JPS6126268A - 耐熱性アモルフアスシリコン系太陽電池およびその製法 - Google Patents
耐熱性アモルフアスシリコン系太陽電池およびその製法Info
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- JPS6126268A JPS6126268A JP14841184A JP14841184A JPS6126268A JP S6126268 A JPS6126268 A JP S6126268A JP 14841184 A JP14841184 A JP 14841184A JP 14841184 A JP14841184 A JP 14841184A JP S6126268 A JPS6126268 A JP S6126268A
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- Japan
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- solar cell
- semiconductor
- layer
- back electrode
- thickness
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F10/00—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells
- H10F10/10—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells having potential barriers
- H10F10/17—Photovoltaic cells having only PIN junction potential barriers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/20—Electrodes
- H10F77/206—Electrodes for devices having potential barriers
- H10F77/211—Electrodes for devices having potential barriers for photovoltaic cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は耐熱性アモルファスシリコン(以下、a−8i
という)系太陽電池およびその製法に関する。
という)系太陽電池およびその製法に関する。
[d来の技術]
従来”、 a−8i系太陽電池の電気的接続のために、
AI、sus 、鉄、14i、 cu、 L/んちゆう
、Zn、 Agなどの金属が裏面電極として用いられ、
a−8i系太i電池が製造されている。
AI、sus 、鉄、14i、 cu、 L/んちゆう
、Zn、 Agなどの金属が裏面電極として用いられ、
a−8i系太i電池が製造されている。
しかし、このようにして製造されたa−8i系太陽電池
を50℃程度以上の温度で使用すると、電気的接続に用
いた金属が半導体中に拡散し、半導体特性が低下する。
を50℃程度以上の温度で使用すると、電気的接続に用
いた金属が半導体中に拡散し、半導体特性が低下する。
とくに金属が接触する半導体が非晶質のばあいには、半
導体特性の低下が著しい。とりわけ屋外に設置されるa
−8i系太陽電池のばあいには約80℃にもなり、太陽
電池特性の低下が著しい。
導体特性の低下が著しい。とりわけ屋外に設置されるa
−8i系太陽電池のばあいには約80℃にもなり、太陽
電池特性の低下が著しい。
なおりロムを裏面電極として用いると、光の反射率、電
気伝導度ともに前記A1などの金属と比較して劣るので
、クロムを裏面電極とした太陽電池の性能は低く、一般
には使用されていない。
気伝導度ともに前記A1などの金属と比較して劣るので
、クロムを裏面電極とした太陽電池の性能は低く、一般
には使用されていない。
[発明が解決しようとする問題点]
本発明は上記のごとき実情に鑑み、a−S r系太陽電
池を高温で使用したばあいに生ずる、電気的接続用の金
属(裏面電極)のa−8i光半導体中への拡散による太
陽電池の特性の低下を少なくするためになされたもので
ある。
池を高温で使用したばあいに生ずる、電気的接続用の金
属(裏面電極)のa−8i光半導体中への拡散による太
陽電池の特性の低下を少なくするためになされたもので
ある。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、半導体と裏面電極との間に、厚さ10〜10
00 Aのクロム層を設けたことを特徴とする耐熱性a
−3i系太陽電池、および半導体と裏面電極との藺に厚
さ10〜1000人のクロム層を設けた耐熱性a−3i
系太陽電池を製造する際に、半導体−クロム層−裏面電
極からなる層を形成したのち、100℃〜成il温度で
0.5〜4時間熱処理することを特徴とする耐熱性a−
8i系太陽電池の製法に関する。
00 Aのクロム層を設けたことを特徴とする耐熱性a
−3i系太陽電池、および半導体と裏面電極との藺に厚
さ10〜1000人のクロム層を設けた耐熱性a−3i
