JPS6115366B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6115366B2 JPS6115366B2 JP52069171A JP6917177A JPS6115366B2 JP S6115366 B2 JPS6115366 B2 JP S6115366B2 JP 52069171 A JP52069171 A JP 52069171A JP 6917177 A JP6917177 A JP 6917177A JP S6115366 B2 JPS6115366 B2 JP S6115366B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- container
- output
- opening
- detector
- cap
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 8
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000006210 lotion Substances 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/909—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents in opaque containers or opaque container parts, e.g. cans, tins, caps, labels
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Sealing Of Jars (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、壜状容器の開口部に所定のキヤツ
プが装着されているかどうかを自動検査する装置
に関する。
プが装着されているかどうかを自動検査する装置
に関する。
多数の壜状容器を順次搬送して所定の内容物を
充填し、その開口部に所定のキヤツプを順次自動
的に装着する壜詰ラインにおいて、キヤツプの装
着洩れがないかどうかを目視検査によらず機器に
よつて自動的に行なう場合、従来の多くは、ノズ
ル−フラツパの原理を利用したエアーノズル背圧
式の検出器を用いている。このエアー式の検出器
にあつては、キヤツプの有る容器を検査した場合
の出力と、キヤツプの無い容器を検査した場合の
出力との差を大きくするには、検出器の諸条件の
設定が極めて困難で精密な調整を必要とし、検査
対象容器の変更の度に検出器の設定条件(特に機
械的なもの)を精密に調整し直さなければならな
い不便があるとともに、設定が微妙であるために
その信頼性も低い。また一部には、一個の光電素
子を用い、容器開口部からの反射光量によつてキ
ヤツプの有無を検出する方法が試みられていた
が、この場合キヤツプの有無による出力差を大き
くすることが困難であつて、誤検出が多くて実使
用に耐え得るものではなかつた。
充填し、その開口部に所定のキヤツプを順次自動
的に装着する壜詰ラインにおいて、キヤツプの装
着洩れがないかどうかを目視検査によらず機器に
よつて自動的に行なう場合、従来の多くは、ノズ
ル−フラツパの原理を利用したエアーノズル背圧
式の検出器を用いている。このエアー式の検出器
にあつては、キヤツプの有る容器を検査した場合
の出力と、キヤツプの無い容器を検査した場合の
出力との差を大きくするには、検出器の諸条件の
設定が極めて困難で精密な調整を必要とし、検査
対象容器の変更の度に検出器の設定条件(特に機
械的なもの)を精密に調整し直さなければならな
い不便があるとともに、設定が微妙であるために
その信頼性も低い。また一部には、一個の光電素
子を用い、容器開口部からの反射光量によつてキ
ヤツプの有無を検出する方法が試みられていた
が、この場合キヤツプの有無による出力差を大き
くすることが困難であつて、誤検出が多くて実使
用に耐え得るものではなかつた。
この発明は上記の問題点に観みなされ、簡単な
設定条件でキヤツプの有無による検出出力差が非
常に大きくなり、信頼性の高い検査を行なえるよ
うにすることを目的としている。すなわち、この
発明は搬送ラインの途中にあつて、搬送される壜
状容器の開口高さに焦点調整されるとともに、そ
のライン状視野が搬送方向と交叉するように位置
決めされ、かつ映像を明暗2値化して出力するラ
イン型撮像手段と; 前記壜状容器の本体部分が前記撮像手段の視野
手前まで到来したことを非接触で検出する容器到
