JPS6123906A - ワークの偏差測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はプレス加工におけるプレス型（ワーク）の曲面
仕上げ技術、詳しくはワークの偏差の測定方法及び装置
に関する。

従来技術 従来のプレス型製作における曲面仕上げはマスター（原
型）から複製したモデルをワークと合わせることで行わ
れていた。即ちワークに面するモデルの面上に紅ガラが
塗布され、モデルとワークとを圧着することにより、ワ
ークの突出部分にのみ紅ガラが付着される。この紅ガラ
付着部分は赤当り部分と称され、モデ□ルに対して研削
代がある部分と看做すことができる。熟練作業者はその
赤当り部４分を研削工具を用いて少しづつ仕上げ、最終
的に研削代がない状態に追い込んでゆくことになる。

しかしながら、この従来の仕上げでは、赤当り部分は他
の部位に較べて相対的に突であることを表示するにすぎ
ず、その必要研削量が数値として表われているわけでは
ない。そのため、モデルの形状やワーク全体の赤当り状
態より、作業者の経験や熟練にたよった作業とならざる
を得ない。そのため精度の良い仕上げをするのが困難で
あった。

また、合せモデルとワークとの赤当り部分を作業者が目
視チェックし、研削工具による手仕上げを行い、順次に
ワーク形状、を基準であるモデル形状に合せてゆく作業
であるため、その作業完了までに多くの工数を要した。

かかる従来技術の欠点を解決するため本出願人はこの出
願の先願となる出願において、ワークのマスターとなる
形状をプレス加工によって製作すべき目的物、例えば自
動者の外観又はボディの設計よりコンピュータによって
計算し、計算されたデータとワークより実測したデータ
と比較するこ上により両者の偏差を演算し、その偏差を
ディスプレイ又はワーク上に色表示し、その表面に従っ
てワークの仕上げを行うようにした技術を提案している
。この技術によればマスター形状に対する偏差を具体的
な数値として表わすことができる。

従って作業者は熟練がなくても偏差を正確に知ることが
でき、迅速、かつ確実な型仕上げを実行することができ
る。

本発明はかかる先願技術において、ワーク上の任意点の
測定を精度良くかつ迅速に行うことができる改良を目指
すものである。従来技術での任意点の測定は、作業者が
測定希望点へ手動で三次元測定機のセンサを移動させ、
接触点の座標を読取ることにより測定する方法、又は測
定希望点の近傍まで手動で移動させ、それから三次元測
定機の操作盤からアプローチ指示を行うことにより、測
定機内のコントローラをシーケンス処理作動させること
によりセンサを軸直方向にワークに接触するまで駆動し
接触点の座標を読み取ることによる方法があった。とこ
ろがこのような従来の任意点測定方法ではデータの採取
は軸直方向に行われるため、ワークの測定希望点が傾斜
面上にある場合はセンサの滑りが避は得す精度に悪影響
を及ぼしていた。また従来方法では単にワークの測定希
望点の三次元座標値としての採取データが得られるだけ
で、被測定物の理想形状であるマスターとの偏差を評価
する手段はなかった。

発明が解決しようとする問題点 本発明はかかる従来技術の欠点に鑑み、また前述した先
願において本出願人が提案した面直方向の測定という考
え方もとり入れることにより任意点の測定を精度良くか
つ迅速に行い得る方法及び装置を提供することにある。

問題点を解決するための手段 本発明のワークの偏差測定方法によれば、ワーク上の任
意に選定される測定希望点に対応するマスター形状曲面
上の測定基準点の座標データ及び面直ベクトルデータを
演算創成し、該測定基準点に向け面直方向にワークの三
次元測定を行ってぃ本発明の装置は、その構成が第１図
に示され、ワークのマスター形状データを格納しておく
メモリ手段１と、三次元測定機のフレームに取付けられ
三次元方向に移動可能な移動手段２と、該移動手段２上
に設けられ座標値信号を生ずるセンサ手段３と、ワーク
上の任意に選定される測定希望点に対応するマスター形
状曲面上の測定基準点の座標データ及び面直ベクトルデ
ータを創成演算する演算手段４と、測定基準点に向け面
直ベクトル方向にセンサ手段が移動するように移動手段
を駆動する手段５と、センサ手段３がワークに接点する
測定点の座標データと測定基準点の座標データとよりマ
スター形状に対するワークの偏差を演算する手段６とよ
り成る。

