JPH053913B2 - - Google Patents
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- JPH053913B2 JPH053913B2 JP60036147A JP3614785A JPH053913B2 JP H053913 B2 JPH053913 B2 JP H053913B2 JP 60036147 A JP60036147 A JP 60036147A JP 3614785 A JP3614785 A JP 3614785A JP H053913 B2 JPH053913 B2 JP H053913B2
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- circuit board
- board
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、扁平な回路基板に各種の電子部品を
装着して組立てられた被検査体としての実装回路
基板（以下、たんに回路基板という）を最終的に
導通検査する回路基板検査装置に係り、特に、各
種の電子部品を回路基板の両面に挿着して検査す
る両面の回路基板検査装置に関する。
装着して組立てられた被検査体としての実装回路
基板（以下、たんに回路基板という）を最終的に
導通検査する回路基板検査装置に係り、特に、各
種の電子部品を回路基板の両面に挿着して検査す
る両面の回路基板検査装置に関する。
既に提案されているこの種の回路基板検査装置
は、回路基板の片面のみに各種の電子部品を挿着
した被検査体として回路基板を多数のコンタクト
ピン（コンタクトプローブともいう）で導通検査
している。
は、回路基板の片面のみに各種の電子部品を挿着
した被検査体として回路基板を多数のコンタクト
ピン（コンタクトプローブともいう）で導通検査
している。
即ち、上述した回路基板検査装置は、ピンボー
ド上に多数のコンタクトピンを弾発的に植設し、
この各コンタクトピンを回路基板の一面に挿着さ
れた各電子部品から突出する回路基板の他面の導
体部分に上方又は下方から昇降させて圧接し、こ
れによつて、電気的導通検査を施すようになつて
いる。
ド上に多数のコンタクトピンを弾発的に植設し、
この各コンタクトピンを回路基板の一面に挿着さ
れた各電子部品から突出する回路基板の他面の導
体部分に上方又は下方から昇降させて圧接し、こ
れによつて、電気的導通検査を施すようになつて
いる。
このように、被検査体としての回路基板は、そ
の一面のみに各種電子部品による突出部を形成
し、回路基板の他面は、検査回路面を形成してい
る関係上、コンタクトピンを被検査体の他面側か
ら回路基板に接触導通させて測定検査が行われ
る。
の一面のみに各種電子部品による突出部を形成
し、回路基板の他面は、検査回路面を形成してい
る関係上、コンタクトピンを被検査体の他面側か
ら回路基板に接触導通させて測定検査が行われ
る。
しかしながら、最近の回路基板に使用される各
種の電子部品は、超小型化するために、高密度配
列化を余儀なくされ、これに起因して、回路基板
の表裏、つまり、両面にそれぞれ各電子部品を挿
着して使用されれるため、これらの両面回路基板
の導通検査は、両面回路基板の上・下方向から同
時に、しかも、一挙に一工程で導通検査すること
が望まれている。
種の電子部品は、超小型化するために、高密度配
列化を余儀なくされ、これに起因して、回路基板
の表裏、つまり、両面にそれぞれ各電子部品を挿
着して使用されれるため、これらの両面回路基板
の導通検査は、両面回路基板の上・下方向から同
時に、しかも、一挙に一工程で導通検査すること
が望まれている。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもの
であつて、回路基板の両面に挿着された各種の電
子部品を基板の上・下方向から一工程で一挙に、
しかも、確実に導通検査して検査作業の能率化及
び信頼性の向上を図るようにしたことを目的とす
る回路基板検査装置を提供するものである。
であつて、回路基板の両面に挿着された各種の電
子部品を基板の上・下方向から一工程で一挙に、
しかも、確実に導通検査して検査作業の能率化及
び信頼性の向上を図るようにしたことを目的とす
る回路基板検査装置を提供するものである。
本発明は、支持基板に複数の案内支柱を植設
