JPS61198320A - 座標検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は座標検出装置に係り、特に容量値検出手段とし
て調和発振回路を用い、ノイズ耐性の向上した座標検出
装置に関する。

〔従来の技術〕

オフィスオートメーションなどの発達により。

コンピュータに図や文字などを入力、処理することが盛
んに行われている。図や文字などの入力装置としてはキ
ーボードが代表的であるが、そのほか特定のボード上で
指やペンなどによって位置を指定し、その座標を入力す
ることによって図又は文字などの入力を行う座標検出装
置がある。

上記のような座標検出装置の第１の従来技術としては、
ボード上に多数のセンサを格子状に配置し、指やペンな
どによって指示し該位置のセンサからの信号によってそ
の座標を求めるという方式％式％ 第２図の従来技術としては、入力ボードとして抵抗膜を
用い、該抵抗膜両端よりインピーダンス接続点（指又は
ペンなどの接触点）へ電流を流し。

その電流比から接続点の座標を求めるという方式第３の
従来技術としては１本発明者が既に提案した抵抗膜とバ
ッファ回路を組み合せた方式（特願昭５９−３７９１．
４　）がある。この方式の原理を第３図に示す。先ず、
座標入力ボードとしてＳｉＯ２蒸着膜で被覆した透明抵
抗膜１３を用い、その両端にはバッファ回路としてオペ
アンプを用いたボルテージフォロア回路１４が接続され
ている。このような構成において、抵抗膜１３上の一点
を指１７でタッチすると、指１７はアースと抵抗膜Ｉ３
上の該接触点との間に挿入された容量とみなすことがで
き、接続端子１８から抵抗膜側は等測的な容量になる。

しかも、該等価容量値と前記上１７による゛接触点の座
標とは特定の関数関係になる。従って前記容量値を検出
することによって。

前記上１７による接触点の座標を検出することができる
。第３図の方式においては、前記容量値検出手段として
ディジタル弐ＣＲ発振器１５を用い。

前記接続端子１８をその可変容量端子に接続し。

該発振器１５の出力発振波形の周波数を計数することに
よって前記座標を検出するとかできる。

〔発明が解決しようとする問題〕

しかし、上記従来技術において、先ず、格子状に配置し
たセンサを用いたものは、座標の入力精度が配置される
センサの密度によって決定されてしまうため、高精度の
座標入力が難しいという問題点があった。

また、入力ボードに抵抗膜を用い、電流比から座標を求
める第２の従来方式においては、抵抗膜上の任意の位置
の座標をディジタル値として求めることができる。しか
し、上記電流値をディジタル値として精度良く求めるた
めに精度の高いＡＤ変換器を用いる必要があり、そのた
め回路が複雑になりコストが高くつくという問題点があ
った。

一方２本発明者が提案した第３図に示す方式のものは、
前記第２の従来例と同様に抵抗膜上の任意の位置の座標
をディジタル値として求めることができ、しかも比較的
構成が簡単で安価なディジタル式ＣＲ発振器を用いて精
度の高い座標値を計算することが可能である。しかし、
このような座標検出装置としては２通常透明な抵抗膜を
用い。

第３図に示すようにＣＲＴディスプレイ１６の上にかぶ
せて該ディスプレイ上の特定点を指示するというような
用い方をする場合が多い。このような場合、ＣＲＴディ
スプレイ１６のアノード１６１と抵抗膜１３との間に容
量が形成され、アノード１６１から抵抗膜１３を介して
ノイズが混入してしまい、それによってディジタル弐Ｃ
Ｒ発振器１５を用いた座標検出精度が下がってしまうと
いう問題点を生じていた。すなわち、ディジタル式ＣＲ
発振器１５においては、接続端子１８の部分で定まる等
価容量Ｃと、あらかじめ設定される抵抗Ｒ（第３図）に
よって第４図（ａｌに示すような時定数ＣＲで定まる特
定周期の繰り返しの充放電波形を発生させ、その上下ピ
ーク闇値Ｖｒ？Ｉｖ　。

