JPS6114836A - 加工位置の座標系補正装置 - Google Patents
加工位置の座標系補正装置Info
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- JPS6114836A JPS6114836A JP13497384A JP13497384A JPS6114836A JP S6114836 A JPS6114836 A JP S6114836A JP 13497384 A JP13497384 A JP 13497384A JP 13497384 A JP13497384 A JP 13497384A JP S6114836 A JPS6114836 A JP S6114836A
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- Japan
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- center
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- machining
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- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Program-control systems
- G05B19/02—Program-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form
- G05B19/182—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form characterised by the machine tool function, e.g. thread cutting, cam making, tool direction control
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/34—Director, elements to supervisory
- G05B2219/34092—Polar interpolation
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/36—Nc in input of data, input key till input tape
- G05B2219/36503—Adapt program to real coordinates, software orientation
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Automatic Control Of Machine Tools (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
- Numerical Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ＮＣ旋盤やドリリングマシンなどの工作機械
における加工位置の座標系補正装置に関し、特に、ワー
ク円周上に配列された複数の小穴などを高精度に加工す
るため極座標系で加工ヘッドを制御する工作機械に・好
適な座標系補正装置に関するものである。
′″ 従来り、Ｘ軸、Ｃ軸（回転軸）、およびＺ軸の３軸制御
されるマシニングセンタも、回動可能なテーブル上にワ
