JPS61267604A - Shuttle for carrying integrated circuit device - Google Patents

Shuttle for carrying integrated circuit device

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Publication number
JPS61267604A
JPS61267604A JP22708085A JP22708085A JPS61267604A JP S61267604 A JPS61267604 A JP S61267604A JP 22708085 A JP22708085 A JP 22708085A JP 22708085 A JP22708085 A JP 22708085A JP S61267604 A JPS61267604 A JP S61267604A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shuttle
integrated circuit
wedge
guide
main body
Prior art date
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Pending
Application number
JP22708085A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
ジヨン エー.ジエイ.ウエデル
マイクル ピー.カスナー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MICRO COMPONENT TECHNOL Inc
Original Assignee
MICRO COMPONENT TECHNOL Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by MICRO COMPONENT TECHNOL Inc filed Critical MICRO COMPONENT TECHNOL Inc
Publication of JPS61267604A publication Critical patent/JPS61267604A/en
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は広く集積回路装置(以下IC装置と略す。)の
機能を評価しかつその装置を試験する試験機までIC装
置を移動させる装置の分野に関する。又狭くは、分配箱
又はシュート等にIC装置を枢支させながらIC装置を
ある位置から他の位置まで直線的に移動させるシャトル
の分野に関するO 本発明の好ましい実施例では、その様な機能は高速で実
施されるその様な動きの間、IC装置を損傷から保護す
るように実施される。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention broadly relates to a device that evaluates the function of an integrated circuit device (hereinafter abbreviated as IC device) and moves the IC device to a testing machine for testing the device. Regarding the field. It also relates narrowly to the field of shuttles for linearly moving an IC device from one position to another while pivoting the IC device to a distribution box or chute, etc. In a preferred embodiment of the invention, such functionality is provided. It is implemented to protect the IC device from damage during such movements performed at high speeds.

〔従来の技術と問題点〕[Conventional technology and problems]

半導体産業が始まって以来、測定は製造されるIC装置
の品質保証のために行なわれてきた。その装置の代表的
なものはDIP(デュアルインラインノやツケージ) 
、 5OIC(小型集積回路)。
Since the beginning of the semiconductor industry, measurements have been performed to ensure the quality of manufactured IC devices. The typical device is DIP (Dual In-Line or Tsukege)
, 5OIC (small integrated circuit).

PLCC(プラスチックリード、レスチップキャリア)
である。従って試験装置は、IC装置の作動可・不可を
確認するだけでなく、作動の度合いを測定するためにI
C装置の中の回路の集積度を評価するべく考案されてき
た。
PLCC (plastic lead, chipless carrier)
It is. Therefore, the test equipment not only confirms whether the IC device is operable or not, but also measures the degree of operation.
It has been devised to evaluate the degree of integration of circuits in C devices.

その様な試験装置によって達成される品質評価は高速で
実行され、その結果それにふされしい高速度で試験され
るIC装置を試験装置に連結するテスト位置へ循環する
ハンドラー装置の必要性が生じてきた。例えばハンドラ
ーの一投入マガジンは複数の軌道(8個もしくは10個
ぐらい)と単一のテスト位置とを有し得る。その様な場
合シャトルは、IC装置を受容しそれをテスト位置に送
るシュートの投入口までIC装置金搬送するために、I
C装置の夫々の軌道の出口端部へ近接して位置せしめら
れる。典凰的には、この作動の効果を上げるシャトルは
高速かつ直線的に移動するシャトルである。
The quality evaluations accomplished by such test equipment are performed at high speeds, resulting in the need for handler equipment to circulate the IC devices to be tested at commensurately high speeds to the test locations that couple them to the test equipment. Ta. For example, a handler's input magazine may have multiple trajectories (as many as 8 or 10) and a single test position. In such cases, the shuttle may be used to transport IC devices to the input of a chute that receives the IC devices and transports them to a test location.
C devices are located proximate to the exit ends of their respective tracks. Typically, the shuttle that facilitates this operation is one that moves at high speed and in a straight line.

