JPS61126686A - 半導体メモリのためのワ−ド線クロツク・ブ−スト回路 - Google Patents

半導体メモリのためのワ−ド線クロツク・ブ−スト回路

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JPS61126686A
JPS61126686A JP60139269A JP13926985A JPS61126686A JP S61126686 A JPS61126686 A JP S61126686A JP 60139269 A JP60139269 A JP 60139269A JP 13926985 A JP13926985 A JP 13926985A JP S61126686 A JPS61126686 A JP S61126686A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 A、産業上の利用分野 本発明は電圧ブースト回路、さらに詳しく言えば、半導
体メモリーのワード線クロック回路用のブースト回路に
関するものである。
B、開示の概要 半導体メモリのワード線電圧を供給電圧値よりも高める
ことができるCMO8FETを用いたワード線クロック
・ブースト回路が開示される。自己ブースト電圧と出力
電圧を2つのPMOSトランジスタの間にはさむことに
より、接合部が不所望に順バイアスされるのを防止する
ことができる。
C9従来技術 電圧ブースト回路すなわち昇圧回路は、先行技術では各
種の目的のものが様々な構成中で記載されている。「電
源電圧よりも高い直流電圧を得るための回路J (C1
rcuit for Obtaining DCVol
tage Higher Than Power So
urceVoltage)  と題する、1977年1
2月6日付でAsano  に授与された米国特許第4
061929号は、そ几ぞ几がコンデンサと複数のMO
SFETから構成され変圧器やダイオードは含まない、
順に接続さ几た複数のユニットを含む電圧ブースト回路
を記載している。
「二つの相補形MIS回路から構成されるレベル・シフ
ターを用いた電圧ブースタ回路」(Voltage B
ooster C1rcuit Using Leve
lShifter Conposed of Two 
ComplementaryMIS C1rcuits
 )と題する、1977年6月14日付でKobaya
shi  等に授与された米国特許第4029973号
は、電圧ブースタ回路の改良を開示している。その改良
点は、相補形MIS半導体集積回路中に作成されたレベ
ル変換回路のスイッチング手段としてMISFETを使
用することにあり、したがって通常のスイッチング手段
による電圧損失を防止することができる。
「レベル・シフト回路J (Level 5hiftC
ircuit )と題する、1980年8月5日付でS
tewartに与された米国特許第4216390号で
は、信号とラッチが同様の電圧で作動するとき、信号変
換中にのみ電流を通すようにバイアスさ几たゲート手段
が、入力信号源からの2進信号をラッチ回路に転送する
。データ転送に続いて、ラッチの両端間の動作電圧が増
加する。それに応じてラッチ出力信号の電圧レベルが増
加するが、ラッチがヒツトされた状態は維持され、ゲー
ト手段中に定常状態の電流伝導は起こらない。
やはり「レペ/l/−シフト回路J (Level 5
hiftCircuit )と題する、1977年8月
30日付でAsanoに授与さnた米国特許第4045
691号には、第1の電圧電源に接続さn入力パルスを
供給されるインバータを含むレベル・シフト回路が開示
されている。インバータの出力点と第1電圧電源の1つ
の電位点の間に、コンデンサおよび方向スイッチ素子が
直列に接続されている。第1のMOSFETの入力端子
はインバータの出力端子に接続され、第2のMOSFE
Tの入力端子はコンデンサと方向スイッチ素子の間の接
続点に接続さ。ている。第1のMOSFETの電源は第
1および第2電圧電源の共通端子に接続され、第2のM
OSFETの電源は、第2電圧電源のもう一つの端子に
接続されている。第1および第2のMOSFETのドレ
ンの共通接続と第2電圧電源の1つの電位点の間に、出
力電圧が生成さnる。
回路に印加される動作電位の範囲外にある、それよりも
絶対値の大きな、脈動電位および電圧レベルを生成する
ための回路が、「電圧増幅回路」(Voltage A
mpl 1tude Multiplying C1r
cuits)と題する、1976年12月28日付でR
osenthal等に授与された米国特許第40004
12号に記載さnている。各回路は、ある時間間隔中に
コンデンサの1つのプレートに第1の電圧を印加し、第
2のプレートに第2の電圧を印加するための第1および
第2のトランジスタを含んでいる、次の時間間隔中に第
1および第2トランジスタはオフになり、第3のトラン
ジスタがコンデンサの第1のプレートに第2の電位を印
加する。コンデンサの第1のプレートの電位変化がコン
デンサの第2のプレートにされ、第2のプレートに、第
1の電圧および第2の範囲外にある出力電位が生成され
る。第1の電圧と出力電位の電位差は、第1電圧と第2
電圧の電圧よりも振幅が太きい。この回路は、1つの出
