JPS61265731A - 光学ヘツド - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ この発明は、たとえば光デイスク装置に用いられる光学
ヘッドに関する。

［発明の技術的背景１ 従来、光学ヘッドに必って、その内部で用いられる対物
レンズは、第８図（ａ）（ｂ）に示すような、対物レン
ズ駆動装置によって駆動されるようになっている。すな
わち、対物レンズ７１は、２枚の平行板バネ７２．７３
で支持されている。

これらの板バネ７２．７３は中間支持金具７４に固着さ
れ、この中間支持金具７４は２枚のダイヤフラムバネ７
５．７６で支持されるようになっている。そして、コイ
ル７７とマグネット１８とにより形成される磁気回路に
より、中間支持金具つまり対物レンズ７１が上下方向（
矢印に、１方向）に駆動されることにより、フォー力ッ
シングが行われるようになっている。また、コイル７９
と鉄片８０とにより構成される磁気回路によって、対物
レンズ７１を左右方向く矢印ｍ、ｎ方向）に駆動される
ことにより、トラッキングが行われるようになっている
。

［背景技術の問題点］ しかしながら、上記のような光学ヘッドでは、光ディス
クが傾くことにより、対物レンズの光軸と光ディスクの
記録面とが垂直からずれた場合、それを補正することが
できなかった。このため、対物レンズの光軸と光ディス
クの記録面とが垂直からずれると、対物レンズによって
光デイスク上に集光したスポットの形が悪くなり、光デ
ィスクの記録面上にきれいなビットを形成できなかった
。

この結果、光デイスク上のデータが読取り難くなる等の
不具合が生じた。

上記の不具合を解決するために、光ディスクの傾きに強
い光学系を採用し、対物レンズ駆動装置と光学系の基板
の間にスペーサーを挟む等で、対物レンズを傾は対物レ
ンズの光軸と光ディスクの記録面が垂直となるようにし
ていた。しかし、厳密な意味で対物レンズの光軸と光デ
ィスクの記録面が光デイスク全面にわたって垂直でない
という欠点があった。また、作業性が悪く、微調整がで
きないという欠点があった。

［発明の目的］ この発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目
的とするところは、対物レンズの光軸の傾きを簡単に微
調整することができる光学ヘッドを提供することにある
。

［発明の概要］ この発明は、上記目的を達成するために、対物レンズを
固定する保持部材を左右あるいは上下に移動することに
より、対象物体上に適正なビーム光を照射するものにお
いて、対物レンズの光軸の傾きを調整ねじで補正するよ
うにしたものである。

［発明の実施例］ 以下、この発明の一実施例について、図面を参照して説
明する。

第１図は、この発明の光学ヘッドの概略構成を示すもの
である。すなわち、光ディスク（対象物体）１は、モー
タ（図示しない）によって光学ヘッド３に対して、線速
一定で回転駆動されるようになっている。上記光ディス
ク１は、たとえばガラスあるいはプラスチックスなどで
円形に形成された基板の表面に、テルルあるいはビスマ
スなどの金属被膜層が、ドーナツ形にコーティングされ
ている。上記光ディスク１の裏側には、情報の記憶、再
生を行うための光学ヘッド３が設けられている。この光
学ヘッド３は、半導体レーザ発振器４、凸レンズ５、偏
光ビームスプリッタ６、λ／４板７、対物レンズ８、ハ
ーフミラ−９、集光レンズ１０．１１、トラックずれ検
出用の光検出器１２、焦点ぼけ検出用の光検出器１３に
よって構成されている。また、上記ハーフミラ一つと集
光レンズ１１との間には、先広出用の遮光板１６が設け
られている。上記光検出器１２は、集光レンズ１０によ
って結像される光を、電気信号に変換する光検出セル１
２ａ、１２ｂによって構成されている。これらの光検出
セル１２ａ、１２ｂによって出力される信号としては、
それぞれγ信号、δ信号が出力されるようになっている
。上記光検出器１３は、集光レンズ１１によって結像さ
れる光を、電気信号に変換する光検出セル１３ａ。

