JPS61213667A - 磁気探傷装置 - Google Patents
磁気探傷装置Info
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- JPS61213667A JPS61213667A JP5422685A JP5422685A JPS61213667A JP S61213667 A JPS61213667 A JP S61213667A JP 5422685 A JP5422685 A JP 5422685A JP 5422685 A JP5422685 A JP 5422685A JP S61213667 A JPS61213667 A JP S61213667A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9093—Arrangements for supporting the sensor; Combinations of eddy-current sensors and auxiliary arrangements for marking or for rejecting
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- Pathology (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く産業上の利用分野〉
本発明は、感磁性素子を利用した磁気探傷による磁気探
傷装置に関する。
傷装置に関する。
く従来の技術〉
鋼材、溶接部などの表面近傍の傷、割れ等の欠陥を検出
する方法として、従前から浸透探傷、磁気探傷勢が用い
られている。
する方法として、従前から浸透探傷、磁気探傷勢が用い
られている。
とζろで、被検査材の表面のみならず、表面近傍に内在
する欠陥をも検査対象とするときは、上記のうち浸透探
傷では検出できないので、かかる場合に紘一般に磁気探
傷法が採用される。
する欠陥をも検査対象とするときは、上記のうち浸透探
傷では検出できないので、かかる場合に紘一般に磁気探
傷法が採用される。
この磁気探傷法のうち現在最も多く用いられているもの
に磁粉探傷法がある。磁粉探傷法は、被検査材を磁化し
、欠陥部から漏洩する磁束によって磁粉を吸着させ、そ
の吸着させた磁粉による模様から欠陥を検出しようとい
う方法であるが、この方法によるときは、記録・定量性
に欠ける丸め装置の自動化が困難で、簡便・迅速性にお
とるという面がある。
に磁粉探傷法がある。磁粉探傷法は、被検査材を磁化し
、欠陥部から漏洩する磁束によって磁粉を吸着させ、そ
の吸着させた磁粉による模様から欠陥を検出しようとい
う方法であるが、この方法によるときは、記録・定量性
に欠ける丸め装置の自動化が困難で、簡便・迅速性にお
とるという面がある。
自動化を目的とした表面欠陥の検査法として、第４図に
示すようなものが提案されている。これは被検査物ｉ’
ｖｔ＠石２で磁化し、欠陥部３よル漏洩する磁束４’を
感磁性素子５で検出し、信号処理回路６、記録装置７に
よって探傷を行なうというものであるが、かかる方法を
実製品に適用するには、検出性能及び検出端の小型化は
勿論のこと、検出した欠陥の正確な位置が容易に確認で
きなければならない。
示すようなものが提案されている。これは被検査物ｉ’
ｖｔ＠石２で磁化し、欠陥部３よル漏洩する磁束４’を
感磁性素子５で検出し、信号処理回路６、記録装置７に
よって探傷を行なうというものであるが、かかる方法を
実製品に適用するには、検出性能及び検出端の小型化は
勿論のこと、検出した欠陥の正確な位置が容易に確認で
きなければならない。
〈発明が解決しようとする問題点〉
本発明は、上記のように、単に、感磁性素子で検出し記
録装置によって探傷な行なう装置では検出した欠陥の位
置の確認に難点があるという問題に鑑みてなされたもの
で、検出した欠陥の位置を迅速に確認し得、しかもたと
え検査速度が磁化した場合であってもそれを正確かつ容
易に確認し得る磁気探傷装置を提供することを目的とす
る。