作用 本発明の方法によればワーク上の測定希望点が任意に選
定され、その選定測定希望点に対応するワークのマスタ
ー形状曲面上の点が測定基準点として決められ、その測
定基準点の座標値及び面直ベクトルの成分値が創成され
る。この基準点の創成データを基にワークの測定が面直
方向より行われ偏差の測定が行われる。

本発明の装置によればマスター形状データは記憶手段１
内に格納されており、基準データ創成手段３は測定希望
点に対応するマスター形状曲面上の測定基準点を決定し
、この測定基準点の座標値及び面直ベクトルの成分値が
演算される。駆動手段５は、測定基準点に向け面直ベク
トル方向にセンサ３の駆動を行い、ワークとの接触点の
座標が読込まれる。この座標値と、測定基準点の座標値
とよりマスターに対するワークの偏差が計算される。

実施例 本発明のシステム構成の全体を示す第２図において、１
０は三次元測定機を全体として示すもので、ヘース１２
を有し、その上に測定すべきワークであるプレス型１４
が設置される。キャリッジ１６上にキャリヤ１８があり
、アクソチメント１９を介し、センサ２０が後述のよう
に取付けられる。

キャリッジ１６は紙面垂直方向に、キ、ヤリャ１８はキ
ャリッジ１６上を図の左右方向に、アクノチメント１９
はキャリヤ１８に対して上下方向に夫々独立して動くこ
とができ、これによって型の三次元的な測定を行うこと
ができる。

２２は、データの入力制御、三次元測定機１０の作動側
Ｊ’ｆｌ、更にはディスプレイ制御を行う主コンビ１−
夕であって、セントラルプロセシングユニノト（ＣＰＵ
）　　２４、リードオンリメモリ（ＲＯＭ）　２６、ラ
ンダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）　　２８を備えている
。

ＣＰＵ２４は凹線３０を介しインタフェース３２に結線
され、同インタフェース３２は三次元測定機１０の制御
コンピュータとＣＰＵ　２４との間の信号のやり取りの
制御を行う。ＣＰＵ　２４はキーボード等の入力装置３
４並びにカラーディスプレイ３６に結線される。ＣＰＵ
　２４は更に磁気ディスク装置などの外部記憶装置３８
に接続される。ＲＯＭ　２４内には後述のフローチャー
トを実現するＣＰＵ　２４の制御プログラムが格納され
ており、同ＣＰ！Ｊ　２４はこの制御プログラムに従っ
て入力袋２３４よりのデータの入力、三次元測定機１０
による型測定、カラーディスプレイ３６による偏差の色
表示を行う。

三次元測定８！１０は制御用の副コンピユータ４０を有
しており、主コンピユータ１０と前記インタフェース３
２を介して結線される。副コンビ、ｒ−−ク４０も主コ
ンピユータ２２と同様ＣＰＵ　４１、ＲＯＭ４２及びＲ
ＡＭ　４３ヨリ構成サレル。ＣＰｔ１４１ハ回ｖＡ４５
、インタフェース４６を介して三次元測定機１０の駆動
回路である小型コンピュータ４７に結線される。インタ
フェース４６にはコンピュータ４０からの三次元測定機
１０の作動命令が書き込まれ、またセンサ２０からの三
次元測定結果が書き込まれる。また三次元測定機１０は
操作盤４９を存しており、コンピュータ４０とは独立し
てセンサ２０を所望位置まで手動で持って来ることがで
きるようになっている。操作盤４９上に任意点測定開始
キーがあり、任意点の測定開始時のコマンドが与えられ
る。更に、操作盤４９上に後述の計算軸の入カキ−があ
り、ｘ、ｙ、ｚのうちの一つの計算軸情報の入力を行う
ことができる。