IC装置の構造はその装置の性質によって変わる0例え
ば、5OIC(小型集積回路)はその外周に形成される
複数個のやぐら状の接触子を有する実質上平担な本体部
分を有するのに対しDIPは典鳳的に本体部分の細長い
側面の各々より延びる一列の細長い接触子を有する矩形
状の本体部分を有するがその接触子は本体部分の対向す
る面により形成される平面に対しほぼ垂直に延びている
。しかしIC装置の構造にかかわらず、本体部分は主に
セラミックやシリコンタイプの材料で構成される。従り
て本体部分は亀裂や破壊金堂は易く又、前述した様にシ
ャトルにより不意にかつ高速で移動する際は特に顕著で
ある。本発明はこれら従来技術の諸問題を解決する。そ
してそれは高速でIC装置ハンドラー装置を使用するた
めの改善されたるシャトル機構である。
The structure of an IC device varies depending on the nature of the device. For example, a 5OIC (small integrated circuit) has a substantially flat body portion with a plurality of tower-shaped contacts formed around its outer periphery, whereas a DIP typically has a rectangular body portion having a row of elongated contacts extending from each of the elongated sides of the body portion, the contacts extending generally perpendicular to the plane formed by the opposing surfaces of the body portion. ing. However, regardless of the structure of the IC device, the body portion is primarily composed of ceramic or silicon type materials. Therefore, the main body part is easily cracked and destroyed, and this is particularly noticeable when the main body is moved unexpectedly and at high speed by the shuttle as described above. The present invention solves these problems of the prior art. And it is an improved shuttle mechanism for using IC device handler devices at high speeds.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明はIC装置t−Sる場所から他の場所へ搬送、も
しくはある方向から他の方向へ移動することが可能なシ
ャトル機構である。その機構は略平担な面を有するガイ
ド要素を有し、IC装置の本体部分がシャトルに入る際
そのガイド面に沿って移動する。くさびストッパはその
ガイド面に対設すべく配置され、ガイド面により形成さ
れる平面に対し傾斜しかつ対向する面を有する。
The present invention is a shuttle mechanism capable of transporting an IC device from one location to another, or from one direction to another. The mechanism has a guide element having a generally flat surface along which the body portion of the IC device moves as it enters the shuttle. The wedge stopper is arranged opposite the guide surface and has a surface that is inclined and opposite to the plane formed by the guide surface.

くさびストッパの面はガイド面に向かってかつ、シャト
ルに出入りする際IC装置が移動する方向に傾斜する。
The face of the wedge stop slopes toward the guide surface and in the direction of movement of the IC device as it enters and exits the shuttle.

くさびストッパはガイドの略平担面に最も近接した端縁
部を有する。
The wedge stop has an edge closest to the generally flat surface of the guide.

かかる構造により、本シャトル発明の一部分である・・
〜ドフンよ・て操作されるIC装置はくさびスト714
面と、ガイPの略平担面との間でくさび係合しかつシャ
トルがある位置から他の位置もしくはある方向から他の
方向へ移動する際のシャトルの急加速、急減速の間、適
所に保持され得る。
Such a structure is part of the present shuttle invention.
~The IC device operated by Dofun is a wedge strike 714
wedge engagement between the surface and the substantially flat surface of the guy P, and during sudden acceleration or deceleration of the shuttle when moving from one position to another position or from one direction to another, the shuttle can be held in place. can be held.

従ってIC装置、特に装置の本体部分に損傷を与える機
会は最小限にとどめることが可能になる。
Therefore, the chance of damaging the IC device, especially the main body of the device, can be minimized.

本発明の好ましい実施例は特に、DIP (デュアルイ
ンラインノ母ツケージ)装置のシャトル搬送仕様として
設計されている。この仕様においてシャトルがDIPt
受容する位置にある時、ガイドはほぼ垂直に延びる舌片
として形成され得る。DIPがシャトル内へ移動する時
その接触子は舌状部を跨ぐが、舌状部側面と接触子の列
との空間は小さいことが望ましい。
The preferred embodiment of the present invention is specifically designed as a shuttle transport version of a DIP (Dual In-Line Package) device. In this specification, the shuttle is DIPt
When in the receiving position, the guide may be formed as a substantially vertically extending tongue. As the DIP moves into the shuttle, its contacts straddle the tongue, and the space between the sides of the tongue and the row of contacts is preferably small.

好ましい実施的にはDIP本体部分の対向する面の1つ
に係合し得る舌状部の表面に面する壁が設けられる。そ
の壁はDIP本体部分の厚さより若干大きめの距離をも
って上記舌状部の表面より隔てられる。この壁は、壁を
通し往復運動可能な一対のくさびストツノ’?を有し、
くさびストッパは舌状部の面に向かって往復する際DI
P本体部分を保持し、シャトルの加速・減速の際、IC
装置のがたがたという音を防ぐことができる。壁は、そ
れに堅固に据え付けられるくさびストッパを有し、IC
装置本体部分に係合する舌状部の表面に接近。
A preferred implementation provides a wall facing the surface of the tongue that can engage one of the opposing surfaces of the DIP body portion. The wall is separated from the surface of the tongue by a distance slightly greater than the thickness of the DIP body. This wall has a pair of wedges that can be moved back and forth through the wall. has
When the wedge stopper reciprocates toward the surface of the tongue, the DI
Hold the P main body part and use the IC when accelerating or decelerating the shuttle.
This can prevent rattling noises from the device. The wall has a wedge stop firmly mounted thereto, and the IC
Approach the surface of the tongue that engages the main body part of the device.

