JPS61201182A - Ｘ線ｃｔ装置の多素子検出器 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置の多素子検出器Info
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- JPS61201182A JPS61201182A JP60041309A JP4130985A JPS61201182A JP S61201182 A JPS61201182 A JP S61201182A JP 60041309 A JP60041309 A JP 60041309A JP 4130985 A JP4130985 A JP 4130985A JP S61201182 A JPS61201182 A JP S61201182A
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- Japan
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- temperature
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- iii
- detector
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、被偵体のＸＭ断層像を撮影するＸ線ＣＴ装置
において透過Ｘ線を検出する多素子検出器に関し、特に
各部分における＠度分布を一１鴎化することができる）
ＩＪｃＴ装置の多素子検出器に１関する。
において透過Ｘ線を検出する多素子検出器に関し、特に
各部分における＠度分布を一１鴎化することができる）
ＩＪｃＴ装置の多素子検出器に１関する。
従来の技術
従来のこの種の多素子検出器１は、第８図に示すように
、被検体の周りに回転する回転板２０−側面にてＸ線管
３と対向する位置に、アルミニウム等の金属でできたブ
ロック状の取付部材４ａ、４ｅを介してその両側端部が
固定されていた。そして、この多素子検出器１は、上記
Ｘ蝉管３かｂ被演体領域５を覆うように放射されたファ
ンビームＸｓを検出するため、多数の検出素子を列状に
並べて適宜の長さで円弧状に形成されていた。
、被検体の周りに回転する回転板２０−側面にてＸ線管
３と対向する位置に、アルミニウム等の金属でできたブ
ロック状の取付部材４ａ、４ｅを介してその両側端部が
固定されていた。そして、この多素子検出器１は、上記
Ｘ蝉管３かｂ被演体領域５を覆うように放射されたファ
ンビームＸｓを検出するため、多数の検出素子を列状に
並べて適宜の長さで円弧状に形成されていた。
ここで、上記検出素子の計測特性は温度依存性を有し、
周囲温度が変化して該検出素子の温度が変化すると計測
誤差が生ずることがあった。そこで、従来は、上記多素
子検出器１の全長にわたって面ヒーター等の加熱手段を
取り付けると共に、該多素子検出器１の長平方向の中心
部たとえば０点に温浪センサ６を取り付け、この温度セ
ンサ６によって該部分の温度を検出して図示省略の制御
回路で上記面ヒーターのスイッチをＯＮ、０ＦＦＬ、上
記多素子検出器１の温度を一定に保つように制御してい
た。
周囲温度が変化して該検出素子の温度が変化すると計測
誤差が生ずることがあった。そこで、従来は、上記多素
子検出器１の全長にわたって面ヒーター等の加熱手段を
取り付けると共に、該多素子検出器１の長平方向の中心
部たとえば０点に温浪センサ６を取り付け、この温度セ
ンサ６によって該部分の温度を検出して図示省略の制御
回路で上記面ヒーターのスイッチをＯＮ、０ＦＦＬ、上
記多素子検出器１の温度を一定に保つように制御してい
た。
発明が解決しようとする問題点
しかし、このような多素子検出器１においては、温度セ
ンサ６は該多素子検出５１の長手方向の中心部Ｃ点ては
取り付けられているが、それより両側端部がわ例えばｂ
