JPS61195367A - 回路基板検査装置 - Google Patents

回路基板検査装置

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JPS61195367A
JPS61195367A JP60036147A JP3614785A JPS61195367A JP S61195367 A JPS61195367 A JP S61195367A JP 60036147 A JP60036147 A JP 60036147A JP 3614785 A JP3614785 A JP 3614785A JP S61195367 A JPS61195367 A JP S61195367A
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JP
Japan
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circuit board
double
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board
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JP60036147A
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JPH053913B2 (ja
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Ko Nakajima
中島 鋼
Katsutoshi Saida
斉田 勝利
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Yokowo Co Ltd
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Yokowo Mfg Co Ltd
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、扁平な回路基板に各種の電子部品を装着して
組立てられた被検査体としての実装回路基板(以下、た
んに回路基板という)を最終的に導通検査する回路基板
検査装置に係り、特に、各種の電子部品を回路基板の両
面に挿着して両面回路基板検査装置に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
既に提案されているこの種の回路基板検査装置は、回路
基板の片面のみに各種の電子部品を挿着した被検査体と
して回路基板を多数のコンタクトピン(コンタクトプロ
ーブともいう)で導通検査している。
即ち、上述した回路基板検査装置は、ピンボード上に多
数のコンタクトピンを弾発的に植設し、この各コンタク
トピンに回路基板の片側のみに挿着された各電子部品を
接触させ、他方、上記回路基板の裏面に付設された各端
子に導通検査用の他のコンタクトピンを弾発的に上方又
は下方から昇降させて圧接し、これによって測定電流に
よる導通検査を施すようになっている。
このように、被検査体としての回路基板は、その片側の
みに各種電子部品による突出部を形成しており、回路基
板の裏面は、検査回路面を形成している関係上、コンタ
クトピンを被検査体の下がわから配設し、他のコンタク
トピンを備えた可動ピンボードを上方から降下させて回
路基板に接触導通するのが、検査作業上容易とされてい
る。
しかしながら、最近の回路基板に使用される各種の電子
部品は、超小型化するために、高密度配列化を余儀なく
され、これに起因して、回路基板の表裏、つまり、両面
にそれぞれ各電子部品を挿着して使用されるため、これ
らの両面回路基板の導通検査は、両面回路基板の上・下
方向から同時に、しかも、−挙に一工程で導通検査する
ことが望まれている。
〔発明の目的〕
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって
、回路基板の両面に挿着された各種の電子部品を基板の
上・下方向から一工程で一挙に、しかも、確実に導通検
査して検査作業の能率化及び信頼性の向上を図るように
したことを目的とする回路基板検査装置を提供するもの
である。
〔発明の概要〕
本発明は、支持基板に複数の案内支柱を植設し、この各
案内支柱の上部に上部ピンボードを備えた固定板を設け
、この固定板の下位の上記各案内支柱に上向きのコンタ
クトピンを有する下部ピンボードを設け、この下部ピン
ボードの上位の上記各案内支柱に保持部材を各ばねを介
して浮動状態に1装し、上記保持部材の両側に各一対の
ブラケットを付設し、この両ブラケットに被検査体を載
