JPS61250540A - 上水フロツク画像認識装置 - Google Patents
上水フロツク画像認識装置Info
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- JPS61250540A JPS61250540A JP9084885A JP9084885A JPS61250540A JP S61250540 A JPS61250540 A JP S61250540A JP 9084885 A JP9084885 A JP 9084885A JP 9084885 A JP9084885 A JP 9084885A JP S61250540 A JPS61250540 A JP S61250540A
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- Japan
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- circuit
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- flocs
- floc
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- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/29—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using visual detection
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- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕 □
本発明は浄水場のフロック形成池(混和池)におけるフ
ロックの粒径およびその分布を画像処理技術を用いて計
測する上水フロック画像認識装置に関する。
ロックの粒径およびその分布を画像処理技術を用いて計
測する上水フロック画像認識装置に関する。
浄水場においては原水の濁質粒径が小さいのでこれらを
凝集させて凝集塊(フロック)とし、このフロックを沈
降させるようになっている。このため、フロック形成池
(混和池)におけるフロックの監視が必要不可欠である
。
凝集させて凝集塊(フロック)とし、このフロックを沈
降させるようになっている。このため、フロック形成池
(混和池)におけるフロックの監視が必要不可欠である
。
従来、フロックの監視は浄水場の維持管理者が1日数回
、目視により監視していた。目視に依存するため、判断
基準が主観的かつ定性的であり、監視結果が運転操作に
反映されにくい欠点がある。
、目視により監視していた。目視に依存するため、判断
基準が主観的かつ定性的であり、監視結果が運転操作に
反映されにくい欠点がある。
さらに監視頻度が不連続的なため凝集不良時の対策が後
手になシ、トラブルが大きくなるという欠点もある。
手になシ、トラブルが大きくなるという欠点もある。
これに対して、最近は工業用テレビカメラ(ITV)を
用いてフロック形成池内のフロック群を監視する方法が
採用されている。しかし、この場合でも、監視は人間の
視覚に依存するため主観的かつ不連続的であるというこ
とに変シない。
用いてフロック形成池内のフロック群を監視する方法が
採用されている。しかし、この場合でも、監視は人間の
視覚に依存するため主観的かつ不連続的であるというこ
とに変シない。
このような欠点を改善するため、特開昭54−1432
96号公報に記載されているように、光電変換装置を用
いてフロックの形状に応じた電気信号を取りだす方法も
提案されている。しかし、実用に際しては、照度や照明
設備の異常判断などの問題があり、これらの問題を解決
しなければ、監視装置だけによる連続的に監視を行なう
無人監視装置の実用に供し得ない。
96号公報に記載されているように、光電変換装置を用
いてフロックの形状に応じた電気信号を取りだす方法も
提案されている。しかし、実用に際しては、照度や照明
設備の異常判断などの問題があり、これらの問題を解決
しなければ、監視装置だけによる連続的に監視を行なう
無人監視装置の実用に供し得ない。