力点に第1の電圧と出力電位を交互明    細   
 書 1、発明の名称  半導体メモリのためのワード線クロ
ック・ブースト回路 2特許請求の範囲 第1の複数のMOSFETを含む充放電回路と、上記充
放電回路から半導体メモリーのワード線に接続された出
力リードと、 クロック信号(φA)を上記充放電回路に供給し、上記
MO3FETを作動させて上記出力リード上に第1電圧
レベルから第2電圧レベルへの電圧変化を発生するため
の第1入力リードと、第2の複数のMOSFETを含む
閾値電圧回路と、 クロック信号(φC)を上記閾値電圧回路に供給し、上
記閾値電圧回路の電圧レベルを制御するための第2入力
リードと、 上記閾値電圧回路を上記充放電回路に接続するリードと
、 第3の複数の〜IO3FETを含む出力信号ブースト回
路と、 クロック信号(φD)を上記ブースト回路に供給し、そ
のMOSFETを作動させて電圧ブースト信号を発生す
るための第3入力リードと、上記ブースト回路を上記出
力リードに接続して、上記電圧ブースト信号を上記出力
リードに印加し、上記出力リード上の電圧レベルの変化
を上記第2電圧レベルから第3電圧レベルに高めるため
の手段と、 を有する、半導体メモリのためのワード線クロック・ブ
ースト回路。
3、発明の詳細な説明 A、産業上の利用分野 本発明は電圧ブースト回路、さらに詳しく言えば、半導
体メモリーのワード線クロック回路用のブースト回路に
関するものである。
ワード線レベルが5ボルトからOボルトおよび負の電圧
に変化する。ここではn−ウェルて5ボルトのバイアス
をかけ、P基板を接地し7だ n−ウェルCMO3技術
を採用する。ここで使用するものと同様の原理が、p−
ウェルCMO3技術やその他のCMO8技術でも容易に
採用できる。しかし供給電圧が僅か5ボルトのオーダー
のCMO3技術では、ワード線ブースト回路は設計が難
しい。
例工ば、ブースト・レベルが一2ボルトのオーダーの場
合、N十P接合部を11@バイアスしてキャリア注入を
引き起こし、動的回路の誤動作またはラッチ・アンプさ
えも招くため、そ几をNMOSのソースまたはドレンに
印加できない。同様にPMO8のソースとドレンは、V
DDよリモO96ボルト以上高い電圧を許容できないが
、ブースト回路中に容易にアンダシュートおよびオーバ
シュートが起こることがある。一方、チップ密度が1メ
ガバイトまで増大し、供給電圧が標準の5ボルト以下に
減少すると妥当なチップ・サイズを維持するために記憶
コンデンサ面積をある値以下に制限しなけ几ばならず、
閾値型圧損が許容できないため、ワード線ブースト回路
が非常に重要である。第1図は、CMOSワード線クロ
ック・ブースト回路を図示したものである。この回路は
、接合部を順バイアスせずに、単一供給電圧を用いたC
 I’vl OSDRAMに使用できる。
第1図において、φAはリード10上のクロック信号で
あり、出力をOボルトとVDD(このシュミレーション
では5ボルトと仮定する)の間で放電し充電する働きを
する。リード12の出力は、デコーダを活動化して個々
のワード線にゲートできる。リード14上のクロック信
号φDは、出力を0ボルト以下にブーストする働きをす
る。リード16上のクロック信号φCは、回路のノード
18の電圧を制御するクロック信号である。この回路動
作のキーポイントH1PMOSソース/ドレンでのオー
パンニートとNMOSソース/ドレンでのアンダシュー
トを避けることである。装置20によって出力を完全に
放電し、ノード22でのアンダシュートを避けるには、
ノード18の波形が重要である。第】図の回路の動作に
ついて、第3図、第4図、第5図、第6図をも参照して
説明する。
この回路は、次のように機能する。第3図に示すように
活動化する前は、クロック信号φAおよびφDは低レベ
ル(Oボルト)であり、クロック信号φcH高レベル(
5ボルト)である。リード12およびノード26の出力
は充電さnて高電圧になり、ノード18は装置34の閾
値電圧であるVTPにセットさ几ている。活動化は、リ
ード10上のクロック信号φAをプルアップして装置2
4をオンにし、出力を放電させることから始まる。
装置20上のオーバドライブを充分に保つため、ノード
18は、出力をプルダウンして装置20のキャパシタン
スにより0ボルト以下に自己ブーストするように設計さ
れている。ノード18と出力の負電圧は、接合部が順バ
イアスさ几るのを避けるため、2つのPMOSトランジ
スタの間にはさま几ている。出力がOポルトに達した後
、クロック信号φCがプルダウンさ几、ノード18をプ
ルアップして、装置20をオフにし、ブースト期間にノ
ード22のアンダシュートを保護する。ノード18が出
力レベルより1v’rp低い電圧に達すると、クロック
信号φDが活動化してノード26をプルダウンし、装置
28の結合コンデンサによって出力をOボルト以下にブ
ーストすることができる。出力リセット中に(タイミン
グは重要でない)ノード18がVDD以上に自己ブース
トするのを避けるため、回路をリセットする前にクロッ
ク信号φCをプルアップして、ノード18をプルダウン
しなけ几ばならない。リセット方法としては2種の方法
が使用できる。第1の方法(第3図)では、クロック信
号φDをプルダウンしてノード26を充電し、次にクロ