し、この各案内支柱の上部に上部ピンボードを備
えた固定板を設け、この固定板の下位の上記各案
内支柱に上向きのコンタクトピを有する下部ピン
ボードを設け、この下部ピンボードの上位の上記
各案内支柱に保持部材を各ばねを介して浮動状態
に嵌装し、上記保持部材の両側に各一対のブラケ
ツトを付設し、この両ブラケツトに被検査体を載
せる抽出板と一体の各ガイド軸を水平に摺動自在
に設けて、被検査体としての両面回路基板を一工
程で確実に導通検査し得るように構成したもので
ある。
し、この各案内支柱の上部に上部ピンボードを備
えた固定板を設け、この固定板の下位の上記各案
内支柱に上向きのコンタクトピを有する下部ピン
ボードを設け、この下部ピンボードの上位の上記
各案内支柱に保持部材を各ばねを介して浮動状態
に嵌装し、上記保持部材の両側に各一対のブラケ
ツトを付設し、この両ブラケツトに被検査体を載
せる抽出板と一体の各ガイド軸を水平に摺動自在
に設けて、被検査体としての両面回路基板を一工
程で確実に導通検査し得るように構成したもので
ある。
以下、本発明を図示の一実施例について説明す
る。
る。
第１図乃至第５図において、符号１は、扁平な
支持基板であつて、この支持基板１の一側には、
下部コネクタ２が検査表示器３にリード線を介し
て接続するようにして設けられており、上記支持
基板１の他側には、電源に接続した電源スイツチ
４が付設されている。又、上記支持基板１上の各
角隅部には、複数（図では４本）の案内支柱５が
植設されており、この案内支柱５の上部には固定
板６が水平にして固着されている。さらに、この
固定板６には、上部コネクタ７が上記検査表示器
３にリード線を介して接続されており、この上部
コネクタ７および上記下部コネクタ２からの電流
が上記検査表示器３に流れて導通検査表示するよ
うになつている。
支持基板であつて、この支持基板１の一側には、
下部コネクタ２が検査表示器３にリード線を介し
て接続するようにして設けられており、上記支持
基板１の他側には、電源に接続した電源スイツチ
４が付設されている。又、上記支持基板１上の各
角隅部には、複数（図では４本）の案内支柱５が
植設されており、この案内支柱５の上部には固定
板６が水平にして固着されている。さらに、この
固定板６には、上部コネクタ７が上記検査表示器
３にリード線を介して接続されており、この上部
コネクタ７および上記下部コネクタ２からの電流
が上記検査表示器３に流れて導通検査表示するよ
うになつている。
一方、第２図に示されるように、上記固定板６
の下位の上記各案内支柱５には、下部ピンボード
８が上・下方向に摺動自在に嵌装されており、こ
の下部ピンボード８の上面には多数のコンタクト
ピン９が上向きに、しかも弾発的に昇降するよう
にして設けられている。なお、この各コンタクト
ピン９は、上記下部コネクタ２に各導電線を通し
て連結されている。又、上記下部ピンボード８の
上位の上記各案内支柱５には、扁平な保持部材１
０が上・下方向に摺動自在に嵌装されており、こ
の保持部材１０と上記下部ピンボード８とは、後
述する各コイルばね１４と１５とによつて浮動状
態に保持されている。即ち、上記下部ピンボール
８の中程には、第２図に示されるように、各一対
をなすガイドピン１が立設されており、この各ガ
イドピン１１の直上に位置する上記保持部材１０
には各一対をなすガイドピン１２が貫通して植設
されている。さらに、この各ガイドピン１２の直
上に位置する上記固定板６には、各一対をなすガ
イドピン１３が垂設されている。さらに又、この
各ガイドピン１１と１２との間に位置する上記下
部ピンボード８と上記保持部材１０との間には、
各コイルばね１４が弾発的に介装されており、上
記各ガイドピン１２と１３との間に位置する上記
保持部材１０と上記固定板６との間には、各コイ
ルばね１５が弾発的に介装されており、特に、上
記各コイルばね１４は他のコイルばね１５の弾力
より強く形成されている。
の下位の上記各案内支柱５には、下部ピンボード
８が上・下方向に摺動自在に嵌装されており、こ
の下部ピンボード８の上面には多数のコンタクト
ピン９が上向きに、しかも弾発的に昇降するよう
にして設けられている。なお、この各コンタクト
ピン９は、上記下部コネクタ２に各導電線を通し
て連結されている。又、上記下部ピンボード８の
上位の上記各案内支柱５には、扁平な保持部材１
０が上・下方向に摺動自在に嵌装されており、こ