せる抽出板と一体の各ガイド軸を水平に摺動自在に設け
て、被検査体としての両面回路基板を一工程で確実に導
通検査し得るように構成したものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を図示の一実施例について説明する。
第1図乃至第5図において、符号1は、扁平な支持基板
であって、この支持基板1の一側には、下部コネクタ2
が検査表示器3にリード線を介して接続するようにして
設けられており、上記支持基板1の他側には、電源に接
続したパイロットランプ4が付設されている。又、上記
支持基板1上の各角隅部には、複数(図では4本)の案
内支柱5が植設されており、この案内支柱5の上部には
固定板6が水平にして固着されている。さらに、この固
定板6には、上部コネクタ7が上記検査表示器3にリー
ド線を介して接続されており、この上部コネクタ7を上
記下部コネクタ2の電流とが流れて上記検査表示器3で
導通検査表示するようになっ−でいる。
一方、第2図に示されるように、上記固定板6の下位の
上記各案内支柱5には、下部ピンボード8が上・下方向
に摺動自在に嵌装されており、この下部ピンボード8の
上面には多数のコンタクトピン9が上向きして、しかも
弾発的に昇降するようにして設けられている。なお、こ
の各コンタクトピン9は、上記下部コネクタ2に各導電
線を通して連結されている。又、上記下部ピンボード8
の上位の上記各案内支柱5には、扁平な保持部材10が
上・下方向に摺動自在に嵌装されており、この保持部材
10と上記下部ピンボード8とは、後述する各コイルば
ね14と15とによって浮動状態に保持されている。即
ち、上記下部ピンボード8の中程には、第2図に示され
るように、各一対をなすガイドビン11が立設されてお
り、この各ガイドビン11の直上に位置する上記保持部
材10には各一対をなすガイドビン12が構過して植設
されている。さらに、この各ガイドビン12の直上に位
装置する上記固定板6には、各一対をなすガイドビン1
3が垂設されている。ざらに又、この各ガイドビン11
と12との間に位置する上記下部ピンボード8と上記保
持部材10との間には、各コイルばね14が弾発的に介
装されており、上記各ガイドビン12と13との間に位
置する上記保持部材10と上記固定板6との間には、各
コイルばね15が弾発的に介装されており、特に、上記
各コイルばね14は他のコイルばね15の弾力より強く
形成されている。
他方、第1図及び第3図に示されるように、上記両案内
支柱5に近接した上記保持部材10上の両側には、軸受
16aを備えた各ブラケット16が並設されており、こ
の各軸受16aには、把手17を有する抽出板18と一
体をなす各ガイド軸19が水平にして摺動自在に設けら
れている。又、略四角形をなす上記抽出板18の上面の
対角線上には、一対の案内ビン20が被検査体としての
回路基板W@着脱自在に嵌合して位置規制するようにし
て植設されている。
なお、上記回路基板Wの両面には、前述したように、そ
の両面に、各種の電子部品が添設されており、上記回路
基板Wの下面は、前記各コンタクトピン9に弾発的に当
接し得るようになっている。
(第3図参照)。
又一方、上記被検査体Wを載せた上記抽出板18の直上
前記固定板6には、上部ピンボード21が垂設されてお
り、この上部ピンボード21の下面には、多数のコンタ
クトピン22がユニット化されて、しかも、着脱自在に
付設されており、この各コンタクトピン22は、上記被
検査体Wの導通接触部に弾発的に接触するようになって
いる。
又、上記上部ピンボード21の下面には、複数の押圧ビ
ン23が上記被検査体Wの上面を押圧し得るようにして
設けられており、この各押圧ビン23は上記被検査体W
の浮上りを防止するようになっている。又、上記多数の
コンタクトピン22は、上記上部コネクタ7に各導電線
を介して接続されており、この上部コネクタ7は、上述
したように前記検査表器3にリード線で接続されている
さらに、上記両ガイド軸19の両端部には、第2図に示
されるように、各ストッパ24.25が付設されており
、この両ストッパ24と25は、抽出板18を把手17
で抽出したとき及び挿入したときの位置規制をし得るよ
うになっている。さらに、上記抽出板18の正面両側に
は、第1図及び第4図に示されるように、一対の軸受2
6が垂直方向に嵌装されており、この両軸受26の頂面
には、各係合孔26aが垂直に穿設されている。又、こ
の両軸受26には、各ロックハンドル27が扱は出ない
ようにして摺動自在にして嵌装されており、この各ロッ
クハンドル27の偏倚した位置に垂下した各係合ビン2
8は、上記各係合孔26aに係合するようになっている
