JPS61150042A - シングルチツプマイクロコンピユ−タ - Google Patents
シングルチツプマイクロコンピユ−タInfo
- Publication number
- JPS61150042A JPS61150042A JP59275605A JP27560584A JPS61150042A JP S61150042 A JPS61150042 A JP S61150042A JP 59275605 A JP59275605 A JP 59275605A JP 27560584 A JP27560584 A JP 27560584A JP S61150042 A JPS61150042 A JP S61150042A
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- Japan
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- timing signal
- signal
- output
- circuit
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、接続される外部装置に対してこの外部装置
と同期をとるためのタイミング信号を出力する外部出力
用端子を備えたシングルチップマイクロコンピュータ(
以下、マイコンと称す)に関するものである。
と同期をとるためのタイミング信号を出力する外部出力
用端子を備えたシングルチップマイクロコンピュータ(
以下、マイコンと称す)に関するものである。
この種の、マイコンは、一般的にマイコン内部の機能を
テストするためのテストモードと、マイコンとしての通
常動作を行なうためのシングルチップモードとを有し、
テストモードにおいて、外部装置によって内部機能がテ
ストされるため、マイコンと外部装置との同期をとる必
要があり、マイコンにて用いられているタイミング信号
と同期したタイミング信号を出力するための外部出力用
端子がマイコンに設けられているものである。
テストするためのテストモードと、マイコンとしての通
常動作を行なうためのシングルチップモードとを有し、
テストモードにおいて、外部装置によって内部機能がテ
ストされるため、マイコンと外部装置との同期をとる必
要があり、マイコンにて用いられているタイミング信号
と同期したタイミング信号を出力するための外部出力用
端子がマイコンに設けられているものである。
第4図はこの種従来のマイコンを示す要部ブロック図で
あり、図において、(1)はシングルチップモードとテ
ストモードの2つのモードを有し、シングルチップモー
ドの時Gこは°ゝL9.信号を、テストモードの時には
°゛H2,H2,信号信号(2)として出力するモード
設定回路、(3)は第1のタイミング信号(4)を出力
するタイミング信号発生回路、(5)は命令を記憶して
おく記憶回路、(6)は第1のモードとしてテストモー
ドを第2のモードとしてシングルチップモードを有し、
上記モード信号(2)によってモードを選択し、上記第
1のタイミング信号(4)に基づいた演算動作をして処
理信号(8)を出力する演算動作部、 (9a)(9
b)(9c)は、この演算動作部(6)からの処理信号
(8)を入力としてそれをラッチした後外部に出力し、
或いは外部からの命令信号αQを入力としてそれを原算
動作部(6)に出力する複数の入出カポ−)、(11)
は、上記第1のタイミング信号(4)を入力とし、この
第1のタイミング信号(4)と同期したタイミング信号
時を出力するタイミング信号出力部、Q3はこのタイミ
ング出力部aυに設けられ、テストモードの際に外部装
置が接続される外部出力用端子である。
あり、図において、(1)はシングルチップモードとテ
ストモードの2つのモードを有し、シングルチップモー
ドの時Gこは°ゝL9.信号を、テストモードの時には
°゛H2,H2,信号信号(2)として出力するモード
設定回路、(3)は第1のタイミング信号(4)を出力
するタイミング信号発生回路、(5)は命令を記憶して
おく記憶回路、(6)は第1のモードとしてテストモー
ドを第2のモードとしてシングルチップモードを有し、
上記モード信号(2)によってモードを選択し、上記第
1のタイミング信号(4)に基づいた演算動作をして処
理信号(8)を出力する演算動作部、 (9a)(9