Ｖ丁ＨＯを検出することによって第４図ｆｂ）に示すよ
うな方形波の発振波形を発生させている。この場合、方
形波の発振周期Ｔは第４図（ａ）、　（ｂ）かられかる
ように時定数ＣＲで定まり９等価容１ｃは指１７によっ
て指示される座標位置に対応して定まるため、接続端子
１８からノイズが混入しない場合は、第４図（ｂｌの方
形波の発振周期Ｔをカウンタなどによって計数すること
によって正確な座標位置を求めることができる。ところ
が前記のようにＣＲＴディスプレイ１６のアノード１６
１から抵抗膜１３を介してノイズが混入した場合、前記
発振器１５における充放電波形は第４図（Ｃ１に示すよ
うにノイズが混入したものとなる。そしてこのような充
放電波形から発生される方形波は第４図＋ｄｌに示すよ
うなものとなり、その発振周期Ｔ′は時定数ＣＲに正確
に対応するものではなくなってしまい、正確な座標位置
を求めることが困難となる。

この場合、ディスプレイ１６から混入するノイズは、電
源の周波数６０Ｈｚ　（又は５０　Ｈｚ　）のものと、
走査線の周波数１５．７５Ｋｔｌｚ以上のものが主なも
のである。従って、これらのノイズを充放電波形から除
去する帯域通過フィルタを用いることが考えられるが、
第４図（ａｌに示すような充放電波形はノイズと同じ周
波数付近にも高調波成分を含むため。

帯域通過フィルタによってノイズのみを除去するのは困
難であった。

本発明は上記問題点を除くために、容量値検出手段とし
て混入してくるノイズとは無関係に発振周波数の定まる
調和発振回路を用いることによって、容量値検出精度を
向上させ座標検出精度を向上させることの出来る座標検
出装置を提供することを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は上記問題点を解決するために、基板上に抵抗膜
を配置した座標式カバネルと該抵抗膜上の一点を指示す
る座標指示手段と、前記抵抗膜の両端に接続され該両端
の電位を一定の関係に保つバッファ回路と、前記抵抗膜
の両端と該バッファ回路の両端とを交互に切換接続する
切換手段と。

前記バッファ回路の一端に接続され該一端から見た容量
値を前記切換手段によって切換えられた各場合について
前記容量値に応じた周波数の発振波形として検出する調
和発振回路を用いた容量値検出手段と、該容量値検出手
段からの発振波形の周波数を計数する計数手段と、該計
数手段による計数結果を用いて前記座標指示手段によっ
て指示された前記座標式カバネル上の座標位置を計算す
る演算手段とを有することを特徴とする座標検出装置を
提供するものである。

〔作　　用〕

上記手段において、まず前記座標指示手段によって前記
座標式カバネル上の１点を指示した場合。

該座標式カバネルの抵抗膜に接続された前記バッファ回
路及び前記容量値検出手段によって前記座標指示に応じ
た容量値が検出される。この場合。

前記容量値検出手段として調和発振回路を用いているた
め、前記容量値検出手段からの発振波形の周波数は前記
容量値のみから定まる。そして、前記座標式カバネルか
ら例えば６０　Ｈｚ又は、　１５．７５Ｋ　Ｈｚのノイ
ズが混入した場合、前記発振波形の周波数自体は影響を
受けず、単に前記発振波形に６０　Ｈｚ又は１５．７５
ＫＨｚのノイズ成分が加わったものとなる。

従って、前記発振波形の周波数をあらかじめ前記ノイズ
周波数に重ならないように（例えば５Ｋｆｌｚ付近に）
設定しておき、前記容量値検出手段からの出力発振波形
を１００Ｈｚ付近から１５ＫＩＩｚ付近までの周波数を
通過させる帯域通過フィルタに通すことによって、前記
ノイズ成分は除去される。その後、該発振波形の周波数
を前記計数手段によって計数する。以上同様の動作を前
記抵抗膜の両端と前記バッファ回路の両端との接続を前
記切換手段によって切換えて行い、そのようにして得ら
れた２つの計数結果を用いて前記演算手段によって所定
の関係式から前記座標指示手段によって指示ささた座標
が計算される。

〔実　施　例〕

以下１本発明の実施例につき詳細に説明を行う。

第１図は本発明による座標検出装置の全体的な構成図で
ある。先ず、タッチパネル１はガラス基板上に透明抵抗
膜を形成し、さらにＳｉＯ２蒸着膜で被服した構造とな
っている。タッチパネル１の左端辺にはアナログスイッ
チアレイ２１がスイッチ線２１１，２１２，２１３によ
って接続され。