来検出手段と; 前記搬送ラインの搬送速度に周波数同期したパ
ルス列を発生するパルス発生手段と; 前記容器到来が検出された時点から、前記パル
スを一定数だけ計数することにより、前記容器の
開口部付近が、前記撮像手段の視野内を通過中で
あることを検出する開口部通過検出手段と; 前記開口部通過中と検出される期間において、
前記撮像手段から得られる映像の明部(または暗
部)総領域の大きさに基づいて、当該壜状容器に
キヤツプの有無を判定する判定手段と; を具備することを特徴とするものである。
設定条件でキヤツプの有無による検出出力差が非
常に大きくなり、信頼性の高い検査を行なえるよ
うにすることを目的としている。すなわち、この
発明は搬送ラインの途中にあつて、搬送される壜
状容器の開口高さに焦点調整されるとともに、そ
のライン状視野が搬送方向と交叉するように位置
決めされ、かつ映像を明暗2値化して出力するラ
イン型撮像手段と; 前記壜状容器の本体部分が前記撮像手段の視野
手前まで到来したことを非接触で検出する容器到
来検出手段と; 前記搬送ラインの搬送速度に周波数同期したパ
ルス列を発生するパルス発生手段と; 前記容器到来が検出された時点から、前記パル
スを一定数だけ計数することにより、前記容器の
開口部付近が、前記撮像手段の視野内を通過中で
あることを検出する開口部通過検出手段と; 前記開口部通過中と検出される期間において、
前記撮像手段から得られる映像の明部(または暗
部)総領域の大きさに基づいて、当該壜状容器に
キヤツプの有無を判定する判定手段と; を具備することを特徴とするものである。
まず、この発明の原理を第1図〜第3図に基づ
いて概念的に説明する。図示する実施例は、整髪
剤や化粧水の容器に見られるように、密閉用キヤ
ツプの内側に注液用の細孔を設けたキヤツプを装
着する形式の容器に関し、この内側キヤツプの装
着工程の後段において内側キヤツプの有無を検査
するものである。
いて概念的に説明する。図示する実施例は、整髪
剤や化粧水の容器に見られるように、密閉用キヤ
ツプの内側に注液用の細孔を設けたキヤツプを装
着する形式の容器に関し、この内側キヤツプの装
着工程の後段において内側キヤツプの有無を検査
するものである。
第1図において、キヤツプ装着部から送り出さ
れる容器1は、正常であればその筒状開口部2の
上端に細孔4を有するキヤツプ3が嵌合、装着さ
れており、コンベア5に載置されて矢印A方向に
搬送されて来る。このコンベア5の上方には光源
6と、CCDやPDA等のイメージセンサを用いた
走査形検出器7が配設されており、容器1がこれ
らの下方を通過する際に、光源6からの光が容器
1の上面部すなわちキヤツプ3が装着された開口
部分に斜上方から照射され、上記走査形検出器7
において、レンズによつて結像された容器1の開
口部分の光学像が上記イメージセンサの受光面に
投射される。この走査形検出器7のイメージセン
サは、周知のように、多数の絵素(光電変換素
子)が一直線状に配列されてなる受光面を有し、
各絵素の受光量に対応した信号が所定の制御信号
に同期して順番に出力される。なお走査形検出器
7は、容器1の搬送に伴うその開口部分の光学像
の移動方向に対して、上記直線状の受光面が直交
するように配置されていて、容器1の開口部分を
その搬送方向と直交する方向に走査するようにな
つている。
れる容器1は、正常であればその筒状開口部2の
上端に細孔4を有するキヤツプ3が嵌合、装着さ
れており、コンベア5に載置されて矢印A方向に
搬送されて来る。このコンベア5の上方には光源
6と、CCDやPDA等のイメージセンサを用いた
走査形検出器7が配設されており、容器1がこれ
らの下方を通過する際に、光源6からの光が容器
1の上面部すなわちキヤツプ3が装着された開口
部分に斜上方から照射され、上記走査形検出器7
において、レンズによつて結像された容器1の開
口部分の光学像が上記イメージセンサの受光面に
投射される。この走査形検出器7のイメージセン
サは、周知のように、多数の絵素(光電変換素
子)が一直線状に配列されてなる受光面を有し、
各絵素の受光量に対応した信号が所定の制御信号
に同期して順番に出力される。なお走査形検出器
7は、容器1の搬送に伴うその開口部分の光学像
の移動方向に対して、上記直線状の受光面が直交
するように配置されていて、容器1の開口部分を
その搬送方向と直交する方向に走査するようにな
つている。
また、8はコンベア5の所定位置の両側に投光
器8aと受光器8bとを対向して配設してなる光
電式の無接触スイツチを示し、この無接触スイツ
チ8は、被検査物となる容器1がコンベア5に搬