録装置によって探傷な行なう装置では検出した欠陥の位
置の確認に難点があるという問題に鑑みてなされたもの
で、検出した欠陥の位置を迅速に確認し得、しかもたと
え検査速度が磁化した場合であってもそれを正確かつ容
易に確認し得る磁気探傷装置を提供することを目的とす
る。
く問題点を解決するための手段〉
上記目的を達成するため、本発ＢＡＫよる磁気探傷装置
は、感磁性素子を利用した磁気探傷装置において、被検
査物へのマーキングを行なうマーキング装置と、検査速
度を検出する検出手段と、感磁性素子が欠陥部を検知し
て上記マーキング装置への！−キング信号を発生するま
での間の間隔を制御するべく上記検出手段によって検出
した検査速度を基に決定される遅延時間によって被検査
物へのマーキング時期を変化させる手段とを有すること
を特徴とする。
は、感磁性素子を利用した磁気探傷装置において、被検
査物へのマーキングを行なうマーキング装置と、検査速
度を検出する検出手段と、感磁性素子が欠陥部を検知し
て上記マーキング装置への！−キング信号を発生するま
での間の間隔を制御するべく上記検出手段によって検出
した検査速度を基に決定される遅延時間によって被検査
物へのマーキング時期を変化させる手段とを有すること
を特徴とする。
〈実施例〉
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は本発明の一実施例に係る表面欠陥探傷装置にお
ける検査装置本体の構成を示す構成図、また第２図は第
１図のＡ−Ａ断面を示す断面図、更にＭ３図は制御回路
を示すブロック図である。
ける検査装置本体の構成を示す構成図、また第２図は第
１図のＡ−Ａ断面を示す断面図、更にＭ３図は制御回路
を示すブロック図である。
本実施例装置は、第１図に示す検査装置本体及び第３図
の破線部の部分を内蔵した制御装置と記録計とマーキン
グ装置で構成される。第１図に示すように、装置本体は
、走行台車本体８と、走行台車を駆動するモータ９と、
被検査物１を磁化するための磁極ＩＯの周囲に施された
励磁用コイル１１．１２と、回転軸１３によシ上下方向
に移動する倣いローラ１４と、走査速度検出用のエンコ
ーダ１５と、欠陥部位置ヘマーキンダするための液体を
充填したタンク１６からポンプ１７、電磁弁１８及び導
管１９を通して送られるマーキング用吐出ガン２０とを
備えている。このとき本実施例の場合は、このマーキン
グ用吐出ガン２０を第２図に示す如く複数備えている。
の破線部の部分を内蔵した制御装置と記録計とマーキン
グ装置で構成される。第１図に示すように、装置本体は
、走行台車本体８と、走行台車を駆動するモータ９と、
被検査物１を磁化するための磁極ＩＯの周囲に施された
励磁用コイル１１．１２と、回転軸１３によシ上下方向
に移動する倣いローラ１４と、走査速度検出用のエンコ
ーダ１５と、欠陥部位置ヘマーキンダするための液体を
充填したタンク１６からポンプ１７、電磁弁１８及び導
管１９を通して送られるマーキング用吐出ガン２０とを
備えている。このとき本実施例の場合は、このマーキン
グ用吐出ガン２０を第２図に示す如く複数備えている。
複数個配設した欠陥マーキング用の液体な吐出するマー
キング用吐出ガン２０は、検出端の進行方向に対し後方
に設けられている。
キング用吐出ガン２０は、検出端の進行方向に対し後方
に設けられている。
制御系統のプ四ダダイヤグラムを示す第３図において、
破線部内は、信号処理回路２１．記録計としての電磁オ
シｐペンレコー〆等２２、ピークホールド回路２３、遅
延回路２４、比較回路２５、リレー２６及び演算回路２
７から成る。
破線部内は、信号処理回路２１．記録計としての電磁オ
シｐペンレコー〆等２２、ピークホールド回路２３、遅
延回路２４、比較回路２５、リレー２６及び演算回路２
７から成る。
感磁性素子５によシ検出した欠陥信号は増幅器、フィル
ター等を内蔵した信号処理回路２１を通し、電磁オシロ
ベンレコーダ等２２に記録される。
ター等を内蔵した信号処理回路２１を通し、電磁オシロ
ベンレコーダ等２２に記録される。
これと共に、この処理された信号はピークホールド回路