１３ｂによって構成されている。これらの光検出セル１
３ａ、１３ｔ）によって出力される信号としては、それ
ぞれα信号、β信号が出力されるようになっている。

上記対物レンズ８は、第２図から第７図に示す、対物レ
ンズ駆動装置２０によって駆動されるようになっている
。すなわち、基板２１上の上方には、これに垂直な中心
軸を有して、円筒上の保持枠２２が設けられている。こ
の保持枠２２内には、中心軸に沿って支持軸２３が配設
されており、この支持軸２３は圧電樹脂として、後述す
るピエゾ素子（ピエゾ抵抗効果素子）２４ａ、２４ｂ、
２４Ｇ、２４ｄによって保持枠２２に支持されている。

この支持軸２３の上下両端部から、後述する圧電樹脂と
してのバイモルフ素子２５．２６が、互いに平行に同方
向に延出して設けられている。

このバイモルフ素子２５．２６の先端部には、上記対物
レンズ８が保持されているレンズ保持枠２７が取付けら
れている。このレンズ保持枠２７の側面には、内側が空
洞の四角柱形のボビン６０．６０が基板２１に平行に設
けられている。このボビン６０にはコイル６１が外回さ
れており、このコイル６１の上面にはコイル６１に対し
て垂直にコイル６２が固着されている。また、上記基板
２１上にはコの字形状のヨーク６３．６３が固定されて
いる。このヨーク６３．６３の中途部にはそれぞれ四角
柱形の永久磁石６４．６４が設けられ、この磁石６４は
上記ボビン６０の空洞部に緩挿されるようになっている
。上記ヨーク６３の端部６５．６６はそれぞれ上記ボビ
ン６０の端部に対向するようになっている。

これにより、コイル６１．６２は、共に永久磁石６４お
よびヨーク６３による磁界Ｂｇの中に位置している。た
とえば、第５図に示すように、コイル６２にｑ方向の電
流を流すと、コイル６２はｈ方向に力を受け、この力が
ボビン６ｏを介してし・ンズ保持枠２７に伝えられる。

この結果、対物レンズ８は矢印ｅ％ｆ方向に移動される
ことにより、フォー力ツシングが行われるようになって
いる。また、Ｗ４図に示すように、コイル６１に１方向
の電流を流すと、コイル６１はｊ方向に力を受け、この
力がボビン６０を介してレンズ保持枠２７に伝えられる
。この結果、対物レンズ８は矢印ｃ、ｄ方向に移動され
ることにより、トラッキングが行われるようになってい
る。このように、同一の磁気回路によって対物レンズ８
を上下、左右の２方向へ駆動できるようになっている。

上記バイモルフ素子２５．２６は、第６図（ａ）（ｂ）
（Ｃ）に示すように、それぞれ２枚のピエゾ素子２５ａ
、２５ｂ、２６ａ、２６ｂを上下に貼合わせたものであ
り、２枚のピエゾ素子の一方が縮み、他方が伸びること
により、レンズ保持枠２７が上下つまり矢印ｅ、ｆ方向
に移動するのに追従できるようになっている。たとえば
、レンズ保持枠２７つまり対物レンズ８が第６図（ｂ）
に示すように、同図（ａ）の状態からｅ方向へ移動する
ことによりバイモルフ素子２５．２６が下方に屈曲し、
ピエゾ素子２５ａ、２６ａが縮み、ピエゾ素子２５ｂ、
２６ｂが伸びるようになっている。また、レンズ保持枠
２７つまり対物レンズ８が第６図（Ｃ）に示すように、
同図（ａ）の状態からｆ方向へ移動することにより、バ
イモルフ素子２５．２６が上方に屈曲し、ピエゾ素子２
５ａ１２６ａが伸び、ピエゾ素子２５ｂ、２６ｂが縮む
ようになっている。

これにより、上記バイモルフ素子２５の上側のピエゾ素
子２５ａ、２６ａ１下側のピエゾ素子２５ｂ、２６ｂの
電圧値を出力することにより、レンズ保持枠２７のｅ、
ｆ方向の移動位置つまり対物レンズ８の移動位置に応じ
た検出信号を出力するものである。これらの上側のピエ
ゾ素子２５ａ、２６ａ、下側のピエゾ素子２５ｂ、２６
ｂによって出力される信号としては、それぞれη信号、
ε信号が出力されるようになっている。