離反するべくくさびストッパと共に往復運動する様に作
られることが理解されよう。シャトルがソータ用シャト
ルとして使用される時、シャトルは複数個の分配箱と組
み合わせて使用可能となり、シャトル搬送されるIC装
置はその分配箱へ排出される。その様な分配箱には発光
ダイオード(LED)やり化ゲタ等の光学的検出手段を
組み込むことが可能である。シャトルがその様に使用さ
れる時、シャトルはIC装置を排出する位置にちるとき
に分配箱内に運ばれる翼状突出物を有し、その翼状突出
物はLEDからの光ビームt−a断し、リセプタを覆い
隠す。さらにその検出手段には、リセプタが充分覆い隠
された時信号を伝達すべく設けられ、その結果シャトル
によって搬送されたIC装置を解放するため、くさびス
トツノ4を舌、状部の表面から離反する様に引き込ます
手段の作動が開始する。
It will be appreciated that it is made to reciprocate with the wedge stop for separation. When the shuttle is used as a sorter shuttle, the shuttle can be used in combination with a plurality of distribution boxes, and IC devices carried by the shuttle are discharged into the distribution boxes. Such distribution boxes may incorporate optical detection means such as light emitting diodes (LEDs) or inverters. When the shuttle is so used, it has a wing that is carried into the distribution box when it is in position to eject the IC device, the wing that intercepts the light beam t-a from the LED. , masking the receptor. The detection means are further provided for transmitting a signal when the receptor is sufficiently obscured, thereby causing the wedge horn 4 to move away from the surface of the tongue in order to release the IC device carried by the shuttle. The actuation of the retracting means begins.

好ましい実施例において、くさびストッノクは舌状部の
表面に最も近い位置に向かってバイアスされる。しかる
べき位置のシャトルが検出された時、このパイアスカを
克服する手段が設けられ、その結果くさびストツノ#を
引き込ましシャトルにより搬送されるIC装置を解放す
る。
In a preferred embodiment, the wedge stock is biased toward a position closest to the surface of the tongue. Means are provided to overcome this bias when the shuttle in the proper position is detected, thereby retracting the wedge horn and releasing the IC device carried by the shuttle.

故に、本発明は従来技術の諸問題を克服するための改善
され次シャトル構造にある。本発明装置の特徴及びその
特徴より得られる利点は本出願明細書の以下の「実施例
」の項、及び特許請求の範囲、°並びに添付図面を参照
することにより明確になるであろう。
Therefore, the present invention resides in an improved secondary shuttle structure to overcome the problems of the prior art. The features of the device of the invention and the advantages derived from them will become clearer with reference to the following ``Example'' section of the specification and claims, as well as the accompanying drawings.

〔実施例〕〔Example〕

全図面を通し同一の要素は同一の参照番号で表わす。第
6図は集積回路装置(以下IC装置と略す)10t−図
示しており、本発明の搬送対象となるタイプである。そ
のIC装置は従来技術においてDIP(デュアルインラ
インパッケージ)として特徴づけられている。又IC装
置10はほぼ矩形状の本体部分12を有する。本体部分
12は所定の厚み14を有する。複数個の接触子16は
本体部分12の長い側面の各々よシ杭垣状に延びる。
Identical elements are designated by the same reference numerals throughout the drawings. FIG. 6 shows an integrated circuit device (hereinafter abbreviated as IC device) 10t, which is the type to be transported in the present invention. The IC device is characterized in the prior art as a DIP (dual in-line package). IC device 10 also has a generally rectangular body portion 12 . Body portion 12 has a predetermined thickness 14 . A plurality of contacts 16 extend across each long side of body portion 12 in a peg-like manner.

複数個の接触子16は本体部分12の対向する2つの面
18,1g’の一方により形成される平面に略垂直方向
に本体部分12より延びている。
The plurality of contacts 16 extend from the main body part 12 in a direction substantially perpendicular to a plane formed by one of the two opposing surfaces 18 and 1g' of the main body part 12.

第1図に本発明によるシャトル20を図示する。FIG. 1 illustrates a shuttle 20 according to the present invention.

この特別な図示シャトル20は、DIPI(l受容し、
かつシャトル20により搬送されるIC装置が排出され
る複数個の分配箱もしくはシュートの入口を横切るよう
Kして動くタイプのものである。
This particular illustrated shuttle 20 accepts DIPI
The shuttle 20 is of a type that moves across the entrances of a plurality of distribution boxes or chutes into which IC devices are discharged.

