JPS6120415A - ラツチ回路 - Google Patents

ラツチ回路

Info

Publication number
JPS6120415A
JPS6120415A JP60045014A JP4501485A JPS6120415A JP S6120415 A JPS6120415 A JP S6120415A JP 60045014 A JP60045014 A JP 60045014A JP 4501485 A JP4501485 A JP 4501485A JP S6120415 A JPS6120415 A JP S6120415A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
output
latch
pin
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP60045014A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0411124B2 (ja
Inventor
チユツク・ホング・ナイ
ジエラルド・ジヨセフ・ワトキンス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JPS6120415A publication Critical patent/JPS6120415A/ja
Publication of JPH0411124B2 publication Critical patent/JPH0411124B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/037Bistable circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31725Timing aspects, e.g. clock distribution, skew, propagation delay
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318572Input/Output interfaces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318594Timing aspects

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Shift Register Type Memory (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 以下の順序で本発明を説明する。
A、産業上の利用分野 B、開示の概要 C0従来技術 り9発明が解決しようとする問題点 E6問題点を解決するための手段 F、実施例 fl、本発明のラッチ回路の概要ブロック図(第1図) f2.動作の概要 f3.詳細なブロック図(第2図) f4.第2図のブロック図の動作 f41.システム動作モード f42.走査モード f5.他の実施例のブロック図(第4図)G1発明の効
果 A、産業上の利用分野 この発明はコンピュータ・システムに使用するためのラ
ッチ回路に関し、特にスキューを補正した走査機能をも
つエツジ感知性の単一クロック・ラッチ回路に関するも
のである。
B、開示の概要 この発明により開示されるのはラッチ回路である。この
ラッチ回路はレベル感知走査用に設計されたラッチ(L
 S S D)として機能する。すなわち、このラッチ
回路は走査機能を有している。しかし、このラッチ回路
の走査機能は単一のクロック線に関連して実行される。
さらに、このラッチ回路はD型ラッチとして機能する。
すなわち、その出力はクロック線からクロック・パルス
が入力されたときに状態が変更される。そのため、この
発明のラッチ回路は(走査機能をもつ)LSSI)型ラ
ッチ回路及び(単一クロック線の)D型ラッチ回路それ
ぞれのすべての長所を併せ持つとともに、これら従来の
ラッチ回路の欠点をまぬがれている。
C0従来技術 最近のコンピュータ・システムで使用される集積回路に
は複数のラッチ回路が含まれている。そして、このラッ
チ回路は走査機能をもつ必要がある。というのは、もし
ラッチ回路が走査機能を有するなら、その走査機能が利
用されるとき、そのラッチ回路の2進状態が読み出され
別のラッチ回路の2進状態とともにレジスタに格納され
る。すると、このレジスタの内容は読み出されて、ラッ
チ回路の2進状態を正しい2進状態の組と比較する為に
表示スクリーン上に表示することができる。
こうして、誤ったデータが容易に検出される。
ここで第5a図と第5b図に基づき従来の典型的なラッ
チ回路について説明する。第5a図において、ラッチL
2はラッチL1の出力に接続され、ラッチL3はラッチ
L2の出力に接続され、ラッチL4はラッチL3に接続
され、ラッチL5はラッチL4の出力に接続され、ラッ
チL6はラッチL5に接続されている。そして、走査デ
ータはラッチL1に入力される。また、信号II A 
IIはラッチ■、1、L 3及びL5の入力端子に電圧
を与え、信号11B″′はラッチL2、L4及びL6の
入力端子に電圧を与える。さらに、ラッチL6の出力は
レジスタの入力に接続されている。このレジスタは、そ
の内容を読み出しCRT上に表示するための回路に接続
されている。第5b図は信号A及びBの電圧波形を示す
図である。
さて、第5a図の回路に第5b図の電圧波形を入力した
場合の作用を説明しよう。このとき、ラッチL1には、
その内容をあられす2進ビツトが格納されていると仮定
する。すると、最初のB信号パルスに応答して、その2
進ビツトはラッチL2へ移動する。さらに、最初のA信
号パルスに応答して、その2進ビツトはラッチL3へ移
動する。
次に、第2のB信号パルスに応答して、その2進ビツト
はラッチL4へ移動する。次に第2のA信号パルスに応
答してその2進ビツトはラッチL5へ移動する。次に第
3のB信号パルスに応答してその2進ビツトはラッチL