送されて走査形検出器7による検査位置手前の所
定位置に達したことを検出する。すなわち、投光
器8aから受光器8bに投射される光線が容器1
の下部の太い部分に遮られたとき、この無接触ス
イツチ8の出力が高レベル「1」となる。また、
9はコンベア5の回転機構部に連繋された回転検
出器を示し、この回転検出器9はコンベア5の動
作に同期した(動作速度に比例した周波数の)パ
ルス信号を発生する。
器8aと受光器8bとを対向して配設してなる光
電式の無接触スイツチを示し、この無接触スイツ
チ8は、被検査物となる容器1がコンベア5に搬
送されて走査形検出器7による検査位置手前の所
定位置に達したことを検出する。すなわち、投光
器8aから受光器8bに投射される光線が容器1
の下部の太い部分に遮られたとき、この無接触ス
イツチ8の出力が高レベル「1」となる。また、
9はコンベア5の回転機構部に連繋された回転検
出器を示し、この回転検出器9はコンベア5の動
作に同期した(動作速度に比例した周波数の)パ
ルス信号を発生する。
さて、第2図Aはキヤツプ3が装着されていな
い容器1に対する走査形検出器7による走査の状
態を示す。この場合、容器1の筒状開口部2のリ
ング状の上端面が高輝度となるので、この部分の
光学像Mは図のように明るいリング状像となる。
そして、走査形検出器7による走査が一定周期で
繰返されるとともに、容器1が一定速度で搬送さ
れるので、上記像Mに対する走査形検出器7の走
査線は、同図Aの,,…のようになり、像M
を一定間隔で多数回平行に走査することになる。
したがつて、各走査毎の検出器7の出力信号は、
同図Bの,,…に示すように、イメージセン
サの各絵素の受光量に対応したパルス信号とな
り、明るいリング状像Mが投射される部分の出力
は高レベルで、その他の暗い部分に対応する絵素
の出力は低レベルとなる(なお、検出器7からは
図のように被形整形された出力信号が得られ
る)。ここで明かなように、各走査毎の出力信号
,,…の中のパルス信号の数は、像Mを明暗
2値化した場合の明部の大きさ(すなわち同図A
において各走査線,,…と像Mの重なり合う
部分の長さ)に対応する。
い容器1に対する走査形検出器7による走査の状
態を示す。この場合、容器1の筒状開口部2のリ
ング状の上端面が高輝度となるので、この部分の
光学像Mは図のように明るいリング状像となる。
そして、走査形検出器7による走査が一定周期で
繰返されるとともに、容器1が一定速度で搬送さ
れるので、上記像Mに対する走査形検出器7の走
査線は、同図Aの,,…のようになり、像M
を一定間隔で多数回平行に走査することになる。
したがつて、各走査毎の検出器7の出力信号は、
同図Bの,,…に示すように、イメージセン
サの各絵素の受光量に対応したパルス信号とな
り、明るいリング状像Mが投射される部分の出力
は高レベルで、その他の暗い部分に対応する絵素
の出力は低レベルとなる(なお、検出器7からは
図のように被形整形された出力信号が得られ
る)。ここで明かなように、各走査毎の出力信号
,,…の中のパルス信号の数は、像Mを明暗
2値化した場合の明部の大きさ(すなわち同図A
において各走査線,,…と像Mの重なり合う
部分の長さ)に対応する。
同様に、第3図Aはキヤツプ3が筒状開口部2
に正しく装着されている容器1に対する走査形検
出器7による走査の状態を示す。この場合、キヤ
ツプ3の円板状上面が明るく輝き、この部分の光
学像M′は明るい円形像となる(なお、この円形
像の中心には上記細孔4による小さな暗部ができ
る)。そして、この円形像M′に対する走査線は上
記の場合と同様で、同図Aの,,…のよう
に、像M′を一定間隔で多数回平行に走査するこ
とになる。したがつて、走査形検出器7の各走査
毎の出力信号は同図Bの,,…のように、円
形像M′に対応する部分で高レベルのパルス信号
が得られる。すなわち、各走査毎の出力信号,
,…中に発生するパルス信号の数は、像M′を
明暗2値化した場合の明部の大きさ(像M′と各
走査線,,…との重なり合う部分の長さ)に
対応する。
に正しく装着されている容器1に対する走査形検
出器7による走査の状態を示す。この場合、キヤ
ツプ3の円板状上面が明るく輝き、この部分の光
学像M′は明るい円形像となる(なお、この円形
像の中心には上記細孔4による小さな暗部ができ
る)。そして、この円形像M′に対する走査線は上
記の場合と同様で、同図Aの,,…のよう
に、像M′を一定間隔で多数回平行に走査するこ
とになる。したがつて、走査形検出器7の各走査
毎の出力信号は同図Bの,,…のように、円
形像M′に対応する部分で高レベルのパルス信号