点、ｄ点には堰り付けられていなかった。しかるに、上
記多素子検出器１は、その両側端部において取付部材４
ａ、４ｅを介して回転板２に熱的に結合されており、上
記面ヒーターで加熱した温度は上記取付部材４ａ、４ｅ
を介して上記回転板２に逃げてしまうものであった。こ
の場合、上記の温度センサ６ではｂ点及びｄ点の温度は
検出することができず、比較的温度の逃げが少い中心部
Ｃ点の演出温度のみで面ヒーターによる加熱を制御して
いた。従って、第９図に示すように、温度センサ６が増
り付けられた中心部の０点は略設定温度に保つことがで
きるが、その両側端部のｂ点及びｄ点では回転板２へ熱
が逃げて温度差が生するもノ〕であった。このように、
多素子検出器１全体の温度を一定に保つことはできず、
その温度分布に変化が生ずるので、列状に並んだ舌部分
の検出素子の温度による計測特性が異なることとなり、
計測誤差が生ずるものであった。従って、Ｘ 、Ｗ断ノ
ー像の正確な計測データがとれないことがあった。そこ
で、本発明はこのような問題点を解決することを目的と
する。
ンサ６は該多素子検出５１の長手方向の中心部Ｃ点ては
取り付けられているが、それより両側端部がわ例えばｂ
点、ｄ点には堰り付けられていなかった。しかるに、上
記多素子検出器１は、その両側端部において取付部材４
ａ、４ｅを介して回転板２に熱的に結合されており、上
記面ヒーターで加熱した温度は上記取付部材４ａ、４ｅ
を介して上記回転板２に逃げてしまうものであった。こ
の場合、上記の温度センサ６ではｂ点及びｄ点の温度は
検出することができず、比較的温度の逃げが少い中心部
Ｃ点の演出温度のみで面ヒーターによる加熱を制御して
いた。従って、第９図に示すように、温度センサ６が増
り付けられた中心部の０点は略設定温度に保つことがで
きるが、その両側端部のｂ点及びｄ点では回転板２へ熱
が逃げて温度差が生するもノ〕であった。このように、
多素子検出器１全体の温度を一定に保つことはできず、
その温度分布に変化が生ずるので、列状に並んだ舌部分
の検出素子の温度による計測特性が異なることとなり、
計測誤差が生ずるものであった。従って、Ｘ 、Ｗ断ノ
ー像の正確な計測データがとれないことがあった。そこ
で、本発明はこのような問題点を解決することを目的と
する。
問題点を解決するための手段
上記の問題点を解決する本発明の手段は、被検体の周り
に回転する回転板の一側面にてＸ線管と対向位置に取付
部材を介して固定されたＸ線ＣＴ装置の多素子検出器に
おいて、上記取付部材に近い部分と遠い部分とで複数の
領域に区分し、これらの領域にそれぞれ加熱手段を設げ
ると共に温度検出手段を設け、各領域ごと独立に温度制
御を行うようにしたことを特徴とするＸ巌ＣＴ装置の多
素子検出器によってなされる。
に回転する回転板の一側面にてＸ線管と対向位置に取付
部材を介して固定されたＸ線ＣＴ装置の多素子検出器に
おいて、上記取付部材に近い部分と遠い部分とで複数の
領域に区分し、これらの領域にそれぞれ加熱手段を設げ
ると共に温度検出手段を設け、各領域ごと独立に温度制
御を行うようにしたことを特徴とするＸ巌ＣＴ装置の多
素子検出器によってなされる。
実施例
以下、本発明の実施例′ｆ！：添付図面に基いて詳細Ｋ
ｄ明する。
ｄ明する。
第１図は本発明によるＸ線ＣＴ装置の多素子検出器の実
施例を示す斜視図である。この多素子検出ａ１０は、Ｘ
？ｆＭ管３から被検体領域５を攬うように放射され被検
体を透過したファンビームＸ 、Ｗを検出するもので、
多数の検出素子を列状に並べて適宜の長さで円弧状に形
成されており、被検体の周りに回転する回転板２の一側
面にて上記Ｘ線管３と対向する位置にアルミニウム等の
金属でできたブロック状の取付部材４ａ、４ｅを介して
その両側端部が上記回転板２にしっかりと固定されてい
る。
施例を示す斜視図である。この多素子検出ａ１０は、Ｘ
？ｆＭ管３から被検体領域５を攬うように放射され被検
体を透過したファンビームＸ 、Ｗを検出するもので、