6へ移動する。次に第3のへ信号パルスに応答してその
2進ビツトはレジスタのII I +1位置へ移動する
。このとき、ラッチL2〜L6の内容をあられす他の2
進ビツトは、それと同様にして既にレジスタに入力され
ている。
それゆえ、レジスタには、ラッチL1〜L6の内容をあ
られす2進ビツトのすべてが格納されている。こうして
、その2進ビツトを調べてラッチL1〜L6の動作状態
を判断するために、レジスタの内容をチェックすること
が可能となる。
従来のこの種の典型的なラッチは、いわゆる極性保持の
レベル感知走査用に設計された(LSSD)ラッチであ
る。このLSSDラッチは走査機能を有しているが、そ
の走査機能を実行させるためには複数本のクロッグが使
用される。しかし、これらの各々のクロック線は集積回
路のチップ上に配置されなくてはならないので、クロッ
ク線が複数本あることは開発設計者の見地から好ましく
ない。すなわち開発設計者にとって好ましいのは単一の
クロック線を使用することである。
従来から知られている別のタイプのラッチとしてrr 
D II型クラッチある。このD型ラッチは、うツチを
制御するためのクロック・パルスに対してエツジ感知性
であり、すなわちラッチの2進状態がラッチ制御用クロ
ック・パルスの前端に応答して変化するので、開発設計
者の見地から好ましい。
D型ラッチの別の好ましい特徴は、入力データを現在の
値にロックし、そのあとすぐにロックされたデータを出
力ラッチに転送することである。従って、入力データ状
態では、データはそのあとの変化に応答して変えること
ができない。D型ラッチのさらに別の好ましい特徴は、
その機能の実行のために唯一のクロックしか使用しない
ことである。しかし、D型ラッチの主な欠点は、上述し
た走査機能を持たないことである。それゆえ、走査機能
を用いてD型ラッチの内容をチェックし検証することは
不可能である。
ラッチを動作させる際にクロックを与えることは重要で
ある、というのはクロックによりラッチ機能が制御され
るからである。しかし、ラッチ機能を制御するために複
数のクロックが使用されるときには、いわゆる゛′スキ
ュー′″という別の問題が生じる。
クロックのスキューは、走査モードで動作させる際に問
題となる。すなわち、走査モードでは。
第5a図のレジスタ中に記憶されるべきラッチからの2
進データが直列に配置された次のラッチ中に記憶されな
くてはならない。しかるに、このデータの記憶はクロッ
ク線を介してクロック・パルスを受けとることに依存し
ている。例えば、次に配列されたラッチ中で2進111
 IIを記憶する用意があるが(クロック・パルス発生
回路に関連するさまざまの状態のため)クロックパルス
が受は取られない場合、ラッチには2進1′1”が格納
されない。そして、クロック・パルスが受は取られると
、その2進″1”は2進II OIIに変化しているか
もしれない。この場合、次に配列されたラッチには2進
″0”が記憶されることになる。結局。
上述した第5a図の典型的なラッチ走査装置のレジスタ
には誤ったデータが格納されてしまう。
そこで、LSSDタイプのラッチを接続することにより
、D型のラッチに走査機能を持つように変更されたもの
が知られている。しかし、このように再構成されたラッ
チはLSSDラッチと接続されシステムを動作させるた
めに必要な多重クロック線を有している。しかし、クロ
ック線が複数本であることは、集積回路技術を利用して
ラッチ回路を実現することがより難しくなるため、開発
設計者の見地から望ましくない。その上、多重クロック
線に入力されるクロック・パルスの発生とそのタイミン
グとがもし厳密に制御されないならば、クロックのスキ
ューという問題が依然として存在することになる。
D9発明が解決しようとする問題点 この発明の目的は、LSSDタイプのラッチの長所とD
タイプのラッチの長所を併せ持つとともに、その両タイ
プの短所を解決したラッチ回路を提供することにある。
この発明の別の目的は、走査機能をもつとともにタロツ
ク線の数を最小限に抑え、以だ多重クロック線を使用し
た場合に生じるスキューを補正できるようなラッチ回路
を提供することにある。
E1問題点を解決するための手段 本発明に基づくラッチ回路は次のような機能を備えてい
る: el、Dタイプのラッチに対応するロック及び切換(s
teering )機能 e2.Dタイプのラッチに対応する単一クロック e3.LSSDタイプのラッチに対応する走査機能 e4.走査モードの間に走査機能を利用する場合の走査
データの選択、またはシステムモードの間に走査機能を
利用しない場合のシステムデータの選択のための新規な
データ選択機能 システム動作モードの間は、ラッチ回路が人力データ状
態を選択し、出力ラッチの入力に対して入力データ状態
を切換え、単一のクロック線を介して送られてきたタロ
ツク・パルスに応答してそのラッチのデータ入力のそれ
以降の状態変化に感知しないようにするために、クロッ
ク線がプラスになったときに、出力ラッチの人力にあら
れれた入力テータ状態を、そのラッチが有していた値に
ロックする。この入力データはシステム動作モートの間
に出力ラッチに自動的に転送される。というのは、シス
テムゲートを介して常時パルスが送られているからであ
る。
一方、走査モートの間は、出力ラッチの入力にあられれ
た入力データ状態が、システム動作モードの間に行なわ
れたようにしてロックされる。しかし、走査モードの間
は、タロツクパルスの導通期間にシステムゲートを介し
て伝達される走査パルスに応答してラッチ回路が入力デ
ータを出力ラッチに転送する。こうして、出力ラッチの
以前の2進状態が変更される。そして、走査パルスが入
力されなくなると、クロックパルスは、いわゆるクロッ
ク・スキューを補償するのに十分な期間、クロック・パ
ルスが継続可能となる。また、クロック・パルスが加え
られない場合は、上述したような切換と出力ラッチに対
する転送とをさらに行うために、入力データがさらに選
択可能である。
F、実施例 fl、本発明のラッチ回路の概要ブロック図第1図は1
本発明のラッチ回路の概要ブロック図である。第1図に