本発明の目的はフロック群の粒径や分布などを客観的か
つ連続的に計測するのを信頼性高く実現できる安価な上
水フロック画1象認識装置を提供することにある。
つ連続的に計測するのを信頼性高く実現できる安価な上
水フロック画1象認識装置を提供することにある。
本発明の特徴はフロック群の認識精度を高めるためにテ
レビカメラの対向位置に設けられるパックスクリーンに
チェックポイントを備えたチェックパターン全役けるこ
とによって照明装置関係の異常を画像処理装置だけによ
って検出できるようにしたことにある。
レビカメラの対向位置に設けられるパックスクリーンに
チェックポイントを備えたチェックパターン全役けるこ
とによって照明装置関係の異常を画像処理装置だけによ
って検出できるようにしたことにある。
第2図は浄水場のフロック形成池の構成図である。第2
図において、10はフロック形成池、11は攪拌用パド
ル、12はフロック、13は整流壁である。フロック形
成池10の前段にある、図示しない急速混和池から流入
した微小フロック群は、フロック形成池10内において
、攪拌用バドル11によって攪拌されることにより、フ
ロック12同志が衝突し合って凝集する。すなわち、フ
ロックの粒径が増加する。通常、フロック形成池10は
3つの池で構成され、各々済流壁13で仕切られる。フ
ロック12は3つの池f、通過する間に、次第に粒径が
増加する。
図において、10はフロック形成池、11は攪拌用パド
ル、12はフロック、13は整流壁である。フロック形
成池10の前段にある、図示しない急速混和池から流入
した微小フロック群は、フロック形成池10内において
、攪拌用バドル11によって攪拌されることにより、フ
ロック12同志が衝突し合って凝集する。すなわち、フ
ロックの粒径が増加する。通常、フロック形成池10は
3つの池で構成され、各々済流壁13で仕切られる。フ
ロック12は3つの池f、通過する間に、次第に粒径が
増加する。
第1図にフロック形成池10内にお1ハてフロック群の
画像認識を行う本発明の一実施例を示す。
画像認識を行う本発明の一実施例を示す。
第1図において、20は気密容器、21は観察窓、22
はワイパー、23tiワイパー駆動装置、24はパック
スクリーン、24A及び24Bはバックスクリーン固定
具、25A、25B、25Cはそれぞれじゃま板、30
は工業用テレビカメラ(ITv)、31は接写レンズ、
4oは照明装置、32はITVコントローラー、41は
照明装置コントローラー、42は遮光カバー、5oは画
像認識装置、60は画像認識制御装置である。
はワイパー、23tiワイパー駆動装置、24はパック
スクリーン、24A及び24Bはバックスクリーン固定
具、25A、25B、25Cはそれぞれじゃま板、30
は工業用テレビカメラ(ITv)、31は接写レンズ、
4oは照明装置、32はITVコントローラー、41は
照明装置コントローラー、42は遮光カバー、5oは画
像認識装置、60は画像認識制御装置である。
このような上水フロック画像認識装置はフロック形成の
最終的な度合を監視することが目的である場せには沈殿
池前段、すなわち、7c!ツク形成池10の3池目の出
口付近に配置される。またフロック形成の過程を監視す
る場合にはフロック形成池1oの1池目または2池目に
設置する。
最終的な度合を監視することが目的である場せには沈殿
池前段、すなわち、7c!ツク形成池10の3池目の出
口付近に配置される。またフロック形成の過程を監視す
る場合にはフロック形成池1oの1池目または2池目に
設置する。
第1図の構成を更に詳細に説明する。
気密容器20内に固定された1TV30は接写レンズ3
1によシ、ガラスなどの透明材料で作られた観察窓21
を通してフロック形成池lo内にあるフロック12の画
像を拡大認識する。ワイパー22は観察窓21表面の汚
れを収るために定期的に動作する。
1によシ、ガラスなどの透明材料で作られた観察窓21
を通してフロック形成池lo内にあるフロック12の画
像を拡大認識する。ワイパー22は観察窓21表面の汚
れを収るために定期的に動作する。
また、パックスクリーン24は次のようにして設置され
る。フロック群を高いコントラストで精度良く認識する
ために1気密容器2oにバックスクリーン固定具24A
