JPS61260697A - 分布反射型半導体レ−ザ - Google Patents

分布反射型半導体レ−ザ

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JPS61260697A
JPS61260697A JP10236785A JP10236785A JPS61260697A JP S61260697 A JPS61260697 A JP S61260697A JP 10236785 A JP10236785 A JP 10236785A JP 10236785 A JP10236785 A JP 10236785A JP S61260697 A JPS61260697 A JP S61260697A
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JP
Japan
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semiconductor laser
distributed reflection
reflection type
type semiconductor
waveguide layer
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Application number
JP10236785A
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English (en)
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JPH0158678B2 (ja
Inventor
Shinzo Suzaki
慎三 須崎
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Fujikura Ltd
Japan Science and Technology Agency
Original Assignee
Fujikura Ltd
Research Development Corp of Japan
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、主として光通信等の光源に用いられる分布
反射型半導体レーザに関する。
〔従来技術〕
分布反射型半導体レーザ(DBRレーザ)は、利得媒質
を有する活性導波路と、特定の波長のみを選択的に反射
する回折格子を有する外部導波路とを結合して構成した
もので、高速直接変調時においても単−縦モードで発振
する利点がある。第5図は、従来の分布反射型半導体レ
ーザの構成を示す断面図であり、この図において1はn
JnP基板、2は1nGaΔsP活牲導波路層、3はn
−InPクラッド層、4は0−1nGaAsPキャップ
層、5は+n Ga As P外部導波路層、6はn−
1nPクラッド層、7はクラッド層6の上面に形成され
た回折格子、8はSiO2保護膜、9゜10は各々Au
/Srl電極である。また、矢印Yは光射出方向を示す
。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、現在、チッピング工程(レーザ素子を半導体
ウェハから小さく切出す工程)はへき開またはワイヤー
ソー等による切断によって行われている。この場合、へ
き開は作業性の点で優れているが、切出された素子がフ
ァブリペロモードによる発振を起こしやすい欠点がある
。一方、ワイヤーソー等によって切断した場合は、素子
のファブリペロモードによる発振をかなり抑制すること
ができるが、作業性が悪く、切出しに手間がかかる欠点
がある。なお、ワイヤーソー等によって切断した場合も
、ファブリペロモードによる発振を完全になくすことは
不可能である。
この発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、分布反
射型レーザの7?ブリペロモードによる発振を略完全に
抑ai+I ?jることができ、しかもチッピングを作
業性のよいへき開によって行うことができる分布反射型
半導体レーデを提供することを目的としている。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明は、外部導波路の一部に折曲部を形成したこと
を特徴としてる。
〔作用〕
外部導波路の一部に折曲部を形成したことにより、素子
の両端面による反射光が帰還増幅されず、したがって、
素子をへき開にJ、ってつlハがら切出しても、切出さ
れた素子がファブリペロモードによって発振することが
ほとんどない。
〔実施例〕 第1図はこの発明の一実施例による分布反射型半導体レ
ーザの断面図、第2図は同半導体レーザの斜視図である
。なお、第1図に示づ“半導体レーザの長手方向が結晶
軸<011>の方向である。
この実施例による半導体レーザは第2図から明らかなよ
うに埋込み構造となっている。また、この半導体レーザ
が第5図に示す従来のものと異なる点は、外部導波路層
5の端部に折曲部5a(第1図参照)が形成されている
点である。
次に、この半導体レーザの製造過程を第3図を参照して
説明する。まず、第3図(イ)に示すようにn−1nP