おいて、ラッチ回路は選択、切換&ロン9手段10と、
出力ラッチ30と1選択、切換&ロン9手段10と出力
ラッチ30との間に介在配置された転送用ゲート20と
から成る。
f2.動作の概要 第1図のラッチ回路がシステム動作モートで機能を行う
間は、選択、切換&ロン9手段10がシステムデータ入
力線からシステムデータを受は取りまたは選択して、シ
ステムデータを出力ラッチ30の入力へ切換え、そして
クロック線がプラスになると、出力ラッチ30の入力に
あらわれるシステムデータが、クロック線がプラスにな
ったときに選択、切換&ロン9手段10が有していた値
にロックされる。また、システムデータ入力線がマイナ
ス状態に切換わったときは、出力ラッチ30の入力にあ
らわれるシステムデータが、出力ラッチ30の入力から
出力ラッチ30へ直ちに転送される。そうしてクロック
線がプラスになったとき、システムデータの2進状態値
は、システムデータ入力線l−にあらわれるシステムデ
ータの2進状態の変化にも拘らず、クロック線がマイナ
スになることが許容されるまでロックされ、あるいは固
定されたままである。尚、選択、切換&ロン9手段】0
がクロック線から送られてくるタロツクパルスに応答し
てロック機能を行うことに注意されたい。この発明の一
つの特徴によれは、このクロック線はラッチ回路によっ
て利用される唯一のクロック線である。
さて、走査モードの間には、選択、切換&ロン9手段1
0が走査データ入力線から走査データを選択し、その走
査データを記憶し、出力ラッチ30の入力に対して走査
データを操舵する。そしてクロック線がプラスになると
、選択、切換&ロン9手段10は、出力ラッチ3oの入
力に電圧を与えている走査データを、クロック線がプラ
スになったときに選択、切換&ロン9手段10が有して
いた値にロックする。クロック線がプラスである間は、
システムゲートがマイナスになることが許容される。そ
して、走査データは、出カラツーy30の入力で出力ラ
ッチ30に転送される。従って、出力ラッチ30の出力
の2進状態が変更される。
システムゲートがマイナスであるときは、ラッチ回路は
システム動作モードの期間中に機能を実行する。またシ
ステムゲートがプラスであるときは、ラッチ回路は走査
モードの間に機能を実行する。
転送ゲート20はシステムゲートに接続されており、シ
ステム動作モードの間は、出力ラッチ30の入力にあら
われるシステムデータを出力ラッチ30に転送すること
を許容し、走査モードの間は、出力ラッチ30の入力に
あらわれる走査データを出力ラッチ30に転送すること
を許容する。
f3.詳細なブロック図 第2図は、第1図のブロック図の一実施例としての詳細
なブロック図である。
第2図において、選択、切換&ロン9手段1゜は次のよ
うな素子からなる。先ず、アンド反転(AI)回路10
aは入力ピン1.2及び3を備えている。そして、シス
テムデータはA1回路10aの入力ピン2に入力される
。A1回路10bもまた入力ピン1.2及び3を備えて
いる。そして走査データはA1回路10bの入力ピン2
に入力される。反転(N)回路10cの入力端子はA1
回路10bのピン3に入力される。尚、N回路10cの
入力端子は″−システムゲート”とラベル付けされてい
る。N回路10cの出力端子はA1回路10aのピン3
に接続されている。
AIN回路10c入力ピン1.2及び3を備えている。
A1回路10a及び10bの出力端子はAIN回路10
cピン2に接続されている。AIN回路10c出力端子
はA1回路10aのピン1とA1回路10bのピン1と
に接続されている。
A1回路10eは入力ピン1及び2を有している。
AIN回路10c入力ピン1はA1回路10a及び10
bの出力端子に接続されている。AIN回路10c入力
ピン1及び2を有している。AIN回路10c入力ピン
2はAIN回路10c出力端子に接続されている。パ+
クロック″とラベル付けされたクロック線はAIN回路
10cび10fのピン1に接続されている。AIN回路
10c出力端子はAIN回路10cピン3とAIN回路
10cピン2とに接続されている。また、AI回路]、
 Odのピン2とピン3、N回路10cの出力端子、A
IN回路10cピン2、及び上述したクロック線、の各
々は転送ゲート20を介して出力ラッチ30に接続され
ている。
第2図において、出力ラッチ30は次の素子から成って
いる。先AI回路30aは入力ピン1.2.3及び3を
備えている。AIN回路30cピン1はAIN回路10
c入力ピン2に接続されている。AIN回路30cピン
2はAIN回路10c入力ピン3に接続されている。A
IN回路30cピン3はN回路10cの出力に接続され
ている。
AIN回路30cピン4はクロック線1′+クロツク″
に接続されている。AIN回路30c入力ピン1.2及
び3を備えいてる。AIN回路30c入力ピン1はAI
N回路30c接合点20aを形成する入力ピン3に接続
されており、その接合点20aはN回路10cの出力に
接続されている。
AIN回路30c入力ピン2はAIN回路10c入力ピ
ン2に接続されている。AIN回路30c入力ピン3は
クロック線“+クロック″に接続されている。AIN回
路30c出力端子はAIN回路30c出力端子に接続さ
れている。AIN回路30c出力端子は30aの出力端
子に接続されている。AIN回路30c入力端子はAI
N回路30c出力端子に接続されている。AIN回路3
0c入力端子はAIN回路30c出力端子に接続されて
いる。
転送ゲート20は接合点20aを備えている。
従って、接合点20aは転送ゲート20の機能を果たす
さて、2つの入力ピンをもつAI回路の真理値表は次の
とおりである: 表  ■ また、3つの入力ピンをもつAI回路の真理値表は次の
とおりである: 表  ■ 尚、4つの入力ピンをもつAI回路の真理値表も同様に
して示されるのであって、すなわち入力が1111であ
るときのみ出力がOになり、入力が1111以外のとき
は出力が1になる。
f4.第2図のブロック図の動作 第3a図及び第3b図には、第2図の回路における電圧
波形の変化の例が示されている。第3a図は、第2図の
