JPS61153258A - 高精細度シヤドウマスク - Google Patents
高精細度シヤドウマスクInfo
- Publication number
- JPS61153258A JPS61153258A JP27372984A JP27372984A JPS61153258A JP S61153258 A JPS61153258 A JP S61153258A JP 27372984 A JP27372984 A JP 27372984A JP 27372984 A JP27372984 A JP 27372984A JP S61153258 A JPS61153258 A JP S61153258A
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- JP
- Japan
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- inclusion
- group
- shadow mask
- length
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、民生用及び産業用のカラー受像管に用いられ
るシャドウマスク用素材において、エツチング穿孔後の
透過不良を防止した高精細度シャドウマスク用素材に関
する。
るシャドウマスク用素材において、エツチング穿孔後の
透過不良を防止した高精細度シャドウマスク用素材に関
する。
従来、シャドウマスク用素材としてリムド鋼が用いられ
てきたが、冷延鋼板にレジスト塗布後パターンを焼付は
胡１像し、エツチング穿孔するというシャドウマスクの
製造工程において、エツチング穿孔時に酸化物系介在物
によるエツチング不良が多く発生し、しかもその後のプ
レス成形性を付与するため焼鈍を施すと降伏点伸びが発
生しやすく、プレス成形でストレッチャーストレインと
いった不良を生じやすいという問題がある。そのため脱
炭焼鈍した低炭素Ａｌキルド鋼を使用することが多くな
っている。この脱炭Ａｔ キルド鋼の使用により、リ
ムド鋼に較べればエツチング不良が減少したが、それで
もまだ圧延方向に平行なスジムラと呼ばれる透過ムラが
発生することが多く、シャドウマスクとして致命的な欠
陥となっている。
てきたが、冷延鋼板にレジスト塗布後パターンを焼付は
胡１像し、エツチング穿孔するというシャドウマスクの
製造工程において、エツチング穿孔時に酸化物系介在物
によるエツチング不良が多く発生し、しかもその後のプ
レス成形性を付与するため焼鈍を施すと降伏点伸びが発
生しやすく、プレス成形でストレッチャーストレインと
いった不良を生じやすいという問題がある。そのため脱
炭焼鈍した低炭素Ａｌキルド鋼を使用することが多くな
っている。この脱炭Ａｔ キルド鋼の使用により、リ
ムド鋼に較べればエツチング不良が減少したが、それで
もまだ圧延方向に平行なスジムラと呼ばれる透過ムラが
発生することが多く、シャドウマスクとして致命的な欠
陥となっている。
しかも、シャドウマスク自体の高精細度化の動きが急で
あり、従来のシャドウマスクに較べ開孔率の大きい高精
細度シャドウマスクでは、この透過ムラの問題が従来に
もまして大きくなっており、この不良の発生の少ない高
精細度シャドウマスク用素材の出現が望まれていた。
あり、従来のシャドウマスクに較べ開孔率の大きい高精
細度シャドウマスクでは、この透過ムラの問題が従来に
もまして大きくなっており、この不良の発生の少ない高
精細度シャドウマスク用素材の出現が望まれていた。
本発明者等は、かかる点に鑑み、透過不良の発生原因の
究明に努めた結果、シャドウマスク素材が塩化第２鉄を
主体としたエツチング液にて穿孔される際に、素材中の
介在物が優先的に腐食され、特に介在物がある大きさ以
上の群をなす場合エツチング後の穿孔壁面に重大な欠陥
を生じて透過ムラとなり、しかもその発生率はマスクの
開孔率が大きくなると高くなることを突きとめた。
究明に努めた結果、シャドウマスク素材が塩化第２鉄を
主体としたエツチング液にて穿孔される際に、素材中の
介在物が優先的に腐食され、特に介在物がある大きさ以
上の群をなす場合エツチング後の穿孔壁面に重大な欠陥
を生じて透過ムラとなり、しかもその発生率はマスクの
開孔率が大きくなると高くなることを突きとめた。
この透過ムラと介在物の関係について種々の研究を繰り
返した結果本発明に至ったものであり、その要旨とする