の保持部材１０と上記下部ピンボード８とは、後
述する各コイルばね１４と１５とによつて浮動状
態に保持されている。即ち、上記下部ピンボール
８の中程には、第２図に示されるように、各一対
をなすガイドピン１が立設されており、この各ガ
イドピン１１の直上に位置する上記保持部材１０
には各一対をなすガイドピン１２が貫通して植設
されている。さらに、この各ガイドピン１２の直
上に位置する上記固定板６には、各一対をなすガ
イドピン１３が垂設されている。さらに又、この
各ガイドピン１１と１２との間に位置する上記下
部ピンボード８と上記保持部材１０との間には、
各コイルばね１４が弾発的に介装されており、上
記各ガイドピン１２と１３との間に位置する上記
保持部材１０と上記固定板６との間には、各コイ
ルばね１５が弾発的に介装されており、特に、上
記各コイルばね１４は他のコイルばね１５の弾力
より強く形成されている。
他方、第１図および第３図に示されるように、
上記両案内支柱５に近接した上記保持部材１０上
の両側には、軸受１６ａを備えた各ブラケツト１
６が並設されており、この各軸受１６ａには、把
手１７を有する抽出板１８と一体をなす各ガイド
軸１９が水平にして摺動自在に設けられている。
又、略四角形をなす上記抽出板１８の上面の対角
線上には、一対の案内ピン２０が被検査体として
の回路基板Ｗを着脱自在に嵌合して位置規制する
ようにして植設されている。
上記両案内支柱５に近接した上記保持部材１０上
の両側には、軸受１６ａを備えた各ブラケツト１
６が並設されており、この各軸受１６ａには、把
手１７を有する抽出板１８と一体をなす各ガイド
軸１９が水平にして摺動自在に設けられている。
又、略四角形をなす上記抽出板１８の上面の対角
線上には、一対の案内ピン２０が被検査体として
の回路基板Ｗを着脱自在に嵌合して位置規制する
ようにして植設されている。
なお、上記回路基板Ｗの両面には、前述したよ
うに、その両面に、各種の電子部品が添設されて
おり、上記回路基板Ｗの下面は、前記各コンタク
トピン９に弾発的に当接し得るようになつてい
る。（第３図参照）。
うに、その両面に、各種の電子部品が添設されて
おり、上記回路基板Ｗの下面は、前記各コンタク
トピン９に弾発的に当接し得るようになつてい
る。（第３図参照）。
又一方、上記被検査体Ｗを載せた上記抽出板１
８の直上前記固定板６には、上部ピンボード２１
が垂設されており、この上部ピンボード２１の下
面には、多数のコンタクトピン２２がユニツト化
されて、しかも、着脱自在に付設されており、こ
の各コンタクトピン２２は、上記被検査体ｗの導
通接触部に弾発的に接触するようになつている。
又、上記上部ピンボード２１の下面には、複数の
押圧ピン２３が上記被検査体Ｗの上面を押圧し得
るようにして設けられており、この各押圧ピン２
３は上記被検査体Ｗの浮上りを防止するようにな
つている。又、上記多数のコンタクトピン２２
は、上記上部コネクタ７に各導電線を介して接続
されており、この上部コネクタ７は、上述したよ
うに前記検査表示器３にリード線で接続されてい
る。さらに、上記両ガイド軸１９の両端部には、
第２図に示されるように、各ストツパ２４，２５
が付設されており、この両ストツパ２４と２５
は、抽出板１８を把手１７で抽出したとき及び挿
入したときの位置規制をし得るようになつてい
る。さらに、上記抽出板１８の正面両側には、第
１図及び第４図に示されるように、一対の軸受２
６が垂直方向に嵌装されており、この両軸受２６
の頂面には、各係合孔２６ａが垂直に穿設されて
いる。又、この両軸受２６には、各ロツクハンド
ル２７が抜け出ないようにして摺動自在にして嵌
装されており、この各ロツクハンドル２７の偏倚
した位置に垂下した各係合ピン２８は、上記各係
合孔２６ａに係合するようになつている。さら
に、上記各ロツクハンドル２７の支軸２７ａの直
下に位置する上記保持部材１０の管軸１０ａに
は、近接スイツチからなる各作動スイツチS1，S2
が、第５図に示される作動開始用のタイマT1に
通電し得るようにして設けられている。従つて、
上記両ロツクハンドル２７は、抽出板１８を挿入
した後、両軸受２６の周りに回動することによ
り、上記各係合ピン２８が各係合孔２６ａに係合
すると、上記各支軸２７ａの下端部は上両管軸１
０ａに嵌合して抽出板１８の移動を一時的に固定
すると共、各作動スイツチS1S2をonし、これに