b)(9c)は、この演算動作部(6)からの処理信号
(8)を入力としてそれをラッチした後外部に出力し、
或いは外部からの命令信号αQを入力としてそれを原算
動作部(6)に出力する複数の入出カポ−)、(11)
は、上記第1のタイミング信号(4)を入力とし、この
第1のタイミング信号(4)と同期したタイミング信号
時を出力するタイミング信号出力部、Q3はこのタイミ
ング出力部aυに設けられ、テストモードの際に外部装
置が接続される外部出力用端子である。
上記タイミング信号出力回路圓は第5図に示すように入
力インバータα弔と出力インバータ(至)とを2段接続
したものから構成されており、入力インバータαΦに上
記第1のタイミング信号(4)が入力され、出力インバ
ータ(至)から第1のタイミング信号(4)と同期した
タイミング信号(2)が出力されるものである。そして
上記入力インバータα弔はソースが電源に、ゲートがタ
イミング信号発生回路(3)に各々接続されたPチャネ
ルMO8FETgl19とソースが接地電位に、ゲート
が発振回路(3)にドレインがPチャンネルMO8FE
Tq6のドレインに各々接続されたnチャンネルM O
S F E Tqηとからなり。
力インバータα弔と出力インバータ(至)とを2段接続
したものから構成されており、入力インバータαΦに上
記第1のタイミング信号(4)が入力され、出力インバ
ータ(至)から第1のタイミング信号(4)と同期した
タイミング信号(2)が出力されるものである。そして
上記入力インバータα弔はソースが電源に、ゲートがタ
イミング信号発生回路(3)に各々接続されたPチャネ
ルMO8FETgl19とソースが接地電位に、ゲート
が発振回路(3)にドレインがPチャンネルMO8FE
Tq6のドレインに各々接続されたnチャンネルM O
S F E Tqηとからなり。
また上記出力インバータα均は、ソースが電源に。
ゲートがMOSFET(L6とMO8FETaηとの接
続点に、ドレインが外部出力用端子(至)に接続された
抵抗のPチャンネルMO8FETQl19とソースが接
地電位に、ゲートがMOSFET(1119とMO8F
ETaηとの接続点に、ドレインが外部出力用端子備に
接続された低抵抗のnチャンネルMO8FETQ9とか
らなるものである。
続点に、ドレインが外部出力用端子(至)に接続された
抵抗のPチャンネルMO8FETQl19とソースが接
地電位に、ゲートがMOSFET(1119とMO8F
ETaηとの接続点に、ドレインが外部出力用端子備に
接続された低抵抗のnチャンネルMO8FETQ9とか
らなるものである。
上記の様に構成されたマイコンはモード設定回路(1)
がシングルチップモードに設定されているとき、演算動
作部(6)にはIt L nのモード信号(2)が入力
されるものであり、マイコンとしての通常動作が行なわ
れるものである。つまり演算動作部(6)では記憶回路
(5ンからの命令信号(7)を入力する状態となる。次
をここの命令信号(7)を演算動作部(6)に入力する
と、演算動作部(6)からは3個の入出力ポート(sa
)(sb)(sc) +こ対して第6図に示すような処
理信号(8)を出力し、3個の入出力ポート(9a)(
9b)(9c)を入力ポート又は出力ポートのいづれか
に設定する。この様にして設定が終ると次に外部から入
力ポートを介して命令信号QOが演算動作部(6)に入
力され、一方では演算動作部(6)から出力ポートを介
して、上記入力ポートまたは出力ポートを設定する処理
信号(8)とは別の処理信号(8ンが外部へ出力される
ものである。
がシングルチップモードに設定されているとき、演算動
作部(6)にはIt L nのモード信号(2)が入力
されるものであり、マイコンとしての通常動作が行なわ
れるものである。つまり演算動作部(6)では記憶回路
(5ンからの命令信号(7)を入力する状態となる。次
をここの命令信号(7)を演算動作部(6)に入力する
と、演算動作部(6)からは3個の入出力ポート(sa
)(sb)(sc) +こ対して第6図に示すような処
理信号(8)を出力し、3個の入出力ポート(9a)(
9b)(9c)を入力ポート又は出力ポートのいづれか
に設定する。この様にして設定が終ると次に外部から入
力ポートを介して命令信号QOが演算動作部(6)に入
力され、一方では演算動作部(6)から出力ポートを介
