JPS61128252A - Photoconductive member - Google Patents
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- JPS61128252A JPS61128252A JP59248763A JP24876384A JPS61128252A JP S61128252 A JPS61128252 A JP S61128252A JP 59248763 A JP59248763 A JP 59248763A JP 24876384 A JP24876384 A JP 24876384A JP S61128252 A JPS61128252 A JP S61128252A
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- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は光導電材料として非晶質半導体を用いた光導電
部材(;関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a photoconductive member using an amorphous semiconductor as a photoconductive material.
従来光導電部材として、たとえば電子写真感光体の光導
電材料としてはSe系、 CdS系、 ZnO系。Conventional photoconductive materials such as photoconductive materials for electrophotographic photoreceptors include Se-based, CdS-based, and ZnO-based materials.
有機光導電体等が用いられてきたが、8e系、 CdS
系は安全性の問題があり、ZnO系、有機光導電体は耐
湿性が悪く寿命が短かいという問題があった。Organic photoconductors have been used, but 8e series, CdS
These systems have safety problems, and ZnO-based and organic photoconductors have problems of poor moisture resistance and short lifespans.
そこで、近年はアモルファスシリコン(以下、a−3i
と記す)が電子写真感光体用の光導電材料として注目さ
れてきた。a −3i感光体は前述した従来の感光体と
比べ、白色光照射(二対して半減露光感度が1−eux
−sec以下ときわめて高感度な上、分光感度も800
nmの波長の光(二まであり、さら(=は寿命が10
0万枚コピーと長く、本質的に無公害であるという長所
を有している。Therefore, in recent years, amorphous silicon (hereinafter referred to as a-3i
) has been attracting attention as a photoconductive material for electrophotographic photoreceptors. Compared to the conventional photoreceptor mentioned above, the a-3i photoreceptor has a half-reduced exposure sensitivity of 1-eux compared to white light irradiation (2
In addition to extremely high sensitivity of -sec or less, the spectral sensitivity is also 800.
Light with a wavelength of nm (up to 2, furthermore (= has a lifetime of 10)
It has the advantage of being able to print 100,000 copies and being essentially non-polluting.
ところが、a−8i悪感光は、暗所での比抵抗が10
Ωαと小さいという欠点がある。たとえば、導電性基
板上(二重なる8iH4,8iH@等のガスのグロー放
電によって水素化アモルファスシリコン(以下、!−8
!;Hと記す)膜を成膜したサンプには、直流のコロナ
帯電を行なっても充分な狭面電位が得られないという問
題がある。そこで、種々の不純物ガスを84H,、8i
l(、等の81を含むガスと混合し、グロー放電を行な
うことによって上記問題を改善する提案がなされている
。However, the specific resistance of the a-8i photosensitive material in the dark is 10
It has the disadvantage of being small, Ωα. For example, hydrogenated amorphous silicon (hereinafter referred to as !-8
! The sump with the film (denoted as H) has a problem in that a sufficient narrow surface potential cannot be obtained even if DC corona charging is performed. Therefore, various impurity gases were added to 84H, 8i.
A proposal has been made to improve the above-mentioned problem by mixing it with a gas containing 81 such as l(, etc.) and performing glow discharge.
現在なされている提案は犬きく分けて2種類有り、その
1つは8iH4等別を含む原料ガス(二歳素(O8)ガ
スとジボラン(ntH@)ガスとを混合することにより
光感度を減少させずに暗抵抗比を大きくするという方法
がある。他の1つはa−8i;H膜−二隣接して基板お
よび表面からa−8i;H膜への電荷の注入を阻止する
ための各種のブロッキング膜を形成する方法がある。こ
\で、ブロッキング膜としては、従来多くの提案がなさ
れてきた。すなわち、Aノ等の導電性基板上に形成され
る高抵抗又は絶縁体のa−8iHC膜又はa −Si
; 0@膜、a−f9iiN膜あるいは十分にポロンを
ドープした2塁のa 8i ; B膜等々である。There are two types of proposals currently being made. One is to reduce photosensitivity by mixing raw material gas (O8) gas containing 8iH4 and diborane (ntH@) gas. There is a method of increasing the dark resistance ratio without causing the a-8i; There are various methods of forming blocking films.Many proposals have been made for blocking films in the past.In other words, high resistance or insulating film formed on a conductive substrate such as A. -8iHC film or a-Si
; 0@ film, a-f9iiN film, or the second base a 8i ; B film sufficiently doped with poron.