しかし本発明は一軸線の周りに枢動する回転シャトルの
様な、他のタイプのシャトルに本特徴を実行することも
予期していることが理解されよう。
However, it will be appreciated that the present invention also contemplates implementing this feature on other types of shuttles, such as rotating shuttles that pivot about a single axis.

第1図のシャトル20は上部軌道24と下部軌道26と
を有するレール22に沿って移動する。
The shuttle 20 of FIG. 1 moves along a rail 22 having an upper track 24 and a lower track 26. The shuttle 20 of FIG.

シャトル搬送台30の裏面28はflc5図に明らかな
様に、各々一対の上部ローラー32と下部ローラー34
とを有し、夫々上部軌道24及び上下部軌道26上に乗
る。軌道24.26はローラー32.34が乗る溝36
.38を形成し、それによってシャトル機構はレール2
2上に保持されている。
As is clear from FIG. flc5, the back surface 28 of the shuttle transport platform 30 has a pair of upper rollers 32 and a lower roller 34, respectively.
and ride on the upper track 24 and the upper and lower tracks 26, respectively. The tracks 24.26 are grooves 36 on which rollers 32.34 ride.
.. 38, whereby the shuttle mechanism
It is held on 2.

第1図にシャトルをレールに沿って直線的に移動させる
ベルト駆動手段を示す、その様な駆動機構が使用された
場合、ベル)40はシャトル20に対し固持されその結
果ベルト40がレール22に関し長手方向に移動すると
、同様にシャトル20も移動する。しかしこの駆動手段
に関しては他のいか表る適切なシャトル駆動手段も使用
し得ることが理解されよう。
If such a drive mechanism is used, FIG. 1 shows a belt drive means for moving the shuttle linearly along the rail, the bell 40 will be held rigidly against the shuttle 20 so that the belt 40 will move relative to the rail 22. When moving in the longitudinal direction, the shuttle 20 moves as well. However, it will be appreciated that any other suitable shuttle drive means may be used for this drive means.

第2図、第3図、第4図に関して、シャトル20はほぼ
縦方向に延びる舌状ガイド42を有する、又第4図から
明らかな様に、ガイド42は重量低減のため暉はU字形
状の断面になり得る。U 。
2, 3, and 4, the shuttle 20 has a generally longitudinally extending tongue-shaped guide 42, and as is apparent from FIG. 4, the guide 42 is U-shaped to reduce weight. It can be a cross section of U.

字の脚44.46は取り扱われるべきDIPIOの本体
部分12の幅と同等の距離をもって隔てられる。ガイド
42の上端部48は、後述の如(IC装置10ののど部
52への入り込みを容易にする次め番号50で示す如く
斜角をつけられ得る。ガイド42がかくの如く形成され
るときは、シャトル20に入るIC装置10はυ字脚4
4,46の端面54.56に接する、二列の接触子16
間の本体部分12の対向するほぼ平担な面18’により
ガイド42の上端部48の傾斜面50に係合する。
The legs 44,46 of the figure are separated by a distance equal to the width of the body portion 12 of the DIPIO to be handled. The upper end 48 of the guide 42 may be beveled as described below (as indicated by the next numeral 50 to facilitate entry into the throat 52 of the IC device 10). , the IC device 10 entering the shuttle 20 has υ leg 4
Two rows of contacts 16 in contact with end faces 54 and 56 of 4 and 46
An opposing generally planar surface 18' of the body portion 12 therebetween engages an inclined surface 50 of the upper end 48 of the guide 42.

この様にして、ニガの接触子16はガイド42を跨ぐ、
シャトル20はさらにガイド脚44.46のほは平担な
先端面54.56に対面する壁58會有し、その壁58
はDIPl、0の本体部分12の従来のいかなる厚さ1
4より大きい距離上もって上記先端面54.56から隔
てられる。その様な配置により本発明は、商業的に入手
し得るいかなるDIPにも使用可能である。
In this way, the nigga contactor 16 straddles the guide 42,
The shuttle 20 further includes a wall 58 facing the flat end surface 54.56 of the guide leg 44.46;
is any conventional thickness 1 of the body portion 12 of DIPl, 0
It is separated from said tip surface 54.56 by a distance greater than 4. With such an arrangement, the present invention can be used with any commercially available DIP.

好ましい実施例において一対のくさびストッパ62.6
2’は後述する方法でガイド脚の先端面54.56に接
近、離反させるため、壁58に形成される穴を介し往復
運動する様に作られる。くさびストン/46162’の
先端面64.64’との間[60はくさびストッパ62
.62’のこの往復運動により可変的である。
In the preferred embodiment a pair of wedge stops 62.6
2' is made to reciprocate through a hole formed in the wall 58 for approaching and leaving the distal end faces 54, 56 of the guide legs in a manner to be described below. Between the tip surface 64 and 64' of the wedge stone/46162' [60 is the wedge stopper 62]
.. This reciprocating movement of 62' is variable.