このように構成すると、レンズ保持枠２７が適正な位置
、つまり上側のピエゾ素子２５ａ、２６ａと下側のピエ
ゾ素子２５ｂ、２６ｂとが基板２１に対して平行に位置
する場合、上記上側のピエゾ素子２５ａ、２６ａと下側
のピエゾ素子２５ｋ）、２６ｂとからそれぞれ同じ値の
η信号、ε信号が出力される。また、レンズ保持枠２７
が適正な位置より下側にずれている場合、上記上側のピ
エゾ素子２５ａ、２６ａと下側のピエゾ素子２５１）、
２６ｂとからそれぞれ「η信号くε信号」という関係の
η信号、ε信号が出力される。また、レンズ保持枠２７
が適正な位置より上側にずれている場合、上記上側のピ
エゾ素子２５ａ、２６ａと下側のピエゾ素子２５ｂ、２
６ｂとからそれぞれ「η信号〉ε信号」という関係のη
信号、ε信号が出力される。

上記支持軸２３には、第７図（ａ）（ｂ）（ｃ）に示す
ように、中心から等角度で設けられている４枚のビニ／
素子２４ａ、２４ｂ、２４ｃ１２４ｄが設けられており
、これらのピエゾ素子２４ａ、・・・によって支持軸２
３が保持枠２２に支持されている。これにより、ピエゾ
素子２４ａ１・・・がレンズ保持枠２７、つまり対物レ
ンズ８が矢印Ｃ方向へ移動することにより縮んだ場合、
第７図（ｂ）に示すように、同図（ａ）の状態から矢印
ａ方向に、支持軸２３が微少角度回動するようになって
いる。この回動により、ピエゾ素子２４ａ１・・・から
その移動量に応じた電圧信号つまりε信号が出力される
ようになっている。また、ピエゾ素子２４ａ、・・・が
レンズ保持枠２７、つまり対物レンズ８が矢印ｄ方向へ
移動することによリ、伸びた場合、第７図（Ｃ）に示す
ように、同図（ａ）の状態から矢印す方向に、支持軸２
３が微少角度回動するようになっている。上記の場合、
対物レンズ８の移動量（変位量）は大きなものであるが
バイモルフ素子２５が一種の、てこの腕として作用し、
支持軸２３の回動量は微少となる。

したがって、上記バイモルフ素子２５によって、対物レ
ンズ８の大きな変位がピエゾ素子２４の小変位となって
伝わっている。上記ピエゾ素子２４ａ・・・のａ、ｂ方
向の移動により、前記光ディスク１に対するトラッキン
グ方向の移動が検出されるようになっている。これによ
り、上記ピエゾ素子２４ａ、・・・の電圧値を出力する
ことにより、レンズ保持枠２７のｃ、ｄ方向の移動位置
つまり対物レンズ８の移動位置に応じた検出信号を出力
するものである。

なお、上記ピエゾ素子２４ａ・・・、２５ａ、２５ｂ、
２６ａ、２６ｂは、たとえば１０ミクロン程度変位した
場合、その電圧が７００ボルト変化するようになってい
る。

また、上記基板２１には光学ヘッド３を光ディスク１の
半径方向に移動する移動機構としてのりニアモータ２９
との位置関係を変更する傾き調整ねじ２８ａ、２８ｂ、
２８．ｃ、固定ねじ２９ａ。

２９ｂ、２９Ｃが設けられている。これらの傾き調整ね
じ２８ａ、・・・を締めることにより光学ヘッド３全体
が持ち上がり、固定ねじ２９ａ、・・・を締めることに
より光学ヘッド３全体が下がるように補正（微調整）で
きるようになっている。たとえば、傾き調整ねじ２８ａ
を締めつけた場合、第３□図（ｂ）に示すように、同図
（ａ）の状態から基板２１の右側が矢印六方向つまり上
方に移動するようになっている。また、固定ねじ２９ａ
を締めつけた場合、第３図（Ｃ）に示すように、同図（
ａ）の状態から基板２１の右側が矢印Ｂ方向つまり下方
に移動するようになっている。

前記光学ヘッド３の出力つまり各光検出セル１２ａ、１
２ｂ、１３ａ、１３ｂの出力は、それぞれ増幅器３０．
３１，３４．３５に供給される。

また、前記バイモルフ素子２５．２６の各ピエゾ素子２
５ａ、２６ａと２５ｂ、２６ｂの出力は、それぞれ増幅
器３２．３３に供給される。さらに、前記ピエゾ素子２
４ａ・・・の出力は増幅器５２に供給される。上記増幅
器３０，３１の出力は、それぞれ減算回路３６、加算回
路３７に供給される。