しかし、これらのブロッキング膜では、直流のコロナ放
電を行なった際、暗中(二で長時間表面電位が保持され
ないという問題があった。これは、直流のコロナ放電C
二よって正電荷を感光体表面(二付与したとき導電性基
板(二誘起された負電荷が感光体内(二流れ込み、これ
が感光体表面から感光体中へ流れ込んだ正電荷と再び結
合してしまうからである。However, with these blocking films, there was a problem that the surface potential was not maintained for a long time in the dark (2) when direct current corona discharge was performed.
Therefore, when positive charges are applied to the surface of the photoconductor (2), the induced negative charges flow into the photoconductor (2), and this recombines with the positive charges that have flowed into the photoconductor from the surface of the photoconductor (2). It is.
このような現象から正極性の表面電位は減衰してしまい
、充分な表面電位を長時間保持できなくなり、したがっ
て良質の電子写真感光体を得ることが困難であった。Due to such a phenomenon, the positive surface potential is attenuated, making it impossible to maintain a sufficient surface potential for a long time, making it difficult to obtain a high-quality electrophotographic photoreceptor.
本発明は上記事情にもとづいてなされたもので、暗中に
て長時間表面電位を保持することを主たる特徴とし、さ
ら(=光を照射したとき、上記表面電位が速やかに減衰
して消去され、かつ電子写真プロセス(二連用し得る光
導電部材を提供することを目的とする。The present invention has been made based on the above circumstances, and has the main feature of maintaining the surface potential for a long time in the dark, and furthermore, (= when irradiated with light, the surface potential is quickly attenuated and erased, The purpose of the present invention is to provide a photoconductive member that can be used in two electrophotographic processes.
本発明は上記目的を達成するために導電性基板。 The present invention provides a conductive substrate to achieve the above object.
ブロッキング層および光導電性層の層構成(二おいて、
ブロッキング層のうちの少なくとも一層が非晶質炭素(
以下、1−Cと記す)であることを特徴とするものであ
る。Layer configuration of blocking layer and photoconductive layer (2)
At least one of the blocking layers is amorphous carbon (
Hereinafter, it is characterized by being 1-C).
以下、本発明を第1図(;示す一実施例(二もとづいて
説明する。第1図は本発明の電子写真感光体の層構成を
示すものである。この感光体は人!等の導電性基板(1
)上(=ブロッキング層(2)、水素化アモルファスシ
リコン(a−8i;H)光導電性層(3)及びアモルフ
ァス炭化ンリコン(a−8i;C)表面帯電層(4)を
形成して構成される。こ\で、(2−1)は上記導電性
基板(1)上6二種層される非晶質炭素(以下、1−C
と略記する)層で、このa−C層(2−1)は炭素を含
むガス(たとえば、CH,、・・・など)をグロー放電
分解法(二より分解して得られるものであり、a −8
r ; C4(2−2)は後述するa−st;)i層(
3)を上記a−04(2−1)上に積層した際に一層の
界面(二生じるもので、上記a−C層(2−1)とa−
3iHC層(2−2)の両層がブロッキング層(2)と
して優れた特性を示すものである。こ\で、上記a−8
iHH層(3)はSiを含むガス(たとえば、81H,
、8iH,など)を同じくグロー放電分解法により分解
して得られる光導電性層で、この光導電性層(3)は上
記ブロッキング層(2)上(;積層して尤
構成されるが成膜に際しての反応圧力、印加圧力。The present invention will be described below based on an embodiment shown in FIG. sexual substrate (1
) (=blocking layer (2), hydrogenated amorphous silicon (a-8i; H) photoconductive layer (3) and amorphous silicon carbide (a-8i; C) surface charged layer (4) formed. Here, (2-1) is the amorphous carbon (hereinafter referred to as 1-C) layered on the conductive substrate (1).