して、上記入力ポートまたは出力ポートを設定する処理
信号(8)とは別の処理信号(8ンが外部へ出力される
ものである。
また、モード設定回路(1)がテストモードに設定され
ているとき、演算処理回路(6)には°′H9,のモー
ド信号(2)が入力されるものであり、これによって演
算動作部(6)では記憶回路(5)からの命令信号(7
)の内部ROMの入力を禁止し、マイコンの内部機能が
テストされることになる。この時、外部装置は外部出力
用端子備に接続されてマイコンと同期がとられるととも
に入出力ポート(9a)(9b)(9c)を接続され、
マイコンと外部装置との間で信号のやりとりが行なわれ
ることになる。次にこの命令信号(5)を演算動作部(
6)に入力すると、演算動作部(6)からは8個の入出
力ポート(9a)(9b)(9c)を入力ポート又は出
力ポートのいづれかに設定する処理信号(8ンが出力さ
れる。この時、上記の様にテストモードに於ては記憶回
路(5)からの命令信号(7)の内部ROMの入力が禁
止されているから、この内部ROMからの命令信号をこ
代替する命令信号を外部から入力しなければならない。
ているとき、演算処理回路(6)には°′H9,のモー
ド信号(2)が入力されるものであり、これによって演
算動作部(6)では記憶回路(5)からの命令信号(7
)の内部ROMの入力を禁止し、マイコンの内部機能が
テストされることになる。この時、外部装置は外部出力
用端子備に接続されてマイコンと同期がとられるととも
に入出力ポート(9a)(9b)(9c)を接続され、
マイコンと外部装置との間で信号のやりとりが行なわれ
ることになる。次にこの命令信号(5)を演算動作部(
6)に入力すると、演算動作部(6)からは8個の入出
力ポート(9a)(9b)(9c)を入力ポート又は出
力ポートのいづれかに設定する処理信号(8ンが出力さ
れる。この時、上記の様にテストモードに於ては記憶回
路(5)からの命令信号(7)の内部ROMの入力が禁
止されているから、この内部ROMからの命令信号をこ
代替する命令信号を外部から入力しなければならない。
そこで第7図に示す様に第1のタイミング信号(4)に
同期したタイミング信号が”HI、レベルの期間には、
外部に・取り付けたROMの電位ビットをアドレスする
ための処理信号(至)が演算動作部(6)から入出力ポ
ート(9a)に出力され* ” L ++レベルの期間
には入力ポート又は出力ポートのいづれかに設定する処
理信号(8)が出力される。また、第1のタイミング信
の期間には外部をと取り付けたROMの本位ビットをア
ドレスするための処理信号(8)が演算動作部(6)か
ら入出カポ−)−(9b)に出力され* ” L 11
レベルの期間には入力ポート又は出力ポートのいづれか
に設定する処理信号(8)が出力される。そして。
同期したタイミング信号が”HI、レベルの期間には、
外部に・取り付けたROMの電位ビットをアドレスする
ための処理信号(至)が演算動作部(6)から入出力ポ
ート(9a)に出力され* ” L ++レベルの期間
には入力ポート又は出力ポートのいづれかに設定する処
理信号(8)が出力される。また、第1のタイミング信
の期間には外部をと取り付けたROMの本位ビットをア
ドレスするための処理信号(8)が演算動作部(6)か
ら入出カポ−)−(9b)に出力され* ” L 11
レベルの期間には入力ポート又は出力ポートのいづれか
に設定する処理信号(8)が出力される。そして。
更に入出力ポート(9C)には、タイミング信号□□□
がlL H、、レベルの期間には入力ポート又は出力ポ
ートのいづれかに設定する処理信号(8)が出力され、
IT L uレベルの期間には、上記内部ROMからの
命令信号に代替して内部機能をテストするための命令信
号が入力されるものである。従って上記の様なタイミン
グで入出カポ−) (9a)(9b)(9c)に対し、
命令信号(1Gを外部から入力するため、或いは演算処
理回路(6)から正確な処理信号(8)が出力されてい
るか否かをテストするためには、上記タイミング信号(
ロ)が必要となるものである。
がlL H、、レベルの期間には入力ポート又は出力ポ
ートのいづれかに設定する処理信号(8)が出力され、
IT L uレベルの期間には、上記内部ROMからの
命令信号に代替して内部機能をテストするための命令信
号が入力されるものである。従って上記の様なタイミン