多数の検出素子を列状に並べて適宜の長さで円弧状に形
成されており、被検体の周りに回転する回転板２の一側
面にて上記Ｘ線管３と対向する位置にアルミニウム等の
金属でできたブロック状の取付部材４ａ、４ｅを介して
その両側端部が上記回転板２にしっかりと固定されてい
る。
ここで、上記多素子検出器１０は、その長手方向におい
て両側端部の各取付部材４ａ、４ｅに近い部分Ｉ、■と
、中心部にて上記取付部材４ａ、４ｅから遠い部分Ｉと
の三つの領域に区分され、これらの領域ｒ、ｎ、ｉにそ
れぞれ加熱手段としての面ヒータ−Ｈ１，Ｈ２，Ｈ５を
その表面に貼り付けると共に、各領域ｉ、ｎ。
て両側端部の各取付部材４ａ、４ｅに近い部分Ｉ、■と
、中心部にて上記取付部材４ａ、４ｅから遠い部分Ｉと
の三つの領域に区分され、これらの領域ｒ、ｎ、ｉにそ
れぞれ加熱手段としての面ヒータ−Ｈ１，Ｈ２，Ｈ５を
その表面に貼り付けると共に、各領域ｉ、ｎ。
■の中心部には温度検出手段としての温度センサＳ１．
Ｓ２． Ｓｓがそれぞれ設けられている。
Ｓ２． Ｓｓがそれぞれ設けられている。
この温度センサ３１，３２，８５は、例えばサーミスタ
であり、各温度センナ８１〜Ｓ５からの検出信号はそれ
ぞれＳ−１第二、第三の温度制御回路１１ａ、ｌｌｂ、
１１ｃへ入力するようになっている。また、上記温度制
御回路１１ａ〜１ｉｃＫは電源回路１２が接続されてお
り、該温度制御回路１１ａ〜１１ｃを介して各々の面ヒ
ータ−Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３を加熱するようになっている。
であり、各温度センナ８１〜Ｓ５からの検出信号はそれ
ぞれＳ−１第二、第三の温度制御回路１１ａ、ｌｌｂ、
１１ｃへ入力するようになっている。また、上記温度制
御回路１１ａ〜１ｉｃＫは電源回路１２が接続されてお
り、該温度制御回路１１ａ〜１１ｃを介して各々の面ヒ
ータ−Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３を加熱するようになっている。
従って、上記多素子検出器１０は、領域Ｉ、 １１．
ｌごとに温度検出がされ、それぞれの検出信号だよ
って各領域ごとに温度の逃げに応じて加熱されることと
なり、各領域で独立に温度制御を行うことができる。
ｌごとに温度検出がされ、それぞれの検出信号だよ
って各領域ごとに温度の逃げに応じて加熱されることと
なり、各領域で独立に温度制御を行うことができる。
なお、第１図において符号１３は、上記多素子検出器１
０で検出したＸ、ＩＦｉ！強度に対応した信号電流を増
幅する信号増ＩＩ＠器である。
０で検出したＸ、ＩＦｉ！強度に対応した信号電流を増
幅する信号増ＩＩ＠器である。
第２図は本発明の多素子検出器１０の温度制御を示すブ
ロック図である。ここで、第一ないし第三の温度制御回
路ｔｉａ、 １１ｂｔ １１Ｃには、同一の設定温
度たとえば５０℃がセットしである。そして、各領域１
．ｎ、Ｉの温度センサ３１，８２．Ｓｓは、当該部分の
現在の温度を計測してそれぞれ検出信号ｔ１．ｔ２．ｔ
Ｓを出力し、これらの検出信号ｔ１〜ｉｓは各々第一な
いし第三の温度制御回路１１ａ〜１１ＣｉＣ入力して上
記セットされた設定温度量と比較され、差があれば電源
回路１２から各領域Ｉ、Ｍ、Ｉの面ヒータ−）（１，Ｈ
２，Ｈｓにそれぞれ通電される。このように、各領域Ｉ
、 Ｉｆ。
ロック図である。ここで、第一ないし第三の温度制御回
路ｔｉａ、 １１ｂｔ １１Ｃには、同一の設定温
度たとえば５０℃がセットしである。そして、各領域１
．ｎ、Ｉの温度センサ３１，８２．Ｓｓは、当該部分の
現在の温度を計測してそれぞれ検出信号ｔ１．ｔ２．ｔ
Ｓを出力し、これらの検出信号ｔ１〜ｉｓは各々第一な
いし第三の温度制御回路１１ａ〜１１ＣｉＣ入力して上
記セットされた設定温度量と比較され、差があれば電源
回路１２から各領域Ｉ、Ｍ、Ｉの面ヒータ−）（１，Ｈ
２，Ｈｓにそれぞれ通電される。このように、各領域Ｉ