が得られる。すなわち、各走査毎の出力信号,
,…中に発生するパルス信号の数は、像M′を
明暗2値化した場合の明部の大きさ(像M′と各
走査線,,…との重なり合う部分の長さ)に
対応する。
第2図の場合と第3図の場合を比較すると、キ
ヤツプ3が装着されていない容器1の筒状開口部
2のリング状上端面の面積は、当然キヤツプ3の
円板状上面の面積より充分小さいので、リング状
像Mと円形像M′の明部の大きさは、像M′の方が
大きく、その差は極めて大きくなる。したがつ
て、走査形検出器7の各走査毎の出力信号中にそ
れぞれ何発のパルス信号が発生したかをカウント
することによつて、各走査毎の明部の大きさを量
子化して検出し、その値に基づいて容器1にキヤ
ツプ3が装着されているか否かを弁別することが
できるのである。
ヤツプ3が装着されていない容器1の筒状開口部
2のリング状上端面の面積は、当然キヤツプ3の
円板状上面の面積より充分小さいので、リング状
像Mと円形像M′の明部の大きさは、像M′の方が
大きく、その差は極めて大きくなる。したがつ
て、走査形検出器7の各走査毎の出力信号中にそ
れぞれ何発のパルス信号が発生したかをカウント
することによつて、各走査毎の明部の大きさを量
子化して検出し、その値に基づいて容器1にキヤ
ツプ3が装着されているか否かを弁別することが
できるのである。
しかしながら、走査形検出器7による容器1の
開口部分の走査開始時および走査終了時近くにお
いて、キヤツプ3がない第2図の場合はリング状
像M、またキヤツプ3がある第3図の場合は円形
像M′に対して、検出器7による走査線がそれぞ
れの像の接線に近い状態となる。このような状態
では、像Mと走査線の重なり合う長さと、像
M′と走査線の重なり合う長さの差は小さく、こ
のときの検出器7の出力によつてキヤツプ3の有
無を弁別したのでは、弁別精度が低下してしま
う。
開口部分の走査開始時および走査終了時近くにお
いて、キヤツプ3がない第2図の場合はリング状
像M、またキヤツプ3がある第3図の場合は円形
像M′に対して、検出器7による走査線がそれぞ
れの像の接線に近い状態となる。このような状態
では、像Mと走査線の重なり合う長さと、像
M′と走査線の重なり合う長さの差は小さく、こ
のときの検出器7の出力によつてキヤツプ3の有
無を弁別したのでは、弁別精度が低下してしま
う。
そこでこの発明では、上記無接触スイツチ8お
よび回転検出器9を用いて走査形検出器7による
検査領域を実質的に限定し、走査形検出器7が容
器1の開口部分の中央部を走査する状態(第2図
および第3図に符号Eで示す範囲を走査する状
態)でのみ、この検出器7の出力に基づいてキヤ
ツプ3の有無を弁別するのである。次に、本発明
の一実施例を第4図、第5図に基づいて詳述す
る。
よび回転検出器9を用いて走査形検出器7による
検査領域を実質的に限定し、走査形検出器7が容
器1の開口部分の中央部を走査する状態(第2図
および第3図に符号Eで示す範囲を走査する状
態)でのみ、この検出器7の出力に基づいてキヤ
ツプ3の有無を弁別するのである。次に、本発明
の一実施例を第4図、第5図に基づいて詳述す
る。
第4図において、無接触スイツチ8の出力a
は、被検査物となる容器1が検査位置手前の所定
位置に達したとき「1」となり、この「1」出力
によつて、カウンタC1がカウント可能状態にな
るとともに、アンドゲートG1が開かれて上記回
転検出器9の出力パルスbがカウンタC1のカウ
ント入力cpに供給される。この回転検出器9の
出力パルスbはコンベア5の動作と同期している
ので、これをカウントすることによつてコンベア
5の移動量が分かる。すなわちカウンタC1にお
けるカウント数は、被検査物となる容器1が上記
無接触スイツチ8をオンさせてからの、その容器
1の搬送量に対応する。
は、被検査物となる容器1が検査位置手前の所定
位置に達したとき「1」となり、この「1」出力
によつて、カウンタC1がカウント可能状態にな
るとともに、アンドゲートG1が開かれて上記回
転検出器9の出力パルスbがカウンタC1のカウ
ント入力cpに供給される。この回転検出器9の
出力パルスbはコンベア5の動作と同期している
ので、これをカウントすることによつてコンベア
5の移動量が分かる。すなわちカウンタC1にお
けるカウント数は、被検査物となる容器1が上記
無接触スイツチ8をオンさせてからの、その容器
1の搬送量に対応する。
そこで、容器1が無接触スイツチ8をオンさせ
てから、この容器1の開口部分に対して第2図お
よび第3図に示す検査領域Eの開始線Esが走査
形検出器7によつて走査される状態になるまでの
容器1の移動量sと、同じく容器1が無接触スイ