W板1上にIn Qa AS P活性導波路層2、n−
1nPクラツド槽3、P−In Ga AsPキャップ
槽4を順次エピタキシャル成長によって形成する。次に
上述したキャップ層4の上面の、第1図に示寸活+ll
導波路層2に対応する部分に耐エツチング保護膜を形成
し、他の部分を基板1に至るまでエツチングでる(第3
図(ロ))。
この場合、エッチャントの選択により端面が傾斜面とな
る。次に、第3図(ハ)に示すように、上記のエツチン
グにより露出した基板1の上面の端部に、エツチングに
よって数μm幅の凹77i1aを形成する。次に、第3
図(ニ)に示すように、(ハ)の基板1の上面に、In
GaAs、P外部導波路層5をエピタキシャル成長によ
って形成する。
ここで、(ハ)の工程により基板1の上面に凹溝18が
形成されていることから、(ニ)の工程において外部導
波路層5の端部に折曲部5aが形成される。次に、外部
導波路層5の上面にn−1nPクラッド層6をエピタキ
シャル成長によって形成する(第3図(ニ))。この場
合、表面が略平坦になるように厚みを制御する。次いで
クラッド層6の上面にエツチングによって回折格子7を
形成する(第3図(ニ))。次に第3図(ニ)のものの
上面の左端から右端にわたってストライプ状の耐エツチ
ング保護膜を形成してエツチングを行い、第3図(ホ)
(光射出方向から見た図)に示す断面逆メジ状のストラ
イプ構造を形成する。次に、第3図(へ)に示すように
、ストライプ構造の両脇にp−1nP第1埋込層12.
n−InP第2埋込層13を順次エピタキシャル成長さ
せる。これにより、活性導波路層2および外部導波路層
5が埋込まれる。次に第1図に示ts:oz(または−
5= S! 3 Na )保護膜8を形成し、次いで△u/7
n電極9.Au/Sn電極1oを形成する。最後に、両
端面をへき開してチッピングを完了する。ここで、右端
のへき開面は、第1図に示されるように折曲部を完全に
残すような位置に形成しなくてもよい。つまり、導波路
層に曲がりがあればよいのだから、折曲部の途中に形成
してもよいわけである。
以上がこの発明の実施例による半導体レーザの製造工程
である。上述したように、この実施例による半導体レー
ザは外部導波路層5の端部に折曲部5aが設けられてい
るので、両端の結晶面が相対向することがなく、この結
束、いわゆるファブリペロ共振器が形成されず、ファブ
リペロモードによる発振を起こすことがない。
なお、導波路層2,5の組成と発振波長との関係は次の
通りである。
また、この発明はこの他にp・InP基板を用い、前記
の構造のpとnを全て逆にした構造、およびInP系の
結晶組成のみならii’、GaAS基板を用いた短波長
側のGaAs、−/GaAlAS系の結晶組成に対して
も勿論適用可能である。
また、この発明を半導体JJ根板上複数の光素子が形成
された光集積回路に適用する揚台には、第4図に示すよ
うに、両側に回折格子面を有する構造とする。この場合
、光取出し面は、図のように折曲部5aと反対側である
。
〔発明の効果〕
以上述べたように、この発明による半導体レーザはチッ
ピングをへき開によって行った場合においてもファブリ
ペロモードによる発振が起こらず、したがって、チッピ
ングを作業性のよいへき開によって行うことができる効
果が1りられる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は各々この発明の一実施の構成を示す断
面図および斜視図、第3図は同実施例の製造工程を示す
図、第4図は本発明の他の実施例の構成を示す断面図、
第5図は従来の分布反射型半導体レーザの構成を示す断
面図である。 2・・・・・・活性導波路層、5・・・・・・外部導波
路層、5a・・・・・・析曲部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 利得媒質を有する活性導波路と、回折格子を有する外部
    導波路とが結合されてなる分布反射型半導体レーザにお
    いて、前記外部導波路の一部に折曲部を形成してなる分
    布反射型半導体レーザ。
JP10236785A 1985-05-14 1985-05-14 分布反射型半導体レ−ザ Granted JPS61260697A (ja)

Priority Applications (1)

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JP10236785A JPS61260697A (ja) 1985-05-14 1985-05-14 分布反射型半導体レ−ザ

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JP10236785A JPS61260697A (ja) 1985-05-14 1985-05-14 分布反射型半導体レ−ザ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61260697A true JPS61260697A (ja) 1986-11-18
JPH0158678B2 JPH0158678B2 (ja) 1989-12-13

Family

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