くさびストッパ62.62’の往復運動に関し、本発明
の好ましい実施例を上述し九が、本発明はガイドの脚4
4.46のほぼ平担な先端面54゜56に対面する壁5
8はくさびストン/# 62 +62′を支持し、その
ストツノ462 、62’ハ壁58に固着され、壁58
は舌状ガイド42から接近、離反すべく往復運動するよ
うな構造も想定しているということは理解されよう。そ
の様な別の実施例においては、壁58とガイドの脚の先
端面54゜56との間の空間は、壁58がガイド42に
最も近接した際、DIPIOの本体部分12の厚さ14
より若干大きめになる。
Although a preferred embodiment of the invention has been described above with respect to the reciprocating movement of the wedge stops 62, 62', the invention also
4. Wall 5 facing the almost flat tip surface 54° 56 of 46
8 supports a wedge stone/# 62 + 62', whose wedge stones 462, 62' are fixed to the wall 58,
It will be understood that a structure that reciprocates toward and away from the tongue-shaped guide 42 is also assumed. In such alternative embodiments, the space between the wall 58 and the distal end faces 54, 56 of the guide legs is approximately equal to the thickness 14 of the body portion 12 of the DIPIO when the wall 58 is closest to the guide 42.
It will be slightly larger.

第4図から明らかな様に本発明の好ましい実施例では一
体成形された一対のくさびストッパ62゜62′を採用
しており、そのストツノ臂はDIPIOの幅と実質上同
じ距離をもって互いに隔てられている。好ましい実施例
により企図されるその様な構造とは別に単一くさびスト
ッパでも構造の設計目標を達成すべく同等の機能を有す
ることが理解されよう。
As is apparent from FIG. 4, the preferred embodiment of the present invention employs a pair of integrally molded wedge stops 62, 62', the arms of which are spaced apart from each other by a distance substantially equal to the width of the DIPIO. There is. It will be appreciated that, apart from such a structure as contemplated by the preferred embodiment, a single wedge stopper would function equally well to achieve the design goals of the structure.

DIPIOが通りぬけるのど部52はガイドの脚の先端
面54.56と壁58により形成されるが、その壁58
に対するくさびストン/#62,62’の関係にかかわ
らず(即ち、くさびストッパが好ましい実施例にある様
な壁58を介した往復運動のために配置されようと壁5
8により堅固に有されようとン、くさびストッパ62.
62’の先端面64.64’は、のど部52を通過する
DIPIOの方向でガイド42に向って角度がつけられ
る。その結果、IC装置lOがシャトル20の頂部から
のど部52に入った時、くさびストツノや62.62’
がガイド42に向かって最も近接する往復運動の位置に
おいてくさびストッパ62.62’の先端面64.64
’とU字形状の舌状部42の脚44 、46との間にく
さびが形成される。この位置でのくさびストツノセロ2
.62’によってそのストッパは、IC装置10のシャ
トル20外への動きを遮断するだけでなく<嘔び効果に
より装置のがたがたという音をも排除する。
The throat 52 through which the DIPIO passes is formed by the distal end surfaces 54,56 of the guide legs and the wall 58.
Regardless of the relationship of the wedge stone/#62, 62' to the wall 5 (i.e., whether the wedge stop is arranged for reciprocating movement through the wall 58 as in the preferred embodiment)
8, the wedge stopper 62.
The distal surface 64.64' of 62' is angled toward the guide 42 in the direction of the DIPIO passing through the throat 52. As a result, when the IC device 1O enters the throat 52 from the top of the shuttle 20, a wedge strut or 62.62'
The distal end face 64.64 of the wedge stop 62.62' at the position of closest reciprocation towards the guide
' and the legs 44, 46 of the U-shaped tongue 42 form a wedge. Wedge strike cello 2 in this position
.. 62', the stop not only blocks movement of the IC device 10 out of the shuttle 20, but also eliminates device rattling due to the vomiting effect.

本図で示したタイプのシャトルがIC装置が排出される
分配箱もしくは排出シュートに最も近接する時、DIP
 10がのど部52から分配箱又は排出シーートヘ自由
に脱出できる様くさびストッパ62.62’を引き込め
得ることが必要である。好ましい実施例ではくさびスト
ン/162,62’は、その延長部68を適切な方向に
押圧するスプリング66等の手段により、のど部52を
閉塞する位置へバイアスされる。
When a shuttle of the type shown in this figure is closest to the distribution box or discharge chute from which the IC device is discharged, the DIP
It is necessary to be able to retract the wedge stop 62, 62' so that 10 can freely escape from the throat 52 into the distribution box or discharge seat. In the preferred embodiment, the wedge ston/162, 62' is biased into a position that closes the throat 52 by means such as a spring 66 that urges its extension 68 in the appropriate direction.