ツチ8をオンさせてから、この容器1の開口部分
に対して上記検査領域Eの終了線Eeが走査形検
出器7によつて走査される状態になるまでの容器
1の移動量eとを予め求めておき、その移動量s
およびeに相当する回転検出器9の出力パルス数
NsおよびNeを、それぞれ一致回路10および1
1に設定する。そして、上記カウンタC1のカウ
ント出力を上記一致回路10および11に導入
し、上記カウント出力が上記設定数Nsに一致し
たとき、一致回路10からの出力dによつてフリ
ツプフロツプFF1をセツトするとともに、上記
カウント出力が上記設定数Neに一致したとき、
一致回路11からの出力eによつて上記フリツプ
フロツプFF1をリセツトするようにしている。
したがつて、上記フリツプフロツプFF1の出力
fは、被検査物となる容器1が走査形検出器7に
よつてその開口部分の上記検査領域Eを走査され
る位置にある期間に「1」となる。
てから、この容器1の開口部分に対して第2図お
よび第3図に示す検査領域Eの開始線Esが走査
形検出器7によつて走査される状態になるまでの
容器1の移動量sと、同じく容器1が無接触スイ
ツチ8をオンさせてから、この容器1の開口部分
に対して上記検査領域Eの終了線Eeが走査形検
出器7によつて走査される状態になるまでの容器
1の移動量eとを予め求めておき、その移動量s
およびeに相当する回転検出器9の出力パルス数
NsおよびNeを、それぞれ一致回路10および1
1に設定する。そして、上記カウンタC1のカウ
ント出力を上記一致回路10および11に導入
し、上記カウント出力が上記設定数Nsに一致し
たとき、一致回路10からの出力dによつてフリ
ツプフロツプFF1をセツトするとともに、上記
カウント出力が上記設定数Neに一致したとき、
一致回路11からの出力eによつて上記フリツプ
フロツプFF1をリセツトするようにしている。
したがつて、上記フリツプフロツプFF1の出力
fは、被検査物となる容器1が走査形検出器7に
よつてその開口部分の上記検査領域Eを走査され
る位置にある期間に「1」となる。
上記のように、フリツプフロツプFF1の出力
fにより検査領域Eを規定することができるが、
さらに本実施例では、走査形検出器7による検査
領域Eの走査中に、その走査出力を回転検出器9
の出力に同期させてサンプリングするようにして
いる。すなわち、走査形検出器7の走査周波数は
比較的高いので、検査領域Eの検査中には非常に
多数の走査が含まれるのであるが、回転検出器の
一発のパルス中に(これの周波数はコンベア5の
通常の動作速度では上記走査周波数より充分低
い)、走査形検出器7によるM回の走査のみを生
かすことによつて、検査領域Eの検査中におい
て、走査形検出器7による走査を実質的に(Ne
−Ns)M回に限定するようにしている。
fにより検査領域Eを規定することができるが、
さらに本実施例では、走査形検出器7による検査
領域Eの走査中に、その走査出力を回転検出器9
の出力に同期させてサンプリングするようにして
いる。すなわち、走査形検出器7の走査周波数は
比較的高いので、検査領域Eの検査中には非常に
多数の走査が含まれるのであるが、回転検出器の
一発のパルス中に(これの周波数はコンベア5の
通常の動作速度では上記走査周波数より充分低
い)、走査形検出器7によるM回の走査のみを生
かすことによつて、検査領域Eの検査中におい
て、走査形検出器7による走査を実質的に(Ne
−Ns)M回に限定するようにしている。
そのために、走査形検出器7から各走査毎にそ
の走査の直前に一発のパルスを発生するフレーム
信号gを取出し、アンドゲートG2により、この
フレーム信号gとフリツプフロツプFF1の出力
fおよび回転検出器9の出力bの論理積をとる。
そしてこのアンドゲートG2の出力h、すなわち
検査領域Eの検査中で、回転検出器9の一発のパ
ルス中に含まれるフレーム信号を、カウンタC2
のカウント入力CPに供給するとともに、このカ
ウンタC2を回転検出器9の出力パルスの各立下
りでリセツトするようにして、回転検出器9の一
発のパルス中に含まれるフレーム信号fのパルス
数をカウントする。さらに、このカウンタC2の
カウント出力を(M+1)が設定されている一致
回路12に導入し、このカウント出力が(M+
1)に一致したとき一致回路12から出力信号i
を送出するようにする。そして、アンドゲートG
2の出力hの最初のパルスによつてフリツプフロ
ツプFF2をセツトし、一致回路12からの出力
iによつてこのフリツプフロツプFF2をリセツ
トする。
の走査の直前に一発のパルスを発生するフレーム
信号gを取出し、アンドゲートG2により、この