２３に入シ欠陥信号の大きさを一時記憶しておくように
する。この欠陥信号の大きさに関しては、本実施例装置
の場合には、検出した欠陥の寸法をも正確かつ容易に確
認できるようＫすることを目的としておル、後述の如く
、欠陥信号の大きさによって複数のマーキング用吐出ガ
ン２０のうちのいずれかを選択すること。
２３に入シ欠陥信号の大きさを一時記憶しておくように
する。この欠陥信号の大きさに関しては、本実施例装置
の場合には、検出した欠陥の寸法をも正確かつ容易に確
認できるようＫすることを目的としておル、後述の如く
、欠陥信号の大きさによって複数のマーキング用吐出ガ
ン２０のうちのいずれかを選択すること。
によ）欠陥の大きさを段階表示できるようにするため必
要となるものである。
要となるものである。
次に、上記記憶された信号は遅延回路２４を経た後、比
較回路２５で信号の大きさ毎に区分けされリレー２６、
電磁弁１８を動作させる。
較回路２５で信号の大きさ毎に区分けされリレー２６、
電磁弁１８を動作させる。
この遅延回路２４の遅延時間の調整はエンコーダ１５の
出力を演算回路２７で処理して決定する。このようにす
るのは、欠陥信号検出時期と前述の如く検出端の進行方
向に対し後方に配されたマーキング用吐出ガン２０によ
るマーキング用液吐出までに要する時間によるマーキン
グ位置のずれをなくすためであ夛、そのため検査速度に
よってマーキング時期を遅延させる手段を設けるようセ
するのである。
出力を演算回路２７で処理して決定する。このようにす
るのは、欠陥信号検出時期と前述の如く検出端の進行方
向に対し後方に配されたマーキング用吐出ガン２０によ
るマーキング用液吐出までに要する時間によるマーキン
グ位置のずれをなくすためであ夛、そのため検査速度に
よってマーキング時期を遅延させる手段を設けるようセ
するのである。
次に、上記構成装置による探傷について説明すると、ま
ず、走行台車本体８に設置された励磁用コイル１１．１
２を施した磁極ｌＯによシ被検査物１は部分磁化される
。このとき、被検査物ＩＫ大欠陥存在している場合、漏
洩磁束が発生するので、この磁束を感磁性素子５で検出
する。上記漏洩磁束密度は被検査物１と感磁性素子５と
の間隔によル著しく変化するが、このような変化を補償
するよう倣いローラ１４によシこの間隔を常に一定に保
つ。また、もし被検査物１が曲率なもっている場合でも
、この間隔を調整するため回転軸１３を回転することに
よシ倣いロー−）１４は上下方向に移動し調整すること
ができる。
ず、走行台車本体８に設置された励磁用コイル１１．１
２を施した磁極ｌＯによシ被検査物１は部分磁化される
。このとき、被検査物ＩＫ大欠陥存在している場合、漏
洩磁束が発生するので、この磁束を感磁性素子５で検出
する。上記漏洩磁束密度は被検査物１と感磁性素子５と
の間隔によル著しく変化するが、このような変化を補償
するよう倣いローラ１４によシこの間隔を常に一定に保
つ。また、もし被検査物１が曲率なもっている場合でも
、この間隔を調整するため回転軸１３を回転することに
よシ倣いロー−）１４は上下方向に移動し調整すること
ができる。
上記感磁性素子５によシ検出された欠陥部の信号は、通
常微弱な電圧として検出されるので、増幅器等を内蔵し
た信号処理回路２１に供給され、その出力を用いて記録
計としての電磁オシロペンレコーダ等２２への記録及び
被検査物１へのマーキング用吐出ガン２０によるマーキ
ングが行なわれる。
常微弱な電圧として検出されるので、増幅器等を内蔵し
た信号処理回路２１に供給され、その出力を用いて記録
計としての電磁オシロペンレコーダ等２２への記録及び
被検査物１へのマーキング用吐出ガン２０によるマーキ
ングが行なわれる。
ここで、上記検出時点における感磁性素子５とマーキン
グ用吐出ガン２０の被検査物１に対する位置関係をみる
と、欠陥が前者によシ検知された時、後者は第２図に示
すようにそれよ）Ｌだけまだ後方に位置している。従っ
て、検出時にはまだマーキング吐出ガン２０はｉ−キン
グすべき欠陥位置上には達しておらず、上記信号処理回