第2図、第3図及び第4図に示す様に、スゲリング66
はその一端部でシャトル搬送台30により形成される肩
部70に接しそして反対の端部において解放ブタン74
により形成される肩部72と接するが、そのがタン74
はその末端部でくさびストツノJ?延長部68により支
持される。解放ボタン74が押される時、スプリングパ
イアスカは克服されくさびストン/462,62’はシ
ャトル20により搬送されるIC装置lOの所望の自由
脱出を可能ならしめるためガイド42よシ離れる方向に
動かされる。
As shown in Figures 2, 3 and 4, Sugeling 66
abuts the shoulder 70 formed by the shuttle carriage 30 at one end and releases butane 74 at the opposite end.
The tongue 74 is in contact with the shoulder 72 formed by the tongue 74.
Is there a wedge at its end? It is supported by an extension 68. When the release button 74 is pressed, the spring piston is overcome and the wedge stones 462, 62' are moved away from the guide 42 to allow the desired free egress of the IC device IO carried by the shuttle 20. .

本発明の重要な特徴はシャトル20により搬送されるI
C装置10が排出されるべき特定の分配箱又は排出シー
ートに設けられる手段によ2て解放ボタン74が作動さ
れることにある。例えば仮シに装置がテスト位置にある
間に確認されるIC装置の品質に応じてIC装置を受容
するため、シャトル20が、複数個の排出シーートを横
切って移動するとすればプロセッサ手段(図示せず)は
信号を伝達して適切な分配箱のみにおいて機構を作動し
始める。その結果、仮シにシャトル20が適切な分配箱
の位置にいないならば、解放ボタン74は作動されない
An important feature of the invention is that the I
The release button 74 is actuated by means 2 provided on the particular distribution box or discharge sheet from which the C device 10 is to be discharged. For example, processor means (not shown) may be used if the shuttle 20 is moved across a plurality of ejection sheets to receive IC devices depending on the quality of the IC devices ascertained while the device is in the test position. ) transmits a signal to begin operating the mechanism only in the appropriate distribution box. As a result, release button 74 will not be actuated if shuttle 20 is not in the proper dispensing box position.

第2図に特定の排出分配箱76の位置にあるシャトル2
0を示す。シャトル20はシャトル台30から後方に延
びる翼状突出部78を支持している様に図示されている
。形成されるのど部52が一個の分配箱に整合した各ス
テージ、ンにシャトル20がある時、翼状突出部78は
分配箱に支持されるエレメント82の中に形成されるス
リッ)80の中に位置される。発光ダイオード(LED
 )84の様な光学的検出手段は光リセプタ86と組翼
状突出部78は特定のスリット80内に位置せにいない
ことを指示する。
Shuttle 2 at a particular discharge distribution box 76 location as shown in FIG.
Indicates 0. Shuttle 20 is shown supporting wing-like projections 78 extending rearwardly from shuttle platform 30. When the shuttle 20 is in each stage, with the formed throat 52 aligned with one distribution box, the wing-like projections 78 are inserted into the slits 80 formed in the element 82 supported by the distribution box. be located. Light emitting diode (LED
) 84 indicates that optical receptor 86 and winglet 78 are not located within a particular slit 80 .

作動時に、テスト位置で試験されたIC装置を適切な分
配箱に排出するという設計目的を達成するシャトルの例
を再度使用するならば、プロセッサ手段は適切な分配箱
までシャトル20を直線的に移動するためステップモー
タ(図示せず)に指示を与える。同時にプロセッサ手段
はその分配箱の位置で電磁弁90によって始動せしめら
れるアクチーエータ88に信号を与え、アクチーエータ
88がシャトル20が適切な位置にあることを示す信号
を受けた時、くさびストッパを引き込ませるためシャト
ル20の解放ボタン74を押す。
In operation, again using the example of a shuttle that accomplishes the design objective of discharging a tested IC device at a test location into an appropriate distribution box, the processor means linearly moves the shuttle 20 to the appropriate distribution box. In order to do this, instructions are given to a step motor (not shown). At the same time, the processor means provides a signal to an actuator 88 which is actuated by a solenoid valve 90 at the distribution box location to cause the wedge stop to retract when the actuator 88 receives a signal indicating that the shuttle 20 is in the proper position. Press release button 74 on shuttle 20.