上記増幅器３２．３３の出力は減算回路３８に供給され
る。上記増幅器３４．３５の出力は、それぞれ減算回路
３９、加算回路４０に供給される。

上記増幅器５２の出力は、比較回路５３に供給される。

上記減算回路３６は、光検出セル１２ａ、１２ｂからの
検出信号の差（γ信号−δ信号）を取ることにより、通
常のトラッキング時のトラックずれに応じた信号を出力
するものである。上記加算回路３７は、光検出セル１２
ａ、１２ｂからの検出信号の和を取ることにより、読取
信号として出力するものである。上記減算回路３８は、
ピエゾ素子２５ａ、２６ａと２５ｂ、２６ｋ）からの検
出信号の差（η信号−θ信号）を取ることにより、高速
アクセス時における対物レンズ８の位置ずれ（ｅｌ、　
ｆ方向）に応じた信号を出力するものである。

上記比較回路５３は、増幅器５２からの値が所定値より
大か小かに応じて、対物レンズ８の位置ずれ（ｃ、ｄ方
向）に応じた信号を出力するものである。この所定値は
、対物レンズ８が定位置となっている際に、増幅器５２
から得られる値と等しいものとなっている。上記減算回
路３９は、光検出セル１３ａ、１３ｂからの検出信号の
差（α信号−β信号）を取ることにより、焦点ぼけに応
じた信号を出力するものである。上記加算回路４０は、
光検出セル１３ａ、１３ｂからの検出信号の和を取るこ
とにより、読取信号として出力するものである。

上記減算回路３６．３９の出力および加算回路３７．４
０の出力は、ＣＰＵ４１に供給される。

このＣＰＵ４１は、光ディスク１全体を制御するもので
ある。このＣＰＵ４１は、イニシャル時、スイッチング
回路４２に対してイニシャル引込信号を出力するととも
に、スイッチング回路４２を切換え、そのイニシャル引
込信号が出力されるようにするものである。また、ＣＰ
ｔＪ４１は、高速アクセスを判断している時、スイッチ
ング回路４２．４３に対して切換信号を出力するように
なっている。

上記減算回路３９の出力は、波形整形回路４４で整形さ
れ、上記スイッチング回路４２に供給される。上記減、
１１回路３９の出力は、波形整形回路５４で整形され、
上記スイッチング回路４２に供給される。上記減算回路
３６の出力は１．波形整形回路４５で整形され、上記ス
イッチング回路４３に供給される。上記比較回路５３の
出力は、波形整形回路５１で整形され、上記スイッチン
グ回路４３に供給される。これにより、スイッチング回
路４２は、ＣＰＵ４１からの切換信号により、イニシャ
ル時、ＣＰＵ４１から供給されるイニシャル引込信号を
、駆動回路４６へ出力し、通常時、波形整形回路４４か
ら供給される信号を、駆動回路４６へ出力し、高速アク
セス時、波形整形回路５４からの信号を駆動回路４６へ
出力するようになっている。また、スイッチング回路４
３は、通常時、上記波形整形回路４５から供給される信
号を、駆動回路４７へ出力し、上記ＣＰＵ４１から切換
信号が供給されている時（高速アクセス時）、上記波形
整形回路５１から供給される信号を、駆動回路４７へ出
力するようになっている。

上記駆動回路４６は、スイッチング回路４２から供給さ
れる信号に応じて、前記コイル６２・・・に対応する電
流を供給するようになっている。上記駆動回路４７は、
スイッチング回路４３から供給される信号に応じて、前
記コイル６１・・・に対応する電流を供給するようにな
っている。

