JPS61213706A - ストロ−ク検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、被検査物の機枠に設けられた駆動手段の作用
により機枠側より前進して突出する第一の位置と、機枠
側に後退して位置する第二の位置とに移動される可動体
のストロークを検査するストローク検査ｖ装置に関する
。

［従来技術］ 従来この種のストローク検査装置においては、可動体の
ストローク方向と平行に目盛板が配設され、可動体を第
−及び第二の位置に移動して夫々の位置を測定者が目測
することにより可動体のストロークを検査していた。

［発明が解決しようとする問題点］ 上記のように可動体のストロークを測定者が目測により
検査するものでは、検査に時間を要するだけでなく、測
定者が誤って検査する等の問題点があった。

［発明の目的］ 本発明は、上記の問題点を解消するものであり、被検査
物の可動体のストローク検査を短時間で且つ正確に行う
ことができるストローク検査装置を提供することを目的
とする。

［問題点を解決するための手段］ 上記の目的を達成するために本発明においては、第１図
に示すように、被検査物１０を着脱自在に保持するため
のテーブルに対し被検査物１０の可動体１０ａの移動方
向に相対的に移動可能に光ビーム発生部１５と受光部１
２とを有する位置検出手段ａが設けられると共に、可動
体１０ａを往復動する駆動手段に接続された接続体が着
脱可能に接続される駆動制御手段すが設けられ、前記駆
動手段によって前記可動体１０ａが移動される時前記テ
ーブルに対して前記位置検出手段ａを相対移動させるた
めの移送手段Ｃが設けられている。

［作用］ 本発明は上記した構成により、駆動手段の作用を駆動制
御手段すにより制御して第−若しくは第二の位置に位置
された可動体１０ａの先端面に対し光ビーム発生部１５
により所定角度だけ傾斜した方向より光ビームを投射し
、その受光部１２が光ビームの可動体１０ａ先端面より
反射される反射光を受光することにより位置検出手段ａ
が可動体１０ａ先端の位置を検出した摸、前記駆動制御
手段すにより前記駆動手段を駆動して前記可動体１０ａ
を第一の位置に位置決めすると共に、移送手段Ｃにより
位置検出手段ａを可動体１０ａのストローク量に対応し
て所定量だけ移動し、前記と同様にして可動体１０ａ先
端の位置を検出してその可動体１０ａのストローク検査
を行うものであり、短時間で且つ正確に検査が行われる
。

［実施例］ 以下に本発明を具体化した一実施例を第２図乃至第７図
に従って説明する。

ストローク検査装置は、第２図に示すように、Ｘ軸モー
タ１４及びＹ軸モータ１６によりＸ、Ｙ方向へ移動可能
なテーブル１９を有し、そのテーブル１９上の所定位置
に被検査物１０を保持するための治具１１が設けられて
いる。その治具１１の上方には被検査物１０の可動体１
０ａの先端面に対し４５度傾斜した方向よりレーザビー
ム等の光ビームを投射する光ビーム発生器１５と、その
光ビーム発生器１５より投射されて可動体１０ａの先端
面により反射される反射光を受光するための受光部を構
成するカメラ１２とが配設されている。そのカメラ１２
と光ビーム発生器１５とは、その側方に配設された支持
部材２１に固定され、その支持部材２１はＺ軸モータ１
７により上下方向に移動可能に支持されている。テーブ
ル１９上の右側方には、後述するマイクロコンピュータ
１８からの命令によりオン・オフ可能なリレースイッチ
１３を備えた電源２３が配史されている。

前記カメラ１２は、第３図に示すように、マイクロコン
ピュータ１８に接続されており、そのマイクロコンピュ
ータ１８には、ＣＲＴ２０及びドライバー２２を介して
Ｘ軸モータ１４．Ｙ軸モータ１６．ｚ軸モータ１７が夫
々接続されている。

また、前記マイクロコンピュータ１８には、前記電源２
３に接続された前記リレースイッチ１３が接続され、そ
のリレースイッチ１３は被検査物１０に接続されている
。前記マイクロコンピュータ１８は、中央演算処理装置
（以下ＣＰＵという）２４と、制御ブＯグラム等の各種
データが記憶されたメモリ２６とより構成されている。