よつてタイマT1を作動して、導通検査を開始す
るようになつている。
８の直上前記固定板６には、上部ピンボード２１
が垂設されており、この上部ピンボード２１の下
面には、多数のコンタクトピン２２がユニツト化
されて、しかも、着脱自在に付設されており、こ
の各コンタクトピン２２は、上記被検査体ｗの導
通接触部に弾発的に接触するようになつている。
又、上記上部ピンボード２１の下面には、複数の
押圧ピン２３が上記被検査体Ｗの上面を押圧し得
るようにして設けられており、この各押圧ピン２
３は上記被検査体Ｗの浮上りを防止するようにな
つている。又、上記多数のコンタクトピン２２
は、上記上部コネクタ７に各導電線を介して接続
されており、この上部コネクタ７は、上述したよ
うに前記検査表示器３にリード線で接続されてい
る。さらに、上記両ガイド軸１９の両端部には、
第２図に示されるように、各ストツパ２４，２５
が付設されており、この両ストツパ２４と２５
は、抽出板１８を把手１７で抽出したとき及び挿
入したときの位置規制をし得るようになつてい
る。さらに、上記抽出板１８の正面両側には、第
１図及び第４図に示されるように、一対の軸受２
６が垂直方向に嵌装されており、この両軸受２６
の頂面には、各係合孔２６ａが垂直に穿設されて
いる。又、この両軸受２６には、各ロツクハンド
ル２７が抜け出ないようにして摺動自在にして嵌
装されており、この各ロツクハンドル２７の偏倚
した位置に垂下した各係合ピン２８は、上記各係
合孔２６ａに係合するようになつている。さら
に、上記各ロツクハンドル２７の支軸２７ａの直
下に位置する上記保持部材１０の管軸１０ａに
は、近接スイツチからなる各作動スイツチS1，S2
が、第５図に示される作動開始用のタイマT1に
通電し得るようにして設けられている。従つて、
上記両ロツクハンドル２７は、抽出板１８を挿入
した後、両軸受２６の周りに回動することによ
り、上記各係合ピン２８が各係合孔２６ａに係合
すると、上記各支軸２７ａの下端部は上両管軸１
０ａに嵌合して抽出板１８の移動を一時的に固定
すると共、各作動スイツチS1S2をonし、これに
よつてタイマT1を作動して、導通検査を開始す
るようになつている。
他方、第１図及び第２図において、上記支持基
板１の後部上面には、ブレーキ付のモータ２９が
設置されており、このモータ２９の出力軸２９ａ
には、第１カム部材３０、及び第２カム部材３１
が軸装されている。又この第１カム部材３０の回
転通路上に位置する上記支持基板１には、各ブラ
ケツト３２が付設されており、この各ブラケツト
３２には各作動槓杆３３が各支軸３４によつて軸
装されている。さらに、この各作動槓杆３３の一
端部３３ａは上記第１カム部材３０の一部に接触
しており、上記各作動槓杆３３の他端部３３ａ
は、上記下部ピンボード８の底面に付設された各
当接杆８ａに前記各コイルばね１４，１５の弾力
によつて弾発的に当接している。さらに又、上記
第２カム部材３１の回転通路上には、上限スイツ
チS3と下限スイツチS4とが設けられており、この
上限スイツチS3は、上記下部ピンボード８が最上
位置に扛上したとき、上記モータ２９の回転を停
止するものであり、上記下限スイツチS4は、導通
検査用のタイマT2が動作し、その終了後に、再
び、上記モータ２９を駆動して約180°回動して上
記回動して上記下部ピンボード８を最上位置に降
下したときに作動するようになつている。
板１の後部上面には、ブレーキ付のモータ２９が
設置されており、このモータ２９の出力軸２９ａ
には、第１カム部材３０、及び第２カム部材３１
が軸装されている。又この第１カム部材３０の回
転通路上に位置する上記支持基板１には、各ブラ
ケツト３２が付設されており、この各ブラケツト
３２には各作動槓杆３３が各支軸３４によつて軸
装されている。さらに、この各作動槓杆３３の一
端部３３ａは上記第１カム部材３０の一部に接触
しており、上記各作動槓杆３３の他端部３３ａ
は、上記下部ピンボード８の底面に付設された各
当接杆８ａに前記各コイルばね１４，１５の弾力
によつて弾発的に当接している。さらに又、上記
第２カム部材３１の回転通路上には、上限スイツ
チS3と下限スイツチS4とが設けられており、この
上限スイツチS3は、上記下部ピンボード８が最上
位置に扛上したとき、上記モータ２９の回転を停
止するものであり、上記下限スイツチS4は、導通
検査用のタイマT2が動作し、その終了後に、再