及び24Bを介して、パックスクリーン24を観察窓2
10対向面に設置する。パックスクリーン24はフロッ
ク120色が白色系であること七考慮して、フロック群
を高いコントラストで精度良く認識するために黒色系に
することが望ましい。
る。フロック群を高いコントラストで精度良く認識する
ために1気密容器2oにバックスクリーン固定具24A
及び24Bを介して、パックスクリーン24を観察窓2
10対向面に設置する。パックスクリーン24はフロッ
ク120色が白色系であること七考慮して、フロック群
を高いコントラストで精度良く認識するために黒色系に
することが望ましい。
次に、照明装[40及び遮光カバー42について説明す
る。フロック形成池10はフロックを常時監視する目的
で大気解放されている。このため、フロック形成池10
に入射する光の量は時間の経過と共に変化し、また天候
の影4−を強く受ける。
る。フロック形成池10はフロックを常時監視する目的
で大気解放されている。このため、フロック形成池10
に入射する光の量は時間の経過と共に変化し、また天候
の影4−を強く受ける。
フロックを常時監視するために通常照明装置40が設置
される。維持管理者の視覚に内存した単なる監視を目的
とする場合には、照明装ff140の設置だけで充分で
あシ、また照明装置40の設置はフロック形成池10の
上でよい。
される。維持管理者の視覚に内存した単なる監視を目的
とする場合には、照明装ff140の設置だけで充分で
あシ、また照明装置40の設置はフロック形成池10の
上でよい。
しかし、たとえ照明装置t40を設置したとしても、周
囲の照度変化は、フロック群の画像認Rnt度に強く影
響する。たとえば、照度が低ければフロックを小さく認
識してしまい、逆に、照度が高ければフロックを大きく
認識してしまう。この影響を取シ除くためには、自然現
象としての照度変化に左右されないようにすることが必
要である。
囲の照度変化は、フロック群の画像認Rnt度に強く影
響する。たとえば、照度が低ければフロックを小さく認
識してしまい、逆に、照度が高ければフロックを大きく
認識してしまう。この影響を取シ除くためには、自然現
象としての照度変化に左右されないようにすることが必
要である。
本災施例では、遮光カバー42を設け、周囲を暗くして
、照明装置40のみによる一定条件の照度とする。
、照明装置40のみによる一定条件の照度とする。
次にI’f’V30によシ、取シ込まれたフロック画1
M!情報を処理する画1戚認a装置50の洋書について
説明する。
M!情報を処理する画1戚認a装置50の洋書について
説明する。
第4図に画像処理装置50の詳細を示す。画像処理装置
1t、50はI’l:’V30から得らルた画1ボ情報
によって水質管理に役立つ情4を抽出するために、フロ
ック群の粒径や分布など、イI々の演算を実施する。
1t、50はI’l:’V30から得らルた画1ボ情報
によって水質管理に役立つ情4を抽出するために、フロ
ック群の粒径や分布など、イI々の演算を実施する。
第4図に2いて、100は認識タイミング制御回路、1
01はA/D変換回路、102は閾値入力回路、103
は2値化回路、104はラベリング回路、105は粒径
演算モード指定回路、106は粒径計測回路、107は
粒径比較回路、108A。
01はA/D変換回路、102は閾値入力回路、103
は2値化回路、104はラベリング回路、105は粒径
演算モード指定回路、106は粒径計測回路、107は
粒径比較回路、108A。
108B、108C,・・・・・・、108Zは缶々個
数記憶回路、109は認識回数制御回路、110は粒径
分布演算表示回路である。
数記憶回路、109は認識回数制御回路、110は粒径
分布演算表示回路である。
第5図にITV30によシ認識されたフロック群の画像
面を示す。フロック群は濃淡画像であるので、実際には
フロック12と水との境界は明確ではないが、簡単のた
め、フロック群の輪郭のみ図示した。フロック群の輝度
レベルは高く白色で、一方、背景にバックスクリーン2
4が配置されているので、水の輝度レベルは低く黒色で
ある。
面を示す。フロック群は濃淡画像であるので、実際には
フロック12と水との境界は明確ではないが、簡単のた
め、フロック群の輪郭のみ図示した。フロック群の輝度
レベルは高く白色で、一方、背景にバックスクリーン2
