JPS61258559A - 読取位置測定方式 - Google Patents
読取位置測定方式Info
- Publication number
- JPS61258559A JPS61258559A JP60100217A JP10021785A JPS61258559A JP S61258559 A JPS61258559 A JP S61258559A JP 60100217 A JP60100217 A JP 60100217A JP 10021785 A JP10021785 A JP 10021785A JP S61258559 A JPS61258559 A JP S61258559A
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- Japan
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- line
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
原稿送り方向（副走査方向）に対する読取センサ（ＣＯ
Ｄ）の読取位置を測定する方式であって、ＣＯＤを構成
する画素の長さの整数倍よりわずかにはずれた線幅を持
った複数本の黒線が、原稿面上の読取ラインのピッチの
整数倍よりわずかにはずれた線間隔を持って平行に描か
れて形成された平行パターンを副走査方向と垂直な方向
（主走査方向）に原稿面に配設した後、原稿を副走査方
向に、ＣＯＤの副走査方向の画素長ずつ移動させながら
、ＣＣＤ中のある注目した画素が前記平行パターン中の
黒線と極めて良く一致している状態を検出し、一致を検
出したときの原稿の位置から注目画素の副走査方向の読
取位置を測定する。
Ｄ）の読取位置を測定する方式であって、ＣＯＤを構成
する画素の長さの整数倍よりわずかにはずれた線幅を持
った複数本の黒線が、原稿面上の読取ラインのピッチの
整数倍よりわずかにはずれた線間隔を持って平行に描か
れて形成された平行パターンを副走査方向と垂直な方向
（主走査方向）に原稿面に配設した後、原稿を副走査方
向に、ＣＯＤの副走査方向の画素長ずつ移動させながら
、ＣＣＤ中のある注目した画素が前記平行パターン中の
黒線と極めて良く一致している状態を検出し、一致を検
出したときの原稿の位置から注目画素の副走査方向の読
取位置を測定する。
平行パターンを用いた測定方法により、画素長より細か
い分解能で高精度に測定可能としている。
い分解能で高精度に測定可能としている。
本発明はファクシミリ等に用いられる画像読取装置のＣ
ＣＤの読取位置測定方式に関し、特に副走査方向におｉ
−するＣＣＤの読取位置が高精度に得られるように改良
された読取位置測定方式に関するものである。
ＣＤの読取位置測定方式に関し、特に副走査方向におｉ
−するＣＣＤの読取位置が高精度に得られるように改良
された読取位置測定方式に関するものである。
一般にファクシミリなどの読取装置においては原稿を正
確に高精度で読取るためには副走査方向におりる目標読
取ラインとＣＣＤ面とを光学的に合致させる必要がある
。特に、読取りの高速、高解像度化のために原稿を複数
のＣＣＤで分割して読取る分割読取光学系や複数のＣＯ
Ｄで原稿の同一領域を読取るカラー；’ｊｔ取光常光学
系においてはＣＣＤの読取位置を１７４画素以上の精度
で合わせる必要がある。
確に高精度で読取るためには副走査方向におりる目標読
取ラインとＣＣＤ面とを光学的に合致させる必要がある
。特に、読取りの高速、高解像度化のために原稿を複数
のＣＣＤで分割して読取る分割読取光学系や複数のＣＯ
Ｄで原稿の同一領域を読取るカラー；’ｊｔ取光常光学
系においてはＣＣＤの読取位置を１７４画素以上の精度
で合わせる必要がある。
そこで、副走査方向の目標読取ラインに対して・ ＣＣ
Ｄの読取位置を高精度に設定するためのＣＣＤの読取位