５０はデータヘース管理用のコンピュータであり、同様
にＣＰＵ　５１　、　）ＩＯＭ　５２　、　ＲＡＭ　５
３より成り、ＣＰＵ　５１ばインタフェース５４１回綿
５５を介して主コンピユータ２２のＣＰＬＩ　２４に結
線される。５６は磁気ディスク等の外部記憶装置を備え
ている。

このコンピュータ５０は後述のワークのマスター形状デ
ータ等より成るデータヘースを管理するものであり、実
施例では任意点における基準データの創成を行うための
割込プロゲラ１、を有しでいる。

このコンピュータ５０は他の仕事も行うが、本発明と直
接的に関連はないので、その説明は省略する。

次に本発明における任意点の偏差の測定の原理を説明す
る。第３図において、２００をワークの原型となるマス
ター形状の曲面とする。その曲面の点ｐは座標（ｘ、ｙ
、ｚ）及び面直ベクトルＮ（ｉ　、　ｊ　、　ｋ）によ
って形状を特定することができる（ここに面直ベクトル
とはその点ｐの法線方向の単位ベクトルのことをいう。

）。このようなマスター形状は、プレスすべき物品が自
動車とすればその外観又はボディの設計から決まるもの
である。コンピュータ中には所定間隔の点ｐ毎に座標値
及び面直ベクトルより成るマスター形状データが格納さ
れている。ところが任意点を測定する場合はその測定の
基準点となる座標値及び面直ベクトル値が不明である。

本発明では次のような手法で任意点に対応するマスター
形状曲面２００上の測定基準点のデータを演算創成しよ
うとするものである。即ち第４図において、２００′を
ワークの形状、２００は第３図で述べたようなマスター
データ上の各点ｐの集まりによって構成されるマスター
形状曲面とする。合点９０を測定を希望する任意点（測
定希望点）とする。次にこの測定希望点９０の極めて近
傍の点（近傍点）９１まで三次元測定機１０のセンサ２
０の先端が手動で持って来られる。この場合、近傍点９
１は次のように決められる。即ち、近傍点９１からｘ、
ｙ、ｚ軸のうちのいずれか一つと平行な線９２が丁度測
定希望点９０と交差するように決められる。これは次の
ような意味を持つ。即ちマスター形状２００に対するワ
ーク形状２００′の偏差を測定するためにはワーク形状
上の測定希望点９０に対応するマスター形状上の点９３
である測定基準点を知らなければならない。この場合本
当の測定基準点は測定希望点９０から面直方向にある筈
である。しかしながら、この場合面直方向を決めること
は困難である。

そこで、ｘ、ｙ、ｚのうちの一つの任意の軸を決め（こ
れを計算軸と称する）、これと平行でかつ近傍点９１を
通る直線９２を設定しこれがマスター形状曲面２００と
交差する点９３をもって測定基準点とするのである。な
お、計算軸９２はワークの形状によっては２本以上引き
得るがこの場合、より面直方向に近い方を選択すること
になる。面直方向にない計算軸９２によって測定基準点
９３を計算しているから、後述の面直測定によって実際
に測定される点（第６図の９４）は測定希望点９０とは
必ずしも一致しない。しかしながら、ワーク曲面２００
′とマスター曲面２００との偏差は小さいこと及び近傍
点９１はワークに掻く近いからその不一致の度合は小さ
く問題とするに足りない程である。第５図には測定基準
点をどのように決定するかが立体的にかつ模式的に示さ
れている。即ち、２００はマスターデータにより表わさ
れる曲面を示す。即ち、前述のようにマスターデータは
各点の座標と面直ベクトルとのデータの組合せによって
構成され、破線の交点毎にそのようなデータの組合せが
格納される。そして、近傍点９１の座標と計算軸とより
なる測定基準点計算用情報が入力され、近傍点９１を通
り計算軸と平行な直線９２とマスターデータ曲面との交
点９３が計算され、この交点９３が測定基準とされる。