4が配置されているので、水の輝度レベルは低く黒色で
ある。
第4図においてi!!!識タイミング制御回路100は
、第1図に示すITV30とITVコントローラー32
を介して得られたフロック画像を認識し、画像情報を取
シ込む時間間隔(周波数)を制御する。取シ込む時間間
隔は、前回ITV30によって取シ込まれたフロックが
処理範囲外に移動するのに十分な時間であればよい。次
に、A/D変換回路101は、得ら扛た輝度情報のアナ
ログ信号、例えば第5図の画面信号を受けて、該信号を
逐一デジタル信号に変換する。変換されたデジタル信号
は、閾値入力回路102で指定される閾値に基づいて、
2値化回路103において2値化される。
、第1図に示すITV30とITVコントローラー32
を介して得られたフロック画像を認識し、画像情報を取
シ込む時間間隔(周波数)を制御する。取シ込む時間間
隔は、前回ITV30によって取シ込まれたフロックが
処理範囲外に移動するのに十分な時間であればよい。次
に、A/D変換回路101は、得ら扛た輝度情報のアナ
ログ信号、例えば第5図の画面信号を受けて、該信号を
逐一デジタル信号に変換する。変換されたデジタル信号
は、閾値入力回路102で指定される閾値に基づいて、
2値化回路103において2値化される。
例えば、第5図の画面において、AA’線で走査して輝
度レベルの分布を表示した場合を第6図に示す。ここで
輝度レベルは8ビツト(256段階)で表示されておシ
、縦軸の上方向が輝度が低く、下方向が輝度が高い。フ
ロック12は白系なので輝度が高くなる。すなわち、下
方に谷となる部分がフロックを表す。
度レベルの分布を表示した場合を第6図に示す。ここで
輝度レベルは8ビツト(256段階)で表示されておシ
、縦軸の上方向が輝度が低く、下方向が輝度が高い。フ
ロック12は白系なので輝度が高くなる。すなわち、下
方に谷となる部分がフロックを表す。
この輝度分布において、閾値入力回路102で、 指定
される閾値、例えば、BB′線で指定される輝度に基づ
いて、各画素が2値化回路103で2値化処理される。
される閾値、例えば、BB′線で指定される輝度に基づ
いて、各画素が2値化回路103で2値化処理される。
閾値入力回路102で指定する閾値は、一定照度下では
一定に維持するが、オペレータも操作可能である。
一定に維持するが、オペレータも操作可能である。
2値化回路103では、閾値よりも高い輝度レベルにあ
る画素を′1”レベルとし、一方、所定値以上の輝度レ
ベルにある画素を“0″レベルとする。第7図に示すよ
うに、フロックに対応する部分が″1′″レベルとなシ
、水に対応する部分が@θ″レベルとなる。
る画素を′1”レベルとし、一方、所定値以上の輝度レ
ベルにある画素を“0″レベルとする。第7図に示すよ
うに、フロックに対応する部分が″1′″レベルとなシ
、水に対応する部分が@θ″レベルとなる。
このようにして、フロックの認識を実施した結果の例を
第8図に示す。
第8図に示す。
フロックが認識されたら、次にフロックの代表粒径を演
算するが、その前に各フロックにナンノ(−を付ける。
算するが、その前に各フロックにナンノ(−を付ける。
すなわち、ラベリング回路104ではフロックを一つず
つ独立に認識し、各フロックにナンバーを付ける。そし
て、そのナンノ(−順に各フロックを粒径計測回路10
6において代表粒径を計算する。
つ独立に認識し、各フロックにナンバーを付ける。そし
て、そのナンノ(−順に各フロックを粒径計測回路10
6において代表粒径を計算する。
代表粒径としては、定方向径DCS最大径Dmaxs最
小径Dmins面積円等価径Dcir及び等価周辺長径
Delなどがある。粒径演算モード指定回路105では
これらの代表粒径の中から採用する代表粒径を指定する
。このようにして、指定された代表粒径の基準に沿って
、各々のフロック毎に七の粒径を演算する。粒径比較回
路107では各々のフロックの粒径を比較して、各粒径
を持つフロックの個数を該当する記憶場所、すなわち、
個数記憶回路108A、108B、108C。
小径Dmins面積円等価径Dcir及び等価周辺長径
Delなどがある。粒径演算モード指定回路105では
これらの代表粒径の中から採用する代表粒径を指定する
。このようにして、指定された代表粒径の基準に沿って
