JPS61277013A - 光フアイバセンサ - Google Patents
光フアイバセンサInfo
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- JPS61277013A JPS61277013A JP60118458A JP11845885A JPS61277013A JP S61277013 A JPS61277013 A JP S61277013A JP 60118458 A JP60118458 A JP 60118458A JP 11845885 A JP11845885 A JP 11845885A JP S61277013 A JPS61277013 A JP S61277013A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
- G01C19/58—Turn-sensitive devices without moving masses
- G01C19/64—Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
- G01C19/72—Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams with counter-rotating light beams in a passive ring, e.g. fibre laser gyrometers
- G01C19/728—Assemblies for measuring along different axes, e.g. triads
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光ファイバセンサに関するものであり、更に
詳述するならば、異なる方向、次元または種類の測定を
可能とする光ファイバセンサに関するものである。
詳述するならば、異なる方向、次元または種類の測定を
可能とする光ファイバセンサに関するものである。
従来の技術
現在、光ファイバを利用しての様々な測定装置が開発さ
れ、広い分野での利用が試みられている。
れ、広い分野での利用が試みられている。
例えばζ回転速度を測定する光フアイバジャイロ、温度
や圧力を測定する光ハイドロホンなど様々な測定装置が
既に開発されている。このように光ファイバをセンサと
して利用すると、光及びその光が伝搬する光ファイバが
磁界や電界の影響を受けにくいため、シールドの問題な
くどのような環境でも使用できる。また、光ファイバを
利用することにより、小型化でき、且つ、可動部分を完
全になくすことかできる。それ故、光ファイバを利用し
ての物理量の測定は更に広く活用されていくと考えられ
る。
や圧力を測定する光ハイドロホンなど様々な測定装置が
既に開発されている。このように光ファイバをセンサと
して利用すると、光及びその光が伝搬する光ファイバが
磁界や電界の影響を受けにくいため、シールドの問題な
くどのような環境でも使用できる。また、光ファイバを
利用することにより、小型化でき、且つ、可動部分を完
全になくすことかできる。それ故、光ファイバを利用し
ての物理量の測定は更に広く活用されていくと考えられ
る。
そのような光ファイバセンサの代表的な例として、次に
光フアイバジャイロを説明する。
光フアイバジャイロを説明する。
(a) 光フアイバジャイロの[理
現在、航空機、飛翔体、自動車、ロボットなどのナビゲ
ーションや姿勢制御のための角速度センサとしてジャイ
ロが使用されるでいる。このジャイロを使用すれば、角
速度だけでなく、それを積分することにより方位などの
データも得ることができる。
ーションや姿勢制御のための角速度センサとしてジャイ
ロが使用されるでいる。このジャイロを使用すれば、角
速度だけでなく、それを積分することにより方位などの
データも得ることができる。
そのようなジャイロの中で、光フアイバジャイロは、可
動部が全くなく且つ小型化が可能であり、更に、最小検
出可能角速度(感度)、ドリフト、画側範囲(ダイナミ
ックレンジ)、スケールフ・アクタの安定性の点におい
て、従来のジャイロに比較して優れているために、近年
注目され開発されている。
動部が全くなく且つ小型化が可能であり、更に、最小検
出可能角速度(感度)、ドリフト、画側範囲(ダイナミ
ックレンジ)、スケールフ・アクタの安定性の点におい
て、従来のジャイロに比較して優れているために、近年
注目され開発されている。
そのような光フアイバジャイロの例は、例えば、ギヤ口