それから、この測定基準点９３を通る接線へクトルＴの
成分が計算され、次いでこの接線へクトルＴに直交する
面直ベクトルＮの成分が計算される。

このようにして、ワークの測定希望点９０に対しその比
較の基準となるマスターデータ曲面上の測定基準点９３
の座標及び面直ベクトルＮより成る基準データが作成さ
れこの後面直方向にワークの測定が行われる。即ち、面
直ベクトルＮを含む平面でのワーク曲面２００′とマス
ター形状曲面２００との相対関係を図示した第６図にお
いて、三次元測定機１０のセンサ２０は面直ベクトルＮ
に沿って測定基準点９３に向かって駆動され、接触点９
４の座標（ｘ’、ｙ’、ｚ’）を知る。この点９４の座
標とマスター形状上の測定基準点９３との座標とより偏
差Δが計算される。例えば、点９４　、９３の座標が二
乗平均され、夫々の点の原点に対する距離としてスカラ
ー化し、その差を偏差とすることができる。即ち、偏差
Δは Δ−φ戸り月、ｚ２　　−５１■ゴη了　　・・・（」
）で表されることになる。このようにして計算された偏
差Δは測定点に相当したカラーディスプレイ３６上の位
置にワーク外形線と共に表示される（第７図）。作業者
はディスプレイ化の色によって偏差を数値的に判断する
ことによって仕上げを行うことにできる。尚、第８図は
偏差の大きさと色関係を説明する一例である。即ち、マ
スター形状２００に対するワーク形状に対する偏差Δは
所定の設定幅ｄ毎に異なった設定値に決められ、偏差に
応したカラー表示がされる。尚、図中、９３は前述のよ
うに計算された測定基準点、９４は三次元測定点である
。

以下、本発明のソフトウェア構成を第９−１７図のフロ
ーチャートによって説明する。このフローチャートを実
現するプログラムは主コンピユータ２２のＲＯに２６、
三次元測定機制御用副コンピユータ４０のＲＯＭ　４１
、及びデータベース管理用コンピュータ５０のＲＯＭ　
５２、更には駆動回路４７の図示しないＲＯ？Ｉに夫々
−書き込まれている。

第９図は主コンピユータ２２のメインルーチンを示すも
のである。３００のステップでこのルーチンが実行に入
り、３０２ではＣＰＩＩ　２４の内部レジスタ、１？ｌ
１Ｍ　２８などの初期化が行われ、次いでＣＰＵ２４は
キーボード３４からのコマンドチェレフを行い、サブル
ーチン化された第１０　、１１　、１２図のような各処
理をキーボード３４からのコマンドに応じて行うことに
なる。一方三次元測定機１０の制御用の副コンピユータ
４０の主ルーチンは第１３図で示され６００でルーチン
の実行が開示されると、６０２でＣＰｔ１４１のレジス
タやＲＡＭ　４３の初期化がされ、以下は主コンピユー
タ２２よりインタフェース３２書き込まれる指令によっ
て近傍点の座標データ及び計算軸情報より成る基本情報
の入力、及び三次元測定を行うため、第１４　、１５［
Ｄのサブルーチンコールが行われる。

キーボード３４より基準データ計算コマンドが出ている
と、第９図の３０４でＹｅｓと判定されプログラムは３
５０のステップに入り、第１０図のサブルーチンが呼び
出される。次いで３ち２のステップでＣｌ１ｔｌ　２４
はインタフェース３２に基本情報（第４図の近傍点９１
の座標及び計算軸情報（ｘ、又はｙ又はＺ）より成る）
の人力指令が書き込まれる。