該スイッチ線の他端子は接続線３１に共通接続されてい
る。また、タッチパネル１の右端辺にはアナログスイッ
チアレイ２２がアナログスイッチアレイ２１に対応して
スイッチ線２２１，２２２゜２２３によって接続され、
該スイッチ線の他端子は接続線３２に共通接続される。

さらにタッチパネル１の上端辺にはアナログスイッチア
レイ２３がスイッチ線２３１，２３２，２３３，２３４
によって接続され、該スイッチ線の他端子は接続線３１
に共通接続される。同様にタッチパネル１の下端辺には
アナログスイッチアレイ２４がアナログスイッチアレイ
２３に対応して、スイッチ線２４１．２４２，２４３．
２４４によって接続され、該スイッチ線の他端子は接続
線３２に共通接続される。また、上記アナログスイッチ
アレイ２１の制御端子はスイッチ制御線５１に接続され
。

アナログスイッチアレイ２３の制御端子はインパーク４
１を介してスイッチ制御線５１に接続される。また、ア
ナログスイッチアレイ２４の制御端子はインバータ４２
を介してスイッチ制御線５１に接続され、アナログスイ
ッチアレイ２２の制御端子はインバータ４３を介してイ
ンバータ４２の出力（アナログスイッチアレイ２４の制
御端子）に接続される。そしてスイッチ制御線５１は制
御回路１１に接続される。接続線３１はアナログスイッ
チ６のスイッチＳ１に接続され、スイッチＳ１は端子１
１または０１と選択的に接続される。

また、接続線３２は同じくアナログスイッチ６のスイッ
チＳ２に接続され、スイッチＳ２は端子Ｉ２又は０２と
選択的に接続される。アナログスイッチ６の制御端子は
スイッチ制御線５２によって制御回路１１と接続される
。また、オペアンプ７の非反転入力端子は接続端子７１
を介してアナログスイッチ６の端子■１及び■２に接続
されると共に、調和発振回路８の容量端子に接続される
。

オペアンプ７の反転入力端子はオペアンプ７の出力端子
に接続され、該出力端子はアナログスイッチ６の端子ｏ
１及び０２に接続される。調和発振回路の出力端子はバ
ンドパスフィルタ９の入力端子に接続され、バンドパス
フィルタ９の出力端子はオペアンプ１０の非反転入力端
子に接続され。

オペアンプ１０の反転入力端子はアースに接続される。

これによりオペアンプ１０はゼロクローススディテクク
の働きをする回路となっている。オペアンプ１０の出力
端子は制御回路１１に接続され。

制御回路１１の出力端子ＯＵＴからは座標値が出力され
る。

以上のような構成の座標検出装置は、Ｘ方向（タッチパ
ネル１の左右方向）及びＹ方向（タッチパネル１の上下
方向）の指１２によって指示される座標値を検出するこ
とができる。この時、アナログスイッチアレイ２１，２
２，２３．２４はスイッチ制御線５１からの制御信号に
よってＸ方向又はＹ方向が交互に開閉できるようになっ
ている。例えばアナログスイッチアレイ２１及び２２が
オンとなれば、アナログスイッチアレイ２３及び２４は
オフとなる。また、この時スイッチ線の本数はＸ方向で
３本、Ｙ方向で４本としたが、これに限定されるもので
はない。また、オペアンプ７の部分は、ボルテージフォ
ロア回路となっており、その非反転入力端子及び出力端
子は、アナログスイッチ６においてスイッチ制御線５２
によって接続線３１及び３２と交互に接続されるように
なっている。

第１図の座標検出装置は本発明者が既に出願した「座標
検出装置」　（特願昭５９−３７９１４　）の第４図に
おいてディジタル発振器を調和発振回路８＋バンドパス
フイルタ９＋オペアンプと１０の組合せに置き換えたも
のである。従って基本的な検出手順も特願昭５９−３７
９１４と同じであり、オペアンプ１０の出力の方形波の
発振波形の発振周期の測定により、接続端子７１から見
た容量値の測定を行い、それら容量値を用いて制御回路
１１において座標値を計算し、出力端子ＯＵＴから出力
する。

それらの計算の仕方は特願昭５９−３７９１４と同じで
あり、その原理については省略するが、その計算の基礎
となる容量値の求め方の手順を以下に記す。

１、Ｘ方向の指タッチ１２の座標値Ｘ （１１制御回路１１から制御線５１にハイレベル信号を
出力。それによって、アナログスイッチアレイ２１及び
２２をオン、２３及び２４をオフとする（Ｘ方向のスイ
ッチの選択）。