しンジテー、ジー1、ブカロ ジュー。ニー。
しンジテー、ジー1、ブカロ ジュー。ニー。
他「光ファイバセンサ技術」 アイ イーイーイージャ
ーナルオブカンタムエレクトロニクス(Giallor
enzi T、GlBucaro J、A、 et a
l ”0pticalFiber 5ensor
Technology”、 tBBB J、 o
f QuantumBlectronics) QB
−18,No、4. pp626−662(1982
)やタラショウ及びアイ、ピー、ギレス「光フアイバジ
ャイロスコープ」ジャーナルオブフィジクスエレクトロ
ニクスサイエンスインストルメント(Culshawa
nd 1.P、 G11es ”Fiber 0pti
c Gyroscopes”J、Phys、B:Sci
Instrum、 ) 16 PP5−15. (
1983)や、坪用、大塚「光フアイバジャイロスコー
プ」レーザ研究、11. No、12. pp889−
902 (1983)などに詳しく示されている。
ーナルオブカンタムエレクトロニクス(Giallor
enzi T、GlBucaro J、A、 et a
l ”0pticalFiber 5ensor
Technology”、 tBBB J、 o
f QuantumBlectronics) QB
−18,No、4. pp626−662(1982
)やタラショウ及びアイ、ピー、ギレス「光フアイバジ
ャイロスコープ」ジャーナルオブフィジクスエレクトロ
ニクスサイエンスインストルメント(Culshawa
nd 1.P、 G11es ”Fiber 0pti
c Gyroscopes”J、Phys、B:Sci
Instrum、 ) 16 PP5−15. (
1983)や、坪用、大塚「光フアイバジャイロスコー
プ」レーザ研究、11. No、12. pp889−
902 (1983)などに詳しく示されている。
ここで、光フアイバジャイロの原理を第2図を参照して
説明する。
説明する。
発光素子10からの光をビームスプリッタ12により分
割して、コイル状に多数回シングルモード光ファイバ1
8を巻回した光フアイバループすなわちセンサコイル2
0の両端に人力して、センサコイル20に右回り(CW
)と左回り(CCW)に光を伝搬させる。そのとき、セ
ンサコイル2oが角速度Ωで回転していると、右回り光
、左回り光に位相差Δθが生じ、Δθを測定することに
よって角速度Ωを検出するものである。
割して、コイル状に多数回シングルモード光ファイバ1
8を巻回した光フアイバループすなわちセンサコイル2
0の両端に人力して、センサコイル20に右回り(CW
)と左回り(CCW)に光を伝搬させる。そのとき、セ
ンサコイル2oが角速度Ωで回転していると、右回り光
、左回り光に位相差Δθが生じ、Δθを測定することに
よって角速度Ωを検出するものである。
センサコイル20の中を右回りに伝搬した光及び左回り
に伝搬した光の電界の強さE、、E、は、次のように表
される。
に伝搬した光の電界の強さE、、E、は、次のように表
される。
但し、El、E2=左回り光及び右回り光の振幅ω:光
の角周波数 t:時間 Δθ:サニャック効果による位相差 そのように位相差へ〇が生じた左回り光と右回り光とを
ビームスプリッタ12で合成して、受光素子26に入射
する。その受光素子26の検出強度から、位相差Δ′θ
を知ることができる。その位相差Δθは、次のように表
すことができる。
の角周波数 t:時間 Δθ:サニャック効果による位相差 そのように位相差へ〇が生じた左回り光と右回り光とを
ビームスプリッタ12で合成して、受光素子26に入射
する。その受光素子26の検出強度から、位相差Δ′θ
を知ることができる。その位相差Δθは、次のように表
すことができる。
但し、L:センサコイルのファイバ長
a:センサコイルの半径
C:真空中の光速度
λ:光の波長
Ω:回転角速度
これをす÷ヤック効果という。
位相差Δθの検出方法には多様なものがあり、様々なも
のが提案されている。
のが提案されている。
最も簡単に、左回り光、右回り光の和を、受光素子で二
乗検波すると、出力Iは、 Icx: (4+cos(Δθ))・・・・(2)とい
う形になる。
乗検波すると、出力Iは、 Icx: (4+cos(Δθ))・・・・(2)とい
う形になる。
これはCOSの中にΔθがあるので、Δθが0に近い時
の感度が悪いという欠点がある。
の感度が悪いという欠点がある。
そこで、左回り、右回りの光のいずれかの位相を90°
ずらして、二乗検波するという光学機構が提案されてい
る。この場合、出力Iは、l cx (1+5in(八