ラッチ回路がシステムモードで動作しているときに得ら
れる波形である。第3b図は、第2図のラッチ回路が走
査モードで動作しているときに得られる波形である。
詳しい説明を行う前に、第2図のラッチ回路がロック機
能を実行する方法を概括的に述へておく方が好ましいで
あろう。そこで要約すると、この発明のラッチ回路のロ
ック機能は、クロック線がプラスになり、走査データま
たはシステムデータ、及び回路]、 ObまたはlOa
への入力の各々がプラスであるときAIN回路30cピ
ン1及び2がマイナスであることを保証し、且つクロッ
ク線がプラスになり走査データまたはシステムデータ、
及び回路10bまたは10aへの人力の各々がマイナス
であるときAIN回路30cピン】及び2がプラスであ
ることを保証することにより実行される。AIN回路1
0cび10bのピン1が、クロック線への電圧の印加に
応答してマイナスであるとき回路30aのピン1及び2
はプラスである。
回路30aのピン2がマイナスであるか、ト述の状態に
応して回路10a及び10bのピン1がマイナスである
とき、出力ラッチ30(特に回路30a)の出力状態は
、入力システムまたは走査データの状態の変化に拘らず
ロックされる。
さらにまた、詳しい説明を行う前に、第3b図において
II A L’、“B II、II CII 、  I
I D II、II F IIとそれぞれラベル付けし
た時間間隔の関連についても概括的に述べておく方が好
ましいであろう。
間隔rr A IT〜II E IIはシステム設計者
の制御を受ける値であり1次のような意味を有している
。先ず間隔II A IIはクロック線の立ち上がりま
でのシステムゲートの立ち上がりのスキューをあられす
間隔II B Trはクロック線の立ち上がりからのシ
ステムゲートの立ち上がりのスキューをあられす。
間隔II C#は転送パルス幅をあられす。間隔II 
D IIはシステムゲートのリリース時間をあられす。
そして1間隔u F IIはクロックのリリース時間と
立ち上がり時間のスキューをあられす。
こうして、次に詳しい動作の説明に移行する。
先ず、ここで注意しておきたいことは、″プラス”と′
″2進1″、及び″マイナス”と1′2進0”とがそれ
ぞれ同じ意味をあられす、ということである。
f41.システム動作モード システム動作モードの間は、″システムデータ入力″端
子を介してシステムデータが第3図のラッチ回路を作動
させる。このときシステムゲートはマイナスである。そ
の結果、N回路10cの機能により、AIN回路10c
ピン3にはプラスの信号を入力される。その回路10a
のピン2にはプラスのシステムデータが入力される。そ
の回路10aのピン1にはプラスの信号が入力される、
というのはそのピン1がAIN回路10c出力に接続さ
れているからである。そして、この時点でクロック線が
マイナスであるからAIN回路10c出力はプラスであ
る。こうして、AIN回路10cピン1.2及び3がプ
ラスであるから、回路10aの出力にあらわれるシステ
ムデータは回路10aの出力へとゲートされる。この結
果、AIN回路10c出力にはマイナスの信号があられ
れる。それゆえ、システムデータがプラスであるなら、
AIN回路10cピン2にはAIN回路10cマイナス
の出力が加えられる。AIN回路10cピン2はAIN
回路30cピン1に接続されているので、このマイナス
の信号はAIN回路30cピン1に加えられる。この時
点で、クロック線が依然としてマイナスであるので、も
しシステムデータに状態の変化が生じたならば、その変
化したシステムデータがAIN回路10c通ってゲート
され、そのゲートされたシステムデータはAIN回路1
0cピン2とAIN回路30cピン1とに入力される。
しかし、クロック線がプラスになるとき、A1回路10
dのピン1がプラスである。
回路1. Odのピン2は、AI回路10aを介してゲ
ートされたシステムデータにより、既にマイナスである
。AI回路10dのピン3は次の理由によりマイナスで
ある:先ずAI回路10aのマイナス出力がAI回路1
0eのピン1まで導通している。それゆえ、AI回路1
0eの出力はプラスでなくてはならない。このプラス出
力はAI回路30bのピン2に導通している。そして、
AI回路10eのプラス出力がAI回路10fのピン2
に導通し、クロック線がプラスであるので、AI回路1
0fの出力はマイナスである。このマイナス出力はAI
回路10dのピン3に導通している。
クロック線がプラスであるので、回路10dのピン2が
マイナスであり、回路10dのピン3がマイナスであり
、回路10dの出力がプラスである。
プラスの状態にある回路10dの出力はAI回路10a
のピン1をプラス状態に保つはたらきを行う。上で述べ
たように、回路10dのピン3はマイナスである。そし
て、回路10dのピン3は回路30aのピン2に接続さ
れているので、回路30aのピン2もマイナスである。
それゆえ、回路30aのピン1及び2はマイナスである
。もしシステムデータが別の状態、すなわちマイナスに
変化するならば1回路30aのピン1はプラスに変化す
る。しかし、クロック線がプラスになるとき、回路30
aのピン2はシステムデータの状態変化に拘らずマイナ
ス状態を維持する。というのは、回路10fの出力が、
回路10aの出力のプラス状態への変化にも拘らずマイ
ナス状態を維持するからである(これは、回路10eの
ピン2がマイナス状態を維持することによる。) A I 回M30 aのピン2がマイナス状態を維持す
るので、クロック線がプラスになったとき、A1回路3
0aの出力が、クロック線がプラスになった時点でA1
回路30aが有していた値であるプラス状態にロックさ
れる。回路30aの出力はシステムデータのその後の変
化に拘らずプラス状態にロックされる。そしてシステム
データがプラスであるとき、これは本発明のラッチ回路
により実行されるロック機能の一つの定義状態である。
システムデータがマイナスであるとき、AI回路10a
の出力がプラスであり、このプラス出力はA1回路30
aのピン1に導通している。しかし、回路10aのプラ