以下に記述する様に、IC装置10が正しい分記報76
に排出されることを確実にするため多数の安全装置が設
けられる。第一に信号はステップモータに送られシャト
ル20を正しい分配箱に近接して位置せしめる方向にス
テップモータを動かす。第二にシャトル20は、正しい
分配箱にあるとして光学的検出手段84.86により検
出される。そして最後に、信号は正しい分配箱において
のみアクチュエータ88に送られ、くさびストッパスプ
リングパイアスカ66に打ち勝つようになシ、その結果
シャトル20ののど部52内に支持されるIC装置10
を解放する。
As described below, the IC device 10 reports the correct minute record 76.
A number of safety devices are provided to ensure that the First, a signal is sent to the stepper motor to move the stepper motor in a direction that positions the shuttle 20 in proximity to the correct distribution box. Second, the shuttle 20 is detected by the optical detection means 84,86 as being in the correct distribution box. And finally, the signal is sent to the actuator 88 only in the correct distribution box so that it overcomes the wedge stopper spring piers 66 so that the IC device 10 supported within the throat 52 of the shuttle 20
to release.

本明細書に包含される本発明の多数の特色及び利点は以
上の記述で明らかである。しかし本開示は多くの点で例
証したに過ぎないことが理解嘔れよう。詳細において、
特に形状、サイズ、部品の配置構造の事項において、本
発明の範囲を超えなければ変形実施例もあシ得る。当然
、本発明の範囲は添付された請求において定義されてい
る。
The numerous features and advantages of the invention encompassed herein will be apparent from the foregoing description. However, it will be appreciated that this disclosure is in many respects only illustrative. In detail,
Modified embodiments may be made without exceeding the scope of the present invention, especially in terms of shape, size, and arrangement of parts. Naturally, the scope of the invention is defined in the appended claims.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明によるシャトルを軌道に据え付けた斜視
図;第2図は部分的に分解した、第1図のシャトルの側
面図;第3図は第2図に類似し、さらにアクチーエータ
と配置され得るアクチーエータの二位置とを図示する図
;第4図は第1図のシャトルの底面図;第5図は第1図
に図示されたシャトルの後面図;第6図は従来技術で知
られるDIPの斜視図。 10・・・集積回路(IC)装置、12・・・本体部分
、20・・・シャトル、30・・・シャトル搬送台、4
2・・・舌状ガイド、52・・・のど部、62・・・く
さびストツノJ?、74・・・解放ボタン、76・・・
分配箱、88・・・アクチュエータ。
FIG. 1 is a perspective view of a shuttle according to the invention installed in orbit; FIG. 2 is a partially exploded side view of the shuttle of FIG. 1; FIG. 3 is similar to FIG. FIG. 4 is a bottom view of the shuttle of FIG. 1; FIG. 5 is a rear view of the shuttle shown in FIG. 1; FIG. 6 is a rear view of the shuttle shown in FIG. A perspective view of DIP. DESCRIPTION OF SYMBOLS 10... Integrated circuit (IC) device, 12... Main body part, 20... Shuttle, 30... Shuttle carrier, 4
2... Tongue-shaped guide, 52... Throat, 62... Wedge-shaped guide J? , 74...Release button, 76...
Distribution box, 88...actuator.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、板状本体部を有する集積回路を搬送するためのシャ
トルであって、 (a)集積回路本体部分の対向側面の一方に係合可能な
略平担面を有し、集積回路かシャトルに入り込む際の集
積回路本体部分の動きを案内するガイドと、 (b)上記ガイドに対設せしめられ、かつ集積回路がシ
ャトルに入り込む方向からガイドの略平担面に向かって
その略平担面に最も近接する端縁部を形成する様に角度
を付けられたガイドの略平担面に対して傾斜した面を有
するくさび手段とを有するシャトル。 2、集積回路本体部分は所定の厚さを有し、くさび手段
はガイドの略平担面に接近、離反するべく往復運動が可
能であり、くさび手段がその往復運動中にガイドの略平
担面に最も近接した位置にある時にくさびの端縁部は集
積回路本体部分の厚み以下の距離でガイドの略平担面よ
り隔てられる特許請求の範囲第1項に記載のシャトル。 3、集積回路はその頂部から入り込み、更に、上記シャ
トルをその入口部を横切るようにして複数個の排出シュ
ートまで動かす手段が付設される特許請求の範囲第2項
に記載のシャトル。 4、一軸線に沿って細長く延びた板状本体部分とその本
体部分の相対する細長端縁から延びその本体部分により
形成される平面に対し略垂直な二列の接触素子とを有す
るデュアルインラインパッケージ集積回路装置を受容、
分配するシャトルであつて、 (a)集積面の接触素子が延びる方向に向いた本体部分
の第一表面に係合する面を有する舌状部材と、 (b)舌状部材の上記面に対面してのど部を形成し、該
両者間に集積回路本体部分の厚さより若干大きな幅を有
する壁と、 (c)舌状部材の上記表面に接近、離反するように上記
対面壁を通して往復動して上記デュアルインラインパッ
ケージ集積回路装置が上記のど部を通って下方に動くの
を阻止する一対のくさびストッパを有し、 上記くさびストッパはのど部に入る集積回路装置により
係合可能な表面を有し、これら表面は舌状部材の上記面
に向って下方向に角度をつけられているシャトル。 5、分配箱内へ集積回路装置を排出する位置でシャトル
の存在を確認する光学的検出手段を有する少くとも1個
の分配箱へデュアルインラインパッケージ集積回路装置
を分配するためのシャトルであって、さらにシャトルに
よる支持されかつシャトルにより運搬される集積回路装
置を分配箱内に排出する適切な位置でシャトルの存在を
信号出力する光学的検出手段と協働する手段を有する特
許請求の範囲第4項に記載のシャトル。 6、該協働手段はシャトルから延びて光学的検出手段に
より伝達される光ビームを遮る翼状突出物を有する特許
請求の範囲第5項に記載のシャトル。 7、くさびストッパを舌状部材の表面に向かってバイア
スする手段をさらに有する特許請求の範囲第4項に記載
のシャトル。 8、デュアルインラインパッケージ集積回路装置を少く
とも1個の分配箱に分配するためのシャトルであって、
分配箱は舌状部材の表面に向かうくさびストッパのバイ
アス力に打ちかつ手段を有し、集積回路装置を搬送する
シャトルが分配箱の適当な位置にある時、分配箱が上記
手段を作動して集積回路装置を解放する特許請求の範囲
第7項に記載のシャトル。
