JPS61240545A - 試料像の倍率表示方法および装置 - Google Patents

試料像の倍率表示方法および装置

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JPS61240545A
JPS61240545A JP60080249A JP8024985A JPS61240545A JP S61240545 A JPS61240545 A JP S61240545A JP 60080249 A JP60080249 A JP 60080249A JP 8024985 A JP8024985 A JP 8024985A JP S61240545 A JPS61240545 A JP S61240545A
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Takashi Kimura
隆志 木村
Tetsuo Koseki
哲郎 小関
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Akashi Seisakusho KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、走査型電子顕微鏡その他の電子線装置(以下
、SEM)の表示画面上におりる試料像の倍率表示方法
およびこの方法を実施するための倍率表示装置に関する
ものである。
[技術の背景] SEMは、試料を電子ビームにより照射、走査し、照射
時に発生する試料信号に基づいて表示装置(例えばCR
T)上に試料の拡大像を表示するものである。従って、
SEMにおいては、拡大表示された試料像が実際の試料
上でどの程度の長さに相当するのかを知る必要がある。
このため、従来よりS F Mに関し、表示装置上に試
料像とともに試料のスケールを表示する種々の方法が提
案されている。
[従来の技術] 従来、SFMにおいて、倍率に応じた試料上の長さを試
料像とともに表示する技術的手段としては、例えば、第
7図および第8図に示すようなものがある。
第7図に示す方法は、試料上の一定の長さく例えば1μ
m)が対応するスケール1を試F31像2とともに表示
したものであり、試料像2の拡大率に応じてスケール1
が表示装置の表示画面10上で伸縮するようになってい
る(特公昭47−21345号)。
ところが、このような手段によると、試料像2の拡大率
が大きくなるに従ってスケール1の長さが大きくなり、
スケール1が画面10からはみ出してしまったり、低倍
率の場合には、スケール1の長さが小さくなって、結局
、試料の大きさを正確に判断できないという問題がある
第8図は、斯かる問題を解決するだめの手段を示すもの
である。これは、表示画面10上に、試料像の拡大率と
無関係な一定の長さをもつスケール4を表示するととも
に、このスケール4の試料上の換算長さを文字でキャラ
クタ表示するものである(特公昭58−51664号)
。このにうな手段によれば、スケール4が表示装置の画
面10からはみ出したり、スケール4が小さすぎて視認
性に欠けるという不具合は解消される。
[従来技術の問題点] しかしながら、このような方法の場合、スケール4の設
定長さより短かい試料像長さを知ろうとするときには、
まず、求めようとする試II像2上の良さがスケール4
の良さの何分の−に相当覆るかを求めることによって試
料像2上の長さを求めなければならない。しかし、スケ
ール4の長さを5基準として、試料像2上の長さがその
何分の−に相当するかを計測するのは手間を要するし、
目分量では必ずしも正確な数値を求めるとはできないと
いう問題がある。
また、上記従来の表示方式は、試料像の縦方向の副長に
関しては特別な考慮がなされていないために、試$1[
の縦方向長さを正確に測定するのは必ずしも容易ではな
いという問題がある。
[問題点を解決するための手段] 本発明は上記従来技術の問題点を解決するべくなされた
ものであって、試料像上の縦方向長さ及び横方向長さを
容易かつ正確に求めることのできる試料像の倍率表示方
法および装置を提供することを目的とし、この目的達成
の手段を、試料像を表示する表示画面上に、全長を一定
とした基準線を表示するとともに、当該基準線が相当す
る試料像上の換算長さをキャラクタで表示する試料像の
倍率表示方法において、上記基準線を倍率に応じて区分
する基準目盛を表示するとともに、当該基準目盛の一目
盛幅が相当する試料像上の換算良さをキャラクタで表示
し、かつト記基準目盛の11盛高さを倍率に応じて変化
するようにしたものである。
[実施例] 以下、添付図面に基づいて本発明の詳細な説明する。
第1図ないし第3図は、本発明の実施例に係る試料像の
倍率表示方法を説明するものである。
この表示方法は、第2図に示すように、試料像15を表
示する表示画面10の下方に、倍率の変動とは無関係に
常に一定の長さを有する基準線20を表示するとともに
、基準線20を区分する基準目盛Mを表示するものであ
る。この基準1盛Mは、常に基準線20の左端に固定表
示される目盛MO,常に基準線20の右端に固定表示さ