路２１の出力で直接的に吐出制御を行なわせたとすれば
ずれが生ずることになるが、上記構成によれば、欠陥信
号を受けて実際にマーキングを行なう位置は、第２図に
示すマーキング用吐出が７２０と感磁性素子５との間隔
りと検査速度によシずれを生ずることはなく、正確に行
なわれる。
グ用吐出ガン２０の被検査物１に対する位置関係をみる
と、欠陥が前者によシ検知された時、後者は第２図に示
すようにそれよ）Ｌだけまだ後方に位置している。従っ
て、検出時にはまだマーキング吐出ガン２０はｉ−キン
グすべき欠陥位置上には達しておらず、上記信号処理回
路２１の出力で直接的に吐出制御を行なわせたとすれば
ずれが生ずることになるが、上記構成によれば、欠陥信
号を受けて実際にマーキングを行なう位置は、第２図に
示すマーキング用吐出が７２０と感磁性素子５との間隔
りと検査速度によシずれを生ずることはなく、正確に行
なわれる。
すなわち、感磁性索子５が欠陥部の漏洩磁束を検出する
と信号処理回路２１を経た後、その出力信号はピークホ
ールド回路２３１Ｃ導かれ、そのピーク値は一旦保持さ
れる。そして、走行台車本体８に取付けたエンコー〆１
ｓｔｃよシ走行速度すなわち検査速度Ｖを検出し、演算
回路２７で遅延時間、すなわち感磁性素子５が欠陥部の
漏洩磁束を検出してマーキング信号を出すまでの時間を
決定する。このときの遅延時間Ｔは、マーキング用吐出
ガン２０と感磁性素子５との間隔ΔＬ、走行台車の走行
速度Ｖで表わせなお、実際にマーキングを行なう位置に
ついて、リレー２６、電磁弁１８等の応答時間によるず
れ発生を防止するようにする場合は、これをも考慮して
上記の算出を行なえばよく、このようにすればよシ正確
さを向上させることができる。
と信号処理回路２１を経た後、その出力信号はピークホ
ールド回路２３１Ｃ導かれ、そのピーク値は一旦保持さ
れる。そして、走行台車本体８に取付けたエンコー〆１
ｓｔｃよシ走行速度すなわち検査速度Ｖを検出し、演算
回路２７で遅延時間、すなわち感磁性素子５が欠陥部の
漏洩磁束を検出してマーキング信号を出すまでの時間を
決定する。このときの遅延時間Ｔは、マーキング用吐出
ガン２０と感磁性素子５との間隔ΔＬ、走行台車の走行
速度Ｖで表わせなお、実際にマーキングを行なう位置に
ついて、リレー２６、電磁弁１８等の応答時間によるず
れ発生を防止するようにする場合は、これをも考慮して
上記の算出を行なえばよく、このようにすればよシ正確
さを向上させることができる。
すなわち、この場合は、リレー２６、電磁弁１８等の遅
れ時間を予め計測しておき、辷れをΔＴとして算出され
る。
れ時間を予め計測しておき、辷れをΔＴとして算出され
る。
次に、この演算回路２７で決定された時間の後に上述の
ピークホールド回路２３で一時保持した信号を遅延回路
２４を経て吐出制御信号として取出し、これを比較回路
２５に導き、そして、リレー２６、電磁弁１８を動作さ
せてマーキング用吐出ガン２０によシマーキング液を吐
出させ被検査物１の欠陥部へのマーキングを行なう。こ
のように、検出した検査速度を基に決定される遅延時間
によって被検査物１へのマーキング時期を変化させるこ
とができる。欠陥位置へのマーキングは正確であシ、欠
陥部の漏洩磁束を検出してマーキング信号を発生する間
に検査速度をフィードバックして決定する遅延手段を有
しているため、高速あるいは検査速度が変化した場合で
も、更にはまた上述したようにリレー２６、電磁弁１８
等の応答時間をも考慮するようにしたときにはその応答
時間等が原因となるものについても、マーキング位置の
ずれをなくすことができる。
ピークホールド回路２３で一時保持した信号を遅延回路
２４を経て吐出制御信号として取出し、これを比較回路
２５に導き、そして、リレー２６、電磁弁１８を動作さ
せてマーキング用吐出ガン２０によシマーキング液を吐
出させ被検査物１の欠陥部へのマーキングを行なう。こ
のように、検出した検査速度を基に決定される遅延時間
によって被検査物１へのマーキング時期を変化させるこ
とができる。欠陥位置へのマーキングは正確であシ、欠
陥部の漏洩磁束を検出してマーキング信号を発生する間