（２）　　（４）のもとで、制御回路１１から制御線５
２を介してアナログスイッチ６においてＳ＋を端子Ｉ＋
に、Ｓ２を端子０２に接続する。

（３）　　Ｔｌ）及び（２）のもとで、指タッチ１２が
ない時のオペアンプ１０の出力発振周期Ｔ’ｓｘを制御
回路１１内のタイマとカウンタによって計測し。

それに対応する容量値Ｃｓｘを計算する。

ｆ４１　　（１１及び（２）のもとで、指タッチ１２が
ある時のオペアンプ１０の出力発振周期Ｔｘ１を制御回
路１１によって同様に計測し、それに対応する容量値Ｃ
ＸＩを計算する。

（５）　　（１）のもとて制御回路１１から制御線５２
を介してアナログスイッチ６においてＳｌを端子０１に
、Ｓ２を端子Ｉ２に接続する。

（６１（１１及び（５）のもとで、指タッチ１２がない
時のオペアンプ１０の出力発振周期Ｔ９＋−Ｘを制御回
路１１によって計測し、それに対応する容量値Ｃｓ＋−
ｘを計算する。

（７）　　（１）及び（５ンのもとで、指タッチ１２が
ある時のオペアンプ１０の出力発振周期ＴＫＪを制御回
路１１によって計測し、それに対応する容量値Ｃ１１を
計算する。

（８）以上、　（３１，（４１，（６１，（７１におい
て計算された容量値Ｃ５ｘ　、　　ＣＸＩ　、　　Ｃｐ
ｌ−ｘ　ｌ　　Ｃｒａを用いて座標値Ｘを制御回路１１
において計算し、出力端子ＯＵＴから出力する。計算式
は Ｃ×之　−Ｃｓ＋−ｘ （特願昭５９−３７９１４の（１７）式と同じ）２、Ｙ
方向の指タッチ１２の座標値ｙ （１）′　　制御回路１１から制御線５１にローレベル
信号を出力。それによってアナログスインチアレイ２４
をオン、２１及び２２をオフする（Ｙ方向のスイッチの
選択）。

（２）’　　（ｌビのもとて前記（２）と同様。

［３）’　　＋１１’及び＋２１２’のもとて前記（３
）と同様にして、　Ｔｓｙ−”Ｃｓｙを計算する。

＋４１’　　ｔｌ）’及び（２）′のもとで前記（４）
と同様にして、　Ｔｙ＋　”Ｃｙｌを計算する。

＋５）’　　ｆｌｙ’のもとて前記（５）と同様。

＋６１’　　（ｌビ及び（５）′のもとで前記（６）と
同様にして、　ＴＳＩ〜）’　−＋　Ｃ３１−ｙを計算
する。

＜７１’　　（１１’及び（５）′のもとて前記（７）
と同様にして、　　ＴＹＪ−”Ｃｙｚを計算する。

（８）′　　以上、　（３１’　、　（４）　’　、　
（６１，（７ビにおいて計算された容量値Ｃｓｙ　、　
　Ｃｙｌ　、　　Ｃ３Ｉ−７、Ｃ）／Ｊを用いて座標値
ｙを制御回路１１において計算し。

出力端子ＯＵＴから出力する。計算式は。

（５９−３７９１４の（１７）式においてＸをｙに置き
換える） 以上、１及び２の各過程を短時間で高速に切換えること
によって、座標値Ｘ及びｙを計算する。

なお、座標値Ｘとは第１図に示すように、タッチパネル
ｌの左右方向の全長（端子から端子まで）を１とした時
の左端から指１２までの距離であり。

座標値ｙとは同じくタッチパネル１の上下方向の全長（
端子から端子まで）を１とした時の上端から指１２まで
の距離である。

以上、第１図の座標検出装置において、調和発振回路８
を用いた場合、後述するようにその発振周期Ｔは接続端
子７１における等価容量Ｃの２乗に比例する。すなわち
。

Ｔ＝にπ　（ｋ：定数）　　・・・・・・（１１となる
。従って、゛制御回路１１において前記各過程における
発振周期Ｔから等価容量Ｃを求めるためには、上記（１
）式より。