。さらに、上記各ロックハンドル27の支軸27aの直
下に位置する上記保持部材10の管軸10aには、各作
動スイッチ5182が、第5図に示される作動開始用の
タイマT1に通電し得るようにして設けられている。従
って、上記両口ツクハンドル27は、抽出板18を挿入
した後、両軸受26の周りに回動することにより、上記
各係合ビン28が各係合孔26aに係合すると、上記各
支軸27aの下端部は上山管軸10aに嵌合して抽出板
18の移動を一時的に固定すると共に、各作動スイッチ
5182をonし、これによってタイマT1を作動して
、導通検査を開始するようになっている。
他方、第1図及び第2図において、上記支持基板1の後
部上面には、ブレーキ付のモータ29が設置されており
、このモータ29の出力軸29aには、第1カム部材3
0.及び第2カム部材31が軸装されている。又この第
1カム部材30の回転通路上に位置する上記支持基板1
には、各ブラケット32が付設されており、この各ブラ
ケット32には各作動積杆33が各支軸34によって軸
装されている。さらに、この各作動積杆33の一端部3
3aは上記第1カム部材30の一部に接触しており、上
記各作動積杆33の他端部33bは、上記下部ピンボー
ド8の底面に付設された各当接杆8aに前記各コイルば
ね14.15の弾力によって弾発的に当接している。ざ
らに又、上記第2カム部材31の回転通路上には、上限
スイッチS3と下限スイッチS4とが設けられており、
この上限スイッチS3は、上記下部ピンボード8が最上
位置に扛上したとき、上記モータ29の回転を停止する
ものであり、上記下限スイッチS4は、導通検査用のタ
イマT2が動作し、その終了後に、再び、上記モータ2
9を駆動して約180°回動して上記回動じて上記下部
ピンボード8を最上位置に降下したときに作動するよう
になっている。
第5図に示される電気回路は、本発明に組込まれる電気
回路であって、この電気回路の給電回路には、作動”開
始時のタイマT1を作動する作動スイッチS、S2.上
記タイマT1によるリレーで作動するモータ29、上記
上限スイッチs3の作動によって作動開始し、しかも導
通検査所要時間を規制するタイマT2、上記下限スイッ
チS4の作動によって上記モータ29の動作を制御する
各リレーR、R2,R3がそれぞれ付設されている。
以下、本発明の作用について説明する。
従って、今、被検査体としての両面回路基板Wを抽出板
18に挿着するには、予め、上記両0ツクハンドル27
を上方へ引き上げて僅かに外方へ回動することにより、
上記各係合孔26aから各係合ビン28を引き抜く。こ
れによって、上記両口ツクハンドル27の支軸27aは
保持部材10の管軸10aから引き抜かれると共に、両
作動スイッチS1.S2をOFFする。
次に、上記抽出板18の把手17を手で前方へ引き出す
ことにより、この抽出板18と一体の両ガイド軸19は
、各ブラケット16の軸受16aに案内されて前方へ摺
動する。
このようにして前方へ引き出された上記抽出板18の各
案内ビン20には、第3図に示されるように、両面回路
基板Wが挿着される。次に再び、上記抽出板18を原位
置に挿入すると共に、前記両ロックハンドルリ27を互
に内がわに向って回動することにより、この両口ツクハ
ンドル27の各係合ビン28が各係合孔26aに係合し
て降下すると同時に、各作動スイッチS1.S2をON
する。すると、タイマT1が作動して、数秒後に、モー
タ29が駆動する。すると、このモータ29の出力軸2
9aに軸装された第1カム部材30と第2カム部材31
は共に回転するので、この第1カム部材30は、作動積
杆33を支軸34の周りに右旋する。これによって、こ
の作動積杆33の他端部33aが下部ピンボード8及び
保持部材10を上記各コイルばね14,15の弾力に抗
して扛上する。
なお、こ−で注目すべき点は、上記コイルばね15は他
のコイルばね14よりも、弱い弾力で形成されている関
係上、上部ピンボード21の各コンタクトピン22に対
し、両面回路基板Wの各電子部品の導通接点を軽く接触
させる。これによって、被検査体として回路基板Wに無
理な応力を与えないようにしている。次に、上記下部ピ
ンボード8の各コンタクトピン9を上記両面回路基板W
の裏面の導通接点に圧接させる。このとき、第2カム部
材31が上限スイッチS3をONする。すると、タイマ
T2が設定時間中作動して前記検査表示器3に導通検査
による結果を表示する。しがして、タイマT2が一定時
間経過すると、リレが作動して上記モータ29を駆動す
るので、上記第1カム部材30が作動積杆33を支軸3
4の周りに左旋するので、上記下部ピンボード8及び保
持部材10は、共に自重によって下限位置に時下すると
同時に、第2カム部材31が下限スイッチ$4を作動す