グで入出カポ−) (9a)(9b)(9c)に対し、
命令信号(1Gを外部から入力するため、或いは演算処
理回路(6)から正確な処理信号(8)が出力されてい
るか否かをテストするためには、上記タイミング信号(
ロ)が必要となるものである。
この様に構成されたマイコンにあっては、テストモード
等の第1モードの際に外部装置と同期をとるために必要
とされるタイミング信号を外部装置用端子に常【こ出力
しているものである。
等の第1モードの際に外部装置と同期をとるために必要
とされるタイミング信号を外部装置用端子に常【こ出力
しているものである。
従って、外部装置用端子からのタイミング信号が使われ
ないシングルチップモード等の第2のモードをこおいて
も、出力用インバータ(至)を構成するMOSFET(
ト)USが交互に導通状態になっているために、それに
よるノイズの影響を受けやすいという問題点を有すると
ともをζ低消費電力化を阻害しているものであった。
ないシングルチップモード等の第2のモードをこおいて
も、出力用インバータ(至)を構成するMOSFET(
ト)USが交互に導通状態になっているために、それに
よるノイズの影響を受けやすいという問題点を有すると
ともをζ低消費電力化を阻害しているものであった。
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で、シングルチップモード等の第20モードに於て、テ
ストモード等の第1のモードに必要とされる外部出力用
端子に於けるタイミング信号の発生を阻止し、ノイズの
影響がなくかつ消費電力の削減を図れるシングルチップ
マイコンを得ることを目的とする。
で、シングルチップモード等の第20モードに於て、テ
ストモード等の第1のモードに必要とされる外部出力用
端子に於けるタイミング信号の発生を阻止し、ノイズの
影響がなくかつ消費電力の削減を図れるシングルチップ
マイコンを得ることを目的とする。
この発明に係るシングルチップマイコンは、第1のモー
ドの時には第1レベルとなり第2モードの時には第2レ
ベルとなると第1のタイミング信号とが入力されるゲー
ト回路とにのゲート回路に接続されゲート回路からの第
2のタイミング信号を入力して第3タイミング信号を出
力する第1及び第2トランジスタからなる出力回路部と
を設けたものであり、上記ゲート回路は切替信号が第1
レベルである時には第1のタイミング信号と同期した第
2のタイミング信号を出力するととも餐こ。
ドの時には第1レベルとなり第2モードの時には第2レ
ベルとなると第1のタイミング信号とが入力されるゲー
ト回路とにのゲート回路に接続されゲート回路からの第
2のタイミング信号を入力して第3タイミング信号を出
力する第1及び第2トランジスタからなる出力回路部と
を設けたものであり、上記ゲート回路は切替信号が第1
レベルである時には第1のタイミング信号と同期した第
2のタイミング信号を出力するととも餐こ。
第2レベルである時には常に一定電位を出力するものと
し、上記出力回路部は上記ゲート回路からの出力を受け
このゲート回路からの出力が上記第2のタイミング信号
の時、この第2のタイミング信号(ζ応じて上記第1ト
ランジスタと第2トランジスタが交互Gこ導通して第3
のタイミング信号を出力し、上記ゲート回路からの出力
が一定電位の時、上記第1のトランジスタと第2のトラ
ンジスタの少なくとも一方が常に非導通状態となるもの
としたものである。
し、上記出力回路部は上記ゲート回路からの出力を受け
このゲート回路からの出力が上記第2のタイミング信号
の時、この第2のタイミング信号(ζ応じて上記第1ト
ランジスタと第2トランジスタが交互Gこ導通して第3
のタイミング信号を出力し、上記ゲート回路からの出力
が一定電位の時、上記第1のトランジスタと第2のトラ
ンジスタの少なくとも一方が常に非導通状態となるもの
としたものである。
この発明においては切換信号がテストモード等の第1レ
ベルである時は、ゲート回路及び出力回路部を介して外
部出力端子にタイミング信号をこ同期した第8のタイミ
ング信号が出力され、シングルチップモード等の第2モ
ードの時、ゲート回路から一定電位が出力され、出力回
路部ではこれを受けて第1トランジスタと第2トランジ
スタのうちの一方が常に非導通状態となる。
ベルである時は、ゲート回路及び出力回路部を介して外