ス出力は回路10eのピン1に導通している。そして、
回路10eのピン2がプラスであるので、回路10eの
出力はマイナスである。さらに、回路10fのピン2に
は回路10eの出力が接続され、回路10eの出力はマ
イナスであるため、回路10fの出力はプラスでなくて
はならない。このプラス出力は回路10dのピン3及び
回路30aのピン2と導通している。
すると、クロック線がプラスになったとき1回路]、 
Odの出力がマイナスになり、このマイナス出力が回路
10aのピン1にフィードバックされる。
回路1. Oaのピン1はマイナスであるため、回路1
0aの出力は、回路10aに入力されるシステムデータ
の2進状態に拘らず常にプラスでなくてはならない。そ
れゆえ、回路30aのピン1はその2進状態を維持する
ことになる。このとき、システムゲートがマイナスであ
ることが仮定されているので、回路30aのピン3がプ
ラスであり。
クロック線がプラスであるので回路30aのピン4がプ
ラスである。それゆえ1回路30aの出力はマイナスへ
変化することになる。
クロック線がプラスになったとき、システムデータの状
態の変化に拘らず、回路10aのピン1上に存在するマ
イナス状態により、回路30aの出力がマイナスにロッ
クされることになる。回路10aのピン1上のこのマイ
ナス状態により、回路30aのピン2がプラスである間
に回路30aのピン1がプラスであることが保証され、
以て回路30aの出力がマイナス状態にロックされる。
システムデータがマイナスであるとき、これは本発明の
ラッチ回路により実行されるロック機能の別の定義状態
である6 尚、回路30aのピン1の2進状態がマイナスであると
き回路30bのピン2の2進状態がプラスであり、その
逆も成立することに注意されたい。
このことは、本発明のラッチ回路により実行される切換
機能の例示である。
f42.走査モード 走査モードの間は、システムデータ入力がプラスである
。回路10bに入力される走査データがプラスであると
仮定すると、回路10bの出力はマイナスである、とい
うのは回路10bのピン1がプラスであり且つ回路10
bのピン3がプラスである、ということが仮定されてい
るからである。
また、システムゲートが初期状態でプラスであるので回
路10bのピン3がプラスであり、これにより走査デー
タを回路10bを介してゲートすることが可能となる。
プラス状態にあるシステムゲートは、クロック線がプラ
スになるとき(システムゲートはクロック線がプラス状
態に変化したあとで再びマイナス状態に変化することに
なる)出力ラッチ30が変化するのを防止する働きを行
う。
それゆえ、回路10dのピン2上と回路30aのピン1
上とにマイナスがあられれる。この時点で、クロック線
はマイナスである。このため、回路10dのピン1はマ
イナスである。回路10dのピン1及び2がマイナスで
あるので、回路10dの出力はプラスでなくてはならな
い。このプラス出力は回路10bのピン1にフィードバ
ックされる。
回jllobのマイナス出力は回路10eのピン1に導
通している。それゆえ、回路foeの出力はプラスでな
くてはならない。このプラス出力は回路10fのピン2
と導通している。このとき、タロツク線が依然としてマ
イナスであるので、回路10dのピン3及び回路30a
のピン2とに導通する回路10fからプラスが生起され
る。しかし、クロック線がプラスになるとき、回路10
fのピン1がプラスであり、そして回路]、 Ofの出
力がマイナスになる。このマイナス出力は回路30aの
ピン2(とともに回路10dのピン3)に導通している
。回路30aのピン1がマイナスになるとき、回路30
aの出力がプラスになる。回路30aのピン2がプラス
であったとき、走査データの2進状態中のその後の変化
は回路30aの出力状態を変化させたであろう。しかし
、回路30aのピン2もまたクロック線のプラス状態へ
の変化に応答してマイナスになったとき、回路30aの
出力は走査データの2進状態のそのあとの変化に拘らず
プラス状態にロックされたのである。
それゆえ、クロック線がプラスになるとき、回路30a
のピン2がマイナス状態に変化し、回路30aの出力は
、AI回路10bに入力される走査データの2進状態の
そのあとの変化に拘らずプラス状態にロックされる。
ここで、回路10bに入力される走査データがマイナス
に変化すると仮定しよう。すると、回路10bの出力は
プラスになる。このプラス出力は回路10dのピン2と
、回路30aのピン1とに導通している。回路10bか
らのプラス出力はさらに回路10 eのピン1に導通し
ている。回路10eのピン2もまたプラス(クロック線
はマイナスであり、それゆえ回路10fの出力はマイナ
スである)であるため、回路1. Oeの出力はマイナ
スである。このマイナス出力は回路10fのピン2と、
回路30bのピン2とに導通している。この時点でクロ
ック線がマイナスなので、回路10fのピン1はマイナ
スである。それゆえ5回路】Ofの出力はプラスであり
、このプラス出力は回路10dのピン3と、回路30a
のピン2とに導通している。この時点でもしクロック線
がプラスになると、回路10dのピン1がプラスに変化
する。そして、回路10dのピン1.2及び3がプラス
であるので、回路10dの出力はマイナスであり、この
マイナス出力は回路10aのピン1と、回路10bのピ
ン1とにフィードバックされる。
回路10bのピン1上にあらわれるこのマイナス状態に
より、回路10bの出力をプラスにロックすることが保
証される。回路10aの出力は回路30aのピン1に接
続されているので、クロック線がプラスになるときは、
回路30aのピン】がプラス状態にロックされる。また
、回′&@lofの出力がプラス状態にロックされてい
るので(回路10bのピン1がマイナスにロックされて
いるので回路10fの出力がプラスにロックされ、これ
により回路10bの出力を、走査データの2進状態に拘
わずプラスに設定する作用が行なわれる)、回路30a
のピン2がプラス状態にロックされる。
このことは、本発明のラッチ回路によって実行されるロ