前記ＣＰＵ２４には、テーブル１９上の被検査物保持位
置近傍に配設されたセット完了検出スイッチ２８が接続
され、被検査物１０がテーブル１９上の被検査物保持位
置にセットされた時、セット完了検出スイッチ２８が作
動されて、その検出信号がＣＰＵ２４に入力されるよう
に構成されている。

このストローク検査装置によって検査される被検査物１
０は、第５図に示すように、中空の円柱状の機枠１０ｂ
と、その機枠１０ｂに対して上下移動可能な金属製の可
動体１０ａと、その可動体１０ａと機枠１０ｂの内面と
の間に支持され常には可動体１０ａを機枠１０ｂ側に後
退して位置する第二の位Ｗ（第５図に示されている位置
）へ付勢するコイルバネ１０Ｃと、機枠１０ｂ内の略中
間付近に配設された電磁石１０ｄと、−―がその電磁石
１０ｄに接続され他端が前記電源２３に着脱可能に接続
されるコネクタ３２に接続されたコード３０とより構成
され、前記電磁石１０ｄが付勢されると前記可動体１０
ａをコイルバネ１０ｃの付勢力に抗して機枠１０ｂ側よ
り前進して突出する第一の位置に移動され、前記電磁石
１０ｄが去勢されると、前記コイルバネ１０ｃの作用に
より第一の位置に復帰される。

次に、本実施例の作用を第４図に示すフローチャートに
従って説明する。

ＣＰＬＩ２４が作動されると、まずステップＳＯを実行
し、カメラ１２及び光ビーム発生器１５の下方位置より
離れた位置に移動されたテーブル１９上の被検査物保持
位置に被検査物１０がセットされた時に出力されるセッ
ト完了検出スイッチ２８の検出信号があるかどうかの確
認を行う。

ここで、テーブル１９上の被検査物保持位置に被検査物
１０がセットされると、セット完了検出スイッチ２８が
作動されて検出信号がＣＰＵ２４に入力され、ＣＰＵ２
４は次のステップＳ１を実行する。ステップＳ１におい
て、ＣＰＵ２４は、ドライバー２２を介してＸ軸モータ
１４．Ｙ軸モータ１６及び２軸モータ１７に所定移動層
に対応する信号を出力することにより、テーブル１９及
びカメラ１２と光ビーム発生器１５とが固定された支持
部材２１を移動させて、第６図に実線で示す第二の位置
に位置する可動体１０ａの先端面に光ビーム発生器１５
より光ビームが投射されるように被検査物１０を位置決
めする。

次にステップＳ２が実行され、ＣＰＵ２４は、カメラ１
２に位置決め完了信号を出力し、可動体１０ａの先端面
により反射された光ビームの反射光をカメラ１２により
撮像すると共に、その撮像信号を画像処理して、第７図
に実線で示すように、ＣＲＴ２０に表示し、前記第二の
位置に位置する可動体１０ａの先端面の画像処理系での
座標ｐを求める。尚、第７図においてＬｌは可動体１０
ａの先端面よりの反射光を示し、Ｌ２は被検査物１０の
機枠１０ｂの上面よりの反射光を示している。

次にステップＳ３が実行され、第６図に二点鎖線で示す
ように、可動体１０ａの予め定められた基準ストローク
量だけ支持部材２１を上昇してカメラ１２及び光ビーム
発生器１５を位置決めする。

その後ステップＳ４が実行され、ＣＰＵ２４からの命令
によりリレースイッチ１３をオンして電源２３より被検
査物１０の電磁石１０ｄに電流を流すと、その作用によ
り可動体１０ａをコイルバネ１０Ｇの付勢力に抗して上
方へ引きよせ、第６図に点線で示す第一の位置に移動す
る。

次にステップＳ５が実行され、前記ステップＳ　　　　
−２と同様にして、可動体１０ａの先端面により反射さ
れた光ビームの反射光をカメラ１２により撮像すると共
に、その撮像信号を画像処理して、第７図に二点鎖線で
示すように、ＣＲＴ２０に表示し前記第一の位置に位置
する可動体１０ａの先端面での座標ｑを求める。