部出力端子にタイミング信号をこ同期した第8のタイミ
ング信号が出力され、シングルチップモード等の第2モ
ードの時、ゲート回路から一定電位が出力され、出力回
路部ではこれを受けて第1トランジスタと第2トランジ
スタのうちの一方が常に非導通状態となる。
第1図は、この発明の一実施例を示すブロック図であり
、(1)〜QO及びα4は上記従来のものと全く同一の
ものである。■はタイミング信号発生回路(3)からの
第1のタイミング信号(4)とモード設定回路(1)か
らのモード信号(2)からなる切替信号I2υとを入力
とし、モード信号(2)がテストモードを意味する+t
M nの信号であるときには第1のタイミング信号(
4)に同期した第3のタイミング信号四を出力するタイ
ミング信号出力回路であり、このタイミング信号出力回
路■は第2図に示すようにNAND回路からなるゲート
回路部とインバータからなる出力回路部(至)とを2段
接続したものである。そしてこのゲート回路(至)はソ
ースが電源にゲートがタイミング信号発生回路(3)に
ドレインが出力回路部(至)に接続されたPチャンネル
MOS F E T@!9と。
、(1)〜QO及びα4は上記従来のものと全く同一の
ものである。■はタイミング信号発生回路(3)からの
第1のタイミング信号(4)とモード設定回路(1)か
らのモード信号(2)からなる切替信号I2υとを入力
とし、モード信号(2)がテストモードを意味する+t
M nの信号であるときには第1のタイミング信号(
4)に同期した第3のタイミング信号四を出力するタイ
ミング信号出力回路であり、このタイミング信号出力回
路■は第2図に示すようにNAND回路からなるゲート
回路部とインバータからなる出力回路部(至)とを2段
接続したものである。そしてこのゲート回路(至)はソ
ースが電源にゲートがタイミング信号発生回路(3)に
ドレインが出力回路部(至)に接続されたPチャンネル
MOS F E T@!9と。
ソースが電源にゲートがモード設定回路(5)にドレイ
ンが出力回路部(至)に接続されたPチャンネルMO8
FE’f’(至)と、ゲートがタイミング信号発生回路
(3)Iこドレインが上記MO8FET(至)(ホ)の
ドレインに接続されたnチャンネルIC)SFET(財
)と、ソースが接地電位にゲートがモード設定回路(5
)にり、出力回路部(ハ)はソースが電源曇こゲートが
ゲーFETgI)との接続点にドレインが外部出力用端
子α3に接続された低抵抗PチャンネルMO8L’ET
からなる第1トランジスタ翰と、ソースが接地電位にゲ
ートがゲート回路(ハ)の出力端にドレ゛インが゛外部
出力用端子曽に接続された低抵抗のnチャンネルMO8
FETからなる第2トランジスタqとからなるものであ
る。
ンが出力回路部(至)に接続されたPチャンネルMO8
FE’f’(至)と、ゲートがタイミング信号発生回路
(3)Iこドレインが上記MO8FET(至)(ホ)の
ドレインに接続されたnチャンネルIC)SFET(財
)と、ソースが接地電位にゲートがモード設定回路(5
)にり、出力回路部(ハ)はソースが電源曇こゲートが
ゲーFETgI)との接続点にドレインが外部出力用端
子α3に接続された低抵抗PチャンネルMO8L’ET
からなる第1トランジスタ翰と、ソースが接地電位にゲ
ートがゲート回路(ハ)の出力端にドレ゛インが゛外部
出力用端子曽に接続された低抵抗のnチャンネルMO8
FETからなる第2トランジスタqとからなるものであ
る。
上記の様に構成されたシングルチップマイコンのタイミ
ング信号出力回路部をこ於ては第3図に示す様な信号形
態を示すものであり、モード設定回路(1)から第1モ
ードであるテストモードを意味する第1レベルとして°
5H2,のモード信号(2)が出力されている時、この
モード信号(2)と第1のタイミング信号(4)とによ
ってゲート回路(ホ)からは第1のタイミング信号(4
)と同期した第2のタイミング信号(81a)が出力さ
れ、次Gここの第2のタイミング信号(81a)を受け
た出力回路部(至)によって更に反転され、第1のタイ
ミング信号(4)と同期した第3のタイミング信号(2
2B)が出力される。そしてモード設定回路(1)から
第2モードであるシングルチップモードを意味する第2
レベルとして°°L2.のモード信号(2)が出力され
ている時、このモード信号(2)によってゲート回路−