This a-C layer (2-1) is obtained by decomposing a carbon-containing gas (for example, CH, . a-8
r; C4 (2-2) is a-st;) i layer (described later)
3) is laminated on the above a-04 (2-1), one layer of interface (2) is formed, and the above a-C layer (2-1) and a-
Both layers of the 3iHC layer (2-2) exhibit excellent properties as the blocking layer (2). Here, above a-8
The iHH layer (3) is made of a gas containing Si (for example, 81H,
, 8iH, etc.) by the glow discharge decomposition method, and this photoconductive layer (3) is formed on the blocking layer (2) (although it is formed by laminating Reaction pressure and applied pressure during membrane formation.
基板温度等の条件は前記ブロッキング層(2−1)の場
合と同様の範囲でよい。なお、上記a−8i;H光導電
性層(3)の膜厚は5μmn〜50μmが適当であるが
、さら≦二型ましぐは15μm〜80μm程度とするの
がよい。Conditions such as substrate temperature may be within the same range as for the blocking layer (2-1). The film thickness of the above a-8i;
また、a−8iHC層(4)は表面帯電層である。この
a−8i;04面帯電層(4)は上記a−8i;H光導
電性層(3)上に成膜された高抵抗(10”0画以上)
の膜で、感光体表面Cニコロナ帯電を行なったとき≦;
表表面位を保持するための層である。このa−8i;C
ヌ面帯電層(4)の成膜は前述のSiを含むガス(たと
えば、8iHい8 i 、H@など)とCを含むガス(
たとえば、CH4e CIH,、C,H,など)とを反
応答器内で混合した後、グロー放電分解法により分解す
ればよく、また成膜の際の反応圧力、印加圧力、基板温
度等は前述のブロッキング層(2)及びa−8i;H光
導電性層(3)の場合と同様の範囲で差支えない。Further, the a-8iHC layer (4) is a surface charged layer. This a-8i;04 surface charged layer (4) has a high resistance (10" or more) formed on the above a-8i;H photoconductive layer (3).
When the surface of the photoreceptor is charged with C nicorona with the film ≦;
This is a layer to maintain surface position. This a-8i;C
The formation of the N-plane charged layer (4) is carried out using the aforementioned gas containing Si (for example, 8iH, H@, etc.) and the gas containing C (
For example, CH4e CIH, C, H, etc.) may be mixed in a reactor and then decomposed by a glow discharge decomposition method, and the reaction pressure, applied pressure, substrate temperature, etc. during film formation are as described above. The same range as in the case of the blocking layer (2) and the a-8i;H photoconductive layer (3) may be used.
すなわち、反応圧力としては0.1〜3 tor、が適
当であり、さら(二〇、4〜1 tar、の範囲とする
ことが望ま叱
しい。また、グロー放電分解のための印加圧力としては
50W〜10vが適当であり、さらC100〜500W
の範囲とすることが望ましい。さらに、反応に際しての
基板温度としては150°〜400Cが適当であり、さ
ら(二200°〜goo t:’の範囲とすることが望
ましい。That is, the appropriate reaction pressure is 0.1 to 3 torr, and preferably the range of 20,4 to 1 tar.The applied pressure for glow discharge decomposition is 50W~10v is suitable, and C100~500W
It is desirable that the range be within the range of . Further, the substrate temperature during the reaction is suitably in the range of 150° to 400°C, and more preferably in the range of 2200° to goot:'.
また、上記構成により感光体を形成した場合、a−C層
(2−1)の膜厚はその時性C:及ぼす影響が大きく、
その適当な膜厚は1000λ〜1μmであり、さらに3
000〜5000λが望ましい。この膜厚の範囲を外れ
た場合には良好なブロッキング層(2)を形成すること
ができない。すなわち、1ooo i以下の膜厚になる
と感光体fi[I(二重性が付与されたとき(二基板側
から感光体内へ電荷が注入し阻止できなくなるという理
由(二もとづくものである。また、1000^以下の薄
い膜では膜厚を均一(ニすることが困難となり、所望の
電荷のブロッキングが行なえず、良好な電子写真特性が
得られない。In addition, when a photoreceptor is formed with the above configuration, the film thickness of the a-C layer (2-1) has a large influence on the time C:
The appropriate film thickness is 1000λ to 1μm, and 3
000-5000λ is desirable. If the film thickness is outside this range, a good blocking layer (2) cannot be formed. That is, when the film thickness becomes less than 100 i, the photoconductor fi[I (when duality is imparted (the reason is that charges are injected into the photoconductor from the two substrate side and cannot be blocked) is based on 1000^ If the film is as thin as below, it becomes difficult to maintain a uniform film thickness, and the desired charge blocking cannot be achieved, making it impossible to obtain good electrophotographic properties.