、 Ｉｆ。
■ごとに温度センサＳ１，８２．ＳＳの検出信号ｔ１〜
ｔ３でそれぞれの面ヒータＨ＋、Ｈｚ、ＨｓをＯＮ、０
ＦＦＬ、、温度の逃げに応じて独立に温度制御を行うこ
とができる。そのときの温度分布を第９図と同様に示す
と、第３図に示すようになり、各領域Ｉ、■、Ｉの温度
センサＳ１．Ｓ２．、Ｓｓの部位に８いてすべて設定温
度に保つことができ、この結果、多素子検出器１０の全
体な略一定の温度に保つことができる。
ｔ３でそれぞれの面ヒータＨ＋、Ｈｚ、ＨｓをＯＮ、０
ＦＦＬ、、温度の逃げに応じて独立に温度制御を行うこ
とができる。そのときの温度分布を第９図と同様に示す
と、第３図に示すようになり、各領域Ｉ、■、Ｉの温度
センサＳ１．Ｓ２．、Ｓｓの部位に８いてすべて設定温
度に保つことができ、この結果、多素子検出器１０の全
体な略一定の温度に保つことができる。
第４図は他の実施例を示す要部＄Ｉ祝図である。
二の実施例は、取付部材４が多素子検出４１０の長手方
向に沿って円弧状に略同長に延び、上記多素子検出ａ１
０と回転板２との間に上記取付部材４をその全長にわた
って介在させて、多素子検出５１０を回転板２の一側面
に固定したものでちる。この場合は、多素子検出６１０
の厚さ方向にも検出素子が複数個並んだものであり、そ
の厚さ方向において内側部分の取付部材４ＩＣ近い部分
■と、外側部分の取付部材４から遠い部分Ｖとの二つの
領域に区分され、これら、の領域ＩＶ、 Ｖにそれぞれ
面ヒーターＨ４，）ｉｓをその表面に貼り付けると共に
、各領域ＩＶ、 Ｖの中心部に温度センサ３４，５５を
それぞれ設けている。また、上記面ヒーターＨ４，Ｈｓ
及び＠建センサＳ４．Ｓｓは、それぞれ温度制御回路１
１ｄｐＨｅに接続されており、上記温度ｉ！ＩＪ ＠回
路１１ｄｔ１１ｅはｉ！源回路１２へ接続されている。
向に沿って円弧状に略同長に延び、上記多素子検出ａ１
０と回転板２との間に上記取付部材４をその全長にわた
って介在させて、多素子検出５１０を回転板２の一側面
に固定したものでちる。この場合は、多素子検出６１０
の厚さ方向にも検出素子が複数個並んだものであり、そ
の厚さ方向において内側部分の取付部材４ＩＣ近い部分
■と、外側部分の取付部材４から遠い部分Ｖとの二つの
領域に区分され、これら、の領域ＩＶ、 Ｖにそれぞれ
面ヒーターＨ４，）ｉｓをその表面に貼り付けると共に
、各領域ＩＶ、 Ｖの中心部に温度センサ３４，５５を
それぞれ設けている。また、上記面ヒーターＨ４，Ｈｓ
及び＠建センサＳ４．Ｓｓは、それぞれ温度制御回路１
１ｄｐＨｅに接続されており、上記温度ｉ！ＩＪ ＠回
路１１ｄｔ１１ｅはｉ！源回路１２へ接続されている。
従って、この実施例においては、多素子検出器１０の厚
さ方向において各領域ｆｆ、 Ｖごと独立して温度制
御を行うことができる。
さ方向において各領域ｆｆ、 Ｖごと独立して温度制
御を行うことができる。
いま、第５図に示すように、多素子検出器１００回転板
２への取付状態の横断面をとり、多素子検出器１００ｇ
点及びｈ点のｒＭＬｅ分布をとることとする。この場合
、従来は多素子検出器の一箇所、例えば第５図のｈ点に
のみ温度センナが設けられ、この温度センナの検出温度
で上記多素子検出器全体の温度制御をしており、取付部
材４に近い部分のｇ点からの温度の逃げは検出していな
かった。従って、従来の多素子検出器では、第６図に示
すように、多素子、検出器の厚さ方向ｌＣオいて温度差
が生ずるものであった。これに対して、本発明の多素子
検出器１０では、その厚さ方向においてｇ点、ｈ点に相
当する部分に温度センサ８４，８５が設けられると共に
、各領域ＩＶ、Ｖにそれぞれ面ヒータ−Ｈ４、Ｈｓが設
げられているので、各部分で温度の逃げに応じて温度制
御を行うことができ、第７図に示すように、該多素子検
出器１０の厚さ方向にＭいてすべて設定温ｔＫに保つこ
とができる。
２への取付状態の横断面をとり、多素子検出器１００ｇ
点及びｈ点のｒＭＬｅ分布をとることとする。この場合