ー°りを載置し、ワーク円周上に配列された複数、の小
孔を高精度に加工するためには、テーブルの前記回動中
心とワーク中心および主軸中心とを正確に一敗させて載
置しなければ、テーブルの回動だけで小孔などの被加工
位置を加工ヘッドの直下へ位置決めすることにならず、
取付精度の向上が要求され、フィクスチュア機構が複雑
かつコスト高になり更に主軸中心の経時変化も相俟って
、しかも、完全に正確な一敗は期し難いという問題があ
った。
における加工位置の座標系補正装置に関し、特に、ワー
ク円周上に配列された複数の小穴などを高精度に加工す
るため極座標系で加工ヘッドを制御する工作機械に・好
適な座標系補正装置に関するものである。
′″ 従来り、Ｘ軸、Ｃ軸（回転軸）、およびＺ軸の３軸制御
されるマシニングセンタも、回動可能なテーブル上にワ
ー°りを載置し、ワーク円周上に配列された複数、の小
孔を高精度に加工するためには、テーブルの前記回動中
心とワーク中心および主軸中心とを正確に一敗させて載
置しなければ、テーブルの回動だけで小孔などの被加工
位置を加工ヘッドの直下へ位置決めすることにならず、
取付精度の向上が要求され、フィクスチュア機構が複雑
かつコスト高になり更に主軸中心の経時変化も相俟って
、しかも、完全に正確な一敗は期し難いという問題があ
った。
第１図は、立形マシニングセンタの側面図である０図に
おいて、加工作業は、ペッドＤに回動可能に取付けられ
たテーブルＴにワークＷを載置し、ベンドＤに付設され
たコラムＬに上下動可能に取付けられた加工ヘッドＺの
スピンドルＨに挿着されたツールにより実施される。ス
ピンドルＨに取付けられるツールはマガジンＭからＡＴ
Ｃ（図示せず）を介して自動的に交換可能であり、ワー
クなどの計測に際しては、タッチセンサをマガジンＭか
ら呼出して取付けることもできる。第２図（イ）および
（υ）は、ワークの載置状態を示す平面および側面図で
、ワークＷは、回動可能なテーブルＴのベースＢに、フ
ィクチュアＦにより固定され、テーブルＴの回動動作に
連動する。ここで問題とするのに好適な加工作業の一例
は、図（イ）に示されるように、円形のワークＷの中心
Ｃに対して同心円状に配列された被加工位置Ｐ＋ 、Ｐ
ａ、。
おいて、加工作業は、ペッドＤに回動可能に取付けられ
たテーブルＴにワークＷを載置し、ベンドＤに付設され
たコラムＬに上下動可能に取付けられた加工ヘッドＺの
スピンドルＨに挿着されたツールにより実施される。ス
ピンドルＨに取付けられるツールはマガジンＭからＡＴ
Ｃ（図示せず）を介して自動的に交換可能であり、ワー
クなどの計測に際しては、タッチセンサをマガジンＭか
ら呼出して取付けることもできる。第２図（イ）および
（υ）は、ワークの載置状態を示す平面および側面図で
、ワークＷは、回動可能なテーブルＴのベースＢに、フ
ィクチュアＦにより固定され、テーブルＴの回動動作に
連動する。ここで問題とするのに好適な加工作業の一例
は、図（イ）に示されるように、円形のワークＷの中心
Ｃに対して同心円状に配列された被加工位置Ｐ＋ 、Ｐ
ａ、。
・・・Ｐ、に孔径！の小孔を穿設しようとする場合て、
被加工位置と加工ヘッドの加工位置とは完全に一敗し、
テーブルＴを回動させるだけで、被加工位置を加工ヘッ
ド）■に対して位置決めされ、容易に制御できるが、実
際には、前記フィクスチュアＦの精度の問題などもあっ
て、ワーク中心とテーブル中心とは正確には一敗しない
、そのため、加工の精度は向上せず、また、このズレを
単なる位置のズレとして処理しようとしたのでは、極座
標のため、やはり精度の低下は免れなかった。
被加工位置と加工ヘッドの加工位置とは完全に一敗し、