からは常に1′H9,の一定電位想が出力され、これが
出力回路部Htこよって反転されて外部出力用端子(至
)からは常に°′L、。
ング信号出力回路部をこ於ては第3図に示す様な信号形
態を示すものであり、モード設定回路(1)から第1モ
ードであるテストモードを意味する第1レベルとして°
5H2,のモード信号(2)が出力されている時、この
モード信号(2)と第1のタイミング信号(4)とによ
ってゲート回路(ホ)からは第1のタイミング信号(4
)と同期した第2のタイミング信号(81a)が出力さ
れ、次Gここの第2のタイミング信号(81a)を受け
た出力回路部(至)によって更に反転され、第1のタイ
ミング信号(4)と同期した第3のタイミング信号(2
2B)が出力される。そしてモード設定回路(1)から
第2モードであるシングルチップモードを意味する第2
レベルとして°°L2.のモード信号(2)が出力され
ている時、このモード信号(2)によってゲート回路−
からは常に1′H9,の一定電位想が出力され、これが
出力回路部Htこよって反転されて外部出力用端子(至
)からは常に°′L、。
の一定電位(22a)が出力される。
従って、外部出力用端子(至)に外部装置が接続される
テストモードに於ては第1のタイミング信号(4)と同
期した第3のタイミング信号(22&)が外部出力用端
子α1から出力され、シングルチップモードに於ては第
1のタイミング信号(4)がタイミング信号出力回路(
1)に入力されても第1トランジスタのPチャンネルM
O8FET翰が常に非導通状態となり第2トランジスタ
のnチャンネルMO8FET(1が常(ζ非導通である
からこのタイミング信号出力回路部からは常に′L9.
の一定電位(22b)が出力されるものである。
テストモードに於ては第1のタイミング信号(4)と同
期した第3のタイミング信号(22&)が外部出力用端
子α1から出力され、シングルチップモードに於ては第
1のタイミング信号(4)がタイミング信号出力回路(
1)に入力されても第1トランジスタのPチャンネルM
O8FET翰が常に非導通状態となり第2トランジスタ
のnチャンネルMO8FET(1が常(ζ非導通である
からこのタイミング信号出力回路部からは常に′L9.
の一定電位(22b)が出力されるものである。
その結果、テストモード等の第1モードにおいては外部
出力用端子(2)にタイミング信号(81a)が現われ
るとともにシングルチップ等の第2モードをこおいては
出力回路部(ハ)及びゲート回路部からは周期的な信号
が出力されないため、ノイズの発生がなくなるとともに
ゲート回路部における消費電力がほとんどなく低消費電
力化が図れるものである。しかもゲート回路(至)を4
個のMOS)ランジスタからなるNAND回路で構成で
きるとともに出力回路部(ハ)を第1および第2トラン
ジスタ翰■からなるインバータで構成できるため、少な
いトランジスタ数でしかも容易にでき、これによってチ
ップ面積が増大することはほとんどないものである。
出力用端子(2)にタイミング信号(81a)が現われ
るとともにシングルチップ等の第2モードをこおいては
出力回路部(ハ)及びゲート回路部からは周期的な信号
が出力されないため、ノイズの発生がなくなるとともに
ゲート回路部における消費電力がほとんどなく低消費電
力化が図れるものである。しかもゲート回路(至)を4
個のMOS)ランジスタからなるNAND回路で構成で
きるとともに出力回路部(ハ)を第1および第2トラン
ジスタ翰■からなるインバータで構成できるため、少な
いトランジスタ数でしかも容易にでき、これによってチ
ップ面積が増大することはほとんどないものである。
なお、上記実施例に於ては、タイミング信号出力回路(
財)に於るゲート回路部をNAND回路とし。
財)に於るゲート回路部をNAND回路とし。
出力回路部(財)をインバータとしたがそれに限られる
ものではない。
ものではない。
また、上記実施例に於てはゲート回路(財)に入力する
切替信号eυとしてモード設定回路(1)から出力され
るモード信号を用いたが、これに限られるものではなく
、第1モードの時には第1レベルとなリ、第2モードの
時には第2レベルとなるものであれば良いものであり、
また、第1モードをテストモードの場合だけについて説
明したが、これに限られるものではなく、例えばメモリ
拡張モードとしても良いものである。