置の測定精度の向上が要望されていた。
Ｄの読取位置を高精度に設定するためのＣＣＤの読取位
置の測定精度の向上が要望されていた。
第６図は従来の読取位置測定方式の模式図を示第６図に
示すように、従来の副走査方向のＣＣＤの読取位置を求
める方法として、細線パターン２を原稿１面上に副走査
方向に垂直に、かつ、目標位置（ＣＣＤ３の設定位置が
設計値どおりの位置に設定されている場合にＣＣＤ５上
に結像する位置）に配置する。
示すように、従来の副走査方向のＣＣＤの読取位置を求
める方法として、細線パターン２を原稿１面上に副走査
方向に垂直に、かつ、目標位置（ＣＣＤ３の設定位置が
設計値どおりの位置に設定されている場合にＣＣＤ５上
に結像する位置）に配置する。
この原稿１を副走査方向に微少量ずつ移動させなからＣ
ＣＤ３のある注目した画素７の読取出力を調べ、細線パ
ターン２を読取ったときの原稿の位置と、元の読取位置
４との差Ａからその画素の読取位置を求めている。
ＣＤ３のある注目した画素７の読取出力を調べ、細線パ
ターン２を読取ったときの原稿の位置と、元の読取位置
４との差Ａからその画素の読取位置を求めている。
この従来の測定方式では、読取位置を高精度に求めよう
とすればするほど原稿の移動を微少にしていく必要があ
る。例えば±１７１０画素の精度で読取位置を求めよう
とすれば一般に１μｍ前後のステップで正確に移動させ
なげればならず、高精度な移動機構が必要となる。
とすればするほど原稿の移動を微少にしていく必要があ
る。例えば±１７１０画素の精度で読取位置を求めよう
とすれば一般に１μｍ前後のステップで正確に移動させ
なげればならず、高精度な移動機構が必要となる。
また、−回に原稿を移動させる量が小さくなるとそれだ
け一回の測定に必要な移動回数が増え、測定に時間がか
かるという欠点が弗る。
け一回の測定に必要な移動回数が増え、測定に時間がか
かるという欠点が弗る。
本発明はこのような点にかんがみて創作されたもので、
簡易な構成でＣＯＤの副走査方向の読取位置を読取画素
より細かい分解能で高精度に測定することができる読取
位置測定方式を提供することにある。
簡易な構成でＣＯＤの副走査方向の読取位置を読取画素
より細かい分解能で高精度に測定することができる読取
位置測定方式を提供することにある。
第１図は本発明の一実施例の読取位置４り定力式の模式
図を示す。
図を示す。
第１図におりる読取位置測定方式は、ＣＣＤを構成する
画素の長さの整数倍よりわずかにはずれた線幅Ｗを持っ
た複数本５１〜５ｎの黒線を原稿面上、の読取ラインの
ピッチの整数倍よりわずかにはずれた線間隔Ｃを持って
平行に配列した平行パターン５と、平行パターン５の黒
線が主走査方向に平行になるように配設され、副走査方
向に移動する原稿１と、前記黒線をＣＣＤ３面に結像す
るレンズ６と、レンズ６によって結像された黒線を等ピ
ッチでライン状に配列された画素で読取るＣＣＤ３とよ
り構成されている。
画素の長さの整数倍よりわずかにはずれた線幅Ｗを持っ
た複数本５１〜５ｎの黒線を原稿面上、の読取ラインの
ピッチの整数倍よりわずかにはずれた線間隔Ｃを持って
平行に配列した平行パターン５と、平行パターン５の黒
線が主走査方向に平行になるように配設され、副走査方
向に移動する原稿１と、前記黒線をＣＣＤ３面に結像す
るレンズ６と、レンズ６によって結像された黒線を等ピ
ッチでライン状に配列された画素で読取るＣＣＤ３とよ
り構成されている。
原稿１を副走査方向にＣＣＤ３の副走査方向の読取画素
長ずつ移動させる。原稿１の移動にともなって、平行パ
ターン５の各黒線の間隔が読取画素長さの整数倍以外の
平行パターンを読取ったときに生しる読取出力の変化が
平行パターン中の各黒線と画素の読取位置との位置関係
に基づくものであることを利用し、第２図ｆａｌ 、
（ｂ）に示すように、ある注目した画素７の読取出力を
