JPS61196223A - プリズムビ−ム整形光学系 - Google Patents

プリズムビ−ム整形光学系

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JPS61196223A
JPS61196223A JP3524885A JP3524885A JPS61196223A JP S61196223 A JPS61196223 A JP S61196223A JP 3524885 A JP3524885 A JP 3524885A JP 3524885 A JP3524885 A JP 3524885A JP S61196223 A JPS61196223 A JP S61196223A
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prism
beam shaping
objective
shaping optical
semiconductor laser
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Hiroshi Goto
博志 後藤
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の目的 (fE業上の利用分野) この発明は光源として半導体レーザを用い九場合のビー
ム整形用光学系、特に光学素子としてプリズムを用いた
ビーム整形用光学系に関する口 (従来技術) 半導体レーザは、一般にはその接′合面に子桁な方向(
’iA)と垂直な方向ωでの強蜜分布が異なっている。
代表的なファーeフィールド・パターンの例を示せば第
2図のように射出内の狭い子行方向の手直全幅でθyz
=10、垂直方向のそれはθL−30である。
このような非等方性の光束をカップリングレンズ、対物
レンズで集光すると、形成されるスポットは楕円になる
。この光学基金例えば元ディスクの清報検出用光学系に
組入れた場合f:第5図、第6図に承す。第5図で1は
半尋体レーザであり、出射光束はカップリングレンズ2
で千行元束にされ、”1光ビームスプリッタ(PBS)
4.1/4波長板5t−通り対物レンズ6で集束されて
ディスク7上に微小なスポットを形成するロディスク7
からの反射光は再び対物レンズ6.174波長板5を通
過して、 PBS4で反射され、トラック検出2分割素
子8に入射する口このときスポットが上記のように41
1円であると、@6図に示すようにスポラ1−10は*
vLのトラック9.9.9にまたが9、クロストークが
発生し、正罐なトラック噴出、情報噴出ができなくなっ
てしまうロ スポット匝を回折限界慢度に抑えるためには、上記スポ
ットの艮匝捏寂に縮めなければならず、レーザー接合面
に垂直な方向と水fな方向で等しくなるように水子方向
の光束を拡大するためにビーム整形元学系が用いられる
ク ビーム整形光学系はクリンドリカルレンズを用いるもの
とプリズムを用いるものが知られている。
gt図はプリズムを珀いたビーム整形光学系の光学配置
を示し、四は半導体レーザ1の接合面に’F行な方向の
断面図、Φ)は垂直方向の断面図である。符号は@5図
と同じものを示し、3がビーム整形用のプリズムである
。四回面内ではカップリングレンズ2を出た光束はプリ
ズム3によって光路が曲げられ、それに伴なって光束径
が拡大されている。
カップリングレンズ2を出た光束径ψは四囲においては
、カップリングレンズの焦点距離tfcとすれば 勅= 2 f(Hsin (θd/2)@ 因面内では g>、=2fcsin (θ上/2) 従って、両方向の光束vkを等しくするためKは、ビー
ム整形後のビーム臣を”v4=M9+7.nとすればB
jQ=ψ、、すなわち 2 M fc ain  (’y/l/2 )=+= 
2fc sln  (θ上/2)、”、  M=sln
(%/2)/5in(θlA/2)ここでMは四回面内
でのビーム整形光学系の倍率である。
この拡大培1CMはビーム整形光学系がシリンドリカル
レンズ系でもプリズム系でも同一であるが、半導体レー
ザからの射出光の強度分布がθtt(= 10 、  
θ1=30ではM=3.0  θ〃=10、θ1=26
 の場合でも M = 2.5  となる。
しかし、このよう、に拡大倍率が大となると、光束が拡
がシ対物レンズの有効匝よシも大きくなシすぎ、光束の
ケラレが大きくなル、光利用効率(対物レンズを通過す