切替信号eυとしてモード設定回路(1)から出力され
るモード信号を用いたが、これに限られるものではなく
、第1モードの時には第1レベルとなリ、第2モードの
時には第2レベルとなるものであれば良いものであり、
また、第1モードをテストモードの場合だけについて説
明したが、これに限られるものではなく、例えばメモリ
拡張モードとしても良いものである。
更に上記実施例に於ては、出力回路部(ハ)に於る第1
及び第2トランジスタ@(1)をゲート回路からの出力
が一定電位の時、第1トランジスタ四が非導通状態で第
2トランジスタ(7)が導通となるようにしたが、第1
トランジスタ四が導通状態で第2トランジスタ(7)が
非導通となるようにしても良く。
及び第2トランジスタ@(1)をゲート回路からの出力
が一定電位の時、第1トランジスタ四が非導通状態で第
2トランジスタ(7)が導通となるようにしたが、第1
トランジスタ四が導通状態で第2トランジスタ(7)が
非導通となるようにしても良く。
また、第1トランジスタ翰と第2トランジスタ(至)の
両方が非導通となるようにしても良いものである。
両方が非導通となるようにしても良いものである。
この発明は以上説明した様に、第1のモードの時には第
1レベルとなり第2モードの時には第2レベルとなる切
替信号と第1のタイミング信号とを入力するゲート回路
と、このゲート回路に接続されゲート回路からのタイミ
ング信号を入力して第3タイミング信号を出力する低抵
抗の第1及び第2トランジスタからなる出力回路部とか
らなるものとし、上記ゲート回路は切替信号が第1レベ
ルである時には第1のタイミング信号と同期した第2の
タイミング信号を出力するとともに、第2レベルである
時には常に一定電位出力するものとし、上記出力回路部
は第1トランジスタと第2トランジスタを直列に接続し
、この接続する点に外部出力用端子を設けてなり、上記
ゲート回路からの出力を受けこのゲート回路からの出力
が上記第2のタイミング信号の時、この第2のタイミン
グ信号に応じて上記第1トランジスタと第2トランジス
タが交互に導通して第8のタイミング信号を出力し、上
記ゲート回路からの出力が一定電位の時2上記第1のト
ランジスタと第2のトランジスタの少なくとも一方が常
に非導通状態となるものとしたので、第2のモードに於
るタイミング出力端子からのノイズの発生を削除し、も
って信頼性が向上するという効果があり、更に消費電力
も削減できるという効果がある。
1レベルとなり第2モードの時には第2レベルとなる切
替信号と第1のタイミング信号とを入力するゲート回路
と、このゲート回路に接続されゲート回路からのタイミ
ング信号を入力して第3タイミング信号を出力する低抵
抗の第1及び第2トランジスタからなる出力回路部とか
らなるものとし、上記ゲート回路は切替信号が第1レベ
ルである時には第1のタイミング信号と同期した第2の
タイミング信号を出力するとともに、第2レベルである
時には常に一定電位出力するものとし、上記出力回路部
は第1トランジスタと第2トランジスタを直列に接続し
、この接続する点に外部出力用端子を設けてなり、上記
ゲート回路からの出力を受けこのゲート回路からの出力
が上記第2のタイミング信号の時、この第2のタイミン
グ信号に応じて上記第1トランジスタと第2トランジス
タが交互に導通して第8のタイミング信号を出力し、上
記ゲート回路からの出力が一定電位の時2上記第1のト
ランジスタと第2のトランジスタの少なくとも一方が常
に非導通状態となるものとしたので、第2のモードに於
るタイミング出力端子からのノイズの発生を削除し、も
って信頼性が向上するという効果があり、更に消費電力
も削減できるという効果がある。
第1図は、この発明の一実施例を示すブロック図、第2
図は、この発明のタイミング出力端子を示す回路図、第
3図はタイミング出力端子に於るクロック信号1周波数
信号、論理信号及びタイミング信号図、第4図は従来の
シングルチップマイコンを示すブロック図、第5図はこ
の従来のシングルチップマイコンのタイミング出力端子
を示す回路図、第6図は第2のモードに於る演算処理回
路からの処理信号図とタイミング信号図、第7図は第1
のモードに於る演算処理回路からの処理信号図とタイミ
ング信号図である。 図において、(4)は第1のクロック信号、α4は外部
出力用端子、cAはタイミング信号出力回路、 el!
