192T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1985-09-20 CA CA000491174A patent/CA1240074A/en not_active Expired
- 1985-09-20 JP JP60208582A patent/JPH0661324B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5784040A (en) * | 1980-11-13 | 1982-05-26 | Hitachi Medical Corp | X-ray photographing apparatus |
| JPS57195444A (en) * | 1981-05-26 | 1982-12-01 | Tokyo Shibaura Electric Co | X-ray photographing apparatus |
| JPS58223083A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-12-24 | ザ・ボ−ド・オブ・トラステイ−ズ・オブ・ザ・リ−ランド・スタンフオ−ド・ジユニア・ユニバ−シテイ | 線走査式放射線システム |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6415032A (en) * | 1987-05-11 | 1989-01-19 | Gen Electric | Digital radiation image recording apparatus and method |
| JP2007519461A (ja) * | 2004-01-29 | 2007-07-19 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 画素千鳥状化及び焦点変調を有するコンピュータ断層撮像装置及び方法 |
| JP4763620B2 (ja) * | 2004-01-29 | 2011-08-31 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 画素千鳥状化及び焦点変調を有するコンピュータ断層撮像装置及び方法 |
| WO2014097871A1 (ja) | 2012-12-17 | 2014-06-26 | 株式会社ダイヤメット | 粉末冶金用原料粉末 |
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