JPS6120898B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は論理素子の、特に内部論理の知れない
素子を含む論理回路の試験の為のテストデータを
作成する方式に係り、特にプリント板ユニツトに
好適なテストデータの作成方式に関するものであ
る。

デイジタル論理回路のLSI化の傾向が顕著にな
つているが、これに伴ないプリント板ユニツト又
は装置レベルのテストデータの作成が困難になつ
て来ている。

LSIは自ら設計したカスタムLSIを除き、内部
論理の詳細は解らないことが多い。又回路規模が
大きい場合、機能から内部の構成を推定すること
が困難であるばかりでなく、あくまでも推定の域
を脱することはできない。論理回路のテストデー
タは完全にマニユアリーにより作成する方法とコ
ンピユータシステム又はテストシステムの援けを
借りて作成する方法とがある。コンピユータシス
テムによる場合は、論理シユミレーシヨンとテス
ト対象とする論理回路の各部に仮定故障を生じさ
せてその故障が診断し得るか否かをシユミレーシ
ヨンする故障シユミレーシヨンとを併せて実行す
ることにより、テスト対象とする論理回路への入
力信号パターン（ここでは入力データ）とそれに
対応する論理回路からの論理回路出力の出力信号
パターン（ここでは出力データ）を順次求めるこ
とによつて、テストデータを作成する。しかし、
内部論理の知れないLSIや、その様な論理素子を
含む論理回路は論理シユミレーシヨンができず、
従つてこの場合にはテストデータの作成はできな
い。

テストデータの作成のもう一つの方法に、いわ
ゆるラーニング法がある。この方法は、正常に動
作することが予め判つているサンプル、例えば良
品プリント板ユニツト、あるいはLSIなどに適当
な入力データを与え、その結果その出力に求めら
れる。出力データを入力データと共に記録し、テ
ストデータとして使用する方法である。このラー
ニング法は前記機能を実施する装置と、テスト対
象と同じ動作をするサンプルがあれば出力データ
は割合簡単に得られるという利点があるが、この
場合はこのサンプルに対して、入力データを如何
にして作成するかが問題である。

コンピユータシステムを使用する故障シユミレ
ーシヨン法によれば、作成したテストデータの良
さは診断率によつて示される。この診断率は論理
回路の詳細な結線情報により求められ、適切なテ
ストデータを得ることが出来る。しかしラーニン
グ法では回路の故障のどれが診断できて、どこが
診断できないかは総て入力データを作成する人自
身が論理回路回を追つて診断されていない部分を
探し、その部分を診断するための入力データを求
め、これを論理回路の仮定される全故障について
診断可能であるように繰り返す作業をする。

この作業は割合に高度な知識と熟練と時間を必
要として、回路規模が大きくなるとメモリー容量
やコンピユータのランタイムの関係から制約され
て実際上良い診断率を得ることは困難である。

テストデータを作成するもう一つの方法は、ソ
フトウエアー的なエミユレーシヨンによるものが
ある。これは、内部論理の知れないLSI、例えば
マイクロプロセツサ等も機能、及び動作は判つて
いるからこれを論理的に表現、定義して、一定の
入力データに対してLSIの動作をソフトウエアー
上で、擬似的に動作させる出力期待値としての出
力データを得るものである。この方法は内部論理
の知れないLSI等に対して１品種毎に、機能及び
動作の定義をしなければならない。複雑な機能の
LSIをこの様に定義する作業はエミレーシヨンソ
フトウエアー用の言語の開発と相俟つて高度な知
識と熟練と時間とを要し、ラーニング法による入
力データ作成より以上に困難である。

又、この様にして機能及び動作が定義されたエ
ミユレータが実際のLSIと同じ出力値であるか多
くの場合について確認しなければならず、このエ
ミユレータのデバツク作業も極めて多大な工数を
必要とする。この様にして定義されたLSI等のエ
ミユレータを使用して、コンピユータにより出力
期待値を計算する作業は又かなり長いコンピユー
タのランタイムを必要とする。

本発明はかかる点に鑑み前記従来の欠点を除去
すること、即ち良品論理回路によるエミユレーシ
ヨンを行なうエミユレータを設け、これを故障シ
ユミレーシヨンを行なうコンピユータシステムに
接続し、故障シユミレータとエミユレータとを組
合わせて、互いに入力データと出力データを補完
することにより、故障シユミレーシヨンとエミユ
レーシヨンを実行して内部論理の知れない論理回
路を含むプリント板ユニツト等のテストデータを
簡単に作成することを目的としており、このよう
な目的を達成する為の本発明の要点は次の様であ
る。