調べることで、画素７が黒線９と極めて良く一致してい
る状態を検出し、その時の平行パターン５の位置から画
素７の読取位置を高精度に求めている。
長ずつ移動させる。原稿１の移動にともなって、平行パ
ターン５の各黒線の間隔が読取画素長さの整数倍以外の
平行パターンを読取ったときに生しる読取出力の変化が
平行パターン中の各黒線と画素の読取位置との位置関係
に基づくものであることを利用し、第２図ｆａｌ 、
（ｂ）に示すように、ある注目した画素７の読取出力を
調べることで、画素７が黒線９と極めて良く一致してい
る状態を検出し、その時の平行パターン５の位置から画
素７の読取位置を高精度に求めている。
第１図において、原稿１面に配置した平行パターン５は
写真法、印刷法などによって作成する。
写真法、印刷法などによって作成する。
平行パターン５の黒線５１〜５ｎの間隔ＣはＣ（：、
Ｉ）３の副走査方向の読取画素長の整数倍よりわずかに
ずれた値とする。本実施例では３倍強となっている。平
行パターン５は原稿移動量がＯの時、パターンの端から
何木目かの黒線の位置が読取位置の基準位置（原点）に
なるように配置する。本実施例ではＮ本Ｌ１の黒線の位
置が基準位置であるとし、その黒線をＮとする。
Ｉ）３の副走査方向の読取画素長の整数倍よりわずかに
ずれた値とする。本実施例では３倍強となっている。平
行パターン５は原稿移動量がＯの時、パターンの端から
何木目かの黒線の位置が読取位置の基準位置（原点）に
なるように配置する。本実施例ではＮ本Ｌ１の黒線の位
置が基準位置であるとし、その黒線をＮとする。
第２図（ａｌ、 （ｈｌに示すように、平行パターン５
ｒ１１の各黒線９の位置は線長方向の中心線１０で、ま
た画素８の読取位置はその画素の中央位置で示している
。ＣＣＤ３の副走査方向の読取位置はＣＣＤ３中の特定
の注Ｌ１画素７からのずれ量で示す。
ｒ１１の各黒線９の位置は線長方向の中心線１０で、ま
た画素８の読取位置はその画素の中央位置で示している
。ＣＣＤ３の副走査方向の読取位置はＣＣＤ３中の特定
の注Ｌ１画素７からのずれ量で示す。
本実施例のベリ定手順を第３図および第４図（ａ）。
ｆｂｌに示す読取位置測定方法の模式図を参照して説明
する。
する。
読取位置測定は、第３図に示すように、原稿１上の平行
パターン５をレンズ６を介してＣＣＤ３が読取っている
とする。第３図に示ずａは現在ＣＣＤ３の注口画素が平
行パターンの下側を検出していることを示すパターン図
である。
パターン５をレンズ６を介してＣＣＤ３が読取っている
とする。第３図に示ずａは現在ＣＣＤ３の注口画素が平
行パターンの下側を検出していることを示すパターン図
である。
次に、第４図（ａｌに示すように原稿１を注目画素７が
平行パターンを読取っていくように、矢印で示す副走査
方向に読取画素長さずつ移動させる。
平行パターンを読取っていくように、矢印で示す副走査
方向に読取画素長さずつ移動させる。
原稿１の移動にともなって、第４図（ｂ）に示すように
、順次ＣＣＤ３中の注目画素７の読取出力を注目画素７
が平行パターン５中の黒線と極めて良く一致するまで調
べ、そのときの原稿１の移動量ｄを記憶する。
、順次ＣＣＤ３中の注目画素７の読取出力を注目画素７
が平行パターン５中の黒線と極めて良く一致するまで調
べ、そのときの原稿１の移動量ｄを記憶する。
上記の原稿１の移動量ｄより注目画素７が読取っている
黒線が平行パターン５中の何木目の黒線であるかを求め
る。
黒線が平行パターン５中の何木目の黒線であるかを求め
る。
読取位置の基準位置が端からＮ本口の黒線であるとし、
注目画素７が読取っている黒線がＭ木目の黒線であると
すれば、原稿の移動量がｄ、黒線間のピッチがｑのとき
ＣＣＤ３の走査方向の読取位置（基準位置からのずれ）
Ｙは、 Ｙ−（Ｍ−Ｎ） ｑ 十ｄ として求まる。
注目画素７が読取っている黒線がＭ木目の黒線であると
すれば、原稿の移動量がｄ、黒線間のピッチがｑのとき