ック信号φAをプルダウンして出力をリセットする。出
力がリセットされると、2つのMOSトランジスタ30
.32の間で保護されていたノード26が昇圧さ几る。
ノード26はクロック信号φAの活動化の直後にカップ
ル・ダウンさ几るため、このノード26の高電圧は、次
のサイクルの動作に影響を与えない。第2の方法(第5
図)では、まずクロック信号φAをプルダウンし、出力
をリセットする。このときノード26がわずかにプルア
ップさnる。次にクロック信号φDをプルダウンしてノ
ード26を充電する。キャパシタンスがより大きいため
、出力のリセットはより遅く、また装置28はカットオ
フ領域のあたりで動作するために装置28のブースト効
率はやや低下するので、出力ノードでのオーバシュート
を避けることができる。このシュミレーションでは、通
常の条件で、クロック信号φAとφDの間の1〜3 n
5ecのタイミング・スキニーのため、出力にO〜20
0 mV以下のオーバシュートが生じることが分かつて
いる。クロック信号φCおよびφDiクロック信号φA
から局部的に生成できるため、タイミングは制御し難く
ない。この2つの方法のシュミレーション結果が、そ几
ぞれ第3図、第4図、第5図、第6図に示しである。こ
の回路は直流電力を消費しない。装置28(PMO3)
のソースおよびドレンは、どちらもVDDよりも高い電
圧になって接合部を順バイアスすることができるノード
26に接続されていることに注意すべきである。この問
題は、第2図により詳しく示したコンデンサ接続を使う
と解決さルる。装置28のP+li域は、金属で橋絡さ
れた隣接するN十領域を経てn−ウェルに短絡さ几てい
る。
以上、単一供給電圧を用いたCMO3技術に使用できる
、改良さnた新規なCMOSワード線クロック・ブース
ト回路について説明した。
2つのNMOSトランジスタまたは2つのPMOSトラ
ンジスタの間に信号を印加することによって、接合部の
順バイアスは完全に避けられる。
この回路にはPMOSパス・ゲートを完全にオーバライ
ドする自己ブースト構成が組み込ま几でいる。これは、
類似の他の用途にも使用できる。
任意の昇圧用のノースおよびドレンでVDDよりも高い
電圧を維持できる、特別な構成のPMOSコンデンサが
含まれる。
G0発明の効果 本発明によ几ば、半導体メモリのワード線電圧を供給電
圧値よりも高めることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の原理にもとづく半導体メモリー・ク
ロック回路の一つの実施例の概略図である。 第2図は、第1図の出力回路に使用される半導体装置の
細部の概略図である。 第3図、第4図、第5図、第6図は、第1図の回路の動
作を説明するのに役立つ、波形を図示したものである。 出 願人 インターナシ9ナノいビジネス・マシーンズ
・コーポレーンヨン第3図 第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  第1の複数のMOSFETを含む充放電回路と、上記
    充放電回路から半導体メモリーのワード線に接続された
    出力リードと、 クロック信号(φA)を上記充放電回路に供給し、上記
    MOSFETを作動させて上記出力リード上に第1電圧
    レベルから第2電圧レベルへの電圧変化を発生するため
    の第1入力リードと、第2の複数のMOSFETを含む
    閾値電圧回路と、 クロック信号(φC)を上記閾値電圧回路に供給し、上
    記閾値電圧回路の電圧レベルを制御するための第2入力
    リードと、 上記閾値電圧回路を上記充放電回路に接続するリードと
    、 第3の複数のMOSFETを含む出力信号ブースト回路
    と、 クロック信号(φD)を上記ブースト回路に供給し、そ
    のMOSFETを作動させて電圧ブースト信号を発生す
    るための第3入力リードと、上記ブースト回路を上記出
    力リードに接続して、上記電圧ブースト信号を上記出力
    リードに印加し、上記出力リード上の電圧レベルの変化
    を上記第2電圧レベルから第3電圧レベルに高めるため
    の手段と、 を有する、半導体メモリのためのワード線クロック・ブ
    ースト回路。
JP60139269A 1984-11-19 1985-06-27 半導体メモリのためのワ−ド線クロツク・ブ−スト回路 Granted JPS61126686A (ja)

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US06/672,521 US4639622A (en) 1984-11-19 1984-11-19 Boosting word-line clock circuit for semiconductor memory
US672521 1984-11-19

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JPS61126686A true JPS61126686A (ja) 1986-06-14
JPH0370317B2 JPH0370317B2 (ja) 1991-11-07

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