、各々のフロック毎に七の粒径を演算する。粒径比較回
路107では各々のフロックの粒径を比較して、各粒径
を持つフロックの個数を該当する記憶場所、すなわち、
個数記憶回路108A、108B、108C。
・・・・・・108zにそれらの個数を記憶する。フロ
ックの画像は2値化されているので、粒径を計測する最
小単位は1画素である。したがって、各粒径に対応する
フロックの個数tl−Niとすると、例えば、個数記憶
回路108人は粒径が画素1個に相当するフロックの個
数N1が記憶され、個数記憶回路108Bは粒径が画素
2個に相当するフロックの個数N2が記憶される。
ックの画像は2値化されているので、粒径を計測する最
小単位は1画素である。したがって、各粒径に対応する
フロックの個数tl−Niとすると、例えば、個数記憶
回路108人は粒径が画素1個に相当するフロックの個
数N1が記憶され、個数記憶回路108Bは粒径が画素
2個に相当するフロックの個数N2が記憶される。
ところで、フロックの粒径分布を精度良く求めるには、
複数回画面t−取シ込んで多くの情報から粒径分布を求
めた方が良い。認識回数制御回路109はフロック画像
を認識する回数が指定されており、認識回数未満の場合
には認識タイミング制御回路100に戻る。認識タイミ
ング制御回路は指定されたタイミングで画像を取υ込み
これまで説明した動作を繰返して、フロックの粒径を計
算し、各々のフロックの個数を個数記憶回路108A、
108B、108C,・・・・・・108Zに記憶する
。一方、認識回数制御回路109で指定された回数にな
ったら、粒径分布演算表示回路110では個数記憶回路
108A、108B。
複数回画面t−取シ込んで多くの情報から粒径分布を求
めた方が良い。認識回数制御回路109はフロック画像
を認識する回数が指定されており、認識回数未満の場合
には認識タイミング制御回路100に戻る。認識タイミ
ング制御回路は指定されたタイミングで画像を取υ込み
これまで説明した動作を繰返して、フロックの粒径を計
算し、各々のフロックの個数を個数記憶回路108A、
108B、108C,・・・・・・108Zに記憶する
。一方、認識回数制御回路109で指定された回数にな
ったら、粒径分布演算表示回路110では個数記憶回路
108A、108B。
1080、・山・・1oszO値に基づいて各々の粒径
に対する個数濃度分布を演算し結果を出力する。
に対する個数濃度分布を演算し結果を出力する。
次に照明設備の異常検出について説明する。照明設備の
異常としては、照明電源の電源断、断線、ランプ切れ、
ランプ自体に照明をさえぎるものが付着した場合などが
考えられる。
異常としては、照明電源の電源断、断線、ランプ切れ、
ランプ自体に照明をさえぎるものが付着した場合などが
考えられる。
まず、説明を簡単にする為に、遮光六I<−42を設け
、周囲を暗くして照明装置40のみによる一定条件の照
度とする。異常が発生した場合、照度が無くなる為IT
V30より*υ込まれた画イ象情報は、全体が黒と判断
される。つ*、り2値化回路103により処理された画
像情報は第9図の様になる。一方照明装置が正常であっ
てもI’I’V30の取り込んだ画像情報の中に1画素
で認識できる大きさよシ大きいフロックが存在していな
d−りた場合も画像情報は、全体が黒と判断される。
、周囲を暗くして照明装置40のみによる一定条件の照
度とする。異常が発生した場合、照度が無くなる為IT
V30より*υ込まれた画イ象情報は、全体が黒と判断
される。つ*、り2値化回路103により処理された画
像情報は第9図の様になる。一方照明装置が正常であっ
てもI’I’V30の取り込んだ画像情報の中に1画素
で認識できる大きさよシ大きいフロックが存在していな
d−りた場合も画像情報は、全体が黒と判断される。
この為2値化回路103によって処理された画1象情報
は第9図の様になる。なぜなら、フロック12の色が白
色系であることを考慮して、フロック群を高いコントラ
ストで精度良く認識するために黒色系にしている為であ
る。
は第9図の様になる。なぜなら、フロック12の色が白
色系であることを考慮して、フロック群を高いコントラ
ストで精度良く認識するために黒色系にしている為であ
る。
以上より、全体が黒であるという画像情報だけでは、照