ＣＣＤ３の走査方向の読取位置（基準位置からのずれ）
Ｙは、 Ｙ−（Ｍ−Ｎ） ｑ 十ｄ として求まる。
本発明によって副走査方向の読取位置を測定する場合の
測定分解能は副走査方向の読取画素長さＰと平行パター
ン中の黒線間の間隔Ｃの比の小数部分で決まり、次式で
表わせる。
測定分解能は副走査方向の読取画素長さＰと平行パター
ン中の黒線間の間隔Ｃの比の小数部分で決まり、次式で
表わせる。
測定分解能−ｃ／Ｐ−Ｎ （画素）
但し、Ｎはｃ ／ Ｐに最も近い整数
本測定により、位置精度は±１７１０画素程度まで容易
に得られる。
に得られる。
第５図は本発明の他の実施例の読取位置測定方式の模式
図を示す。
図を示す。
第５図において、ＣＣＤ３のｍ番目の画素と画素ｍより
適当に離れたｎ番目の画素について本発明によりそれぞ
れ副走査方向の読取位置を測定する。
適当に離れたｎ番目の画素について本発明によりそれぞ
れ副走査方向の読取位置を測定する。
これによって、画素ｍ、ｎの副走査方向の読取位置の差
ｄと画素ｍ、ｎ間の距１１ｔ７！が得られ、こ、れらか
ら次式によってＣＯＤの読取ラインに対する傾きθを高
精度に求めることができる。
ｄと画素ｍ、ｎ間の距１１ｔ７！が得られ、こ、れらか
ら次式によってＣＯＤの読取ラインに対する傾きθを高
精度に求めることができる。
θ−３ｉｎ （ｄ／７り
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、原稿をＣＣＤの副
走査方向の読取画素長ずつ移動させながら注目画素の読
取出力を調べることで、その画素の副走査方向の読取位
置を読取画素長よりも細かい分解能で高精度に測定する
ことができるので、従来同様の精度を得るために必要だ
った高精度微動機構が必要なく、また−回の測定に必要
な原稿移動回数も少なくてすむのでより高速な測定が行
なえる。
走査方向の読取画素長ずつ移動させながら注目画素の読
取出力を調べることで、その画素の副走査方向の読取位
置を読取画素長よりも細かい分解能で高精度に測定する
ことができるので、従来同様の精度を得るために必要だ
った高精度微動機構が必要なく、また−回の測定に必要
な原稿移動回数も少なくてすむのでより高速な測定が行
なえる。
第１図は本発明の一実施例の読取位置測定方式の模式図
、 第２図ＦａＬ （ｂｌは黒縁と画素の読取位置を規定す
る図、 第３図および第４図（ａ）、山）は実施例の読取位置測
定方法を説明するための模式図、 第５図は本発明の他の実施例の読取位置測定方式の模式
図、 第６図は従来の読取位置測定方式の模式図であ乙− 図において、１は原稿、２は細線パターン、３は読取セ
ンサ（ＣＣＤ） 、４は元の読取位置、５は平行パター
ン、５１〜５ｎは黒線、６はレンズ、７は注目画素、８
は画素、９は黒線、１０は黒線の中心線をそれぞれ示し
ている。 第１図 ｙφ泉Ｙ更東の掩１ｚｆｔｒ麦９劉定１月刃第２図 （Ｇ） （ｂ）だ狛渕ｑ詳敦
（Ｉｔ＞刀定オ法を政所を汁め□疾式゛詔第４図 漆発晰トぜ）℃狩づ列の経常（１１置刃′促方六ａ挨式
；凶第５図 第６図
、 第２図ＦａＬ （ｂｌは黒縁と画素の読取位置を規定す
る図、 第３図および第４図（ａ）、山）は実施例の読取位置測
定方法を説明するための模式図、 第５図は本発明の他の実施例の読取位置測定方式の模式
図、 第６図は従来の読取位置測定方式の模式図であ乙− 図において、１は原稿、２は細線パターン、３は読取セ
ンサ（ＣＣＤ） 、４は元の読取位置、５は平行パター
ン、５１〜５ｎは黒線、６はレンズ、７は注目画素、８
は画素、９は黒線、１０は黒線の中心線をそれぞれ示し
ている。 第１図 ｙφ泉Ｙ更東の掩１ｚｆｔｒ麦９劉定１月刃第２図 （Ｇ） （ｂ）だ狛渕ｑ詳敦
（Ｉｔ＞刀定オ法を政所を汁め□疾式゛詔第４図 漆発晰トぜ）℃狩づ列の経常（１１置刃′促方六ａ挨式
；凶第５図 第６図
Claims (1)