フレーム信号gとフリツプフロツプFF1の出力
fおよび回転検出器9の出力bの論理積をとる。
そしてこのアンドゲートG2の出力h、すなわち
検査領域Eの検査中で、回転検出器9の一発のパ
ルス中に含まれるフレーム信号を、カウンタC2
のカウント入力CPに供給するとともに、このカ
ウンタC2を回転検出器9の出力パルスの各立下
りでリセツトするようにして、回転検出器9の一
発のパルス中に含まれるフレーム信号fのパルス
数をカウントする。さらに、このカウンタC2の
カウント出力を(M+1)が設定されている一致
回路12に導入し、このカウント出力が(M+
1)に一致したとき一致回路12から出力信号i
を送出するようにする。そして、アンドゲートG
2の出力hの最初のパルスによつてフリツプフロ
ツプFF2をセツトし、一致回路12からの出力
iによつてこのフリツプフロツプFF2をリセツ
トする。
それにより、検査領域Eの検査期間中におい
て、回転検出器9の出力bの各パルス毎に、走査
形検出器7のM回の走査時間だけ、フリツプフロ
ツプFF2の出力jが「1」となる。
て、回転検出器9の出力bの各パルス毎に、走査
形検出器7のM回の走査時間だけ、フリツプフロ
ツプFF2の出力jが「1」となる。
そこでアンドゲートG3により、走査形検出器
7の検出出力kと上記フリツプフロツプFF2の
出力jとの論理積をとり、フリツプフロツプFF
2の出力jが「1」となつている期間のみ、走査
形検出器7の検出出力kをカウンタC3のカウン
ト入力CPに供給するとともに、このカウンタC
3を上記フレーム信号gによつてリセツトする。
したがつて、フリツプフロツプFF2の出力jが
「1」となつているときに、走査形検出器7の各
走査毎の検出出力中に含まれるパルス数(上述の
ように明部の大きさに対応する)がカウンタC3
によつてカウントされる。
7の検出出力kと上記フリツプフロツプFF2の
出力jとの論理積をとり、フリツプフロツプFF
2の出力jが「1」となつている期間のみ、走査
形検出器7の検出出力kをカウンタC3のカウン
ト入力CPに供給するとともに、このカウンタC
3を上記フレーム信号gによつてリセツトする。
したがつて、フリツプフロツプFF2の出力jが
「1」となつているときに、走査形検出器7の各
走査毎の検出出力中に含まれるパルス数(上述の
ように明部の大きさに対応する)がカウンタC3
によつてカウントされる。
このカウンタC3から出力される各走査毎のパ
ルス数Nは比較回路13に供給され、キヤツプ3
の有無の境界となる基準値Noと比較され、この
比較回路13からは、N≧No(これを一応キヤ
ツプ有りとする)の場合に、カウンタC4のカウ
ント入力CPに一発のパルスが供給され、逆に、
N<No(これを一応キヤツプ無しとする)の場
合に、カウンタC5のカウント入力CPに一発の
パルスが供給される。
ルス数Nは比較回路13に供給され、キヤツプ3
の有無の境界となる基準値Noと比較され、この
比較回路13からは、N≧No(これを一応キヤ
ツプ有りとする)の場合に、カウンタC4のカウ
ント入力CPに一発のパルスが供給され、逆に、
N<No(これを一応キヤツプ無しとする)の場
合に、カウンタC5のカウント入力CPに一発の
パルスが供給される。
すなわち検査領域Eの検査期間中の、走査形検
出器7による(Ne−Ns)M回の走査の検出出力
のうち、キヤツプ有りと判別された走査回数がカ
ウンタC4にカウントされるとともに、キヤツプ
無しと判別された走査回数がカウンタC5にカウ
ントされる。そして検査領域Eの検査の終了時点
で、カウンタC4のカウント数とカウンタC5の
カウント数とが大小判別回路14で比較され、カ
ウンタC4のカウント数が大きい場合に、大小判
別回路14から最終的なキヤツプ有り信号が出力
され、逆にカウンタC5のカウント数が大きい場
合に、大小判別回路14から最終的なキヤツプ無
し信号が出力されるのである。
出器7による(Ne−Ns)M回の走査の検出出力
のうち、キヤツプ有りと判別された走査回数がカ
ウンタC4にカウントされるとともに、キヤツプ
無しと判別された走査回数がカウンタC5にカウ
ントされる。そして検査領域Eの検査の終了時点
で、カウンタC4のカウント数とカウンタC5の
カウント数とが大小判別回路14で比較され、カ
ウンタC4のカウント数が大きい場合に、大小判
別回路14から最終的なキヤツプ有り信号が出力
され、逆にカウンタC5のカウント数が大きい場
合に、大小判別回路14から最終的なキヤツプ無
し信号が出力されるのである。
以上詳細に説明したように、本発明によれば、
キヤツプの有無によつて非常に大きな検査出力の