テーブルＴを回動させるだけで、被加工位置を加工ヘッ
ド）■に対して位置決めされ、容易に制御できるが、実
際には、前記フィクスチュアＦの精度の問題などもあっ
て、ワーク中心とテーブル中心とは正確には一敗しない
、そのため、加工の精度は向上せず、また、このズレを
単なる位置のズレとして処理しようとしたのでは、極座
標のため、やはり精度の低下は免れなかった。
本発明の目的は、上記の問題点に鑑みて、テーブル側の
中心とワーク側の中心のｌｋ／Ｊ々ズレは避 。
中心とワーク側の中心のｌｋ／Ｊ々ズレは避 。
けられなくても、そのズレを芯出し計測し、座標系の相
違を補正して、円周加工位置に対する高精度な加工を低
コストで実用化しようとするものである。
違を補正して、円周加工位置に対する高精度な加工を低
コストで実用化しようとするものである。
本発明は、上記の目的を達成するために、ワーク中心と
テーブルの回動中心のズレを直角座標で検出するワーク
芯出し計測手段と、その計測値を芯出し補正量として一
時格納する記憶手段′と、各被加工位置のデータに前記
芯出し補正量を加算し、算出された直角座標値を前記回
動中心からの極座標値に換算する演算手段と、その算出
値を使用してテーブルを回動させ、加工ヘッドの位置を
修正させる順次加工指示を発する中央制御手段とを備え
ることを特徴とする。
テーブルの回動中心のズレを直角座標で検出するワーク
芯出し計測手段と、その計測値を芯出し補正量として一
時格納する記憶手段′と、各被加工位置のデータに前記
芯出し補正量を加算し、算出された直角座標値を前記回
動中心からの極座標値に換算する演算手段と、その算出
値を使用してテーブルを回動させ、加工ヘッドの位置を
修正させる順次加工指示を発する中央制御手段とを備え
ることを特徴とする。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
第３図は、本発明を実施した加工位置座標系補正装置の
一例を示す概略構成図である。同図において、加工位置
座標系補正装置は、中央制御手段（ＣＰ Ｕ、今後はＣ
ＰＵと略称する） １と、ワーク芯出し計測手段又と、
記憶手段ユと、演算段まとを備え、更に、ＣＰＵＩから
のメインバス１１には、加工位置などのデータを入力す
る情報入力手段上と、ワークに対する加工ヘッドの位置
決めをするモータ制御手段工とが接続されている。
一例を示す概略構成図である。同図において、加工位置
座標系補正装置は、中央制御手段（ＣＰ Ｕ、今後はＣ
ＰＵと略称する） １と、ワーク芯出し計測手段又と、
記憶手段ユと、演算段まとを備え、更に、ＣＰＵＩから
のメインバス１１には、加工位置などのデータを入力す
る情報入力手段上と、ワークに対する加工ヘッドの位置
決めをするモータ制御手段工とが接続されている。
第４図は、上記の座標系補正装置を備えたドリリングマ
シンによる加工手順の一例を示すフローチャートである
。同図において、手順の第１段とし、てはワーク芯出し
手順（ｒｌ）を前記ワーク芯出し１演１手段によって実
施し、次に、第２段として小孔加］゛手順（１１）を記
憶手段３からの補正量により演算手段４オｉよびモータ
制御手段６を介して実施する０手順の第３段である孔計
測手順（ＩＩＩ）以降は、加工結果の検査であり、孔径
が正しければＯＫ、小さ過ぎれば再加工、大き過ぎれば
不良品発生となる。
シンによる加工手順の一例を示すフローチャートである
。同図において、手順の第１段とし、てはワーク芯出し
手順（ｒｌ）を前記ワーク芯出し１演１手段によって実
施し、次に、第２段として小孔加］゛手順（１１）を記
憶手段３からの補正量により演算手段４オｉよびモータ
制御手段６を介して実施する０手順の第３段である孔計