〇> ) −・−−(3)の形になるから、ΔθがO
に近い時の感度が良い。
ずらして、二乗検波するという光学機構が提案されてい
る。この場合、出力Iは、l cx (1+5in(八
〇> ) −・−−(3)の形になるから、ΔθがO
に近い時の感度が良い。
しかし、いずれか一方の光を分離するためには、光路を
分離するための新たなビームスプリッタ5が3つ必要に
なる。また、分離された光路の長さを常に等しくしてお
かなければならない。
分離するための新たなビームスプリッタ5が3つ必要に
なる。また、分離された光路の長さを常に等しくしてお
かなければならない。
ΔθがOに近い時の感度の改善を、上述したように静的
な光学的な検出機構によって行うには、上記のような難
点がある。
な光学的な検出機構によって行うには、上記のような難
点がある。
ら)位相変調方式光フアイバジャイロ
そこで、動的な機構によって、Δθを検出しようとする
光フアイバジャイロも多く提案されている。例えば、位
相変調方式、周波数変調方式などである。その中で、最
小検出可能角速度などの点で最も優れているものが、位
相変調方式光フアイバジャイロである。
光フアイバジャイロも多く提案されている。例えば、位
相変調方式、周波数変調方式などである。その中で、最
小検出可能角速度などの点で最も優れているものが、位
相変調方式光フアイバジャイロである。
位相変調方式光フアイバジャイロは、光ファイバのセン
サコイルの一方の端に、位相変調素子を設け、変調信号
の大きさを測定することにより位相差Δθを求める方式
である。
サコイルの一方の端に、位相変調素子を設け、変調信号
の大きさを測定することにより位相差Δθを求める方式
である。
その位相変調方式光フアイバジャイロについて第3図を
参照して説明する 発光素子10からの可干渉光は、ビームスプリッタ12
により2つに分けられ、結合レンズ14及び16を介し
て、光ファイバ18の両端に結合される。その光ファイ
バ18は、センサコイル20を構成するように巻回され
た部分と、角周波数ω、で駆動されるピエゾ素子のよう
な位相変調素子22に巻き付けられた部分24とに分け
られている。そして、光ファイバの両端から結合された
光は、それぞれ、光ファイバのセンサコイル20内を右
回りと左回りに伝搬し、反対側の端部より出射し、ビー
ムスプリッタ12により合成されて受光素子26に入射
する。
参照して説明する 発光素子10からの可干渉光は、ビームスプリッタ12
により2つに分けられ、結合レンズ14及び16を介し
て、光ファイバ18の両端に結合される。その光ファイ
バ18は、センサコイル20を構成するように巻回され
た部分と、角周波数ω、で駆動されるピエゾ素子のよう
な位相変調素子22に巻き付けられた部分24とに分け
られている。そして、光ファイバの両端から結合された
光は、それぞれ、光ファイバのセンサコイル20内を右
回りと左回りに伝搬し、反対側の端部より出射し、ビー
ムスプリッタ12により合成されて受光素子26に入射
する。
位相変調素子をセンサコイルに対して非対称な位置に設
けると、同時に発光素子を出た光が、右回り、左回りに
分けられてセンサコイルと位相変調素子巻回部とを通過
するが、変調の時刻が異なるので、受光素子で出力を二
乗検波した時、変調信号が出力に現われる。変調信号の
振幅に△θが含まれるから、変調信号の大きさを知って
Δθを求めることができる。
けると、同時に発光素子を出た光が、右回り、左回りに
分けられてセンサコイルと位相変調素子巻回部とを通過
するが、変調の時刻が異なるので、受光素子で出力を二
乗検波した時、変調信号が出力に現われる。変調信号の
振幅に△θが含まれるから、変調信号の大きさを知って
Δθを求めることができる。
例えば、位相変調器を左回り光の入射端の近傍に設けた
とする。光ファイバのセンサコイルの長さがL1ファイ
バコアの屈折率をn1光速をCとすると、光がセンサコ
イルを通過するに要する時間τは τ=nL/C・参Φ(4) である。
とする。光ファイバのセンサコイルの長さがL1ファイ
バコアの屈折率をn1光速をCとすると、光がセンサコ
イルを通過するに要する時間τは τ=nL/C・参Φ(4) である。
変調信号が、上記したように、角周波数の、の正弦波で
あるとする。同時に発光素子を出た光が、右回り光、左
回り光に分かれ、それぞれ位相変調を受ける時の、変調
信号の位相差φは、φ=ωヨτ =nLωm/c =2πfonL/c ・・・(5)但し、ω1=2
πf。
あるとする。同時に発光素子を出た光が、右回り光、左
回り光に分かれ、それぞれ位相変調を受ける時の、変調