副コンピユータ４０は第１３図の６０４のステップでこ
の基本情報入力指令の肩魁を常に見ており、第１０図の
３５２でこの指令が出ると６０４の判定はＹｅｓ　とな
り６５０へ分岐され第１４図のザブルーチンの実行に入
る。次の６５２のステップでは三次元測定機１０のセン
サ２０の現在位置が第４図について説明した測定希望点
９０に極（近い近傍点９１か否か判断される。即ち、こ
れに先立って三次元測定機１０の操作者は操作盤４９を
操作することによって近傍点９１までセンサ２０が持っ
て来られる。もし、センサ９０が近傍点９１に設定され
ていれば操作盤４９上の所定スイッチが押されており、
６５２の判定はＹｅｓとなり６５４にプログラムは進む
。６５４のステップでは第４Ｍの近傍点の座標値が三次
元測定機１０のインタフェース４６より取込まれ、イン
タフェース３２に書き込まれる。

次の６５６のステップでは第５図に関連して述べた計算
軸９２の情報が操作盤４９のスイ・ノチからインタフェ
ース４６を介し取り込まれ、インタフェース３２に書き
込まれる。次いで６５８では基本情報の読取許可指令が
インタフェース３２に書き込まれる。

この基本情報読取許可指令の存否は第１０図の３５４の
ステップで常時見られており、Ｙｅｓとなればループを
抜け、３５６のステップに移行する。

３５ＧのステップではＣＰＵ　２４はインタフェース３
２に書き込まれている基本情報、即ち第４図の近傍点９
１の座標データ及び計算軸がｘ、ｙ、ｚのどれかを表わ
すデータが人力されＲＡＭ　２８に一旦格納される。

次に第１０図の３５８のステップに進み、肝υ２４ばイ
ンタフェース５４の所定ピントに測定基準データの計算
のための割込開始指令を書き込む。この割込み要求を受
けてデータヘース管理用のコンピュータ５０は第１６図
の割込ルーチンの実行に入る。即ち、８００よりこのル
ーチンが実行され、８０２では、インタフェース５４に
書き込まれている基本情報（即ち近傍点９１の座標デー
タと計算軸情報）が入力されＲＡＭ　５３に一旦格納さ
れる。次に８０４にプログラムは進み、ＣＰＵ　５１は
近傍点９１から計算軸と平行な方向に延びる直線９２の
マスターデータ曲面２００に対する交点である測定基準
点９３の座標が計算される。８０５のステップではこの
測定基準点９３を通る接線が計算され、次いで８０６の
ステップでこれに直交する単位法線ベクトルとしての面
直ベクトルＮ４Ｊ成分（ｉ、ｊ、ｋ）が計算される。そ
して、８０８では測定基準データ（即ち、測定基準点９
３の座標と面直ベクトルの成分値）の計算が完了したこ
とを表示するフラグがインタフェース５４に書き込まれ
る。

このフラグの書き込みがされるまで第１０図の３６０で
主コンピユータ２２はループを行っており、測定基準デ
ータが計算完了するとＹｅｓに分岐しループを抜け、３
６２に進む。３６２でＣＰＵ　２４は第１６図のルーチ
ンにより計算された測定基準データをインタフェース５
４より読取り外部記憶装置３８の記憶領域３８ａに格納
する。

このようにして測定希望点９０に対応したマスター形状
曲面上の任意の点である測定基準点９３の座標及び面直
ベクトルＮの創成が完了する。

次に、第９図において、キーボード３４よりワークの測
定コマンドがあると３０６でＹｅｓに分岐され、４００
に進み第１１図に示すサブルーチンに入る。４０２のス
テップでは、前述のようにして外部記憶装置３８の記憶
領域３８ａに格納された、測定基準データ、即ち測定基
準点９３の座標値と、その測定基準点９３の面直ベクト
ルＮの成分値がＲＡＭ　２８に入力される。４０４のス
テップでは三次元測定指令がインタフェース３２に書き
込まれる。