るので、上記モータ29の駆動は停止する。次に、上記
両口ツクハンドル27を上方へ引き上げて外方へ回動す
ることにより、保持部材10の管軸10aから支軸27
aを引き抜き、これによって、ロック解除した後、上記
抽出板18の把手17を手で前方へ引き出すことにより
、上記両面回路基板Wを取出すことができる。
このようにして、上記両面回路基板Wの導通検査は、反
復継続して行われるようになっ・ている。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明によれば、支持基板1に複数の
案内支柱5を植設し、この各案内支柱5の上部に、上部
ピンボード21を備えた固定板6を設け、この固体板6
の下位の上記各案内支柱5に上向きのコンタクトピン9
を有する下部ピンボード8を設け、この下部ピンボード
8の上位の上記各案内支柱5に保持部材10を各ばね1
4,15を介して浮動状態に嵌装し、上記保持部材10
0両側に各一対のブラケット16を付設し、この両ブラ
ケット16に被検査体Wを載せる抽出板18と一体の各
ガイド19を水平にして摺動自在に設けであるので、被
検査体Wとして両面回路基板の導通検査を一工程で一挙
に、しかも、確実に行うことができるばかりでなく、取
扱い操作もl!!1111であるとともに、上部ピンボ
ード21や下部ピンボード8の微細な各コンタクトピン
9.22を折曲げたり、損傷することなく長期に亘って
使用することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による回路基板検査装置の正面図、第
2図は同上側面図、第3図は、本発明の要部を取出して
示す拡大断面図、第4図は、第1図中の鎖円A部の拡大
断面図、第5図は、本発明に組込まれる電気回路図であ
る。 1・・・支持基板、3・・・検査表示器、5・・・案内
支柱6・・・固定板、8・・・下部ピンボード、9・・
・コンタクトピン、10・・・保持部材、16・・・ブ
ラケット、18・・・抽出板、21・・・上部ピンボー
ド、22・・・コンタクトピン、27・・・ロックハン
ドル、28・・・係合ビン、29・・・モータ、30・
・・第1カム部材、31−・・第2カム部材、33・・
・作動積杆。 出願人代理人  猪  股    清 手続補正書 昭和60年6月1’?日

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、支持基板に複数の案内支柱を植設し、この各案内支
    柱の上部に上部ピンボードを備えた固定板を設け、この
    固定板の下位の上記各案内支柱に上向きのコンタクトピ
    ンを有する下部ピンボードを設け、この下部ピンボード
    の上位の上記各案内支柱に保持部材を各ばねを介して浮
    動状態に嵌装し、上記保持部材の両側に各一対のブラケ
    ットを付設し、この両ブラケットに被検査体を載せる抽
    出板と一体の各ガイド軸を水平ににして摺動自在に設け
    たことを特徴とする回路基板検査装置。 2、下部ピンボードに位置するコイルばねを保持部材に
    位置するコイルばねより強いばねにしたことを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の回路基板検査装置。 3、下部ピンボード及び保持部材をカム部材で直接若し
    くは間接的に昇降し得るようにしたことを特徴とする特
    許請求の範囲第1項又は第2項記載の回路基板検査装置
JP60036147A 1985-02-25 1985-02-25 回路基板検査装置 Granted JPS61195367A (ja)

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JPS61195367A true JPS61195367A (ja) 1986-08-29
JPH053913B2 JPH053913B2 (ja) 1993-01-18

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104111386A (zh) * 2013-04-18 2014-10-22 海洋王(东莞)照明科技有限公司 Pcb板测试装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55147363A (en) * 1979-05-08 1980-11-17 Toshiba Corp Device for automatically testing wiring bedplate

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