信号の位相差φは、φ=ωヨτ =nLωm/c =2πfonL/c ・・・(5)但し、ω1=2
πf。
となる。
サニヤック効果により、右回り光、左回り光は、±Δθ
/2の位相差を持つが、位相変調素子によって、位相が
さらに変調される。位相変調素子の振幅をbとすると、
右回り光、左回り光の電界の強さE、、E、は、 となる。
/2の位相差を持つが、位相変調素子によって、位相が
さらに変調される。位相変調素子の振幅をbとすると、
右回り光、左回り光の電界の強さE、、E、は、 となる。
以上のような電界強度を有する右回り光、左回り光は、
ビームスプリッタ12で合成されて受光素子26によっ
て二乗検波されるので、受光素子の出力S(八〇、1)
はErとE、の和を二乗したものに比例する。
ビームスプリッタ12で合成されて受光素子26によっ
て二乗検波されるので、受光素子の出力S(八〇、1)
はErとE、の和を二乗したものに比例する。
S(Δθ、B=(E、+EL)” −−−(s)
これを計算すると、 +D、 C1+(2ω以上) ・ ・ ・(9) 但し、D、 C,は直流成分を意味する。
これを計算すると、 +D、 C1+(2ω以上) ・ ・ ・(9) 但し、D、 C,は直流成分を意味する。
(2ω以上)は、光の角振動数の2倍の振動数の項とい
う意味である。なお、これは検出器にはかからないので
0である。
う意味である。なお、これは検出器にはかからないので
0である。
となる。かくして、位相変調素子によりもたらされる位
相差φがあるので、Δθを、変調信号の振幅に関係づけ
て得ることができる。
相差φがあるので、Δθを、変調信号の振幅に関係づけ
て得ることができる。
そこで、D、 C,を省略して、S(Δθ、1)をベッ
セル函数を使って級数展開する。
セル函数を使って級数展開する。
・・・αQ
ベッセル函数の母函数展開から、
n=−■
n=−閃
と表すことができる。(12)式の実数部、虚数部の展
開から、6口式のcos、 sinの部分の級数展開を
得ることができる。S(Δθ、1)を、これらの部分に
分けて、 S(Δθ、1) =(SccosΔθ+3.sinΔθ)E1E2 ・・
(13)と書くと、θ−θ十π/2の変換をした後、J
−、(x) =(−)”J、、(x) ・・・(
14)但し、nは正の整数 という性質を使って、 φ ξ= 2b sin −φ・φ(15)とおいて、上記
ScとSsを書くと、 Sc”Jo(ξ) ・ ・ ・(16) ・ ・ ・(17) となる。そこで、再び、S(Δθ、1)を表すと次の如
くである。
開から、6口式のcos、 sinの部分の級数展開を
得ることができる。S(Δθ、1)を、これらの部分に
分けて、 S(Δθ、1) =(SccosΔθ+3.sinΔθ)E1E2 ・・
(13)と書くと、θ−θ十π/2の変換をした後、J
−、(x) =(−)”J、、(x) ・・・(
14)但し、nは正の整数 という性質を使って、 φ ξ= 2b sin −φ・φ(15)とおいて、上記
ScとSsを書くと、 Sc”Jo(ξ) ・ ・ ・(16) ・ ・ ・(17) となる。そこで、再び、S(Δθ、1)を表すと次の如
くである。
S(Δθ、1)
= ’A (E + ” 十E 2’) + (2ωを
以上の成分)+ E I E 2 J o(ξ)cos
Δθ・・・αO” =DC成分 +2EIE2Jl(ξ)cos 0mt−5inΔθ2
EIE2.L2(ξ)cos 2ω、t’cosΔθ+
高次成分 ・・・α1°゛これ
は、変調信号ω、の基本波と、高周波信号の級数和であ
る。
以上の成分)+ E I E 2 J o(ξ)cos
Δθ・・・αO” =DC成分 +2EIE2Jl(ξ)cos 0mt−5inΔθ2
EIE2.L2(ξ)cos 2ω、t’cosΔθ+
高次成分 ・・・α1°゛これ
は、変調信号ω、の基本波と、高周波信号の級数和であ
る。
適当なフィルタを使えば、基本波ω、又は任意の次数の
高調波の信号を取り出すことができる。
高調波の信号を取り出すことができる。
どの信号を採用しても、cosΔθ又はsinΔθの大
きさを知ることができる。
きさを知ることができる。
その場合、その次数のベッセル函数J、、(ξ)の値が
大きくなるよう、位相変調素子による変調の振幅b1変
調角周波数ω1、センサコイル通過時間τを設定すべき
である。
大きくなるよう、位相変調素子による変調の振幅b1変
調角周波数ω1、センサコイル通過時間τを設定すべき
である。
最も高感度が期待できるのは、(17)式の1次の項(
n=o)すなわちαQ″″式の右辺第2項である。
n=o)すなわちαQ″″式の右辺第2項である。