に検査速度をフィードバックして決定する遅延手段を有
しているため、高速あるいは検査速度が変化した場合で
も、更にはまた上述したようにリレー２６、電磁弁１８
等の応答時間をも考慮するようにしたときにはその応答
時間等が原因となるものについても、マーキング位置の
ずれをなくすことができる。
更Ｋ、本実施例で−は、複数のマーキング用吐出ガン２
０を有し、欠陥信号の大きさによって色分けして欠陥位
置にその欠陥の大きさをも示すマーキングを行なうこと
ができるようになっている。すなわち、上述の如く、ピ
ークホールド回路２３で一時保持された信号を、遅延回
路２４を経て比較回路２５に導くが、この比較回路２５
では、信号の大きさ毎に数段に分別し、大きさに応じて
選択的にリレー２６、電磁弁１８のうち対応する一組を
動作させ、マーキング用吐出ガン２０によシマーキング
液を吐出させる。このときそれぞれ選択されるマーキン
グ用吐出ガン２０よシ吐出される液の色を変えることＫ
よシ欠陥信号の大きさを区別することができるようＫな
っている。このように、複数のマーキング用吐出ガン２
０を設け、欠陥信号の大きさ毎に各マーキング用吐出ガ
ン２０よル吐出されるマーキング用液を色分けするよう
にすれば、被検査物１のマーキングを見ることＫよって
欠陥位置のみでなく欠陥の大きさも一目で分かるという
効果があシ、検出した欠陥の位置のみならずその寸法に
関しても正確かつ容易に確認することができる。
０を有し、欠陥信号の大きさによって色分けして欠陥位
置にその欠陥の大きさをも示すマーキングを行なうこと
ができるようになっている。すなわち、上述の如く、ピ
ークホールド回路２３で一時保持された信号を、遅延回
路２４を経て比較回路２５に導くが、この比較回路２５
では、信号の大きさ毎に数段に分別し、大きさに応じて
選択的にリレー２６、電磁弁１８のうち対応する一組を
動作させ、マーキング用吐出ガン２０によシマーキング
液を吐出させる。このときそれぞれ選択されるマーキン
グ用吐出ガン２０よシ吐出される液の色を変えることＫ
よシ欠陥信号の大きさを区別することができるようＫな
っている。このように、複数のマーキング用吐出ガン２
０を設け、欠陥信号の大きさ毎に各マーキング用吐出ガ
ン２０よル吐出されるマーキング用液を色分けするよう
にすれば、被検査物１のマーキングを見ることＫよって
欠陥位置のみでなく欠陥の大きさも一目で分かるという
効果があシ、検出した欠陥の位置のみならずその寸法に
関しても正確かつ容易に確認することができる。
なお、本発明は強磁性体の各種加工品、各種切削加工機
械における探傷装置として広く応用できる。
械における探傷装置として広く応用できる。
〈発明の効果〉
以上のように、本発明に係る磁気探傷装置によれば、マ
ーキング装置によって被検査物へのマーキングを行なう
と共に、検出した検査速度を基に決定される遅延時間に
よって被検査物へのマーキング時期を変化させることが
できるので、高速あるいは検査速度が変化した場合でも
辷れに対処でき、マーキング位置のずれ発生を防止し、
欠陥位置に正確にマーキングを行なうことができる等の
効果を奏する。
ーキング装置によって被検査物へのマーキングを行なう
と共に、検出した検査速度を基に決定される遅延時間に
よって被検査物へのマーキング時期を変化させることが
できるので、高速あるいは検査速度が変化した場合でも
辷れに対処でき、マーキング位置のずれ発生を防止し、
欠陥位置に正確にマーキングを行なうことができる等の
効果を奏する。
ｍ１図は本発明の一実施例に係る表面欠陥自動探傷装置
の構成図、第２図は第１図のＡ−Ａ断面図、ｊｉａ図鉱
制御系統の一例を示すブロック図、第４図は従来の自動
化を目的とした表面欠陥の検査法による装置の構成図で
ある。 図面中、 ｌ紘被検査物、 ５は感磁性素子、 １５紘エンコーダ ２０はマーキング用吐出ガン、 ２３はピークホールド回路、 ２４は遅延回路、 ２７は演算回路である。
の構成図、第２図は第１図のＡ−Ａ断面図、ｊｉａ図鉱
制御系統の一例を示すブロック図、第４図は従来の自動
化を目的とした表面欠陥の検査法による装置の構成図で