れる目盛M2、倍率の拡大に従って基準線20上を左方
から右方へ移動づ−る目盛M1とからなるものである。
目盛M1は第1図に示すように、1倍、10倍、100
倍、1000倍と10倍づつ倍率が増加するごとに、基
準線20の長さの10分の1を表わす位置に表示される
。すなわち、目盛MO〜目盛目盛量2間さを1とし、目
盛MO〜目盛目盛量1間さを1どすれば、/!=1/I
OLとなる。倍率が2倍になると、それに比例してノー
115Lとなり、倍率が10倍になると再びノ=1/1
0Lとなる。また、基準目盛Mの目盛高さ11は、目盛
MO〜目盛目盛量1間さlの1/10となるように表示
される。目盛MO〜O〜M1の長さノと目盛高さhは、
倍率に応じて比例的に変化し、常にh=1/1(Mであ
る。
また、この基準線20の右側には、少なくとも基準線の
長さLと、目盛MO〜O〜M1の長さ)の試料像15上
での換算長さがキャラクタ表示される。例えば、倍率表
示も行うとして倍率1倍、基準線長さが10On+m、
目盛幅ノが10mmの場合には、<X 1 、100m
m、 10mm)とイウ表示トなり、倍率が2倍に拡大
すると(X2.50mm。
1Qmm)という表示がなされる。倍率10倍の場合に
は、(X10.10mm、1000μ)というキャラク
タ表示となる。倍率10倍の場合、目盛高さhは、試料
像15上で目盛幅ノの1/10、すなわち100μの換
算長さとなっている。このにつな表示を行うことにより
、従来のような基準線20の換算長さだけによる計測に
比べて、縦横両方向の泪測をより正確に行なうことがで
きるようになる。
尚、基準目盛Mの高さの可変方法は、第3図に示すよう
に、目盛MOと目盛M1との間を太く表示しても良いこ
とは勿論である。
次に、この方法を実施するための倍率表示装置について
説明する。第4図は、本発明の実施例に係る試料像の倍
率表示装置を示すものである。この装置は、電子顕微鏡
本体(図示せず)に設Cプられた水平偏向コイル40お
よび垂直偏向コイル41に供給する電流を倍率切換装置
4−2.43によって切り換ることにより、CRT/I
 5上に試料像15を拡大して表示するとともに、基型
線表示手段50.目盛表示手段60、キャラクタ表示手
段70の各手段によって試料W115J−の長さに関す
る必要な情報の表示を行なうものである。
この図において、51は、鋸歯状波信号E×を出力する
水平走査回路、53は基準線20の始点と終点を位置決
めするための基準電圧EO,E10を比較回路52に印
加する基準電圧源である。この比較回路52は、第5図
C1dに示すように、基準電圧EO,E2と鋸歯状波信
号EXとが一致するtl、t2.・・・tl2の時点で
、信号を出力する。また、55は鋸歯状波信号Eyを供
給する垂直走査回路、57は基準線20の太さと表示画
面10上での表示の高さ位置を決定するための基準電圧
V1 、V2を比較回路56に入力するための基準電圧
である。この比較回路56は、第5図C1dに示すよう
に、基準電圧V1 、V2と鋸歯状波信号EVが一致し
たときにta〜[b間でHレベルとなるパルス信号を出
力する。ゲート回路54は、比較回路52.56の信号
が一致した時点で、第5図eのような信号を合成器44
に対して出力する。これによって、CRT45の表示画
面10に、一定の長さの基準線20が適宜の位置に表示
される。 61は、基準目盛MO、Mlに対応した。
それぞれ電圧値の異なる基準電圧EO,E、1を比較回
路62に印加する目盛基準電圧源である。比較回路62
には、水平走査回路51からの鋸歯状波信号EXが入力
されており、第6図a、bに示寸ように、基準電圧EO
、El ど鋸歯状波信号EXが一致した時点でパルス発
生回路65から基準目盛MO,M1の信号が出力される
。また、基準目盛M2に対応する基準電圧E2は、倍率
と無関係どなるよう独立した基準電圧源64から比較回
路62に入力される。従って、比較回路62からは、第
6図c、dに示すように基準電圧F2と鋸歯状波信号E
×が一致したときに基準目盛M2の信号が出力される。
一方、67は、基準目盛Mの目盛高さを決定する基準電
圧Vl 、V3を比較回路66に印加する基準電圧源で
ある。比較回路66には、垂直走査回路55からの鋸歯
状波信号Eyが入力されており、第6図e、fに示すよ
うに、鋸歯状波信号EVと基準電圧V1 、V3が一致
したときに1a〜tc間で信号を発生ずる。従って、ゲ
、−ト回路63は、比較回路62.66からの信号が一
致したときに第6図gのような信号を発生する。これに
よって、基準線20−Lには倍率に応じて基準線20上
を左方から右方へ移動する基準目盛M1と、固定的な基
準目盛MO,M2が表示される。
尚、目盛基準電圧源61は、基準電圧EOを基準に設定
するから、基準線20の左端に表示される基準目盛Mは
、常に固定した位置に留まる。また、第6図c、dに示
すように基準電圧E2も倍率と無関係に常に一定値が印
加されるから、基準線20の右端には目盛M2が固定的
に表示される。
また、基準電圧V3は、1倍、10倍、100倍という
ような、10倍づつの桁数繰上げを1サイクルとする倍
率の切り換えによってその電圧値が可変するから、目盛