差が得られる部分を選定してその部分を検査領域
と定め、その部分の検査信号に基づいて、極めて
高精度にキヤツプの有無を弁別することができる
のである。また、上記検査領域を設定するのは、
デジタルスイツチ等によつて電気的に行なえ、被
検査物となる容器に対する融通性も非常に高い
等、様々な効果を奏する。
キヤツプの有無によつて非常に大きな検査出力の
差が得られる部分を選定してその部分を検査領域
と定め、その部分の検査信号に基づいて、極めて
高精度にキヤツプの有無を弁別することができる
のである。また、上記検査領域を設定するのは、
デジタルスイツチ等によつて電気的に行なえ、被
検査物となる容器に対する融通性も非常に高い
等、様々な効果を奏する。
図面は本発明の原理を示すものであつて、第1
図は容器の搬送ラインと走査形検出器等の関係を
示す説明図、第2図はキヤツプが無い場合、第3
図はキヤツプが有る場合のそれぞれの検査内容の
説明図、第4図は本発明を適用した装置のブロツ
ク図、第5図は同上ブロツク図における各部の動
作を示すタイミミングチヤートである。 1……容器、3……キヤツプ、5……コンベ
ア、7……走査形検出器、8……無接触スイツ
チ、9……回転検出器、E……検査領域。
図は容器の搬送ラインと走査形検出器等の関係を
示す説明図、第2図はキヤツプが無い場合、第3
図はキヤツプが有る場合のそれぞれの検査内容の
説明図、第4図は本発明を適用した装置のブロツ
ク図、第5図は同上ブロツク図における各部の動
作を示すタイミミングチヤートである。 1……容器、3……キヤツプ、5……コンベ
ア、7……走査形検出器、8……無接触スイツ
チ、9……回転検出器、E……検査領域。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 搬送ラインの途中にあつて、搬送される壜状
容器の開口高さに焦点調整されるとともに、その
ライン状視野が搬送方向と交叉するように位置決
めされ、かつ映像を明暗2値化して出力するライ
ン型撮像手段と; 前記壜状容器の本体部分が前記撮像手段の視野
手前まで到来したことを非接触で検出する容器到
来検出手段と; 前記搬送ラインの搬送速度に周波数同期したパ
ルス列を発生するパルス発生手段と; 前記容器到来が検出された時点から、前記パル
スを一定数だけ計数することにより、前記容器の
開口部付近が、前記撮像手段の視野内を通過中で
あることを検出する開口部通過検出手段と; 前記開口部通過中と検出される期間において、
前記撮像手段から得られる映像の明部(または暗
部)総領域の大きさに基づいて、当該壜状容器に
キヤツプの有無を判定する判定手段と; を具備することを特徴とする壜状容器のキヤツ
プの検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6917177A JPS544160A (en) | 1977-06-11 | 1977-06-11 | Cap testing system for bottle-shaped containers |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6917177A JPS544160A (en) | 1977-06-11 | 1977-06-11 | Cap testing system for bottle-shaped containers |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS544160A JPS544160A (en) | 1979-01-12 |
| JPS6115366B2 true JPS6115366B2 (ja) | 1986-04-23 |
Family
ID=13394992
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6917177A Granted JPS544160A (en) | 1977-06-11 | 1977-06-11 | Cap testing system for bottle-shaped containers |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS544160A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001221747A (ja) * | 2000-02-03 | 2001-08-17 | Suntory Ltd | 液体充填用容器の撮像方法および装置 |