このフラグ変化を副コンピユータ４０のＣＰＩＪ　４１
は第１３図の６０６のステップで常時みており、フラグ
が変化しないときはループが行われる。フラグが立つと
、即ち、三次元測定指令があると、７００のステップへ
分岐し、第１５図のサブルーチンが呼び出される。７０
２のステップではＣＰｔ１４１はインタフェース３２に
書き込まれている測定基準データ（測定基準点９３の座
標及び同点９３の面直ハク１−ルＮ）が読み込まれる。

次（７０４）には面直測定パラメータＳ、　、　Ｓ２が
１ｌＱｌ’ｌ　４２より読み取られる。７０６のステ・
７プでは測定動作点の計算が行われる。即ち、三次元測
定機の検知端２０は第６図の始点ｑ。

よりマスター形状上の測定基準点９３における面直ベク
トルＮ上の点ｑ２まで一旦下降され、それから面直ベク
トルＮの方向にマスター形状２００より内側の点ｑ、を
１指して、プレス型２００′と接触（点９４）するまで
駆動することで被測定物であるプレス型上の任意点測定
を完了する。このような一連の検知端２０の各動作点Ｑ
Ｉ　　Ｑ２　　Ｑ３の計算が７０６のステップで行われ
ることになる。この計算の際、７０４のステップで入力
されたパラメータＳ、　、　Ｓ２が使用される。次の７
０７のステップでは三次元測定機１Ｇが測定可能状態に
あるか否か判定し、可能であれば７０８に進み、インタ
フェース４６に７０６で計算された動作点ｑ、ｑ２及び
ｑ３のデータが書き込まれる。そして７１０では三次元
測定命令がインタフェース４６に書き込まれる。一方制
御回路４７のプログラムを示す第１７図において、制御
回路４７はステップ９０２でこの三次元測定命令を常に
見ており、この命令が出るまでループし、命令が出れば
、９０４に進みインタフェース４６に書き込まれる動作
点データが読み込まれる。９０６では三次元測定機１０
に駆動命令が出される。そのため、動作点ＱＩ　　Ｑ２
　　Ｑｌに従って検知端の駆動が開始される。９０８で
最終点までセンサ２０が来たと判断されると、９１０で
三次元測定機１０に停止命令が出され、９１２では三次
元測定許可がインタフェース４６に書き込まれ、次の任
意点の三次元測定可能な状態になる。

コンピュータ４０はこのような三次元測定の最中に、第
１ノ５図のステップ７１２で、インタフェース４６に入
るセンサ２０からの信ぢを常に見ており、センサ２０が
ワークに接触したか否か判定し未だ接触していなければ
ループを行う。センサ２０がワークに接触すると、即ち
第６図の接触点９４に来ると、７１２の反対がＹｅｓと
なり、７１４ではそのときの座標Ｘ’、ｙ’、Ｚ’がイ
ンタフェース４６に書き込まれる。次いで７１６では三
次元測定完了を示すフラグが出される。

第１１図の４０６のステップでは副コンピユータ４０の
７１６で出される三次元測定完了のフラグの変化をみて
おり、測定が完了するまでループしており、測定完了に
よってＹｅｓと判定され４０８のステップに進み、接触
点９４の座標データＸ′。

ｙＪ　、　ｚ／がインタフェース４６より読取られる。

以上のようにして、測定基準点９３に対応したワーク上
の点９４の座標値の測定が完了する。

第９図のメインルーチンにおいて、偏差表示コマントが
キーボード３４から入力されると、３０８の判定がＹｅ
ｓとなり、５００に分岐され、第１２図に示すサブルー
チンの実行が開始され、ＣＰＵ　２４は外部記憶装置３
８の記憶領域３８ａに格納されているワーク基準データ
におけるワークの外形線データがＲＡＭ　２８に取り込
まれる　（ステップ５０１）。次の５０２のステップで
は、この取込まれた外形線データがディスプレイ３６の
画面上の表示座標に対応したビデオＲＡＭアドレスに転
送され、その結果第７図に示すようにワーク外形線７１
が表示される。