一方、a−siHc層(2−2)は前記したよう(;1
−C層(2−1)の上(二a−st;H光導電性層(3
)を成膜した際C二、この両層の界面C二生成されるも
のであって、この膜の特性は上記a−8i;H光導電性
層(3)と、’−8tiC層(2−2)との成膜条件に
支配される。そこで、効果的な一例を示すと界面層とし
てpmのブロッキング層(2)を設けるようc スレハ
よい。つまり、ブツキング機能をもつ界面層、すA:
b チa−at ; C/I (2−2)をポロンをド
ープすること(二よりP型とすると、本発明の感光体の
ブツキング機能は向上し、特性の安定を図ることが可能
となる。On the other hand, the a-siHc layer (2-2) is as described above (;1
- above the C layer (2-1) (2 a-st; H photoconductive layer (3)
) is formed at the interface C2 between these two layers, and the characteristics of this film are the above a-8i;H photoconductive layer (3) and the '-8tiC layer (2 -2) is controlled by the film forming conditions. Therefore, to give an effective example, it is preferable to provide a PM blocking layer (2) as an interface layer. In other words, the interface layer with the booking function, A:
b Chea-at; By doping C/I (2-2) with poron (by making it P-type), the booking function of the photoreceptor of the present invention can be improved and the characteristics can be stabilized. .
実施例1
衣=1は第1図(ニした構成の電子写真感光体の成膜条
件の一例を示すものである。Example 1 Coating = 1 shows an example of film forming conditions for an electrophotographic photoreceptor having the configuration shown in FIG.
この電子写真感光体は減圧された反応室内に導電性基板
(1)として、アルミニウム製ドラムを載置し、このド
ラムに対向した電極とドラムとの間(二高周波電力を印
加し、反応室内にガスを導入すること(二上って非晶質
膜を成膜する高周波グロー放電CVD法C二よって成膜
される。This electrophotographic photoreceptor is manufactured by placing an aluminum drum as a conductive substrate (1) in a reduced pressure reaction chamber, and applying high frequency power between the drum and the electrode facing the drum. The film is formed by introducing a gas (high frequency glow discharge CVD method C2 to form an amorphous film).
まず、ブロッキング層(2)の成膜は、次のよう:ニし
て行なう。反応室内の圧力を1.5 t o r r、
l二保ち、反応室内にCH,ガスを導入する。このC
H,ガスの流量は11008CCである。同時(;、ド
ラムを280Cに加熱しておき、対向電極とドラムとの
間に400Wの高周波電力を印加する。この状態を維持
することによって厚さ0.5μmのブロッキング層が成
膜される。First, the blocking layer (2) is formed in the following manner. The pressure inside the reaction chamber was set to 1.5 t o r r,
1, and then introduce CH and gas into the reaction chamber. This C
The flow rate of H gas is 11008 CC. At the same time, the drum is heated to 280 C and a high frequency power of 400 W is applied between the counter electrode and the drum. By maintaining this state, a blocking layer with a thickness of 0.5 μm is formed.
次いで、高周波電力の印加を中断し、反応室内C二残存
するガスを排気した後、光導電性層(3)の成膜を行な
う。この場合、原料ガスとして8iH4ガスを反応室内
(二5008CCMの流量で導入し、印加する高周波電
力を800Wとし、反応室内の圧力を1、Otorr*
として前述と同様鴫;成膜を行なう。光導電性層(3)
は厚さ25μm成膜される。同様にして、原料ガスとし
て8 iH,ガスおよびCI(、ガスの混合ガスを用い
、印加する高周波電力を200W、反応室内の圧力を1
.01orr、として表面帯電層(4)の成膜を行なう
。表面帯電層(4)は0.5μm成膜される。この場合
、原料ガスの流量は、8iH4ガスを11008CC%
CH4ガスを500SCCMとし、混合比C)(/8i
H,は500 *である。Next, the application of high frequency power is interrupted, and after exhausting the gas remaining in the reaction chamber, a photoconductive layer (3) is formed. In this case, 8iH4 gas was introduced into the reaction chamber as a raw material gas at a flow rate of 25008 CCM, the applied high frequency power was 800 W, the pressure inside the reaction chamber was 1 Otorr*
Then, film formation is performed in the same manner as described above. Photoconductive layer (3)
is formed to a thickness of 25 μm. Similarly, using a mixed gas of 8 iH gas and CI gas as the raw material gas, the applied high frequency power was 200 W, and the pressure inside the reaction chamber was 1
.. The surface charged layer (4) is formed at a temperature of 01 orr. The surface charged layer (4) is formed to a thickness of 0.5 μm. In this case, the flow rate of the raw material gas is 11008 CC% of 8iH4 gas.