ック機能の別の定義状態である。この時点で、クロック
線はプラスであるので回路30aのピン4はプラスであ
る。しかし、この時点でシステムゲートが依然としてプ
ラスであるので、回路30aのピン3はマイナスである
。システムゲートがマイナスであるとき、回路30aの
ピン3がプラスであるので回路30aの出力はマイナス
である。それゆえ、クロック線が既にプラスである間に
システムゲートがマイナスになると、回路30aの出力
はマイナス状態に変化する。
f5.他の実施例 第4図は、第1図のブロック図を具体化した別の実施例
を示す図である。第4図の回路は第2図の回路にかなり
類似しているので、同一の構成については同一のラベル
を付し説明を省くことにする。
第4図の回路は、次に示す点を除いては第2図の回路と
同一である。すなわち、(1)クロック線がAI回路3
0a及び30bに接続されていない。(2)AI回路1
0fの出力がAI回路30aの入力に接続されておらず
、回路10dの出力がAI回路30dの入力に接続され
ている。(3)AI回路10fの出力がAI回路30c
の入力に接続されている。(4)回路10dのピン2が
回路30aのピン1に接続されていない、(5)回路1
0fのピン2が回路30bのピン2に接続されていない
。(6)回路30aの出力が回路30bの入力と回路3
0cの入力とに接続されている。
(7)回路30bの出力が回路30aの入力と回路30
dの入力とに接続されている。(8)N回路10cに入
力されるシステムゲートが″プラス″システムゲートで
あって第2図に示すような“マイナス″システムゲート
でない。以上の結果として、出力ラッチ30の入力に存
在するデータを出力ラッチに転送するためには、転送ゲ
ート20aがマイナスでなくてはならない。
第4図の回路の動作は、第2図の回路の動作と本質的に
は同一である。しかし、第4図の回路は第2図の回路よ
りもハードウェアの量が低減されているので、第2図の
回路よりも動作速度が低速である。
G0発明の効果 以上のように、この発明によれば、単一のクロック線で
作動しD型ラッチの機能と走査機能とを有するラッチ回
路が提供されるので、回路の構成が簡単になって設計が
容易になるとともに、クロック線のスキューの問題を解
決し走査モードにおける誤動作を防止することができる
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明のラッチ回路の概要ブロック図、 第2図は、本発明のラッチ回路の詳しいブロック図、 第3a図は、第2図のラッチ回路において、システムモ
ートの電圧波形図、 第3b図は、第2図のラッチ回路において、走査モード
の電圧波形図、 第4図は、第2図とは別の実施例のラッチ回路のブロッ
ク図、 第5a図は、従来の典型的なラッチ回路のブロック図、 第5b図は、第5a図の回路を作動させるための多重ク
ロック線を示す図である。 30・・・・出力ラッチ回路、1o・・・・選択、切換
及びロック手段、20・・・・転送ゲート。 出願人  インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・コーポレーション 代理人  弁理士  山  本  仁  朗(外1名) 本発明のラッ十回路 第10 1択、切換 &口・/り手段10 A1  了〉ト反1反日路 N 瓦転回路 詳しいブロック2 ]石p丁−−−−二−下−二−−二 電IEI形 第3a図 電圧液形 第3b図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)(a)2進値を入力して保持するための出力ラッ
    チ回路と、 (b)入力データ線とシステムゲート線とクロックとを
    もち、該システムゲート線からのパルスに応答して該入
    力データ線からのデータを上記出力ラッチ回路の入力を
    切換え、上記クロック線からのクロックパルス列に所定
    の変化が生じたことに応答して、上記出力ラッチ回路の
    入力にあらわれる2進状態を、保持していた値にロック
    するための選択、切換及びロック手段と、 (c)上記クロックパルスが所定の状態にある期間に、
    上記システムゲート線を介して伝達されたパルスに応答
    して、上記出力ラッチ回路の入力から上記出力ラッチ回
    路の出力ヘデータを伝達するために、上記選択、切換及
    びロック手段を上記出力ラッチ回路に接続する転送ゲー
    ト、 とを具備するラッチ回路。
  2. (2)上記クロック線が単一のクロック線からなる特許
    請求の範囲第(1)項に記載のラッチ回路。
JP60045014A 1984-07-02 1985-03-08 ラツチ回路 Granted JPS6120415A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/627,268 US4692633A (en) 1984-07-02 1984-07-02 Edge sensitive single clock latch apparatus with a skew compensated scan function
US627268 1984-07-02

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6120415A true JPS6120415A (ja) 1986-01-29
JPH0411124B2 JPH0411124B2 (ja) 1992-02-27

Family

ID=24513962

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60045014A Granted JPS6120415A (ja) 1984-07-02 1985-03-08 ラツチ回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4692633A (ja)
EP (1) EP0167047B1 (ja)
JP (1) JPS6120415A (ja)