ところは、シャドウマスクの圧延方向に直角な断面にお
いて、単一介在物の最大寸法が平均直径５．０μｍ以下
であり、このうち平均直径Ｑ、５〜５．０μｍの範囲に
ある単一介在物から構成された介在物群の幅方向の長さ
が２．５〜５００μｍで且つ介在物群の間隔が隣接する
介在物群の大きい方の幅方向の長さの５倍以上であり、
そして前記介在物群の前記断面の幅方向に占める割合を
全幅の１１Ｘ以下に調整した極低炭素Ａｔ キルド冷
延鋼板からなる、穿孔ピッチが０．５目以下の高精細度
シャドウマスクにある。
返した結果本発明に至ったものであり、その要旨とする
ところは、シャドウマスクの圧延方向に直角な断面にお
いて、単一介在物の最大寸法が平均直径５．０μｍ以下
であり、このうち平均直径Ｑ、５〜５．０μｍの範囲に
ある単一介在物から構成された介在物群の幅方向の長さ
が２．５〜５００μｍで且つ介在物群の間隔が隣接する
介在物群の大きい方の幅方向の長さの５倍以上であり、
そして前記介在物群の前記断面の幅方向に占める割合を
全幅の１１Ｘ以下に調整した極低炭素Ａｔ キルド冷
延鋼板からなる、穿孔ピッチが０．５目以下の高精細度
シャドウマスクにある。
尚、前記単一介在物の平均直径とは、同介在物断面のさ
しわたし寸法の平均値であり、直円に換算した直径を意
味する。
しわたし寸法の平均値であり、直円に換算した直径を意
味する。
前記極低炭素Ａｌ キルド冷延鋼板は、Ｃ；０．０１
重量Ｘ（以下！！量を省略）以下、Ｍｎ；１．ＯＯＸ以
下、Ｓ；α０２５％以下、５ｏｌＡｌ；０．０１０〜０
．１２０Ｘ、Ｎ；１００ｆ）ｐｍ以下、そして残部Ｆｅ
及び不可避的不純物から成る組成を有する。
重量Ｘ（以下！！量を省略）以下、Ｍｎ；１．ＯＯＸ以
下、Ｓ；α０２５％以下、５ｏｌＡｌ；０．０１０〜０
．１２０Ｘ、Ｎ；１００ｆ）ｐｍ以下、そして残部Ｆｅ
及び不可避的不純物から成る組成を有する。
本発明における介在物群とは、加工後の圧延材の圧延方
向に直角な断面において観察されるもので、その形態は
ＪＩＳ法又は学部法の介在物顕微鏡観察の中で定義され
ているＢ系介在物と似ている。実際の測定においては断
面の一つ一つの介在物群の横方向の長さを測定し、それ
をすべて合計し、全幅で割りかえすことで板幅方向に占
める割合を求めた。
向に直角な断面において観察されるもので、その形態は
ＪＩＳ法又は学部法の介在物顕微鏡観察の中で定義され
ているＢ系介在物と似ている。実際の測定においては断
面の一つ一つの介在物群の横方向の長さを測定し、それ
をすべて合計し、全幅で割りかえすことで板幅方向に占
める割合を求めた。
この群を形成する介在物において単一介在物の平均直径
の最大寸法が５．０μｍを超える場合、群をなさなくと
も透過ムラを生じる。一方、１３μｍより小さい介在物
の場合、群をなしていてもエツチング穿孔後の透過ムラ
は昭識されず、実際上問題とならない。平均直径がＱ、
３〜５．０μｍの範囲にある単一介在物から構成された
介在物群の幅方向の長さが５００μｍを超える場合、群
のｔＫ量関係く透過ムラを生じ、他方詐の幅方向の長さ
が２．５μｍ未満の場合は藺識可能な透過ムラを生じな
い。群の間隔が隣接する介在物群の大きい方の幅方向の
長さの５倍未満であれば、全幅に占める割合が１１％以
下であっても透過ムラを生じる。
の最大寸法が５．０μｍを超える場合、群をなさなくと
も透過ムラを生じる。一方、１３μｍより小さい介在物
の場合、群をなしていてもエツチング穿孔後の透過ムラ
は昭識されず、実際上問題とならない。平均直径がＱ、
３〜５．０μｍの範囲にある単一介在物から構成された
介在物群の幅方向の長さが５００μｍを超える場合、群
のｔＫ量関係く透過ムラを生じ、他方詐の幅方向の長さ
が２．５μｍ未満の場合は藺識可能な透過ムラを生じな
い。群の間隔が隣接する介在物群の大きい方の幅方向の
長さの５倍未満であれば、全幅に占める割合が１１％以
下であっても透過ムラを生じる。
平均直径ａ、３〜５．０μｍの範囲にある単一介在物か
ら構成された介在物群の幅方向の長さが２．５〜５００
μｍで且つ介在物群の間隔が隣接する介在物群の大きい
方の幅方向の長さの５倍以上であり、そして前記介在物
群の幅方向に占める割合が全幅の１１％を超える場合、
Ｑ、５１１１ｍ以下の穿孔ピッチのシャドウマスクを穿
孔すると透過ムラが発生する。
ら構成された介在物群の幅方向の長さが２．５〜５００
μｍで且つ介在物群の間隔が隣接する介在物群の大きい