CH4 gas is 500SCCM, mixing ratio C)(/8i
H, is 500*.
なお、ドラムは三層の成膜を通じて280Cに維持され
る。このため、ドラムの中空内部にはヒータが配設され
、ドラム弐面を加熱するようC二なっている。Note that the temperature of the drum was maintained at 280C throughout the three-layer film formation. For this reason, a heater is disposed inside the hollow part of the drum, and is arranged so as to heat the second side of the drum.
以上説明した成膜条件をまとめて表:1に示す。The film forming conditions explained above are summarized in Table 1.
この表:IC:示された成膜条件に従って成膜された電
子写真感光体を試料1とする。This table: IC: Sample 1 is an electrophotographic photoreceptor whose film was formed according to the film forming conditions shown.
職:1
つぎに、第2図は本発明の他の実施例を示す電子写真感
光体の層構成である。この感光体は前記と同じAノ等の
導電性基板(1)上にブロッキング層(5)、ホロンが
ドープされた水素化アモルファスシリコン(a−szH
@))光導電性層(6)及びa−8LHC表面帯電層(
4)を形成して構成される。こ\で、(5−1)は上記
導電性基板(1)上(二種層されたボロンがドープされ
た非晶質炭素(a−CHB)層で、このa−CH8層(
5−1)はCを含むガス(たとえば、CH,、c、H4
,C,H,など)とBを含むガス(たとえば、BtHl
lなど)とを反応容器内で混合した後、グロー放電分解
法(二より分解して得られるものであり、a−81CH
B層(5−2)は後述するa−8iHH中)層(6)を
上記a−CHB層(5−1)上に種層した際に両層の界
面f;生じるもので、上記a−CHB層(5−1’)ト
ホロンをドープしたアモルファス炭化シリコン(a−3
i C= B )層(5−2)の両肩がブロッキング層
(5)としてより優れた特性を示すものである。こ\で
、上記a−sI;H(8)層(6)は別を含むガスをグ
ロー放電分解法C二より分解して得られる光導電性層で
、この光導電性層(6)は上記ブロッキング層(5)の
上に積層されたものである。1. Next, FIG. 2 shows the layer structure of an electrophotographic photoreceptor showing another embodiment of the present invention. This photoreceptor consists of a blocking layer (5) on a conductive substrate (1) made of the same A material as mentioned above, and a hydrogenated amorphous silicon doped with holon (a-szH).
@)) Photoconductive layer (6) and a-8LHC surface charging layer (
4). Here, (5-1) is a boron-doped amorphous carbon (a-CHB) layer (two layers) on the conductive substrate (1), and this a-CH8 layer (
5-1) is a gas containing C (for example, CH, c, H4
, C, H, etc.) and B-containing gases (e.g., BtHl
a-81CH) is mixed in a reaction vessel, and then decomposed using the glow discharge decomposition method (secondary decomposition).
The B layer (5-2) is formed when the a-8iHH layer (6) described later is seeded on the a-CHB layer (5-1), and the interface f between both layers is formed. CHB layer (5-1') Amorphous silicon carbide doped with tophoron (a-3
Both shoulders of the i C=B layer (5-2) exhibit better properties as a blocking layer (5). Here, the above a-sI; It is laminated on the blocking layer (5).