DE (1) DE3584397D1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0862U (ja) * 1993-10-28 1996-01-19 株式会社太田製作所 扉の係止具

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0760400B2 (ja) * 1986-01-07 1995-06-28 株式会社日立製作所 論理回路の診断方法
US4879718A (en) * 1987-11-30 1989-11-07 Tandem Computers Incorporated Scan data path coupling
US4864161A (en) * 1988-05-05 1989-09-05 Altera Corporation Multifunction flip-flop-type circuit
US4916331A (en) * 1988-07-27 1990-04-10 Carrier Corporation Synchronized input latch circuit with conditioning circuits for AC inputs
KR910006355B1 (ko) * 1988-08-18 1991-08-21 한국 전기 통신공사 채널 선택 제어신호를 이용한 멀티플렉서 출력의 인에이블/디스에이블 제어장치
JPH0736422B2 (ja) * 1988-08-19 1995-04-19 株式会社東芝 クロック供給回路
DE3835116A1 (de) * 1988-10-14 1990-04-19 Siemens Ag Adressverstaerkerschaltung mit selbstverriegelung und sicherung gegen mehrfachadressierung zur verwendung in statischen gaas-rams
US4970418A (en) * 1989-09-26 1990-11-13 Apple Computer, Inc. Programmable memory state machine for providing variable clocking to a multimode memory
US5003204A (en) * 1989-12-19 1991-03-26 Bull Hn Information Systems Inc. Edge triggered D-type flip-flop scan latch cell with recirculation capability
US5313470A (en) * 1991-09-17 1994-05-17 Ncr Corporation Boundary-scan input cell for a clock pin
EP0632384A1 (en) * 1993-06-30 1995-01-04 International Business Machines Corporation High speed and programmable array clock generator circuit for abist semiconductor memory chips
JP3229164B2 (ja) * 1994-07-28 2001-11-12 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション ラッチ回路
FR2724472B1 (fr) * 1994-09-14 1996-11-15 Suisse Electronique Microtech Automate insensible aux delais d'horloge
JP3363691B2 (ja) * 1996-03-13 2003-01-08 シャープ株式会社 半導体論理集積回路
CA2225879C (en) * 1997-12-29 2001-05-01 Jean-Francois Cote Clock skew management method and apparatus
US6753705B1 (en) 2000-07-27 2004-06-22 Sigmatel, Inc. Edge sensitive detection circuit
US6586966B1 (en) 2001-09-13 2003-07-01 Altera Corporation Data latch with low-power bypass mode
US6566906B1 (en) 2001-09-18 2003-05-20 Altera Corporation Specialized programmable logic region with low-power mode
US6937062B1 (en) 2001-09-18 2005-08-30 Altera Corporation Specialized programmable logic region with low-power mode
US7082592B1 (en) 2003-06-16 2006-07-25 Altera Corporation Method for programming programmable logic device having specialized functional blocks
US7698358B1 (en) 2003-12-24 2010-04-13 Altera Corporation Programmable logic device with specialized functional block

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3679915A (en) * 1971-03-04 1972-07-25 Ibm Polarity hold latch with common data input-output terminal