ＣミＴ　’　／Ｋ　２　　・・・・・・・・・・（２）
して計算すればよい。

次に、第２図に、調和発振回路８　（第１図）の詳細な
回路構成図を示す。第２図は２相発振器と呼ばれる一般
的な構成の正弦波発振回路であり１反転積分器と低域通
過フィルタによって構成される。

第２図において５オペアンプＡ２と容量Ｃ３及び抵抗Ｒ
３によって反転積分器が構成され、その位相遅れは約２
７０°である。次に、オペアンプＡ１と容量ＣＩ、Ｃ２
，及び抵抗Ｒ１，Ｒ２によって２次の低域通過フィルタ
が構成され、その位相遅れが９０°になる（反転積分器
と合わせて３６０°になる）周波数で発振する。今、低
域通過フィルタの伝達関数は。

（Ｓ＝ｊω　；　ｊ：複素単位、ω：角周波数）であり
１反転積分器の伝達関数は。

Ｃ３Ｒ３ であるから１発振接続条件は上記伝達関数の積が１とな
る条件であり、これにより発振周波数をｆとして。

・・・・（３） ２ＲＩＲ２ が発振接続条件となる。なお、低電圧ダイオードＤ＋及
びＤ２は２発振出力波形の振幅を一定にするためのリミ
ッタであり、このリミッタによって波形が歪んでも、低
域通過フィルタによって高調波成分が減衰し、さらに反
転積分器のフィルタ作用によって低歪率の正弦波が発振
出力波形として得られる。今、（３）式より発振出力波
形の発振周期Ｔは。

Ｔ＝１／ｆ＝２π）丁１ｃ２Ｒ１２ ・　・　・　・　・（４） であり、第２図においては容量Ｃ１はコンデンサ素子で
はなく、第１図の接続端子７１によって接続される等酒
客量である。

従って、（４）式において、Ｃ２，Ｒ１，Ｒ２を定数と
して。

Ｔ＝２ガ「７正＋Ｒ了・Ｅゴ＝　　ｋ、てコ・　・　・
　・　・（５） と書き換えることができる。このように第２図で示すよ
うな調和発振回路の出力発振周期Ｔは、第１図の接続端
子７１の部分から見た等酒客量Ｃ１のみによって定まり
、ＴはＣ１の２乗に比例する。

この時、第２図の調和発振回路の出力発振器Ｔはその周
波数が６ＫＨｚ付近を中心に変化するように上記Ｒ１，
Ｒ２，及びＣ２を選択する。

以上のような調和発振回路を第１図の座標検出装置に用
い、さらに第１図のタッチパネル１をＣＲＴディスプレ
イ上に重ねて用いた場合において。

今、ＣＲＴディスプレイのアノードからノイズが混入し
た場合について考えてみる。例えば、接続端子７１を介
して調和発振回路８にＣＲＴディスプレイからの６０　
Ｈｚの電源ノイズ及び１５．７５　Ｋ）Ｉｚの走査線ノ
イズが混入したとする。この場合、調和発振回路８の出
力発振波形の発振周期Ｔは前記（５）式に示すように純
粋に等酒客１ｃのみによって定まる。従って第３図の従
来例のように上記ノイズが発振回路に混入しても、それ
によって発振周期Ｔが異なってしまうということはない
。その代りに調和発振回路８の発振周期Ｔの正弦波の出
力発振波形に加えて、６０Ｈｚと１５．７５　ＫＨｚの
周波数成分を持つノイズ波形が加わる。本発明において
は。

これらのノイズ成分を除去するために第１図に示すよう
に調和発振回路８の出力発振波形をバンドパスフィルタ
９に通す。そしてその通過帯域は。

６０　ｆｉｚと１５．７５　ＫＨｚのノイズを除去し、
かつ６Ｋ［（Ｚ付近を中心に発振する出力発振波形を通
過させるために、１０ＫＨｚのカットオフ周波数を有す
るローパスフィルタと１００Ｈｚのカットオフ周波数を
有するバイパスフィルタとを組み合わせたものとする。