次に、このような構成において動作を説明する。

たとえば今、半導体レーザ発擾器４から発せられるレー
ザ光束は、凸レンズ５によって平行光束にされ、偏光ビ
ームスプリッタ６に導かれる。この偏光ビームスプリッ
タ６に導かれた光束は、反射されたのち、λ／４板７を
介して対物レンズ８に入射され、この対物レンズ８によ
って光デイスク１上に集束される。この状態において、
情報の記憶を行う際には、強光度のレーザ光束（記憶ビ
ーム光）の照射によって、光デイスク１上のトラックに
ビットが形成され、情報の再生を行う際には、弱光度の
レーザ光束（再生ビーム光）が照射される。この再生ビ
ーム光に対する光ディスク１からの反射光は、対物レン
ズ８によって平行光束に変換され、λ／４板７を介して
偏光ビームスプリッタ６に導かれる。このとき、偏光ビ
ームスプリッタ６に導かれたレーザ光束は、λ／４板７
を往復しており、偏光ビームスプリッタ６で反射された
際に比べて偏波面が９０度回転している。これにより、
そのレーザ光束は、偏光ビームスプリッタ６で反射され
ずに通過し、ハーフミラ−９に導かれる。このハーフミ
ラ−９を通過するレーザ光束は、集光レンズ１０を介し
て光検出器１２、つまり光検出セル１２ａ、１２ｂに照
射される。また、上記ハーフミラ−９で反射されたレー
ザ光束は、集光レンズ１１を介して光検出器１３つまり
光検出セル１３ａ、１３ｂに照射される。したがって、
光検出セル１２ａ、１２ｂ、１３ａ、１３ｂから照射光
に応じた信号が出力され、それらの信号はそれぞれ増幅
器３０．３１．３４．３５を介して出力される。これに
より、加算回路３７は、光検出セル１２ａ、１２ｂから
の検出信号の和を取ることにより、読取信号としてＣＰ
Ｕ４１へ出力する。この結果、ＣＰＵ４１は、加算回路
３７からの読取信号によりデータの読取を行うようにな
っている。

上記のような状態において、フォー力ツシング動作につ
いて説明する。すなわち、イニシャル時、ＣＰＵ４１は
、イニシャル引込信号をスイッチング回路４２を介して
駆動回路４６に供給する。これにより、駆動回路４６は
コイル６２に所定の電流を供給し、レンズ保持枠２７つ
まり対物レンズ８をｅあるいはｆ方向へ移動する。そし
て、ＣＰＵ４１は、減算回路３６の減算結果が「±Ｏ」
となったとき、対物レンズ８が適正焦点位置に対応した
と判断し、スイッチング回路４２を切換える。これによ
り、減算回路３９から出力される焦点ぼけに応じた信号
、つまり光検出セル１３ａ１１３ｂからの検出信号の差
を取ることにより得られる信号が、波形整形回路４４、
及びスイッチング回路４２を介して、駆動回路４６に供
給される。

これにより、駆動回路４６は、波形整形回路４４からの
信号に応じてコイル６２に所定の電流を供給し、レンズ
保持枠２７つまり対物レンズ８をｅあるいはｆ方向へ移
動し、通常のフォー力ツシングを行う。

ついで、トラッキング動作について説明する。

すなわち、減算回路３６からの通常のトラッキング時の
トラックずれに応じた信号、つまり光検出セル１２ａ、
１２ｂからの検出信号の差を取ることにより得られる信
号が、波形整形回路４５およびスイッチング回路４３を
介して駆動回路４７に供給される。これにより、駆動回
路４７は、波形整形回路４５からの信号に応じてコイル
６１に対応する電流を供給し、レンズ保持枠２７つまり
対物レンズ８がＣあるいはｄ方向へ移動され、通常のト
ラッキングが行われる。

ついで、高速アクセス時の動作について説明する。すな
わち、ＣＰＵ４１により高速アクセスが判断された場合
、ＣＰＵ４１は、スイッチング回路４３を切換える。こ
れにより、比較回路５３からの対物レンズ８の位置ずれ
（ｃ、ｄ方向）に応じた信号、つまりピエゾ素子２４ａ
、・・・からの得られる信号が所定値よりも大か小かに
応じた信号が、スイッチング回路４３を介して駆動回路
４７に供給される。これにより、駆動回路４７は、比較
回路５３からの信号に応じてコイル６１に対応する電流
を供給し、レンズ保持枠２７つまり対物レンズ８を、定
位置となるようにＣあるいはｄ方向へ移動する。たとえ
ば比較回路５３の出力が正のとき、レンズ保持枠２７を
Ｃ方向に移動し、比較回路５３の出力が負のとき、レン
ズ保持枠２７をｄ方向に移動する。