び、上記モータ２９を駆動して約180°回動して上
記回動して上記下部ピンボード８を最上位置に降
下したときに作動するようになつている。
第５図に示される電気回路は、本発明に組込ま
れる電気回路であつて、この電気回路の給電回路
には、作動開始時のタイマT1を作動する作動ス
イツチS1，S2、上記タイマT1によるリレーで作
動するモータ２９、上記上限スイツチS3の作動に
よつて作動開始し、しかも導通検査所要時間を規
制するタイマT2、上記下限スイツチS4の作動に
よつて上記モータ２９の動作を制御する各リレー
R1，R2，R3がそれぞれ付設されている。
れる電気回路であつて、この電気回路の給電回路
には、作動開始時のタイマT1を作動する作動ス
イツチS1，S2、上記タイマT1によるリレーで作
動するモータ２９、上記上限スイツチS3の作動に
よつて作動開始し、しかも導通検査所要時間を規
制するタイマT2、上記下限スイツチS4の作動に
よつて上記モータ２９の動作を制御する各リレー
R1，R2，R3がそれぞれ付設されている。
以下、本発明の作用について説明する。
従つて、今、被検査体としての両面回路基板Ｗ
を抽出板１８に挿着するには、予め、上記両ロツ
クハンドル２７を上方へ引き上げて僅かに外方へ
回動することにより、上記各係合孔２６ａから各
係合ピン２８を引き抜く。これによつて、上記両
ロツクハンドル２７の支軸２７ａは保持部材１０
の管軸１０ａから引き抜かれると共に、両作動ス
イツチS1，S2をOFFする。
を抽出板１８に挿着するには、予め、上記両ロツ
クハンドル２７を上方へ引き上げて僅かに外方へ
回動することにより、上記各係合孔２６ａから各
係合ピン２８を引き抜く。これによつて、上記両
ロツクハンドル２７の支軸２７ａは保持部材１０
の管軸１０ａから引き抜かれると共に、両作動ス
イツチS1，S2をOFFする。
次に、上記抽出板１８の把手１７を手で前方へ
引き出すことにより、この抽出板１８と一体の両
ガイド軸１９は、各ブラケツト１６の軸受１６ａ
に案内されて前方へ摺動する。
引き出すことにより、この抽出板１８と一体の両
ガイド軸１９は、各ブラケツト１６の軸受１６ａ
に案内されて前方へ摺動する。
このようにして前方へ引き出された上記抽出板
１８の各案内ピン２０には、第３図に示されるよ
うに、両面回路基板Ｗが挿着される。次に再び、
上記抽出板１８を原位置に挿入すると共に、前記
両ロツクハンドル２７を互に内がわたに向つて回
動することにより、この両ロツクハンドル２７の
各係合ピン２８が各係合孔２６ａに係合して降下
すると同時に、各作動スイツチS1，S2をONす
る。すると、タイマT1が作動して、数秒後に、
モータ２９が駆動する。すると、このモータ２９
の出力軸２９ａに軸装された第１カム部材３０と
第２カム部材３１は共に回転するので、この第１
カム部材３０は、作動槓杆３３を支軸３４の周り
に右旋する。これによつて、この作動槓杆３３の
他端部３３ａが下部ピンボード８及び保持部材１
０を上記各コイルばね１４，１５の弾力に抗して
扛上する。
１８の各案内ピン２０には、第３図に示されるよ
うに、両面回路基板Ｗが挿着される。次に再び、
上記抽出板１８を原位置に挿入すると共に、前記
両ロツクハンドル２７を互に内がわたに向つて回
動することにより、この両ロツクハンドル２７の
各係合ピン２８が各係合孔２６ａに係合して降下
すると同時に、各作動スイツチS1，S2をONす
る。すると、タイマT1が作動して、数秒後に、
モータ２９が駆動する。すると、このモータ２９
の出力軸２９ａに軸装された第１カム部材３０と
第２カム部材３１は共に回転するので、この第１
カム部材３０は、作動槓杆３３を支軸３４の周り
に右旋する。これによつて、この作動槓杆３３の
他端部３３ａが下部ピンボード８及び保持部材１
０を上記各コイルばね１４，１５の弾力に抗して
扛上する。
なお、こゝで注目すべき点は、上記コイルばね
１５は他のコイルばね１４よりも、弱い弾力で形
成されている関係上、上部ピンボード２１の各コ
ンタクトピン２２に対し、両面回路基板Ｗの各電
子部品の導通接点を軽く接触させる。これによつ
て、被検査体として回路基板Ｗに無理な応力を与
えないようにしている。次に、上記下部ピンボー
ド８の各コンタクトピン９を上記両面回路基板Ｗ
の裏面の導通接点に圧接させる。このとき、第２
カム部材３１が上限スイツチS3をONする。する