ある。 図面中、 ｌ紘被検査物、 ５は感磁性素子、 １５紘エンコーダ ２０はマーキング用吐出ガン、 ２３はピークホールド回路、 ２４は遅延回路、 ２７は演算回路である。
Claims (1)
- 感磁性素子を利用した磁気探傷装置において、被検査物
へのマーキングを行なうマーキング装置と、検査速度を
検出する検出手段と、感磁性素子が欠陥部を検知して上
記マーキング装置へのマーキング信号を発生するまでの
間の間隔を制御するべく上記検出手段によつて検出した
検査速度を基に決定される遅延時間によつて被検査物へ
のマーキング時期を変化させる手段とを有する磁気探傷
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5422685A JPS61213667A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 磁気探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5422685A JPS61213667A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 磁気探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61213667A true JPS61213667A (ja) | 1986-09-22 |
Family
ID=12964624
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5422685A Pending JPS61213667A (ja) | 1985-03-20 | 1985-03-20 | 磁気探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61213667A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0619487A3 (en) * | 1993-04-06 | 1996-07-17 | Magnetic Analysis Corp | System and method for non-destructive examination of plates. |
| JP2006313082A (ja) * | 2005-05-06 | 2006-11-16 | Chugoku Regional Development Bureau Ministry Of Land Infrastructure & Transport | 探傷装置および探傷方法 |
| JP2008151588A (ja) * | 2006-12-15 | 2008-07-03 | Idemitsu Eng Co Ltd | 二層ベローズの欠陥評価方法及びこれに用いる渦流探傷装置 |
| WO2011056040A3 (ko) * | 2009-11-09 | 2011-09-15 | 한국표준과학연구원 | 누설자속 측정에 의한 비파괴 탐상장치 |
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| JP2013068440A (ja) * | 2011-09-21 | 2013-04-18 | Hitachi Ltd | 漏洩磁束探傷装置 |
| CN109884172A (zh) * | 2019-04-12 | 2019-06-14 | 中国石油化工股份有限公司 | 一种用于板件漏磁检测的励磁结构 |
| JP2020201114A (ja) * | 2019-06-10 | 2020-12-17 | 株式会社東芝 | 渦電流探傷装置及び方法 |
-
1985
- 1985-03-20 JP JP5422685A patent/JPS61213667A/ja active Pending
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