るパワーと半導体レーザからの出射パワーの比)が小さ
くなる◎それに伴いレーザ出力が大きなものが必要とな
)、コストアップになるという欠点が生ずる。また、プ
リズムを用いた場合、反射防止膜を設けることが必要と
なる。
(この発明が解決しようとする間聴点)この発明は、従
来のプリズムを用いたビーム整形光学系を改良し、光利
用効率を向上させるとともに反射防止コートを不要とし
、低コストで光ピツクアップに用いた場合安定したトラ
ック信号が得られるビーム整形光学系を得ようとするも
のである。
発明の構成 (問題を解決するための手段) この発明においては、第1図の構成において、下記の東
件を満すように諸元を設定する。
ただしらは対物レンズの焦点距離、NAoは対物レンズ
の開口数を示す口 さらに、 l tan (α−β)l <−1tan (α+1月
 ・・・・・・ シ)ただし αはプリズムへの入射角
s1n  (n atnβ〕 frlK−を°示す。
(作用) スポット径はビーム匝がある程変以上大きくなるとほと
んど一定となる。一方、対物レンズ有効長でビームがク
ランることによって対物レンズを通過するビームはqP
Eiii波に近づき、スポット径は回折限界で与えられ
る直に近づいていく@このため、対物レンズの有効径を
適当に選び、ビーム匝を適切にしてケラレ量をあるmm
にすることKよってスポット径はほぼ一定に抑えうれ、
光ピツクアップに用いればクロストークを減少させ、ト
ラック信号を安定させることができる。
第9図に示す半導体レーザ簑合面と予行方向のビーム匝
B// と対物レンズの有効径Φとは以下の関係となる
口 Φ= 2 fONA。
クランの割合Pは このクランの割合PK対するスポット径とトラック信号
の関係を第3図に示す。スポット径は図に破嶽で示すよ
うにその鏝小直は約0.9μmであ夛、これより約1割
大きい1.0μm以下であればスポットは略円形とみる
ことができる・このためには、図からP)0.55であ
ればよいことがわかる。θ力 =10でビーム整形をし
ないときはf(B= 9 mm  !6= 4.35 
mm NAO= 0.5とすると1ifflK、441
で示fよ5KP=0.36になり、スポット1約1.2
μm トラック信号5 Qmvでアシ、p=o、ssで
もビーム整形の効果が十分K11lめられる・ 第4図はクランの割合Pと光利用効率、半導体レープの
パワー比の関係を示す。パワー比は記録のために必要な
パワーの下限値をP = 1.08 (これはM−3,
0の場合の従来例に相幽する)のときをlK、ILI化
して示して6る◎この図でみるように、IP=0.8で
は実巌で示す光の利用効率はio′fbアップし、その
ため1点鎖巌で示されるパワー拡20チ少なくてよいこ
ととなる。
従って、M PF (1)に示す0.55 (P (0
,80範囲にあれば、従来技術に比して光利用効率の大
きな、はぼ円形スポットを形成するビーム整形光学系を
得ることが出来る。
更K、ビーム整形の倍率Mを適当に選ぶことによってプ
リズムの面に反射防止膜を設けなくても十分に反射率を
低下させることができるロ第8図Kti一般的なプリズ
ムビーム整形の光路図を示すが、入射光束11は第1面
13と第2面14とで2回屈折して射出する。このよう
に2回屈折させると元ピックアップに組込む等、装置と
する場合にレイアウトが複雑になる。これに対して第7
図に示すように、、第1面13でのみ屈折させ、@2面
14KFi垂直入射して屈折作用を受けずに直進してプ
リズムから射出するようにすればレイアウトを簡琳にす
る゛ことができる。
さて、@7図の配tK$Pいて、入射光1[11のVk
をψJ1その入射角をα、屈折後の光束の径をBI3、
屈折角をβとする@@2面に垂直に光束が射出するから
、プリズム30頂角rと屈折角βは等しい。
屈折の法則から、プリズムの屈折率t−nとすると sinα=H*3inβ 倍率Mは M=coaβ/(!O!l a となる◎ 第1図に示すレイアウトでは、プリズムに入射する光束
はP偏光とされている。P偏光の反射率Rは次式で与え
られる。
従って条f’F蓼)を満足すれば、反射率は1チ以下と
なシ、反射防止コートは不!になる。
α、βは、前出の式から a = 5in= (n sinβ〕 となることは明らかである。
(実施例) fc= 9 mm   fO= 4.5 mm  NA
O= 0.50                Qθ
y7:  1 0      θ上=  3  On=