、従来は多素子検出器の一箇所、例えば第５図のｈ点に
のみ温度センナが設けられ、この温度センナの検出温度
で上記多素子検出器全体の温度制御をしており、取付部
材４に近い部分のｇ点からの温度の逃げは検出していな
かった。従って、従来の多素子検出器では、第６図に示
すように、多素子、検出器の厚さ方向ｌＣオいて温度差
が生ずるものであった。これに対して、本発明の多素子
検出器１０では、その厚さ方向においてｇ点、ｈ点に相
当する部分に温度センサ８４，８５が設けられると共に
、各領域ＩＶ、Ｖにそれぞれ面ヒータ−Ｈ４、Ｈｓが設
げられているので、各部分で温度の逃げに応じて温度制
御を行うことができ、第７図に示すように、該多素子検
出器１０の厚さ方向にＭいてすべて設定温ｔＫに保つこ
とができる。
なお、第１図及び、！ ４図では、加熱手段として面ヒ
ータ−Ｈ１〜Ｈｓ、Ｈａ、Ｈｓを示したが１本発明はこ
れに限られず、多素子検出器１０の各領域を９′ＩＯ熱
できるものならどのようなものであってもよい。
ータ−Ｈ１〜Ｈｓ、Ｈａ、Ｈｓを示したが１本発明はこ
れに限られず、多素子検出器１０の各領域を９′ＩＯ熱
できるものならどのようなものであってもよい。
発明の効果
本発明は以上説明したように、取付部材て近い部分と遠
い部分とで複数の領域に区分し、これらの領域にそれぞ
れ加熱手段と温度演出手段を設けたので、各領域におけ
る温度の逃げに応じて独立に温度制御を行うことができ
る。従って、多素子検出器１０の各部分に２ける温度差
を無くしてその温度分布を一様化することができ、該多
素子検出６１０の全体を略一定の温度に保つことができ
る。このことから、列状に並んだ各部分の検出素子の温
夏九よる計測特性が一様となり、計測誤差を無くしてＸ
線断層像の正確な計測データをとることができる。
い部分とで複数の領域に区分し、これらの領域にそれぞ
れ加熱手段と温度演出手段を設けたので、各領域におけ
る温度の逃げに応じて独立に温度制御を行うことができ
る。従って、多素子検出器１０の各部分に２ける温度差
を無くしてその温度分布を一様化することができ、該多
素子検出６１０の全体を略一定の温度に保つことができ
る。このことから、列状に並んだ各部分の検出素子の温
夏九よる計測特性が一様となり、計測誤差を無くしてＸ
線断層像の正確な計測データをとることができる。
第１図は本発明によるＸ巌ＣＴ装置の多素子検出器の実
施例を示す斜視図、第２図はその温度制御を示すブロッ
ク図、第３図は各部分における温度分布を承すグラフ、
第４図は他の実施例を示す要部斜視図、第５図は他の実
施例における収付伏態を示す横断面図、第６図は上記他
の友施例と同様の場合の従来例の温度分布？示すグラフ
、第７図はト記他の実施例にＫげる温１度分布を示すグ
ラフ、第８図は従来の多素子検出器を示す斜視図、第９
図は従来例の各部分における温・を分布を示すグラフで
ある。 ２・・・回転板、 ３・・・Ｘ線ｕ１ ４．４ａ、４ｅ・・・取付部材、 １０・・・多素子慣用器、 １１ａ、１ ｌｂ、１１ｃ、１１ａｔ １１ｅ・・・
温度制御！１路、 １２・・・１源１回路、 Ｉ、ＩＩ、ＩＴ・・・取付部材に近い領域、１、Ｖ・・
・取付部材に遠い領域、 Ｈ＋ 、 Ｈ２、Ｈｓ 、 Ｈａ 、 ｌ（ｓ
・・・面ヒータ−（加熱手段）、 Ｓｌ、Ｓｌ、Ｓ３．Ｓ４．Ｓ５・・・温度センサ（温度
検出＋段）。
施例を示す斜視図、第２図はその温度制御を示すブロッ
ク図、第３図は各部分における温度分布を承すグラフ、
第４図は他の実施例を示す要部斜視図、第５図は他の実
施例における収付伏態を示す横断面図、第６図は上記他
の友施例と同様の場合の従来例の温度分布？示すグラフ
、第７図はト記他の実施例にＫげる温１度分布を示すグ
ラフ、第８図は従来の多素子検出器を示す斜視図、第９
図は従来例の各部分における温・を分布を示すグラフで
ある。 ２・・・回転板、 ３・・・Ｘ線ｕ１ ４．４ａ、４ｅ・・・取付部材、 １０・・・多素子慣用器、 １１ａ、１ ｌｂ、１１ｃ、１１ａｔ １１ｅ・・・