1)は切替信号、(22&)は第3のタイミング信号。 (22b)は一定電位の出力、(ハ)はゲート回路、(
ハ)は出力回路部、 (aOa)は第2のタイミング信
号である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示すもの
である。
図は、この発明のタイミング出力端子を示す回路図、第
3図はタイミング出力端子に於るクロック信号1周波数
信号、論理信号及びタイミング信号図、第4図は従来の
シングルチップマイコンを示すブロック図、第5図はこ
の従来のシングルチップマイコンのタイミング出力端子
を示す回路図、第6図は第2のモードに於る演算処理回
路からの処理信号図とタイミング信号図、第7図は第1
のモードに於る演算処理回路からの処理信号図とタイミ
ング信号図である。 図において、(4)は第1のクロック信号、α4は外部
出力用端子、cAはタイミング信号出力回路、 el!
1)は切替信号、(22&)は第3のタイミング信号。 (22b)は一定電位の出力、(ハ)はゲート回路、(
ハ)は出力回路部、 (aOa)は第2のタイミング信
号である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示すもの
である。
Claims (2)
- (1)少なくとも第1モード及び第2モードを有し第1
のタイミング信号に基づいて演算動作する演算動作部、
上記第1モードの時には第1レベルとなり第2モードの
時には第2レベルとなる切替信号と上記第1のタイミン
グ信号とを受け、この切替信号が第1レベルの時に上記
第1のタイミング信号に同期した第2のタイミング信号
を出力するとともに、第2レベルの時は一定電位を出力
するゲート回路、直列接続された第1及び第2トランジ
スタとこれら第1及び第2トランジスタの接続点に接続
され、外部装置が接続される外部出力用端子を有し、上
記ゲート回路からの第2のタイミング信号を受けると上
記第1トランジスタと第2トランジスタが交互に導通し
て上記第2のタイミング信号に同期した第3のタイミン
グ信号を上記外部出力用端子に出力し、上記ゲート回路
からの一定電位を受けると、上記第1トランジスタと第
2トランジスタのうちの一方が常に非導通状態となる出
力回路部を備えたシングルチップマイクロコンピュータ
。 - (2)ゲート回路はNAND回路であり、出力回路部に
おける第1及び第2トランジスタはインバータを構成し
ていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のマ
イクロコンピュータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59275605A JPS61150042A (ja) | 1984-12-25 | 1984-12-25 | シングルチツプマイクロコンピユ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59275605A JPS61150042A (ja) | 1984-12-25 | 1984-12-25 | シングルチツプマイクロコンピユ−タ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61150042A true JPS61150042A (ja) | 1986-07-08 |
Family
ID=17557768
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59275605A Pending JPS61150042A (ja) | 1984-12-25 | 1984-12-25 | シングルチツプマイクロコンピユ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61150042A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62162729U (ja) * | 1986-04-02 | 1987-10-16 |
-
1984
- 1984-12-25 JP JP59275605A patent/JPS61150042A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62162729U (ja) * | 1986-04-02 | 1987-10-16 |
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