また、a−3iHC層(4)は表面帯電層で、この1−
Bl;Cek面帯面層電層)の成膜は前記同様にSIを
筋ガスとCを含むガスとを反応容器内で混合した後、グ
ロー放電分解法により分解して得られるが、この際のC
を含むガスの流量g (C)とBを含むガスの流量g
(B)との比率g (B)/ g (C)は使用される
ガス(=よって異なり0.1S〜10 %の範囲とする
のがよい。In addition, the a-3iHC layer (4) is a surface charged layer, and this 1-3iHC layer (4) is a surface charged layer.
Bl; Cek surface layer conductive layer) is formed by mixing SI with muscle gas and C-containing gas in a reaction vessel and then decomposing it by glow discharge decomposition method in the same manner as described above. C of
Flow rate g of gas containing (C) and flow rate g of gas containing B
The ratio g (B)/g (C) with (B) varies depending on the gas (=) used and is preferably in the range of 0.1S to 10%.
また、上記a−CHB層(5−1)の膜厚は前記同様に
1000 A〜1μmが適当であり、さらC二aoo。Further, the thickness of the a-CHB layer (5-1) is suitably 1000 A to 1 μm as described above, and C2aoo.
〜5000人とするのが望ましい。It is desirable to have ~5,000 people.
一方、B−8iCgB層(5−2)は前記したように1
−CAB層(5−1)の上(二a−szH(B)光導電
性層(6)を成膜した際C二、この両層の界面1;生成
されるものであって、導電性基板(1)上の1−C;・
B層(5−1>中のBがこの界面層に拡散することによ
り、この層はP型のブロッキング層(5)となっている
。すなわち、この例では第1のブロッキング層としてa
−can層(5−1) 、第2のブロッキング層として
P型のa−8iCHB層(5−2)の二層を有し、良好
なブロッキング特性が得られるものである。On the other hand, the B-8iCgB layer (5-2) is 1
- When the photoconductive layer (6) is formed on the CAB layer (5-1) (C2, the interface 1 between these two layers); 1-C on the substrate (1);・
By diffusing B in layer B (5-1> to this interface layer, this layer becomes a P-type blocking layer (5). In other words, in this example, a is used as the first blocking layer.
It has two layers: a -can layer (5-1) and a P-type a-8iCHB layer (5-2) as a second blocking layer, and good blocking properties can be obtained.
このブロッキング層(5)は一実施例で示すブロッキン
グ層(2)、すなわち第1のブロッキング層としてのa
−CIfi(2−1)および第2のブロッキング層とし
てのa−8L;0層(2−2)の二層をもった感光体と
比べて帯電能(−優れているという利点がある。This blocking layer (5) is the same as the blocking layer (2) shown in one embodiment, i.e. a as the first blocking layer.
It has the advantage of superior charging performance (-) compared to a photoconductor having two layers: -CIfi (2-1) and a-8L;0 layer (2-2) as the second blocking layer.
つぎ(二、上記a−8iHH(B)層(6)は光導電性
層で、この光導電性層(6)は前述したようにSiを含
むガスをグロー放電分解法により分解して得られるが、
この際成膜直後はa−8i;H層であるが時間の経過と
ともに第2のブロッキング層C;含まれているBが拡散
するため、Bをドープした。−81;H(B)74 (
6)となるのである。このa−8i;H(B)光導″磁
性層(6)はBのドープ(二より膜の剥離やクラック等
が発生しないという長所を有している。Next (2) The above a-8iHH (B) layer (6) is a photoconductive layer, and this photoconductive layer (6) is obtained by decomposing a gas containing Si by a glow discharge decomposition method as described above. but,
At this time, immediately after the film was formed, it was an a-8i; H layer, but as time passed, B contained in the second blocking layer C diffused, so B was doped. -81;H(B)74 (
6). This a-8i;H(B) light-guiding magnetic layer (6) is doped with B (it has the advantage that peeling or cracking of the film does not occur due to the double layer).
さらに、a−8i;CIfi(4)は前記同線の表面帯
電層で、使用するガス、膜厚、特性等は一実施例と同様
である。また、Bの拡散に対しては上記1−8i;C表
面帯電層(4)(二まで届くことはない。Furthermore, a-8i; CIfi (4) is the surface charged layer of the same line as described above, and the gas used, film thickness, characteristics, etc. are the same as in the first embodiment. Further, regarding the diffusion of B, it does not reach the above 1-8i; C surface charged layer (4) (2).