と、タイマT2が設定時間中作動して前記検査表
示器３に導通検査による結果を表示する。しかし
て、タイマT2が一定時間経過すると、リレーが
作動して上記モータ２９を駆動するので、上記第
１カム部材３０が作動槓杆３３を支軸３４の周り
に左旋するので、上記下部ピンボード８及び保持
部材１０は、共に自重によつて下限位置に降下す
ると同時に、第２カム部材３１が下限スイツチS4
を作動するので、上記モータ２９の駆動は停止す
る。次に、上記両ロツクハンドル２７を上方へ引
き上げて外方へ回動することにより、保持部材１
０の管軸１０ａから支軸２７ａを引き抜き、これ
によつて、ロツク解除した後、上記抽出板１８の
把手１７を手で前方へ引き出すことにより、上記
両面回路基板Ｗを取出すことができる。
１５は他のコイルばね１４よりも、弱い弾力で形
成されている関係上、上部ピンボード２１の各コ
ンタクトピン２２に対し、両面回路基板Ｗの各電
子部品の導通接点を軽く接触させる。これによつ
て、被検査体として回路基板Ｗに無理な応力を与
えないようにしている。次に、上記下部ピンボー
ド８の各コンタクトピン９を上記両面回路基板Ｗ
の裏面の導通接点に圧接させる。このとき、第２
カム部材３１が上限スイツチS3をONする。する
と、タイマT2が設定時間中作動して前記検査表
示器３に導通検査による結果を表示する。しかし
て、タイマT2が一定時間経過すると、リレーが
作動して上記モータ２９を駆動するので、上記第
１カム部材３０が作動槓杆３３を支軸３４の周り
に左旋するので、上記下部ピンボード８及び保持
部材１０は、共に自重によつて下限位置に降下す
ると同時に、第２カム部材３１が下限スイツチS4
を作動するので、上記モータ２９の駆動は停止す
る。次に、上記両ロツクハンドル２７を上方へ引
き上げて外方へ回動することにより、保持部材１
０の管軸１０ａから支軸２７ａを引き抜き、これ
によつて、ロツク解除した後、上記抽出板１８の
把手１７を手で前方へ引き出すことにより、上記
両面回路基板Ｗを取出すことができる。
このようにして、上記両面回路基板Ｗの導通検
査は、反復継続して行われるようになつている。
査は、反復継続して行われるようになつている。
以上述べたように本発明によれば、支持基板１
に複数の案内支柱５を植設し、この各案内支柱５
の上部に上部ピンボード２１を備えた固定板６を
設け、この固体板６の下位の上記各案内支柱５に
上向きのコンタクトピン９を有する下部ピンボー
ド８を設け、この下部ピンボード８の上位の上記
各案内支柱５に保持部材１０を各ばね１４，１５
を介して浮動状態に嵌装し、上記保持部材１０の
両側に各一対のブラケツト１６を付設し、この両
ブラケツト１６に被検査体Ｗを載せる抽出板１８
と一体の各ガイド１９を水平にして摺動自在に設
けてあるので、被検査体ｗとして両面回路基板の
導通検査を一工程で一挙に、しかも、確実に行う
ことができるばかりでなく、取扱い操作も簡単で
あるとともに、上部ピンボード２１や下部ピンボ
ード８の微細な各コンタクトピン９，２２を折曲
げたり、損傷することなく長期に亘つて使用する
ことができる。
に複数の案内支柱５を植設し、この各案内支柱５
の上部に上部ピンボード２１を備えた固定板６を
設け、この固体板６の下位の上記各案内支柱５に
上向きのコンタクトピン９を有する下部ピンボー
ド８を設け、この下部ピンボード８の上位の上記
各案内支柱５に保持部材１０を各ばね１４，１５
を介して浮動状態に嵌装し、上記保持部材１０の
両側に各一対のブラケツト１６を付設し、この両
ブラケツト１６に被検査体Ｗを載せる抽出板１８
と一体の各ガイド１９を水平にして摺動自在に設
けてあるので、被検査体ｗとして両面回路基板の
導通検査を一工程で一挙に、しかも、確実に行う
ことができるばかりでなく、取扱い操作も簡単で
あるとともに、上部ピンボード２１や下部ピンボ
ード８の微細な各コンタクトピン９，２２を折曲
げたり、損傷することなく長期に亘つて使用する
ことができる。
第１図は、本発明による回路基板検査装置の正
面図、第２図は同上側面図、第３図は、本発明の
要部を取出して示す拡大断面図、第４図は、第１
図中の鎖円Ａ部の拡大断面図、第５図は、本発明
に組込まれる電気回路図である。 １……支持基板、３……検査表示器、５……案
内支柱、６……固定板、８……下部ピンボード、
９……コンタクトピン、１０……保持部材、１６
……ブラケツト、１８……抽出板、２１……上部