[Claims] 1. A shuttle for transporting an integrated circuit having a plate-like main body, the shuttle having: (a) a substantially flat surface that can be engaged with one of the opposing side surfaces of the integrated circuit main body; , a guide for guiding the movement of the main body of the integrated circuit when the integrated circuit enters the shuttle; (b) a guide disposed opposite to the guide and facing the generally flat surface of the guide from the direction in which the integrated circuit enters the shuttle; wedge means having a surface inclined relative to the generally flat surface of the guide angled to form an edge proximate the generally flat surface thereof. 2. The integrated circuit main body portion has a predetermined thickness, and the wedge means is capable of reciprocating movement toward and away from the substantially flat surface of the guide, and the wedge means is capable of reciprocating so as to approach and move away from the substantially flat surface of the guide. 2. The shuttle of claim 1, wherein the edge of the wedge is separated from the generally planar surface of the guide by a distance less than or equal to the thickness of the integrated circuit body portion when in the closest position to the surface. 3. The shuttle of claim 2, wherein the integrated circuit enters from the top thereof and is further provided with means for moving said shuttle across its entrance to a plurality of ejection chutes. 4. A dual in-line package having a plate-like main body portion elongated along one axis and two rows of contact elements extending from opposite elongated edges of the main body portion and substantially perpendicular to the plane formed by the main body portion. Accepts integrated circuit devices,
A dispensing shuttle comprising: (a) a tongue member having a surface for engaging a first surface of the body portion oriented in the direction in which the contact elements of the collecting surface extend; and (b) facing said surface of the tongue member. a wall having a width slightly larger than the thickness of the integrated circuit main body portion between the two; a pair of wedge stops for preventing downward movement of the dual in-line packaged integrated circuit device through the throat, the wedge stops having a surface engageable by the integrated circuit device entering the throat; , these surfaces being angled downwardly towards said surface of the tongue. 5. A shuttle for dispensing dual in-line packaged integrated circuit devices into at least one distribution box having an optical detection means for confirming the presence of the shuttle at a location where the integrated circuit device is ejected into the distribution box; Claim 4 further comprising means for cooperating with optical detection means supported by the shuttle and for signaling the presence of the shuttle at a suitable location for ejecting the integrated circuit device carried by the shuttle into the distribution box. Shuttle as described in. 6. The shuttle of claim 5, wherein said cooperating means has a wing-like projection extending from the shuttle to intercept the light beam transmitted by the optical detection means. 7. The shuttle of claim 4 further comprising means for biasing the wedge stop toward the surface of the tongue. 8. A shuttle for dispensing dual in-line packaged integrated circuit devices to at least one distribution box, the shuttle comprising:
The distribution box has means for counteracting the biasing force of the wedge stop toward the surface of the tongue, and the distribution box actuates said means when the shuttle carrying the integrated circuit device is in the proper position of the distribution box. 8. A shuttle as claimed in claim 7 for releasing an integrated circuit device.
JP22708085A 1984-12-12 1985-10-14 Shuttle for carrying integrated circuit device Pending JPS61267604A (en)

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US68096084A 1984-12-12 1984-12-12
US680960 1984-12-12

Publications (1)

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