このバンドパスフィルタによって上記ノイズ成分が効果
的に除去され９発振周期Ｔの正弦波の発振波形が得られ
る。

次に、この発振周期Ｔを計測するが１通常発振波形が方
形波であれば、その発振周期はタイマとディジタルカウ
ンタを用いることによって簡単に計測することができる
。従って、バンドパスフィルタ９の正弦波の出力発振波
形を、オペアンプ１０を用いたゼロクロスディテクタに
よって同じ発振周期の方形波の発振波形に変換する。オ
ペアンプ１０は、非反転入力にバンドパスフィルタ９か
らの発振波形が入力し２反転入力にはアース電位が付加
されている。従って、オペアンプ１０は非反転入力が正
電位であれば正の飽和レベル電位を出力し、負電位であ
れば負の飽和レベル電位を出力する。これにより、バン
ドパスフィルタ９からの正弦波の出力発振波形は同じ発
振周期Ｔを有する方形波の発振波形に変換される。この
ようにして方形波に変換された発振波形の発振周期Ｔは
。

制御回路１１においてタイマとディジタルカウンタによ
って計測される。そして、前記（２）式を用いて発振周
期Ｔに対応する等酒客量値Ｃが計算され。

座標値が計算される。

以上のように調和発振回路を用いることによって、ノイ
ズが混入してもその発振周期は狂うことがなく、座標指
示に対応する等酒客量値に従った発振周期の正弦波発振
波形にノイズ成分が加わった出力が得られる。本発明は
このように発振周期がノイズに影響されない正弦波を調
和発振回路によって発振させた後、ノイズ成分をバンド
パスフィルタによって除去し、さらにゼロクロスディテ
クタによって方形波に変換後１発振周期を計測するとい
う点に特徴があり、これにより正確な座標の計算が可能
となる。

なお２通ＫＣＲＴディスプレイにタッチパネルｌ　（第
１図）を重ねた場合に混入するノイズは。

６０　Ｈｚ又は５０　Ｉｌｚの電源ノイズ及び１５．７
５Ｋｔｌｚ以上の走査線（水平同期）ノイズであるので
、座標指示に対応する等酒客歪値に従った調和発振回路
の発振周波数はノイズの影響を受けない６ＫＨｚ付近を
中心に発振するように第２図の各素子の定数を前記（３
）式に従って設定し、バンドパスフィルタ９（第１図）
の通過帯域幅を１００Ｈｚから１０　Ｋ　Ｈｚの間に設
定することによって、効果的にノイズを除去することが
できる。

〔効　　果〕

本発明によれば座標指示に対応する容量値検出手段とし
て、混入してくるノイズに発振周期が影響を受けること
のない調和発振回路を用い、ノイズ成分はバンドパスフ
ィルタによって除去することによって、容量値検出精度
を向上させ座標検出精度を向上させることのできるノイ
ズ耐性の強い座標検出装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による座標検出装置の全体的な構成図。 第２４図は調和発振回路の詳細な回路構成図。 第３図は従来の座標検出装置の原理説明図。 第４図は従来の座標検出装置におけるディジタル式ＣＲ
発振器の問題点の説明図である。 ８・・・調和発振回路。 ９・・・バンドパスフィルタ。 １０・・・オペアンプ。 １１・・・制御面路。 代理人弁理士　　　松　岡　宏四部べｋ・・・負　　己
二 第２図

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）基板上に抵抗膜を配置した座標入力パネルと該抵
   抗膜上の一点を指示する座標指示手段と、前記抵抗膜の
   両端に接続され該両端の電位を一定の関係に保つバッフ
   ァ回路と、前記抵抗膜の両端と該バッファ回路の両端と
   を交互に切換接続する切換手段と、前記バッファ回路の
   一端に接続され該一端から見た容量値を前記切換手段に
   よって切換えられた各場合について前記容量値に応じた
   周波数の発振波形として検出する調和発振回路を用いた
   容量値検出手段と、該容量値検出手段からの発振波形の
   周波数を計数する計数手段と、該計数手段による計数結
   果を用いて前記座標指示手段によって指示された前記座
   標入力パネル上の座標位置を計算する演算手段とを有す
   ることを特徴とする座標検出装置。
2. （２）前記容量値検出手段からの発振波形の周波数は、
   ６０Ｈｚより高くかつ１５ＫＨｚ未満になるように選定
   されることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の座
   標検出装置。
3. （３）前記容量値検出手段は、前記調和発振回路と該調
   和発振回路の出力に接続され６０Ｈｚより高くかつ１５
   ＫＨｚ未満の通常帯域幅を有する帯域通過フィルタとか
   ら構成されることを特徴とする特許請求の範囲第１項及
   び第２項記載の座標検出装置。