また、ＣＰＬＩ４１により高速アクセスが判断された場
合、ＣＰＵ４１は、スイッチング回路４２を切換える。

これにより、波形整形回路５４からの対物レンズ８の位
置ずれ（ｅ、ｆ方向）に応じた信号、つまりバイモルフ
素子２５．２６のピエゾ素子２５ａ、２６ａ、と２５ｂ
、２６ｂとの差を取ることにより得られる信号が、スイ
ッチング回路４２を介して駆動回路４６に供給される。

これにより、駆動回路４６は、波形整形回路５４からの
信号に応じてコイル６２に対応する電流を供給し、レン
ズ保持枠２７つまり対物レンズ８を、定位置となるよう
にｅあるいはｆ方向へ移動する。

たとえば波形整形回路５４の出力が大のとき、レンズ保
持枠２７をｆ方向に移動し、波形整形回路５４の出力が
小のとき、レンズ保持枠２７をＣ方向に移動する。

したがって、高速アクセス時に、レンズ保持枠２７つま
り対物レンズ８が振動している場合、その対物レンズ８
に対する適正位置への移動制御（ｃ、ｄ方向、ｅ、ｆ方
向）が行われる。つまり、トラックジャンプによる残留
振動を短時間で減衰（安定化）させることができる。

ついで、対物レンズ８の光軸の補正について説明する。

たとえば、傾き調整ねじ２８ａ、・・・を締めることに
より、基板２１をＡあるいはＣ方向に傾け、また固定ね
じ２９ａ、・・・を締めることにより、基板２１を８あ
るいはＤ方向に傾け、対物レンズ８の光軸が光ディスク
１の記録面に垂直となるように補正（微調整）される。

したがって、上記のように、光ディスクのどの位置に対
応している場合でも、対物レンズ８の光軸が光ディスク
の半径方向に傾いた際、その傾き量に応じて傾き調整ね
じ２８ａ、・・・あるいは固定ねじ２９ａ、・・・を締
付けることにより、その光軸が光ディスク１の記録面に
対して垂直になるように補正することができる。

なお、前記実施例では、光ディスクの半径方向に対する
対物レンズの光軸の傾きを補正する場合について説明し
たが、これに限らず、光ディスクのトラック方向に対す
る対物レンズの光軸の傾きを補正する場合であっても良
い。

［発明の効果］ 以上詳述したようにこの発明によれば、対物レンズの光
軸の傾きを簡単に微調整することができる光学ヘッドを
提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図から第７図はこの発明の一実施例を示すもので、
第１図は光学ヘッドの概略構成図、第２図から第４図は
対物レンズ駆動装置の構成を示す斜視図、第５図はレン
ズ保持枠の移動方向を説明するためのボビンの側面図、
第６図はバイモルフ素子と対物レンズとの関係を示す図
、第７図はピエゾ素子と支持軸との関係を示す図であり
、第８図は従来の対物レンズ駆動装置を示す図である。 １・・・光ディスク、３・・・光学ヘッド、６・・・偏
光ビームスプリッタ、７・・・λ／４板、８・・・対物
レンズ、９・・・ハーフミラ−１１０，１１・・・集光
レンズ、１２．１３、−・・光検出器、１２ａ、１２ｂ
。 １３ａ、１３ｂ・・・光検出セル、２０・・・対物レン
ズ駆動装置、２１・・・基板、２２・・・保持枠、２３
・・・支持軸、２４ａ、２４ｂ、２４Ｇ、２４ｄ−・・
ピエゾ素子、２５．２６・・・バイモルフ素子、２５ａ
、２５ｂ、２６ａ、２６　ｂ−・・ピエゾ素子、２７　
・・・レンズ保持枠、２８ａ、〜・・・傾き調整ねじ、
２９ａ。 〜・・・固定ねじ。 第２Ｆ１１ 第３図 ！ｈ３図 第４図 加 第５図 ２ム 第７図 （ａ） （ｂ）　　　　　　　　　（Ｃ’） 第８図 （ａ） （ｂ）

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）対物レンズを固定する保持部材を左右あるいは上
   下に移動することにより、対象物体上に適正なビーム光
   を照射する光学ヘッドにおいて、前記対物レンズの光軸
   傾きを補正する補正手段を設けたことを特徴とする光学
   ヘッド。
2. （２）前記補正手段が、保持部材に設けられた調整ねじ
   により保持部材を支える基板の傾きを変更することによ
   り、対物レンズの光軸を補正することを特徴とする特許
   請求の範囲第１項記載の光学ヘッド。