高さは、10倍ごとの倍率変化に応じて伸縮を繰り返す
ものである。
71は、倍率表示回路、72は基準線長さ表示回路、7
3は基準目盛長さ表示回路である。これらの回路71,
72.73は、マイクロコンビコータ等の演算装置によ
って、情報として表示すべき数字を算出するとともに、
該算出結果を情報信号として合成器44に出力する。尚
、各表示回路71.72.73は、キャラクタの表示位
置を決めるために、垂直走査回路55から鋸歯状波信号
Fyをとり、予め設定された基準電圧と一致覆る位置に
キャラクタを表示するものである。
以上のようにして、ゲート回路54.63おJ:び各表
示回路71.72.73から合成器44に入力された各
信号は、輝度変調信号としてCRT45のグリッド電極
に出力され、表示画面10上に、基準線20、基準目盛
M、ギPラクタを表示するものである。尚、SEM本体
の水平偏向コイル7IOおよび垂直偏向コイル41とC
RT=15の水平偏向コイル47おJ:び垂直偏向コイ
ル48が走査回路51.55の信号によって同期されて
いることは勿論である。
以上説明したように、斯かる倍率表示装置によって、第
1図ないし第3図に示すような、本発明の倍率表示方法
を実施できることになる。
[発明の効果コ 以上説明したように、本発明はCRTの表示画面上に一
定の長さの基準線を表示するとともに、その基準線を区
分し、かつ倍率に応じて高さの可変する基準目盛を表示
する一方、基準線と基準目盛幅の長さが相当する試料像
上の換算長さをキャラクタ表示するようにしたものであ
る。従って、本発明によれば、基準線および基準目盛幅
の長さと、それらの換算長さ表示を用いることによって
試料像の正確な副長が可能となる。また、基準目盛の高
さが倍率に応じて可変するから、試料像の長さ、特に縦
方向長さを正確に測定することができることになる。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第3図は、本発明の実施例に係る試料像の
倍率表示方法を示す図、第4図は本発明の実施例に係る
試料像の倍率表示装置のブロック図、第5図および第6
図は本発明の実施例に係る試料像の倍率表示装置の作動
を示すタイムチャート、第7図および第8図は従来の試
料像の倍率表示方法を示す図である。 10・・・表示画面   15・・・試料像20・・・
基準線    50・・・基準線表示手段60・・・目
盛表示手段 70・・・キャラクタ表示手段 特し′f出願人  株式会ネ1 明石製作所癲)−NL
+−)         ■   仁≧兜XXXXX ×6゜ AA

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料像を表示する表示画面上に、全長を一定とし
    た基準線を表示するとともに、当該基準線が相当する試
    料像上の換算長さをキャラクタで表示する試料像の倍率
    表示方法において、上記基準線を倍率に応じて区分する
    基準目盛を表示するとともに、当該基準目盛の一目盛幅
    が相当する試料像上の換算長さをキャラクタで表示し、
    かつ上記基準目盛の目盛高さを倍率に応じて変化させる
    ことを特徴とする試料像の倍率表示方法。
  2. (2)水平走査回路からの水平鋸歯状波信号と垂直走査
    回路からの垂直鋸歯状波信号に基づいて表示画面の所定
    位置に全長を一定とした基準線を表示する基準線表示手
    段と、基準線の長さが相当する試料像上の換算長さをキ
    ャラクタによって表示するキャラクタ表示手段とを有す
    る試料像の倍率表示装置において、上記水平走査回路か
    らの水平鋸歯状波信号および垂直走査回路からの垂直鋸
    歯状波信号と倍率切換装置に連動して電圧値が変化する
    目盛基準電圧に基づいて上記基準線を倍率に応じて区分
    し、かつ倍率に応じて目盛高さが変化する基準目盛を表
    示する基準目盛表示手段を設けるとともに、倍率切換装
    置に連動して基準目盛の一目盛幅が相当する試料像上の
    換算長さを算出し、該算出結果をキャラクタによって表
    示するキャラクタ表示手段を設けたことを特徴とする試
    料像の倍率表示装置。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55128241A (en) * 1979-03-28 1980-10-03 Hitachi Ltd Sample image display device
JPS55166854A (en) * 1979-06-15 1980-12-26 Hitachi Ltd Scanning electron microscope and magnification display unit in its simulator

Patent Citations (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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