US3806891A (en) * 1972-12-26 1974-04-23 Ibm Logic circuit for scan-in/scan-out
US4229699A (en) * 1978-05-22 1980-10-21 Data General Corporation Multiple clock selection system
GB2030807B (en) * 1978-10-02 1982-11-10 Ibm Latch circuit
FR2462066B1 (fr) * 1979-07-17 1988-01-15 Telecommunications Sa Dispositif de commutation de deux trains numeriques
US4493077A (en) * 1982-09-09 1985-01-08 At&T Laboratories Scan testable integrated circuit
US4554466A (en) * 1982-12-01 1985-11-19 International Business Machines Corp. Edge-triggered latch circuit conforming to LSSD rules

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0862U (ja) * 1993-10-28 1996-01-19 株式会社太田製作所 扉の係止具

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0411124B2 (ja) 1992-02-27
US4692633A (en) 1987-09-08
EP0167047A3 (en) 1988-04-20
EP0167047B1 (en) 1991-10-16
DE3584397D1 (de) 1991-11-21
EP0167047A2 (en) 1986-01-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6120415A (ja) ラツチ回路
US4148099A (en) Memory device having a minimum number of pins
US4627085A (en) Flip-flop control circuit
US4070630A (en) Data transfer synchronizing circuit
US6873197B2 (en) Scan flip-flop circuit capable of guaranteeing normal operation
US4434474A (en) Single pin time-sharing for serially inputting and outputting data from state machine register apparatus
US3623020A (en) First-in first-out buffer register
EP0506418B1 (en) Display driver circuit
US5659688A (en) Technique and circuit for providing two or more processors with time multiplexed access to a shared system resource
US4511994A (en) Multi-group LRU resolver
US3117307A (en) Information storage apparatus
DE69534770T2 (de) Gerät zur internen Zustandsbestimmung
JPH07168786A (ja) 同期がとられていない装置間のインターフェイス
US4090256A (en) First-in-first-out register implemented with single rank storage elements
US3488634A (en) Bidirectional distribution system
US3697977A (en) Two phase encoder system for three frequency modulation
US3671960A (en) Four phase encoder system for three frequency modulation
US4713813A (en) Logic analyzer
JPH0695316B2 (ja) 半導体集積回路
EP0520836A2 (en) Apparatus for simultaneous write access to a single bit memory
US4244028A (en) Digital microprocessor having a time-shared adder
US4755968A (en) Buffer memory device controlled by a least recently used method
US5317700A (en) Program history for pipelined processor including temporary storage queues for storing branch addresses
US6931561B2 (en) Apparatus and method for asynchronously interfacing high-speed clock domain and low-speed clock domain using a plurality of storage and multiplexer components
US5349620A (en) Timer access control apparatus