次の５０４のステップではＣＰＵ　２４は、測定基準点
９３の座標データ（ｘ、ｙ、ｚ）と、面上方向測定で得
たワークの測定点９４の座標データ（Ｘ’＋Ｖ’＋１）
が取り込まれる。次の７０６では９３と９４との座標値
の差分が二乗平均値の差Δとしてスカラー化される（（
１）式）。次の５０８では、この差分の大小に応じて偏
差の大小を表わす色データに変換される。例えば偏差の
大小に応じて赤−青−黄等の色分けを行うのである。５
１０のステップではその色データがＲＡＭ　２８の色デ
ータ領域にセントさる。ＲＡＭ　２８の当該領域は、デ
ィスプレイ画面の表示座標の色に対応し、ＲＡＭ　２８
に所定値がセットされることで、その色が第７図のよう
に表示されることになる。ステップ５０６で計算された
偏差Δは外部記憶装置３８の記憶領域３８ｂに格納され
る。

このようにして任意点の偏差が計算され、カラー表示さ
れたら、作業者は必要に応して研削等の仕上げをその任
意点に対して行うことになる。

発明の効果 本発明によれは任意測定希望点に対しマスターデータ曲
面上にある測定基準点の座標及び面直ベクトルを計算し
、面直方向に測定することでセンサの滑りが生ぜず、任
意点の測定を精度高く行うことができる。またこの計算
は相互に結合された複数のコンピュータ間でオンライン
処理されるので極めて迅速に結果を得ることができる。

更に、任意点の偏差をカラー表示することによりマスタ
ー形状との差違の評価を視覚によって即座に行うことが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の装置の構成を示す図、第２図は実施例
におけるシステム概略図、第３図はマスターデータがど
のように構成されるかを説明する図、 第４図は近傍点から測定基準点を計算する方法を説明す
る図、 第５図は面直ベク′トルを計算する方法を説明する図、 第６図は面直測定方法を説明する図、 第７図はディスプレイ上に偏差がどのようにカラー表示
されるかを説明する図、 第８図は偏差の大きさと設定色との関係を説明する図、 第９図から第１７図は本発明のソフウエアを説明するフ
ローチャート図。 １０・・・三次元測定機、１４・・・ワーク、２０・・
・センサ、　　　　　２２・・・主コンピユータ、３４
・・・キーボード、３６・・・カラーディスプレイ、３
８・・・外部記憶装置、　４０・・・副コンピユータ、
４７・・・制御回路、　　　４９・・・操作盤、５０・
・・マスターデータ管理用コンピュータ、５６・・・外
部記憶装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、ワーク上の任意に選定される測定希望点に対応する
   マスター形状曲面上の測定基準点の座標データ及び曲直
   ベクトルデータを演算創成し、該測定基準点に向け面直
   方向にワークの三次元測定を行い、マスター形状に対す
   るワークの偏差を測定する方法。 ２、ワークのマスター形状データを格納しておくメモリ
   手段、 三次元測定機のフレームに取付けられ三次元方向に移動
   可能な移動手段、 該移動手段上に設けられ座標値信号を生ずるセンサ手段
   、 ワーク上の任意に選定される測定希望点に対応するマス
   ター形状曲面上の測定基準点の座標データ及び面直ベク
   トルデータを創成演算する演算手測定基準点に向け面直
   ベクトル方向にセンサ手段が移動するように移動手段を
   駆動する手段、センサ手段がワークに接点する測定点の
   座標データと測定基準点の座標データよりマスター形状
   に対するワークの偏差を演算する手段、 より成るワークの偏差測定装置。