- 等ピッチでライン状に配列された多数の画素を備えた読
取センサ（３）で原稿（１）面の読取ラインの画像情報
を読取る画像読取装置において、前記画素の幅の整数倍
よりわずかにはずれた線幅を持った複数本の線と、該複
数本の線中に前記読取センサ（３）の正規の位置を規定
する基準線を設け、前記複数本の線を前記読取ラインの
ピッチの整数倍よりわずかにはずれた線間隔を持って平
行に描いた平行パターン（５）を形成し、前記平行パタ
ーン（５）を前記原稿（１）の送り方向（副走査方向）
に垂直に原稿面に配設し、前記原稿（１）を前記読取ラ
インピッチで移動させて前記読取センサ（３）の所定の
画素（７）が前記平行パターンの最も良く読取る線を検
出し、該検出線と前記基準線との距離と、前記線間隔と
、前記原稿の移動量とより前記読取センサの副走査方向
の読取ずれを測定する読取位置測定方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60100217A JPS61258559A (ja) | 1985-05-10 | 1985-05-10 | 読取位置測定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60100217A JPS61258559A (ja) | 1985-05-10 | 1985-05-10 | 読取位置測定方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61258559A true JPS61258559A (ja) | 1986-11-15 |
Family
ID=14268132
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60100217A Pending JPS61258559A (ja) | 1985-05-10 | 1985-05-10 | 読取位置測定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61258559A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003008837A (ja) * | 2001-06-27 | 2003-01-10 | Oki Electric Ind Co Ltd | 撮像装置のスキュー検出方法 |
| EP0998113A4 (en) * | 1998-04-27 | 2007-01-17 | Pfu Ltd | METHOD FOR MEASURING IMAGE NOISE OF AN IMAGE READER, RESOLUTION METER AND RESOLUTION MEASUREMENT METHOD, AND RECORDING MEDIUM THEREFOR |
-
1985
- 1985-05-10 JP JP60100217A patent/JPS61258559A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0998113A4 (en) * | 1998-04-27 | 2007-01-17 | Pfu Ltd | METHOD FOR MEASURING IMAGE NOISE OF AN IMAGE READER, RESOLUTION METER AND RESOLUTION MEASUREMENT METHOD, AND RECORDING MEDIUM THEREFOR |
| JP2003008837A (ja) * | 2001-06-27 | 2003-01-10 | Oki Electric Ind Co Ltd | 撮像装置のスキュー検出方法 |
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