測手順（ＩＩＩ）以降は、加工結果の検査であり、孔径
が正しければＯＫ、小さ過ぎれば再加工、大き過ぎれば
不良品発生となる。
次に、前記手順の各段について説明する。。
第５図は、本発明に使用されるワーク芯出し手順の一例
を示すフローチャートである。同図において、定数設定
としては、タッチセッサの長さ、そのプロー”ブの直径
およびタッチセンサのツール番号などが入力され、座標
系の設定としては、タッチセッサが移動する規準になる
ようにテーブル上の仮想点を想定し、直交２軸座標が設
定された□ のち、マガジンからタッチセンサを呼び出
して、前記のように、主軸端へ取付ける。計測は、第６
図（イ）に示すように、設定されたＸ軸に沿って、ワー
クの外周へＸプラス側からとＸマイナス側からと接触さ
せ、しかも、そのそれぞれについてプローブを１８０度
旋旋回せて、計測値へ＋＋Ａ寞＋Ｂ１．およびＢ茸を得
る。更に、テーブルを１８０度回動させて、同様に計測
値Ａｓ 、Ａｍ 、Ｂｓ。
を示すフローチャートである。同図において、定数設定
としては、タッチセッサの長さ、そのプロー”ブの直径
およびタッチセンサのツール番号などが入力され、座標
系の設定としては、タッチセッサが移動する規準になる
ようにテーブル上の仮想点を想定し、直交２軸座標が設
定された□ のち、マガジンからタッチセンサを呼び出
して、前記のように、主軸端へ取付ける。計測は、第６
図（イ）に示すように、設定されたＸ軸に沿って、ワー
クの外周へＸプラス側からとＸマイナス側からと接触さ
せ、しかも、そのそれぞれについてプローブを１８０度
旋旋回せて、計測値へ＋＋Ａ寞＋Ｂ１．およびＢ茸を得
る。更に、テーブルを１８０度回動させて、同様に計測
値Ａｓ 、Ａｍ 、Ｂｓ。
およびＢ４を得れば、合計８点当りで、Ｙ軸に沿った芯
出し補正１ｉａは計測される。ワークＷの中心がテーブ
ル中心よりもプラス側にある時の補正量をａＯとし、１
８０度回動させてマイナス側にな−だ時の補正用をａ□
とすれば、 ａ ■＝（八 、 ＋Ｒ，＋Ａ、 ＋Ｂ、 ）
＋４− （１）ａ○＝ （八、→−Ｂ３ ”Ａａ
’＋Ｂａ ）” ４−＋２）（１１，＋２１よりａ ＝
（ａ○＋ａ□）＋２同様に、Ｙ軸Ｇこ沿って計測も、
プローブをＹ軸に沿って接触させるか、テーブルを９０
度回動させて前記計測を繰返しプローブを１８０度回動
さセて計測値Ｃ＋ 、Ｃｚ 、Ｃ＋ 、Ｄｚを得る。更
に、テーブルを１８０°回動させて、同様に計測値Ｃ３
゜Ｃａ、ＤｓおよびＢ４を得れば、合計８点当たりで、
Ｙ軸に沿った芯出し補正量 すの−（Ｃ＋ ＋Ｄ１ ＋Ｃ１＋ｐ冨）＋４・・・（３
）ｂｅ−（Ｃ３＋Ｄ！ ＋Ｃａ ＋ＤＩ ）＋４・１３
）１３１、 （４１，ｋ リｂ −（ｂΦ＋ｂｅ）＋２
をｍ４．＝とがでのる。
出し補正１ｉａは計測される。ワークＷの中心がテーブ
ル中心よりもプラス側にある時の補正量をａＯとし、１
８０度回動させてマイナス側にな−だ時の補正用をａ□
とすれば、 ａ ■＝（八 、 ＋Ｒ，＋Ａ、 ＋Ｂ、 ）
＋４− （１）ａ○＝ （八、→−Ｂ３ ”Ａａ
’＋Ｂａ ）” ４−＋２）（１１，＋２１よりａ ＝
（ａ○＋ａ□）＋２同様に、Ｙ軸Ｇこ沿って計測も、
プローブをＹ軸に沿って接触させるか、テーブルを９０
度回動させて前記計測を繰返しプローブを１８０度回動
さセて計測値Ｃ＋ 、Ｃｚ 、Ｃ＋ 、Ｄｚを得る。更
に、テーブルを１８０°回動させて、同様に計測値Ｃ３
゜Ｃａ、ＤｓおよびＢ４を得れば、合計８点当たりで、
Ｙ軸に沿った芯出し補正量 すの−（Ｃ＋ ＋Ｄ１ ＋Ｃ１＋ｐ冨）＋４・・・（３
）ｂｅ−（Ｃ３＋Ｄ！ ＋Ｃａ ＋ＤＩ ）＋４・１３
）１３１、 （４１，ｋ リｂ −（ｂΦ＋ｂｅ）＋２