方の幅方向の長さの５倍以上であり、そして前記介在物
群の幅方向に占める割合が全幅の１１％を超える場合、
Ｑ、５１１１ｍ以下の穿孔ピッチのシャドウマスクを穿
孔すると透過ムラが発生する。
介在物の成分は主にＭｎ−８を主体とする硫化物系介在
物であるが、Ｃａ−８系等の硫化物系介在物や、ＭｎＯ
−５ｉｎ２の様なケイ酸塩系であっても同様である。
物であるが、Ｃａ−８系等の硫化物系介在物や、ＭｎＯ
−５ｉｎ２の様なケイ酸塩系であっても同様である。
また、シャドウマスクのタイプは、スロットタイプ、ド
ツトタイプのどれであっても適応できる。
ツトタイプのどれであっても適応できる。
実施例
供試材は、低炭素鋼を１５０トン転炉で出鋼し、その後
Ｐｅ−Ｍｎ、 ＡＩ等を添加して成分調整を行い、連続
鋳造で鋼片とした。この鋼片は、Ｃ：０．０１％以下、
Ｍｎ；ｔｏｏ％以下、Ｓ；０．０２５％以下、Ｓｏｌ
Ａｌ； ０．０１０〜０．１２０％、Ｎ ’； １００
ｐｐｍ以下そして残部Ｆｅ及び不可避的不純物から成
る組成を有する。
Ｐｅ−Ｍｎ、 ＡＩ等を添加して成分調整を行い、連続
鋳造で鋼片とした。この鋼片は、Ｃ：０．０１％以下、
Ｍｎ；ｔｏｏ％以下、Ｓ；０．０２５％以下、Ｓｏｌ
Ａｌ； ０．０１０〜０．１２０％、Ｎ ’； １００
ｐｐｍ以下そして残部Ｆｅ及び不可避的不純物から成
る組成を有する。
この鋼片を、熱間圧延→酸洗→冷間圧延→脱炭焼鈍→調
質圧延→再冷間圧延の工程で製造することにより板厚０
．１３ｍの薄鋼板とした。この冷間圧延鋼の介在物群の
状態値を第１表及び第２表に示す。
質圧延→再冷間圧延の工程で製造することにより板厚０
．１３ｍの薄鋼板とした。この冷間圧延鋼の介在物群の
状態値を第１表及び第２表に示す。
この供試材を各種のシャドウマスクにエツチング穿孔し
、透過ムラの発生状況を観察した。
、透過ムラの発生状況を観察した。
第１表及び第２表に示したごとく、単−介在物及びそれ
から構成される介在物群の量を本発明の様に規定するこ
とで、透過ムラを抑制することが可能である。
から構成される介在物群の量を本発明の様に規定するこ
とで、透過ムラを抑制することが可能である。
手続補正書（方式）
昭和６０年 ５ＪＪ３０日
Claims (1)
- １）シヤドウマスクの圧延方向に直角な断面において、
単一介在物の最大寸法が平均直径５．０μｍ以下であり
、このうち平均直径０．３〜５．０μｍの範囲にある単
一介在物から構成された介在物群の幅方向の長さが２．
５〜５００μｍで且つ介在物群の間隔が隣接する介在物
群の大きい方の幅方向の長さの５倍以上であり、そして
前記介在物郡の前記断面の幅方向に占める割合を全幅の
１１％以下に調整した極低炭素Ａｌキルド冷延鋼板から
なる、穿孔ピツチが０．５ｍｍ以下の高精細度シヤドウ
マスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27372984A JPS61153258A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 高精細度シヤドウマスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27372984A JPS61153258A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 高精細度シヤドウマスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61153258A true JPS61153258A (ja) | 1986-07-11 |
Family
ID=17531746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27372984A Pending JPS61153258A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 高精細度シヤドウマスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61153258A (ja) |
-
1984
- 1984-12-27 JP JP27372984A patent/JPS61153258A/ja active Pending
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