ピンボード、２２……コンタクトピン、２７……
ロツクハンドル、２８……係合ピン、２９……モ
ータ、３０……第１カム部材、３１……第２カム
部材、３３……作動槓杆。
面図、第２図は同上側面図、第３図は、本発明の
要部を取出して示す拡大断面図、第４図は、第１
図中の鎖円Ａ部の拡大断面図、第５図は、本発明
に組込まれる電気回路図である。 １……支持基板、３……検査表示器、５……案
内支柱、６……固定板、８……下部ピンボード、
９……コンタクトピン、１０……保持部材、１６
……ブラケツト、１８……抽出板、２１……上部
ピンボード、２２……コンタクトピン、２７……
ロツクハンドル、２８……係合ピン、２９……モ
ータ、３０……第１カム部材、３１……第２カム
部材、３３……作動槓杆。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 支持基板に複数の案内支柱を植設し、この各
案内支柱の上部に下向きのコンタクトピンを有す
る上部ピンボードを備えた固定板を設け、この固
定板の下位の上記各案内支柱に上向きのコンタク
トピンを有する下部ピンボードを上下に移動自在
に支持し、この下部ピンボードの上位で、しかも
前記上部ピンボードの下位において上記各案内支
柱に保持部材を各ばねを介して浮動状態に嵌装
し、上記保持部材の両側に各一対のブラケツトを
付設し、この両ブラケツトに被検査体を載せる抽
出板と一体の各ガイド軸を水平にして摺動自在に
設け、上記下部ピンボード及び保持部材をカム部
材で昇降可能にしたことを特徴とする回路基板検
査装置。 ２ 下部ピンボードに位置するコイルばねを保持
部材の位置するコイルばねより強いばねにしたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の回路
基板検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60036147A JPS61195367A (ja) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | 回路基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60036147A JPS61195367A (ja) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | 回路基板検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61195367A JPS61195367A (ja) | 1986-08-29 |
| JPH053913B2 true JPH053913B2 (ja) | 1993-01-18 |
Family
ID=12461677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60036147A Granted JPS61195367A (ja) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | 回路基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61195367A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104111386A (zh) * | 2013-04-18 | 2014-10-22 | 海洋王（东莞）照明科技有限公司 | Pcb板测试装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55147363A (en) * | 1979-05-08 | 1980-11-17 | Toshiba Corp | Device for automatically testing wiring bedplate |
-
1985
- 1985-02-25 JP JP60036147A patent/JPS61195367A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61195367A (ja) | 1986-08-29 |
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