系太陽電池を製造する際に、半導体−クロム層−裏面電
極からなる層を形成したのち、100℃〜成il温度で
0.5〜4時間熱処理することを特徴とする耐熱性a−
8i系太陽電池の製法に関する。
[実施例]
本発明に用いる半導体としては、非晶質または結晶質を
含む非晶質半導体であればとにく限定はない。このよう
な半導体の具体例としては、a−8i: H、a−8i
: F : H1a−8iGe:H、a−8iSn:H
、a−8iH: H、a−8iGe: F : H、a
−8iSn:F :H、a−8i:N :F :H5a
−8iC:H。
含む非晶質半導体であればとにく限定はない。このよう
な半導体の具体例としては、a−8i: H、a−8i
: F : H1a−8iGe:H、a−8iSn:H
、a−8iH: H、a−8iGe: F : H、a
−8iSn:F :H、a−8i:N :F :H5a
−8iC:H。
a−8iC:F :H、a−3iO:H、a−8iO:
F :Hなどがあげれらる。
F :Hなどがあげれらる。
前記半導体は、p型、n型、真性のいずれであってもよ
いが、とくにn型半導体と裏面電極が接するばあいには
、本発明の効果である高温使用による性能低下が著しく
改善されるため好ましい。
いが、とくにn型半導体と裏面電極が接するばあいには
、本発明の効果である高温使用による性能低下が著しく
改善されるため好ましい。
本発明に用いる裏面電極は、a−3i系太陽電池の電気
的接続に用いるクロム以外の金属または合金から形成さ
れた裏面電極であればとくに限定されるものではない。
的接続に用いるクロム以外の金属または合金から形成さ
れた裏面電極であればとくに限定されるものではない。
このような裏面電極の具体例としては、AI、 A9、
SO8、Ni、 Cu、しんちゅう、鉄、Zn、 Ti
など、好ましくは光の反射率が高く、電気伝導度の大き
いTi、 Agなどの金属から形成された裏面電極があ
げられる。
SO8、Ni、 Cu、しんちゅう、鉄、Zn、 Ti
など、好ましくは光の反射率が高く、電気伝導度の大き
いTi、 Agなどの金属から形成された裏面電極があ
げられる。
本発明においては、半導体と裏面電極との間に厚さ10
〜1000人、好ましくは30〜1000人、さらに好
ましくは30〜300Aのクロム層が設けられている。
〜1000人、好ましくは30〜1000人、さらに好
ましくは30〜300Aのクロム層が設けられている。
該クロム層の厚さが10A未満になると、均一で品質の
よい層かえられなくなったり、裏面電極を形成する金属
の半導体中への熱よる拡散を充分防止することができな
くなったりする。また層の厚さが1000人をこえると
、該層が存在するために直列電気抵抗が増したり、光の
反射率が低下したり、クロム層の形成に時間がかかった
りするという問題が生ずる。
よい層かえられなくなったり、裏面電極を形成する金属
の半導体中への熱よる拡散を充分防止することができな
くなったりする。また層の厚さが1000人をこえると
、該層が存在するために直列電気抵抗が増したり、光の
反射率が低下したり、クロム層の形成に時間がかかった
りするという問題が生ずる。
つぎに本発明の耐熱性a−3i系太陽電池の製法を、光
入射側から順にp型、1型、n型の半導体を設けた太陽
電池を例にとり説明する。
入射側から順にp型、1型、n型の半導体を設けた太陽
電池を例にとり説明する。
まず透明電極を設けた透明基板上に、常法により非晶質
のpl、1層、0層を形成する。そののちクロムを用い
て通常の電子ビーム蒸着法により、所定の厚さの層を形
成する。もちろんクロムをスパッター用ターゲットを用
いてスパッター法により層を形成してもよいが、蒸着ま
たは電子ビーム蒸着法が好ましい。そののち裏面電極を
常法により堆積させることにより、目的物がえられる。
のpl、1層、0層を形成する。そののちクロムを用い
て通常の電子ビーム蒸着法により、所定の厚さの層を形
成する。もちろんクロムをスパッター用ターゲットを用
いてスパッター法により層を形成してもよいが、蒸着ま
たは電子ビーム蒸着法が好ましい。そののち裏面電極を
常法により堆積させることにより、目的物がえられる。
上記説明ではpin型太陽電池について説明したが、シ
ョットキ型やpn型の太陽電池についても同様である。
ョットキ型やpn型の太陽電池についても同様である。
また太陽電池はへテロ接合の太陽電池であってもよく、
ホモ接合の太陽電池であってもよい。
ホモ接合の太陽電池であってもよい。
このようにして作製された本発明の耐熱性a−8i系太
陽電池は、このままでも加熱による太陽電池特性の低下
が少なく良好な特性を有するものであるが、さらに10
0℃〜成膜温度(150〜400℃程度)、好ましくは
150〜300℃で0.5〜4時間、好ましくは0.5
〜1,5時間程度熱処理すると、半導体とクロム層との
接触をよくすることができ、その界面の直列抵抗および
キャリアの再結合を減少させることができる。
陽電池は、このままでも加熱による太陽電池特性の低下
が少なく良好な特性を有するものであるが、さらに10
0℃〜成膜温度(150〜400℃程度)、好ましくは
150〜300℃で0.5〜4時間、好ましくは0.5
〜1,5時間程度熱処理すると、半導体とクロム層との
接触をよくすることができ、その界面の直列抵抗および