をｍ４．＝とがでのる。
即ち、これらの計測値Ａ＋ 、Ａｓ 、Ｃ＋ 、Ｃｓを
α＋ 、Ａｔ 、 Ａａ 、 Ｃｔ 、Ｃａをα８．Ｂ
１Ｂｓ、Ｄｔ、Ｄｓをαｓ 、Ｂｚ 、 Ｂａ 、 Ｄ
ｔ 、 Ｄａをα４としてＲＡＭ３１からＲＡＭ３４に
格納される。
α＋ 、Ａｔ 、 Ａａ 、 Ｃｔ 、Ｃａをα８．Ｂ
１Ｂｓ、Ｄｔ、Ｄｓをαｓ 、Ｂｚ 、 Ｂａ 、 Ｄ
ｔ 、 Ｄａをα４としてＲＡＭ３１からＲＡＭ３４に
格納される。
つぎに演算器３５で平均値
（α、＋α、＋α、＋α４）＋４が算出され、ワークが
０°の場合と１８０°旋回後の中心位置の計算結果がβ
Φ、βｅとしてＲＡＭ３６．３７に格納される。
０°の場合と１８０°旋回後の中心位置の計算結果がβ
Φ、βｅとしてＲＡＭ３６．３７に格納される。
つづいて、演算器３８で
（βΦ＋βＯ）＋２
よりワークの中心位置Ｃ８が算出されると、該中心位置
に対するズレ量即ちＸ軸上の補正値ａは演算器３９で βΦ−Ｇ より得られ、Ｙ軸に対する補正（！Ｉｂはテーブルを９
０°旋回しＸ軸上で座標系シフトにより求めることがで
きる。
に対するズレ量即ちＸ軸上の補正値ａは演算器３９で βΦ−Ｇ より得られ、Ｙ軸に対する補正（！Ｉｂはテーブルを９
０°旋回しＸ軸上で座標系シフトにより求めることがで
きる。
そしてこれらの補正量ａ、ｂはＲＡＭ４０．４１に格納
される。
される。
原点設定が終ると、タッチセッサはマガジンに返還され
てＡ’ｒＣ（自動工具交換手段）状態に復ターする。
てＡ’ｒＣ（自動工具交換手段）状態に復ターする。
さて、第３図におりる情報入力手段５から加工データが
入力され、被加工位置の敗Ｎ、被加工位置を連ねる円周
ヘーク中心Ｃ４からの半径Ｒなどが得られると、各被加
工位置のワーク中心Ｃ＋を原点とする直角圧＋１（ａは
、次のように演算される。
入力され、被加工位置の敗Ｎ、被加工位置を連ねる円周
ヘーク中心Ｃ４からの半径Ｒなどが得られると、各被加
工位置のワーク中心Ｃ＋を原点とする直角圧＋１（ａは
、次のように演算される。
Ｙ軸から反時間廻り方向にｎ番目の被加工位置Ｐｎの直
角座標値ｘ７ ′およびｙ’ａは、Ｙ軸からの口偏位各
αｎを、αｎ−α×ｎ、（α−３６０／Ｎ ）として、 ｘ ’ｎ ＝Ｒｃｏｓ （αＸｎ） ｙ ’ｎ −Ｒｓｉｎ （ｃｒｘｎ） となる、この直角座標値は、演算手段４のＲＡＭ４０．
４１から補正量ａ、ｂを跣み出して、次のように座ＭＩ
値を補正する。なお、２つのＲＡＭ３６．３７からの数
値βΦ、とβｅは、演算器３３で加算ののち２等分され
てワーク中心Ｃｔが算出され、演算器３９てテーブル回
動中心Ｇ！とのＸ、Ｙ方向の差ａ、ｂがそれぞれ補正量
とし°ζ出力される。
角座標値ｘ７ ′およびｙ’ａは、Ｙ軸からの口偏位各
αｎを、αｎ−α×ｎ、（α−３６０／Ｎ ）として、 ｘ ’ｎ ＝Ｒｃｏｓ （αＸｎ） ｙ ’ｎ −Ｒｓｉｎ （ｃｒｘｎ） となる、この直角座標値は、演算手段４のＲＡＭ４０．
４１から補正量ａ、ｂを跣み出して、次のように座ＭＩ
値を補正する。なお、２つのＲＡＭ３６．３７からの数
値βΦ、とβｅは、演算器３３で加算ののち２等分され
てワーク中心Ｃｔが算出され、演算器３９てテーブル回
動中心Ｇ！とのＸ、Ｙ方向の差ａ、ｂがそれぞれ補正量
とし°ζ出力される。
第６図（Ｉ＋）は、座標値演算の幾何学的関係を説明す
る平面図である０図に示されるように、前記直角座標値
Ｘイ′およびｙゎ′に芯出し補正量ａおよびｂを補正す
ると、被加工位置Ｐｎのテーブル回動中心Ｃ８を原点と
する直角座標値ＸｎおよびＹｎは、（この演算のｘｓ
’、）”ｅの交換は極／直角回路４１で行なわれる。
る平面図である０図に示されるように、前記直角座標値