実凡例2
表=2は第2図C二示した構成の電子写真感光体の成膜
条件の一例を示すものである。表=1に示した成膜例と
同様(二、高周波グロー放′峨CVD法(二上り成膜を
行なう。成膜手順は、表:1の例と同様であるので詳述
しない。この表=2の成膜条件C二層って成膜した電子
写真感光体を試料2とする。Legend 2 Table 2 shows an example of film forming conditions for the electrophotographic photoreceptor having the structure shown in FIG. Same as the film formation example shown in Table 1 (2. High frequency glow radiation CVD method (2-up film formation). The film formation procedure is the same as the example in Table 1, so it will not be described in detail. Sample 2 is an electrophotographic photoreceptor in which a two-layer film is formed under the film forming condition C of =2.
(以下余白)
表: 2
実施例3
戎:8は比較例として、従来のブロッキング層トシてア
モルファス炭化シリコン膜を用いたX子写真感光体の成
膜条件の一例を示すものである。(Leaving space below) Table: 2 Example 3 Table 8 shows, as a comparative example, an example of film forming conditions for an X-ray photoreceptor using an amorphous silicon carbide film as a conventional blocking layer.
この電子写真感光体はアルミニウム襄ドクムの表面にア
モルファス炭化シリコン膜であるブロッキング4 、水
素化アモルファスシリコン膜である光導電性ノーおよび
アモルファス炭化シリコン膜である表面帯電層を順次成
膜したものである。この成膜もfi:1i二示した試料
1と同様(二、高周波グロー放’4cvo法により成膜
する。この成膜された電子写真感光体を試料8とする。This electrophotographic photoreceptor has an amorphous silicon carbide film blocking 4, a hydrogenated amorphous silicon film photoconductive layer, and an amorphous silicon carbide film surface charging layer formed on the surface of an aluminum sheet. . This film was also formed by the high frequency glow emission '4cvo method, similar to Sample 1 shown in FIG.
貴=8
そこで、このよう(二成膜された試料1.2および3
Cついて電子写真特性の評価を行なったところ、狭:4
および表:5に示す結果が得られた。Therefore, as shown below (two deposited samples 1.2 and 3)
When the electrophotographic characteristics of C were evaluated, narrowness: 4
The results shown in Table 5 were obtained.
或: 4
表: 5
上記表:4から明らかなようC二、本発明による試料l
および試料2は、従来の試料3と比較して初期の次面電
位(二優れ、さら(:15秒後の電位保持率も良好であ
る。また、感度すなわち表面電位500 V時の半減露
光量についても本発明(二よる試料1および試料2は優
れており、十分実用≦二供し得るものである。Or: 4 Table: 5 As is clear from the above Table: 4, C2, sample l according to the present invention
Compared with the conventional sample 3, sample 2 has an initial subsurface potential (2 excellent) and a good potential retention rate after 15 seconds. Samples 1 and 2 according to the present invention are also excellent and can be used for practical use.
また、戎:5から明らかなように、本発明(二よる試料
1および試料2は電子写真プロセス(二よる繰返し使用
に対しても、表面電位の低下が非常に少なく、さらに同
様の繰返し試験を感度(二ついて行なった場合でも良好
な結果が得られている。In addition, as is clear from Section 5, Samples 1 and 2 based on the present invention showed very little decrease in surface potential even after repeated use in the electrophotographic process (2), and they were further tested in similar repeated tests. Sensitivity (Good results were obtained even when two were used.
また、機には示していないが低温10 C〜高温(資)
Cおよび低湿RH20%〜高温RH90%の範囲で上述
の電子写真特性には殆んど変化が見られなかった。さら
6二、本発明による試料1および試料2を電子写真複写
機およびレーザプリンタに装填して画像形成を行なった
結果、非常(二良好な画像が得られ、また温度や湿度の
救化に対しても画像の鮮明さC二変化が見られなかった
。Also, although not shown on the machine, low temperature 10 C to high temperature (capital)
Almost no change was observed in the electrophotographic properties described above in the range of C and low humidity RH 20% to high temperature RH 90%. Furthermore, as a result of loading Samples 1 and 2 according to the present invention into an electrophotographic copying machine and a laser printer and forming images, very good images were obtained, and the results showed that samples 1 and 2 according to the present invention were loaded into an electrophotographic copying machine and a laser printer, and very good images were obtained. However, no change in image clarity was observed.