次にステップＳ６において、ＣＰＵ２４は、前記ステッ
プＳ２及びＳ５で求められた座標ｐ、ｑより画像処理系
での両者の差を座標ストロークとして画素数でカウント
し、メモリ２６内の所定のエリアに記憶する。次にスナ
ップＳ７が実行され、前記座標ｐ、ｑの差である座標ス
トロークが許容画素数以内か否かの判定を行い、許容画
素数以内と判定された場合にはステップＳ８が実行され
てＣＲＴ２０の右下に「良品」と表示する。また、許容
画素数より多いと判定された場合にはステップＳ９が実
行されてＣＲＴ２０の右下に「不良品」と表示する。

以上の検査の終了後、ステップＳ１０が実行され、ＣＰ
ｔＪ２４からの命令によりリレースイッチ１３をオフし
て、電源２３より被検査物１０の電磁石１０ｄに供給さ
れていた電流が止められると、電磁石１０ｄが去勢され
コイルバネ１００作用により可動体１０ａが第６図に実
線で示す第二の位置に復帰される。

その後、ステップＳ１１が実行され、支持部材２１が下
降され光ビーム発生器１５及びカメラ１２を第６図に実
線で示す原位置に位置決めすると共に、テーブル１９が
被検査物１０をセットした原位置まで復帰されて、次の
検査に備える。

尚、実施例においては、支持部材２１を基準ストローク
量だけ上方に移動させた後、可動体１０ａを第二の位置
より第一の位置に移動させて第一の位置の検査を行って
いるが、その逆に又は同時にそれらを移動させてもよい
ことは勿論である。

し発明の効果］ 以上詳述したように本発明は、被検査物の駆動手段の作
用を制御して可動体を移動させると共に位置検出手段を
予め定められた一定量だけ相対移動させて可動体のスト
ロークを光ビームを利用して検査するようにしたので、
ストローク検査を正確に且つ短時間で行うことができる
効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のクレーム対応図、第２図は本発明の一
実施例を示す全体構成図、第３図は回路構成を示すブロ
ック図、第４図は作用を説明するためのフローチャート
、第５図は被検査物の縦断面図、第６図は可動体の第一
、第二の位置における先端面による光ビームの反射光の
状態を示す説明図、第７図はＣＲＴ上１において表示さ
れた光ビームの可動体先端面による反射光を示す図であ
る。 図中、１０は被検査物、１０ａは可動体、１０ｂは機枠
、１０ｄは電磁石（駆動手段）、１２はカメラ（受光部
）、１３はリレースイッチ、１５は光ビーム発生器（光
ビーム発生部）、１７は２軸モータ、１８はマイクロコ
ンピュータ、１９はテーブル、２１は支持部材、３０は
コード（接続体）である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 被検査物（１０）の機枠（１０ｂ）に設けられた駆動手
   段（１０ｄ）の作用により機枠（１０ｂ）側より前進し
   て突出する第一の位置と、機枠（１０ｂ）側に後退して
   位置する第二の位置とに移動される可動体（１０ａ）の
   ストロークを検査するストローク検査装置において、 前記被検査物（１０）を着脱自在に保持するためのテー
   ブル（１９）と、 そのテーブル（１９）に対しそのテーブル（１９）上に
   保持された前記被検査物（１０）の可動体（１０ａ）移
   動方向に相対的に移動可能に配置され前記可動体（１０
   ａ）の先端面に対し所定角度だけ傾斜した方向より光ビ
   ームを投射する光ビーム発生部（１５）と、その光ビー
   ムの前記可動体（１０ａ）先端面より反射される反射光
   を受光する受光部（１２）とを有し、前記光ビームを利
   用して前記可動体（１０ａ）先端の位置を検出するため
   の位置検出手段（ａ）と、 前記駆動手段（１０ｄ）に接続された接続体（３０）が
   着脱可能に接続され、前記駆動手段（１０ｄ）の作用を
   制御して前記可動体（１０ａ）を第一、第二の位置に移
   動するための駆動信号を供給するための駆動制御手段（
   ｂ）と、 前記テーブル（１９）に対して前記位置検出手段（ａ）
   を前記可動体（１０ａ）のストローク量に対応して予め
   定められた一定量だけ前記可動体（１０ａ）の第一、第
   二の位置への移動時に相対的に移動させるための移送手
   段（ｃ）と を備え、前記光ビームを利用して前記可動体（１０ａ）
   の第一、第二の位置を夫々検出することにより前記可動
   体（１０ａ）のストロークを検査するようにしたことを
   特徴とするストローク検査装置。