明設備が異常であると判断することは出来ない。本発明
では第3図に示す様なノ(ツクボード24を使用する。
明設備が異常であると判断することは出来ない。本発明
では第3図に示す様なノ(ツクボード24を使用する。
バックボード24の中でITV30から取込まれる画像
情報全体1の中にチェックノくターン2をffケる。チ
ェツクノくターン2は、白系の色で面積は、1画素でI
TV30がM#できる面積以上であれば良い。
情報全体1の中にチェックノくターン2をffケる。チ
ェツクノくターン2は、白系の色で面積は、1画素でI
TV30がM#できる面積以上であれば良い。
第3図の様なチェックノくターン2を備えた)くツクボ
ードを吏用することによって、照明装置Jlf正常でめ
ってITV30の取υ込んだ画像情報の中に1画素で認
識できる大きさより大きいフロックが存在しなかった場
合、画像情報は、全体力を黒と判断されず、チェック/
くターンの部分だけが白と判断される。この為第3図の
様なチェツクノくター/を用いた時2埴化回路103に
よって処理された画像情報は第10図の様になる。しか
し、照明設備が異常である場合は、画像情報は、全体力
(黒と判断される為、2値化回路103によって処理さ
れた画像情報は、第9図の様になることから画像情報全
体が黒であるならば照明設備に異常があるという判断が
出来る。
ードを吏用することによって、照明装置Jlf正常でめ
ってITV30の取υ込んだ画像情報の中に1画素で認
識できる大きさより大きいフロックが存在しなかった場
合、画像情報は、全体力を黒と判断されず、チェック/
くターンの部分だけが白と判断される。この為第3図の
様なチェツクノくター/を用いた時2埴化回路103に
よって処理された画像情報は第10図の様になる。しか
し、照明設備が異常である場合は、画像情報は、全体力
(黒と判断される為、2値化回路103によって処理さ
れた画像情報は、第9図の様になることから画像情報全
体が黒であるならば照明設備に異常があるという判断が
出来る。
出は、画像情報全体が黒であれば異常であると判断でき
る。画像情報全体が黒であるという判断はいろいろある
が一例を示すと画像認識装置50の中の2値化回路の次
段の照明設備異常検出回路3で行われる。照明設備異常
検出回路3ではラベリ 。
る。画像情報全体が黒であるという判断はいろいろある
が一例を示すと画像認識装置50の中の2値化回路の次
段の照明設備異常検出回路3で行われる。照明設備異常
検出回路3ではラベリ 。
ング回路104と同様に各フロックにナンバーを付はフ
ロックの個数Nを抽出する。ここでは、チェックパター
ン2もフロックとしてラベリングを行なう。ラベリング
の結果フロックの個数Nt−零と判断したときは、照明
設備が異常であると判断し、警報出力判断回路4へ処理
が移る。もしラベリングの結果フロックの個数Nが1以
上の場合は、照明設備が正常であると判断し、ラベリン
グ回路104へ処理が移る。ただしラベリング回路10
4においては、チェックパターン20部分をラベリング
の対象から除いて処理を行なう。
ロックの個数Nを抽出する。ここでは、チェックパター
ン2もフロックとしてラベリングを行なう。ラベリング
の結果フロックの個数Nt−零と判断したときは、照明
設備が異常であると判断し、警報出力判断回路4へ処理
が移る。もしラベリングの結果フロックの個数Nが1以
上の場合は、照明設備が正常であると判断し、ラベリン
グ回路104へ処理が移る。ただしラベリング回路10
4においては、チェックパターン20部分をラベリング
の対象から除いて処理を行なう。
照明設備異常検出回路3の1回だけの異常検出で処理を
終了するのは誤検出する慣れがある。例えば、チェック
パターン2に黒い物体が重なった441ム噂l+開1日
めl厳肯蓚ハ思告l信眉餅 肝誼 →ンブ切れなど)で
ない場合が考えられる。この為にワイパーなどを動作さ
せてから画像を取り込み新しい画1象情報で再判断する
必要がある。警報出力判断回路4は異常検出回数を記憶
しりトライ回数設定値を越えた場合は異常警報出力回路
5に処理を移す。リトライ回数設定値以内であればワイ
ぢン、叫駆動回路6に処理を移し、ワイノ(−駆動回路
は、ワイパー駆動装置23によりワイノ<−22を動作
させる。ここでは図示しなかった力;照明装置にワイパ