キャリアの再結合を減少させることができる。
このようにして製造される本発明の太陽電池は、たとえ
ば50℃以上のような高温で使用される、あるいは使用
中に50℃以上になることがあるような用途に使用され
る太陽電池として好適に使用される。とくに屋外に設置
され、使用温度が80℃にもなる太陽電池に用いたばあ
いに、本発明の効果が大きく発揮される。
ば50℃以上のような高温で使用される、あるいは使用
中に50℃以上になることがあるような用途に使用され
る太陽電池として好適に使用される。とくに屋外に設置
され、使用温度が80℃にもなる太陽電池に用いたばあ
いに、本発明の効果が大きく発揮される。
つぎに本発明の太陽電池を実施例にもとづき説明する。
実施例1
厚さ1000A (7)IT(1’ 5n02透明電極
を設けた厚さ1#11の青板ガラス基板上に、基板温度
約200℃、圧力的I Torrにて、SiH4、B2
H6からなる混合ガス、5iHa、H2からなる混合ガ
ス、5iHa N pH3からなる混合ガスをこの順に
用いて、グロー放電法にてそれぞれアモルファスタイプ
のp層を120人、1層を5000人、0層を500人
の厚さになるように堆積させた。
を設けた厚さ1#11の青板ガラス基板上に、基板温度
約200℃、圧力的I Torrにて、SiH4、B2
H6からなる混合ガス、5iHa、H2からなる混合ガ
ス、5iHa N pH3からなる混合ガスをこの順に
用いて、グロー放電法にてそれぞれアモルファスタイプ
のp層を120人、1層を5000人、0層を500人
の厚さになるように堆積させた。
そののち、クロムを用いて、電子ビーム蒸着法にて10
″+1TOrrで膜厚が100八になるようにn層上に
堆積させたのち、AIを1000人堆積させ、ついで1
50℃で1,5時間熱処理して太陽電池を作製した。
″+1TOrrで膜厚が100八になるようにn層上に
堆積させたのち、AIを1000人堆積させ、ついで1
50℃で1,5時間熱処理して太陽電池を作製した。
えられた太陽電池の特性および230℃で2時間加熱し
たのちの特性をAM−1,100mW/aiの一ソーラ
ーシミュレーターを用いて測定した。その結果を第1表
に示す。
たのちの特性をAM−1,100mW/aiの一ソーラ
ーシミュレーターを用いて測定した。その結果を第1表
に示す。
実施例2
150℃で1時間熱処理しなかったほかは実施例1と同
様にして太陽電池を作製し、えられた太陽電池の特性お
よび230℃で2時間加熱したのちの特性を測定した。
様にして太陽電池を作製し、えられた太陽電池の特性お
よび230℃で2時間加熱したのちの特性を測定した。
その結果を第1表に示す。
比較例1
クロム層を設けなかったほかは実施例1と同様にして太
陽電池を作製し、えられた太陽電池の特性および230
℃で2時間加熱したのちの特性を測定した。その結果を
第1表に示す二比較例2 A1裏面電極をCr裏面電極にしたほかは比較例1と同
様にして太陽電池を作製し、えられた大喝電池の特性お
よび230℃で2時間加熱したのちの特性を測定した。
陽電池を作製し、えられた太陽電池の特性および230
℃で2時間加熱したのちの特性を測定した。その結果を
第1表に示す二比較例2 A1裏面電極をCr裏面電極にしたほかは比較例1と同
様にして太陽電池を作製し、えられた大喝電池の特性お
よび230℃で2時間加熱したのちの特性を測定した。
その結果を第1表に示す。
E以下余白]
[発明の効果]
以上説明したように、a−8i系太陽電池を製造するば
あいに、半導体と裏面電極との間にクロム層を設けるこ
とにより、a−8i系太陽電池を高温で使用したばあい
にも、裏面電極を@庫する金属成分が半導体中に拡散す
ることを防ぎ、太陽電池特性の低下を少なくすることが
できる。
あいに、半導体と裏面電極との間にクロム層を設けるこ
とにより、a−8i系太陽電池を高温で使用したばあい
にも、裏面電極を@庫する金属成分が半導体中に拡散す
ることを防ぎ、太陽電池特性の低下を少なくすることが
できる。
また半導体−クロム層−裏面電極を積層させたのち10
0℃〜成膜温度で0.5〜4時間熱処理することにより
、えられる太陽電池特性(とくにフィルファクター)を
さらに改良することができる。
0℃〜成膜温度で0.5〜4時間熱処理することにより
、えられる太陽電池特性(とくにフィルファクター)を
さらに改良することができる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 半導体と裏面電極との間に、厚さ10〜1000Å
のクロム層を設けたことを特徴とする耐熱性アモルファ
スシリコン系太陽電池。 2 前記クロム層の厚さが30〜300Åである特許請
求の範囲第1項記載の太陽電池。 3 半導体と裏面電極との間に厚さ10〜1000Åの
クロム層を設けた耐熱性アモルファスシリコン系太陽電
池を製造する際に、半導体−クロム層−裏面電極からな
る層を形成したのち、100℃〜成膜温度で0.5〜4
時間熱処理することを特徴とする耐熱性アモルファスシ
リコン系太陽電池の製法。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14841184A JPS6126268A (ja) | 1984-07-16 | 1984-07-16 | 耐熱性アモルフアスシリコン系太陽電池およびその製法 |