以上説明したように本発明(:よれば導電性基板。 As explained above, the present invention (according to the conductive substrate).
ブロッキング層および光導電性層の層構成≦:おいて、
ブロッキング層のうちの少なくとも一層が非晶質炭素で
成膜したことC二より、電子写真感光体として使用した
場合に良好な画像を形成することができるという優れた
効果を奏するものである。Layer configuration of blocking layer and photoconductive layer ≦:
Since at least one of the blocking layers is made of amorphous carbon, it has an excellent effect of being able to form good images when used as an electrophotographic photoreceptor.
第1図は本発明の一実施例を示す光導電部材の模式的構
成図、第2図は他の実施例を示す光導電部材の模式的構
成図である。
1・・・導電性基板 2.5・・・ブロッキング層8
・・・光導電性層 4・・・表面帯電層6・・・光導
電性層
代理人 弁理士 井 上 −男
第 1 図
第 2 図FIG. 1 is a schematic structural diagram of a photoconductive member showing one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic structural diagram of a photoconductive member showing another embodiment. 1... Conductive substrate 2.5... Blocking layer 8
...Photoconductive layer 4...Surface charged layer 6...Photoconductive layer agent Patent attorney Mr. Inoue Figure 1 Figure 2
Claims (5)
との間にブロッキング層が少なくとも一層以上設けられ
た光導電部材において、前記ブロッキング層のうち少な
くとも一層が非晶質炭素であることを特徴とする光導電
部材。(1) In a photoconductive member in which at least one blocking layer is provided between a conductive substrate and a photoconductive layer made of amorphous silicon, at least one of the blocking layers is amorphous carbon. A photoconductive member characterized by:
を10atomicppm〜10atomic%の比率
でドーピングしたことを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の光導電部材。(2) Claim 1, characterized in that the blocking layer made of amorphous carbon is doped with a group IIa element at a ratio of 10 atomic ppm to 10 atomic %.
The photoconductive member described in .
求の範囲第2項記載の光導電部材。(3) The photoconductive member according to claim 2, wherein the Group IIa element is boron.
000Å〜1μmであることを特徴とする特許請求の範
囲第1項または第2項記載の光導電部材。(4) The thickness of the blocking layer made of amorphous carbon is 1,
The photoconductive member according to claim 1 or 2, wherein the photoconductive member has a thickness of 000 Å to 1 μm.
ブロッキング層の上に非晶質シリコンからなる光導電性
層を積層することによりこの両層の界面に非晶質炭化シ
リコン層または硼素を含む非晶質炭化シリコン層または
硼素を含む非晶質炭化シリコン層が生成されることを特
徴とする特許請求の範囲第2項、第3項あるいは第4項
のいずれかに記載の光導電部材。(5) By laminating a photoconductive layer made of amorphous silicon on a blocking layer made of amorphous carbon or amorphous carbon containing boron, an amorphous silicon carbide layer or The light according to any one of claims 2, 3, or 4, wherein an amorphous silicon carbide layer containing boron or an amorphous silicon carbide layer containing boron is produced. conductive member.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59248763A JPS61128252A (en) | 1984-11-27 | 1984-11-27 | Photoconductive member |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59248763A JPS61128252A (en) | 1984-11-27 | 1984-11-27 | Photoconductive member |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61128252A true JPS61128252A (en) | 1986-06-16 |
Family
ID=17183009
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59248763A Pending JPS61128252A (en) | 1984-11-27 | 1984-11-27 | Photoconductive member |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61128252A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6346467A (en) * | 1986-08-14 | 1988-02-27 | Fuji Xerox Co Ltd | Electrophotographic sensitive body |
| JPS63197956A (en) * | 1987-02-10 | 1988-08-16 | Fujitsu Ltd | Electrophotographic sensitive body |
-
1984
- 1984-11-27 JP JP59248763A patent/JPS61128252A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6346467A (en) * | 1986-08-14 | 1988-02-27 | Fuji Xerox Co Ltd | Electrophotographic sensitive body |
| JPS63197956A (en) * | 1987-02-10 | 1988-08-16 | Fujitsu Ltd | Electrophotographic sensitive body |
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