ーを取り付は動作させる。その後処理を認識タイミング
制御回路100に移し新しい画像を取り込み前記の処理
を行なう。以上説明した異常処理のフローを第11図に
示す。
終了するのは誤検出する慣れがある。例えば、チェック
パターン2に黒い物体が重なった441ム噂l+開1日
めl厳肯蓚ハ思告l信眉餅 肝誼 →ンブ切れなど)で
ない場合が考えられる。この為にワイパーなどを動作さ
せてから画像を取り込み新しい画1象情報で再判断する
必要がある。警報出力判断回路4は異常検出回数を記憶
しりトライ回数設定値を越えた場合は異常警報出力回路
5に処理を移す。リトライ回数設定値以内であればワイ
ぢン、叫駆動回路6に処理を移し、ワイノ(−駆動回路
は、ワイパー駆動装置23によりワイノ<−22を動作
させる。ここでは図示しなかった力;照明装置にワイパ
ーを取り付は動作させる。その後処理を認識タイミング
制御回路100に移し新しい画像を取り込み前記の処理
を行なう。以上説明した異常処理のフローを第11図に
示す。
なお、照明設備の異常検出の説明を簡単にする為に遮光
カバー42を設け、周囲を暗くして、照明装置40のみ
による一定条件の照度で説明したが、遮光カバー42を
設けなくて外部の光の影響がある場合でも、照明設備が
正常な場合と異常な場合では、ITv30から取込まれ
るチェツクノくターン20部分の輝度レベルに差がある
ことは当。
カバー42を設け、周囲を暗くして、照明装置40のみ
による一定条件の照度で説明したが、遮光カバー42を
設けなくて外部の光の影響がある場合でも、照明設備が
正常な場合と異常な場合では、ITv30から取込まれ
るチェツクノくターン20部分の輝度レベルに差がある
ことは当。
然のことである。閾値入力回路102よυ適切な閾値を
設定することによシ照明設備が異常な場合チェックパタ
ーン20部分子: 2 (fi化回路103で取り除く
ことが出来る。つまシ2値化回路103で2値化された
画像情報は第9図の様になる。この2値情報を元にすれ
ば、外部の光の影4を受けても照明設備異常検出回路3
で異常を検出することが可能である。
設定することによシ照明設備が異常な場合チェックパタ
ーン20部分子: 2 (fi化回路103で取り除く
ことが出来る。つまシ2値化回路103で2値化された
画像情報は第9図の様になる。この2値情報を元にすれ
ば、外部の光の影4を受けても照明設備異常検出回路3
で異常を検出することが可能である。
以上説明したように本発明によれば画像処理装置の照明
設備の異常を検出する為の専用設備を設けることなくし
て異常を検出できるので安価な装置t−提供できると伴
にすみやかに異常処理が行なえ信頼性の高い画像処理が
行なえ無人での連続的な処理を可能となる。
設備の異常を検出する為の専用設備を設けることなくし
て異常を検出できるので安価な装置t−提供できると伴
にすみやかに異常処理が行なえ信頼性の高い画像処理が
行なえ無人での連続的な処理を可能となる。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は浄水
場のフロック形成池の構成図、第3図はチェックパター
ン付きバックボードの斜視図、第4図は第1図における
画像処理装置の詳細構成図、第5〜7図は信号処理過程
を示す波形図、第8図は本発明を実施して得られた2値
画像図、第9図は異常時における2値画像図、第10図
は正常時における2値画像図、@11図は本発明の異常
処理70−図である。 2・・・チェックパターン、3・・・照明設備異常検出
回路、4・・・清報出力判断回路、5・・・異常j報出
力回路、6・・・ワイパー駆動回路、10・・・フロッ
ク形成池、11・・・・攪拌用パドル、12・・・フロ
ック、20・・・気密容器、21・・・観察窓、24・
・・バックスクリーン、25A、25B、25C・・・
じゃま板、30・・・工業用テレビカメラ、40・・・
照明装置、42・・・遮光カバー、50・・・画像認識
装置、60・・・画像認識制御装置、100・・・認識
タイミング制御回路、101・・・A/D変換回路、1
02・・・閾値入力回路、103・・・2値化回路、1
04・・・ラベリング回路、105・・・粒径演算モー
ド指定回路、106・・・粒径計測回路、107・・・