| EP3413055B1 (en) * | 2017-06-09 | 2021-10-06 | Roche Diagnostics GmbH | Method for detecting a covering state and laboratory sample distribution system |
-
1977
- 1977-06-11 JP JP6917177A patent/JPS544160A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS544160A (en) | 1979-01-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0483966B1 (en) | Method of and apparatus for inspecting a transparent or translucent article such as a bottle | |
| AU695387B2 (en) | Optical inspection of container finish dimensional parameters | |
| US5216481A (en) | Method of and apparatus for inspecting transparent object for defect | |
| US4002823A (en) | Method and apparatus for video inspection of articles of manufacture | |
| US4516264A (en) | Apparatus and process for scanning and analyzing mail information | |
| AU593030B2 (en) | A method relating to three dimensional measurement of objects | |
| CA1118525A (en) | Bottle inspection apparatus | |
| KR960010679B1 (ko) | 병의 나사입구부 결함검출장치 | |
| US4858156A (en) | Apparatus for examining objects | |
| EP0293510B1 (en) | Apparatus for inspecting side-wall of bottle | |
| US4682220A (en) | Apparatus for detecting containers having a deviating property | |
| US5149977A (en) | Document reader apparatus | |
| US7317524B2 (en) | Method and device for detecting surface defects on the neck ring of a transparent or translucent container of revolution | |
| JP2000241363A (ja) | 物品の外観検査装置及び外観検査方法 | |
| JPH0634573A (ja) | 瓶検査装置 | |
| US4850696A (en) | Vacuum degree inspecting device for sealed up vessel | |
| JPS6115366B2 (ja) | ||
| EP1903777A2 (en) | Film scanner and detection apparatus therefor | |
| JPH0222424B2 (ja) | ||
| JP2004177299A (ja) | X線異物検査装置 | |
| DE4400179A1 (de) | Vorrichtung zur Erkennung von Verformungen und/oder Wölbungen auf Werkstückoberflächen | |
| JPH02113375A (ja) | 傷検出装置 | |
| JPH09101128A (ja) | 容器口天面の欠陥検査装置 | |
| JPS6027064B2 (ja) | ラベルの表裏検査装置 | |
| JPS577505A (en) | Detecting method for excess and deficient turn-tightening of cap and device thereof |