| AU43651/85A AU576594B2 (en) | 1984-06-15 | 1985-06-13 | Heat-resistant thin film photoelectric converter |
| CA000483934A CA1270931A (en) | 1984-06-15 | 1985-06-13 | Heat-resistant thin film photoelectric converter with diffusion blocking layer |
| DE8585107371T DE3581561D1 (de) | 1984-06-15 | 1985-06-14 | Waermebestaendiger photoelektrischer duennschicht-konverter. |
| KR1019850004216A KR910005761B1 (ko) | 1984-06-15 | 1985-06-14 | 내열성 박막광전 변환기 및 그의 제조방법 |
| EP85107371A EP0165570B1 (en) | 1984-06-15 | 1985-06-14 | Heat-resistant thin film photoelectric converter |
| US06/942,644 US4765845A (en) | 1984-06-15 | 1986-12-17 | Heat-resistant thin film photoelectric converter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14841184A JPS6126268A (ja) | 1984-07-16 | 1984-07-16 | 耐熱性アモルフアスシリコン系太陽電池およびその製法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6126268A true JPS6126268A (ja) | 1986-02-05 |
Family
ID=15452186
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14841184A Pending JPS6126268A (ja) | 1984-06-15 | 1984-07-16 | 耐熱性アモルフアスシリコン系太陽電池およびその製法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6126268A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61144885A (ja) * | 1984-12-18 | 1986-07-02 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 耐熱性薄膜光電変換素子の製法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57103370A (en) * | 1980-12-19 | 1982-06-26 | Agency Of Ind Science & Technol | Amorphous semiconductor solar cell |
| JPS5858777A (ja) * | 1981-10-05 | 1983-04-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体素子の製造方法 |
| JPS6015980A (ja) * | 1983-07-08 | 1985-01-26 | Agency Of Ind Science & Technol | 太陽電池 |
-
1984
- 1984-07-16 JP JP14841184A patent/JPS6126268A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57103370A (en) * | 1980-12-19 | 1982-06-26 | Agency Of Ind Science & Technol | Amorphous semiconductor solar cell |
| JPS5858777A (ja) * | 1981-10-05 | 1983-04-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体素子の製造方法 |
| JPS6015980A (ja) * | 1983-07-08 | 1985-01-26 | Agency Of Ind Science & Technol | 太陽電池 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61144885A (ja) * | 1984-12-18 | 1986-07-02 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 耐熱性薄膜光電変換素子の製法 |
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