粒径比較回路、108A。 108B、108C,・・・・・・108Z・・・各々
個数記憶回路、109・・・認識回数制御回路、11o
・・・粒径分布演算表示回路、200,201・・・2
値画像、203・・・チェックパターン。
場のフロック形成池の構成図、第3図はチェックパター
ン付きバックボードの斜視図、第4図は第1図における
画像処理装置の詳細構成図、第5〜7図は信号処理過程
を示す波形図、第8図は本発明を実施して得られた2値
画像図、第9図は異常時における2値画像図、第10図
は正常時における2値画像図、@11図は本発明の異常
処理70−図である。 2・・・チェックパターン、3・・・照明設備異常検出
回路、4・・・清報出力判断回路、5・・・異常j報出
力回路、6・・・ワイパー駆動回路、10・・・フロッ
ク形成池、11・・・・攪拌用パドル、12・・・フロ
ック、20・・・気密容器、21・・・観察窓、24・
・・バックスクリーン、25A、25B、25C・・・
じゃま板、30・・・工業用テレビカメラ、40・・・
照明装置、42・・・遮光カバー、50・・・画像認識
装置、60・・・画像認識制御装置、100・・・認識
タイミング制御回路、101・・・A/D変換回路、1
02・・・閾値入力回路、103・・・2値化回路、1
04・・・ラベリング回路、105・・・粒径演算モー
ド指定回路、106・・・粒径計測回路、107・・・
粒径比較回路、108A。 108B、108C,・・・・・・108Z・・・各々
個数記憶回路、109・・・認識回数制御回路、11o
・・・粒径分布演算表示回路、200,201・・・2
値画像、203・・・チェックパターン。
Claims (1)
- 1、浄水場のフロック形成池内におけるフロック群に光
を照射する照明装置と、該照明装置により光を受けたフ
ロック群をテレビカメラで撮像した画像情報を光電変換
し画像処理する画像認識装置と、前記テレビカメラと対
向配置されるバックスクリーンとを具備し、該バックス
クリーンにチェックパターンを設けたことを特徴とする
上水フロック画像認識装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9084885A JPS61250540A (ja) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | 上水フロツク画像認識装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9084885A JPS61250540A (ja) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | 上水フロツク画像認識装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61250540A true JPS61250540A (ja) | 1986-11-07 |
Family
ID=14009999
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9084885A Pending JPS61250540A (ja) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | 上水フロツク画像認識装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61250540A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1024283A (ja) * | 1996-07-10 | 1998-01-27 | Meidensha Corp | ろ過障害微生物監視装置 |
-
1985
- 1985-04-30 JP JP9084885A patent/JPS61250540A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1024283A (ja) * | 1996-07-10 | 1998-01-27 | Meidensha Corp | ろ過障害微生物監視装置 |
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