 1.51  (BK7)とすれば、条f’1−(1)
は +”+ 1.58(M  (2,29・・・・・・(3
)となる。
第10図に@率Mを変えたときの反射率Rを計算した結
果を示す。この結果から反射率の条件2t−満たす@率
は 1.24<M  <1゜84     ・・・−・・(
4)であり(3)と(4)から 1.58(M  (1,84 の倍率が1していることがわかる。
第11図は、プリズム3とPBSdを1体化して1つの
プリズムブロック15とした例であt)、光学系の構成
が簡11LKなると共にプリズム3の第2面14での反
射が零になるという効果も生じる。
発明の効果 この発明は上記のように、ビーム整形用光学系としてプ
リズム素子を1ケだけ用いる簡略な構成でありながら、
半導体レーザの接合面と子桁な面方向内でのビームの拡
大倍率Mを、カップリングレンズ、対物レンズの焦点距
離、開口数との関係で適切に選ぶだけで、光の利用効率
を向上させ、略円形のスポットを得られるだけでなく、
プリズムへの反射防止コート金不要にし、コストを低下
させることが出来る。
また、このビーム竪形光学系を元ピックアップに用いれ
ば、クロストークが少なく、パワーの小さいレーザーを
光源として用いることが出来るという顕著な効果を生じ
る。
【図面の簡単な説明】
v41図はこの発明のビーム整形光学系の光学配置図、
第2図は半導体レーザの代表的な射出光強健分布図、第
3図はクランの割合Pとスポット匝、トラック信号の関
係図、第4図は同じくクランの割合Pと光利用効率、レ
ーザパワー比の関係図、I!5図は光ピツクアップ光学
系の1例の配置図、第6図はその際に発生する現象の説
明図、第7図、第8図はプリズムの光路図、第9図はク
ランの説明図、第10図は倍率と反射率の関係図、第1
1図は別の実施例のプリズムの形を示す側面図であるり 1:半導体レーザ 2:カップリングレンズ3.15:
ビーム整形プリズム 4:偏光ビームスプリンタ 5:
174波長板 6:対物レンズ 7:光ディスク 9ニ
ドラツク 10ニスポツト ll:入射光束 12:射出光束 特許出願人  昧式会仕  リ  コ  −出願人代理
人 弁理士 佐  藤  文  男(ほか1名) 第   1   図 算  2  図 射W角 第   3   図 (@           II    4    図
、、、   5   図              
@   6   国軍   8   図 11E9    図 Φ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 半導体レーザー、該レーザーからの光束を集光するカッ
    プリングレンズ、該レンズからの射出光束を半導体レー
    ザーのファーフィールドパターンの小さい方向の光束径
    を拡大するビーム整形光学素子を有するビーム整形光学
    系において、上記ビーム整形光学素子はプリズムであり
    、その倍率が以下の条件を満足することを特徴とするプ
    リズムビーム整形光学系 0.55≦[M・fc・sin(θ_■/2)]/(f
    _o・NA_o)≦0.8ただし M:ビーム整形光学素子の倍率 fc:カップリングレンズの焦点距離 θ_■:半導体レーザーの接合面に平行な方向の半値全
    幅 f_o:対物レンズの焦点距離 NA_o:対物レンズの開口数
JP60035248A 1985-02-26 1985-02-26 プリズムビ−ム整形光学系 Expired - Lifetime JPH0675138B2 (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56163533A (en) * 1980-05-19 1981-12-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Optical recorder and reproducer

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS56163533A (en) * 1980-05-19 1981-12-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Optical recorder and reproducer

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