(1) プリント板ユニツト等のテストデータの作成
においては、部品の取換え単位までの良否判定
が出来ることを目的とする。例えばLSI等にお
いてはそれ自身の不良部分の解析は別の専用テ
ストシステムに任せることができる。従つて故
障シユミレーシヨンの様な内部論理の詳細な仮
定故障のシユミレーシヨンは不要である。

(2) 前記ラーニング法はソフトウエアーエミユレ
ーシヨンよりも簡単で、かつ高速に出力データ
が得られるが、コンピユータのI/Oチヤンネル
にこのラーニングを実施するハードウエアーを
結合し、これを従来のソフトウエアーエミユレ
ータの如く見倣すことにより、ソフトウエアー
エミユレーシヨンの代わりにハードウエアーエ
ミユレータとして故障シユミレータと組合わせ
て使用して高速で、エミユレーシヨン部分以外
については診断率を知ることのできるテストデ
ータの作成が実施できることにある。

以下、図面に従つて本発明を詳細に説明する。

第１図は本発明の一実施例としてのコンピユー
タシステム構成図である。コンピユータシステム
１１はCPU及びメモリーＭと任意の数のI/Oチヤ
ンネルからなり、データバス１２に接続されてい
るものとする。コンピユータシステム１１はさら
にこのデータバス１２にI/Oチヤンネルのインタ
ーフエースを通してエミユレータEMLに接続す
る。コンピユータシステム１１は従来の論理シユ
ミレーシヨン機能を有する故障シユミレータと、
ソフトウエアーエミユレーシヨンが可能なもので
ある。ここでエミユレータEMLは１つのI/Oチヤ
ンネルそのものの様に動作し、CPUより入力デ
ータを受信し、出力データをCPUへ送出するも
のである。

第２図は本発明の一実施例としてのエミユレー
タの構成図である。第１図と同じ部分については
同一符号を付している。コンピユータCPUより
データバス１２を通して送られるデータはデータ
レジスタ２１及び選択レジスタ２２に一時記憶さ
れる。

エミユレータEMLは複数のエミユレータサブ
モジユール２３を含み、それぞれが各種のLSIの
エミユレーシヨンを行なうことができる。

選択レジスタ２２は、これらサブモジユール２
３のどれかを選択するものでコンピユータの指示
により、選択信号２７_１，２７_２〜２７_oの１つ
を選択する。各サブセジユール２３_１，２３_２〜
２３_oは入力データレジスタ２４と出力データレ
ジスタ２６とを持ち、エミユレーシヨンされる
LSIの入，出力端子に接続される。ここでデータ
レジスタ２１選択レジスタ２２に記憶された情報
は指定されたLSIを選択し駆動する。データレジ
スタ２１のうちLSIの入力端子に相当する入力デ
ータは入力レジスタ２４にセツトされ、その出力
信号はそのままエミユレーシヨン対象の良品LSI
２５に印加される。その結果、そのLSI出力端子
から入力の変化に対応する出力の変化が得られ、
その結果は出力レジスタ２６に記憶される。

出力レジスタ２６の内容はデータレジスタ２１
の出力データ部分に移されて、データバス１２を
経てコンピユータCPUへ送られる。LSI出力が非
同期パルスの様な信号の場合などに対応する為に
はLSI出力にラツチフリツプフロツプを用意する
とか、あるいはLSI入力がパルス入力を要求する
場合などの場合には、LSI入力ピンにそれぞれ対
応する簡単なアダブタ部分を用意するのみで良
い。

ここで、故障シユミレーシヨンとエミユレータ
の動作との関係について第３図、テストデータ作
成のフローチヤートにより説明する。

まずテストデータの対象となるプリント板ユニ
ツトのLSIのうちエミユレーシヨン対象となる
LSIについてはそのLSIの機能をよく理解した上
で、前記入力レジスタ及び出力レジスタにLSI入
出力情報がセツトできる様に各LSIの端子と入出
力レジスタとを接続するアダブタ及び動作が正し
い良品LSIを用意すること、そしてエミユレーシ
ヨン対象論理素子についての端子情報をも含む全
論理回路の故障シユミレーシヨンに必要な論理情
報及び実装情報を用意する。