温度制御！１路、 １２・・・１源１回路、 Ｉ、ＩＩ、ＩＴ・・・取付部材に近い領域、１、Ｖ・・
・取付部材に遠い領域、 Ｈ＋ 、 Ｈ２、Ｈｓ 、 Ｈａ 、 ｌ（ｓ
・・・面ヒータ−（加熱手段）、 Ｓｌ、Ｓｌ、Ｓ３．Ｓ４．Ｓ５・・・温度センサ（温度
検出＋段）。
Claims (1)
- 被検体の周りに回転する回転板の一側面にてＸ線管と対
向位置に取付部材を介して固定されたＸ線ＣＴ装置の多
素子検出器において、上記取付部材に近い部分と遠い部
分とで複数の領域に区分し、これらの領域にそれぞれ加
熱手段を設けると共に温度検出手段を設け、各領域ごと
独立に温度制御を行うようにしたことを特徴とするＸ線
ＣＴ装置の多素子検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60041309A JPS61201182A (ja) | 1985-03-04 | 1985-03-04 | Ｘ線ｃｔ装置の多素子検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60041309A JPS61201182A (ja) | 1985-03-04 | 1985-03-04 | Ｘ線ｃｔ装置の多素子検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61201182A true JPS61201182A (ja) | 1986-09-05 |
Family
ID=12604894
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60041309A Pending JPS61201182A (ja) | 1985-03-04 | 1985-03-04 | Ｘ線ｃｔ装置の多素子検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61201182A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6349140A (ja) * | 1986-08-19 | 1988-03-01 | 株式会社島津製作所 | 放射線像撮像装置 |
| US5703921A (en) * | 1995-05-30 | 1997-12-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray computed tomography apparatus |
| JPH1073668A (ja) * | 1996-08-29 | 1998-03-17 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線検出器恒温化装置 |
| JP2000342568A (ja) * | 1999-06-07 | 2000-12-12 | Ge Yokogawa Medical Systems Ltd | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2004057834A (ja) * | 2002-07-30 | 2004-02-26 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 熱電制御されたｘ線検知器アレイ |
| JP2013158448A (ja) * | 2012-02-03 | 2013-08-19 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
-
1985
- 1985-03-04 JP JP60041309A patent/JPS61201182A/ja active Pending
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