Ｘイ′およびｙゎ′に芯出し補正量ａおよびｂを補正す
ると、被加工位置Ｐｎのテーブル回動中心Ｃ８を原点と
する直角座標値ＸｎおよびＹｎは、（この演算のｘｓ
’、）”ｅの交換は極／直角回路４１で行なわれる。
）
Ｘｎ＝ａ ＋ｘ１１’−ａ ＋Ｒｃｏｓ （αｘｎ）Ｙ
ｎ＝ｂ＋ｙｌｌ ’−ｂ＋Ｒｓｉｎ （αｘｌ）であり
、これをテーブル回動中心Ｃ！からの極座標に換算する
と、 Ｒｎ−、／Ｘｎ ＋Ｙｎ Ｑ ｎ ＝ ｊａｎ −’ （（ｂ＋Ｒ５１ｎ（
αＸｎ）） ／（ａ＋Ｒｃｏｓ （＆＋ｎ）））に
なる、この演算は直角／掻回路４２で行なわれＣＰＬＩ
１に送られる。
ｎ＝ｂ＋ｙｌｌ ’−ｂ＋Ｒｓｉｎ （αｘｌ）であり
、これをテーブル回動中心Ｃ！からの極座標に換算する
と、 Ｒｎ−、／Ｘｎ ＋Ｙｎ Ｑ ｎ ＝ ｊａｎ −’ （（ｂ＋Ｒ５１ｎ（
αＸｎ）） ／（ａ＋Ｒｃｏｓ （＆＋ｎ）））に
なる、この演算は直角／掻回路４２で行なわれＣＰＬＩ
１に送られる。
第７図は、小孔加工手順の一例を示すフローチャートで
、上記の座標値演算で変換された極座標値を使用して、
テーブルをＱｎ［ｉ７動させては加工ヘッドのＸ軸位置
をＲｎに位置決めすることにより、所定の工具を使用し
てワークＷに穿孔作業を実施し、これをＮ個分ループし
て加工し手順を終了ひする。
、上記の座標値演算で変換された極座標値を使用して、
テーブルをＱｎ［ｉ７動させては加工ヘッドのＸ軸位置
をＲｎに位置決めすることにより、所定の工具を使用し
てワークＷに穿孔作業を実施し、これをＮ個分ループし
て加工し手順を終了ひする。
、 最後に、加工作業の結果を、本実施例で使用した極
座標系をそのまま使用して検査する孔径計測手順を説明
する。第８図は、その孔径計測手順の一例を示すフロー
チャートであり、第９図は、その幾何学的関係を示す平
面図である０両図において、孔径計測手順は、まず測定
しようとするワークＷの小孔へタッチセンサのプローブ
Ｐを挿入し、小孔の内縁が回動の進行方向端で該プロー
ブＰに接するテーブル極座標値Ｑ１と、同様に回動の後
退方向端で接するＱｌとを求める。この両値が得られる
と、小孔の中心の極座標値ＱｓがＱｌ ｗ （Ｑｌ −
Ｑｌ ） ＋２ として得られるので、テーブルを回動し、小孔の中心と
タッチセッサとをＸ軸上に合わせる０次にプローブをＸ
輪に沿って移動し、小孔の内縁にタッチする座標を左右
それぞれに検出すると、プローブの直径がｄであれば、
小孔の直角りはＤ−ｄ＋ （右タフチー左タッチ） として検出される。このＤを、指定データの花糸！と比
較して、検査を実施することができる。
座標系をそのまま使用して検査する孔径計測手順を説明
する。第８図は、その孔径計測手順の一例を示すフロー
チャートであり、第９図は、その幾何学的関係を示す平
面図である０両図において、孔径計測手順は、まず測定
しようとするワークＷの小孔へタッチセンサのプローブ
Ｐを挿入し、小孔の内縁が回動の進行方向端で該プロー
ブＰに接するテーブル極座標値Ｑ１と、同様に回動の後
退方向端で接するＱｌとを求める。この両値が得られる
と、小孔の中心の極座標値ＱｓがＱｌ ｗ （Ｑｌ −
Ｑｌ ） ＋２ として得られるので、テーブルを回動し、小孔の中心と
タッチセッサとをＸ軸上に合わせる０次にプローブをＸ
輪に沿って移動し、小孔の内縁にタッチする座標を左右
それぞれに検出すると、プローブの直径がｄであれば、
小孔の直角りはＤ−ｄ＋ （右タフチー左タッチ） として検出される。このＤを、指定データの花糸！と比
較して、検査を実施することができる。
以上、説明したとおり、本発明によれば、テーブル側の
中心とワーク側の中心とに微小なズレが存在しても、そ