これら準備がすべて完了すると、テストデータ
の作成が開始できるようになる。

図において順を追つて説明する。

(1) 故障シユミレータは全論理回路の初期設定を
行なう。

従つて、エミレーシヨン対象となるLSIにつ
いても必要な場合は適当な信号を送り初期設定
を行なう。

(2) 次に従来の故障シユミレーシヨンと同様に論
理シユミレーシヨンを行ない、エミユレーシヨ
ン対象のLSIについては内部論理が知れていな
いので、論理シユミレーシヨンの対象から除外
して、全論理回路の入出力端子の１部として扱
う。

(3) 論理シユミレーシヨンが終了して入出力信号
状態が決つたらLSIの入力信号に相当する入力
データをLSI選択信号と共にエミユレータに送
出する。LSIの出力は入力を与えてからその
LSIに適した一定時間後にストロープするか又
は前述した様に非同期パルス等を含む信号の場
合はラツチフリツプフロツプに記憶してその結
果をLSI出力データとして、エミユレータから
論理シユミレータに送出する。

(4) ここでLSIの出力データを含めて、回路状態
が(2)で論理シユミレーシヨンを開始する前の状
態と一致しているか否かを調べる。もしも、不
一致があれば全体としての論理回路はまだ安定
状態に達していないので再び(2)に戻り論理シユ
ミレーシヨン及びエミユレーシヨンを行なう。
もしも一致していれば、全体としての論理回路
は安定状態に達したので、この時の対象となる
プリント板ユニツトの入力，出力ピンその他テ
スト対象となる各種モニター用ピンなどの状態
を１組のテストデータとして記録する。

(5) ここで、以上の経過によつてテストデータと
して決定した各テストパターンが各論理部分及
び前述のエミレーシヨン対象素子の入出力端子
において仮定される仮定故障を診断しているか
否かを故障シユミレータが判定する。

もし診断している割合が所望の比率に比して
不十分の場合はステツプ(2)に戻り、次のテスト
データを作成する。この際のテスト用入力デー
タの作成は従来から用いられている方法、即ち
乱数又はテスト技術者があらかじめ用意したプ
ログラム等により与えられるものである。この
とき十分に高い診断率が得られることが判定さ
れると、故障シユミレータはこれでテストデー
タの作成を終了する。

以上の様に、従来の故障シユミレーシヨン及び
ラーニングの技術を利用しているのでリアルタイ
ムに近い速さでエミユレーシヨン対象素子の出力
データが得られること、及び、エミユレーシヨン
対象素子毎にサブモジユールを作成する必要があ
るが、新しいLSIを採用する場合は、割合に容易
に安価で素速く準備できるなどの効果がある。

なお、説明の都合上、エミユレート対象素子を
LSIとして説明したが、LSIに限る必要はなく、
プリント板ユニツト又はサブシステム等いわゆる
複数の論理素子の集合体であり、入力データに対
して何等かの出力データを得られるものであれば
よい。又、これら論理回路が内部論理が知れない
ものであつても既知であつても、本方式は適用で
きるものである。

以上本発明によつて、プリント板ユニツトのテ
ストデータ作成において内部論理の知れないLSI
があつても、あるいは故障シユミレーシヨンやソ
フトウエアーエミユレーシヨンの機能を超える論
理回路があつても、その論理回路部分をエミユレ
ータとしてコンピユータシステムとして接続して
故障シユミレータと組合せることにより、簡単に
しかも高速にテストデータを作成することが可能
である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例としてのコンピユー
タシステムの構成図、第２図は本発明の一実施例
としてのエミユレータの構成図、第３図はテスト
データ作成のフローチヤートである。 １１……コンピユータシステム、１２……デー
タバス、CPU……コンピユータ、Ｍ……メモリ
ー、I/O……入出力チヤンネル、EML……エミユ
レータ、２１……データレジスタ、２２……選択
レジスタ、２３_１，_２，_o……サブモモジユール、
２４……入力レジスタ、２５……LSI、２６……
出力レジスタ、２７_１，_２，_o……選択信号。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 複数の単位回路よりなる論理回路のテストデ
   ータを作成する方式において、少なくとも一つの
   単位回路については、良品の単位回路の入力に入
   力データを与えた結果、該良品単位回路出力に出
   力データを得る良品によるエミユレーシヨンを行
   なう手段と、他の単位回路については論理シユミ
   レーシヨン機能を有する故障シユミレーシヨンを
   行なう手段とを設け、前記エミレーシヨン手段と
   故障シユミレーシヨン手段は、該良品の単位回路
   の入力データ及び出力データについて互いに補完
   するように動作して、該複数の単位回路よりなる
   論理回路のテストデータを作成することを特徴と
   する論理回路のテストデータ作成方法。