のズレを芯出し計測し、座標系の相違を補正して、すべ
ての作業をテーブルの回動中心からの極座標で処理でき
ることになり、円周加工位置に対する高精度な加工を容
品に実施可能とし、フィクスチェア部分の余分なコスト
を省くと共に操作の迅速化と合理化をも実現する優れた
効果を発揮するものである。
中心とワーク側の中心とに微小なズレが存在しても、そ
のズレを芯出し計測し、座標系の相違を補正して、すべ
ての作業をテーブルの回動中心からの極座標で処理でき
ることになり、円周加工位置に対する高精度な加工を容
品に実施可能とし、フィクスチェア部分の余分なコスト
を省くと共に操作の迅速化と合理化をも実現する優れた
効果を発揮するものである。
第１図はドリリングマシンの側面図、第２図はワークの
載置状態を示す平面図および側面図、第３図は本発明の
座標系補正装置の概略構成図、第゛４図、第５図、第７
図および第８図は本発明の詳細な説明するフローチャー
ト、第６図および第９図は本発明を幾何学的に説明する
平面図である。 １・・・ＣＰＬＪ ２・・・ワーク芯出し計測
手段３・・・記憶手段 ４・・・演算手段５・・・
情報入力手段 ６・・・モータ制御手段Ｗ・・・ワーク
Ｔ・・・テーブル■１・・・加工ヘソド Ｐ
＋ 、’Ｐ ｘ〜Ｐ、・・・加工位置。 特許出願人 日立精機株式会社 （ダ） １′／ａ
）第４図 第５図 一２弼− 矛７ｒｌｌ
載置状態を示す平面図および側面図、第３図は本発明の
座標系補正装置の概略構成図、第゛４図、第５図、第７
図および第８図は本発明の詳細な説明するフローチャー
ト、第６図および第９図は本発明を幾何学的に説明する
平面図である。 １・・・ＣＰＬＪ ２・・・ワーク芯出し計測
手段３・・・記憶手段 ４・・・演算手段５・・・
情報入力手段 ６・・・モータ制御手段Ｗ・・・ワーク
Ｔ・・・テーブル■１・・・加工ヘソド Ｐ
＋ 、’Ｐ ｘ〜Ｐ、・・・加工位置。 特許出願人 日立精機株式会社 （ダ） １′／ａ
）第４図 第５図 一２弼− 矛７ｒｌｌ
Claims (1)
- 回動可能なテーブルにワークを載置し、その回動中心か
らの極座標で制御される加工ヘッドにより、ワーク表面
に配列された複数の被加工位置へ加工を実施する工作機
械の座標系補正装置において、被加工位置を連ねる仮想
同心円の中心であるワーク中心とテーブルの回動とのズ
レを直角座標で検出するワーク芯出し計測手段と、その
計測値を芯出し補正量として一時格納する記憶手段と、
各被加工位置のデータに前記芯出し補正量を加算し、算
出された直角座標値を前記回動中心からの極座標値に換
算する演算手段と、その算出値を使用してテーブルを回
動させ、加工ヘッドの位置を修正させる順次加工指示を
発する中央御手段とを備えることを特徴とする加工位置
の座標系補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59134973A JPH0671691B2 (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | 加工位置の座標系補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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- 1984-06-29 JP JP59134973A patent/JPH0671691B2/ja not_active Expired - Lifetime
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