これは、基本波成分である。この基本波成分をP(Δθ
、1)とすると、 P(Δθ、1) =2E、E2J、(ξ)cos ω@ t−5inΔθ
・・・(18) である。かくして、sinΔθに比例した出力かえられ
、基本波成分の振幅を求めて、Δθを知ることができる
。
、1)とすると、 P(Δθ、1) =2E、E2J、(ξ)cos ω@ t−5inΔθ
・・・(18) である。かくして、sinΔθに比例した出力かえられ
、基本波成分の振幅を求めて、Δθを知ることができる
。
発明が解決しようとする問題点
以上のような光フアイバジャイロを搭載して運動する移
動体の中には、航空機やロケット更にはミサイルなどの
ように、3次元空間を運動するものが多い。そのような
移動体の角速度を測定するには、3つの光フアイバジャ
イロを従来設備していた。また、角速度と圧力とを測定
する場合には、例えば光フアイバジャイロと光ハイドロ
ホンとをそれぞれ設備しなければならない。
動体の中には、航空機やロケット更にはミサイルなどの
ように、3次元空間を運動するものが多い。そのような
移動体の角速度を測定するには、3つの光フアイバジャ
イロを従来設備していた。また、角速度と圧力とを測定
する場合には、例えば光フアイバジャイロと光ハイドロ
ホンとをそれぞれ設備しなければならない。
しかし、例えば、3つの光フアイバジャイロからなる角
速度測定装置を搭載することは、まず、装置全体が大損
りとなる問題がある。
速度測定装置を搭載することは、まず、装置全体が大損
りとなる問題がある。
また、光源や受光素子が各センサとも同一条件で動作す
るように調整することが必要であるが、その調整は非常
に面倒である。なぜならば、もし同一条件が確保できな
ければ、各測定項目のスケールの同一性を維持できず、
測定に信頼性が保てなくなるからである。例えば、3次
元の各方向のスケールが一致しなければ、その合成によ
り得られる移動方向及びその移動方向の速度が信頼でき
なくなり、正確なナビゲーションや姿勢制御は図り難い
。従って、必要な調整の箇所が増加することは大きな問
題である。
るように調整することが必要であるが、その調整は非常
に面倒である。なぜならば、もし同一条件が確保できな
ければ、各測定項目のスケールの同一性を維持できず、
測定に信頼性が保てなくなるからである。例えば、3次
元の各方向のスケールが一致しなければ、その合成によ
り得られる移動方向及びその移動方向の速度が信頼でき
なくなり、正確なナビゲーションや姿勢制御は図り難い
。従って、必要な調整の箇所が増加することは大きな問
題である。
また、個々の光ファイバセンサにとっても、光源及び受
光素子は、測定の信頼性確保上安定動作が必要であり、
そのため、安定な駆動が必要となる。従って、光源及び
受光素子に付属する装置は、高価であり且つその調整が
面倒である。それ故、光ファイバセンサを複数設備する
ことは、非常な費用を要していた。
光素子は、測定の信頼性確保上安定動作が必要であり、
そのため、安定な駆動が必要となる。従って、光源及び
受光素子に付属する装置は、高価であり且つその調整が
面倒である。それ故、光ファイバセンサを複数設備する
ことは、非常な費用を要していた。
以上のように、従来は、測定する方向、次元や種類が異
なると、それぞれ独立して光ファイバセンサを設備して
おり、費用が掛り、また、装置全体が大型化する問題が
あった。
なると、それぞれ独立して光ファイバセンサを設備して
おり、費用が掛り、また、装置全体が大型化する問題が
あった。
そこで、本発明は、上記問題を解決して、方向、次元ま
たは種類が異なる項目を測定できると共に、必要な調整
箇所が少なく比較的簡単且つ小型で、安価な光ファイバ
センサを提供せんとするものである。
たは種類が異なる項目を測定できると共に、必要な調整
箇所が少なく比較的簡単且つ小型で、安価な光ファイバ
センサを提供せんとするものである。
問題を解決するための手段
本発明は、上記目的のために種々研究し、多くの光ファ
イバセンサにおいては伝搬光を位相変調または周波数変
調していることに着目した。すなわち、変調周波数が異
なれば、複数のセンサ用光ファイバを伝搬した光を同一
の受光素子で受けても、変調周波数により分離すること
か可能である。
イバセンサにおいては伝搬光を位相変調または周波数変
調していることに着目した。すなわち、変調周波数が異
なれば、複数のセンサ用光ファイバを伝搬した光を同一
の受光素子で受けても、変調周波数により分離すること
か可能である。
本発明はかかる知見に基づいてなされたものである。
すなわち、本発明によるならば、センサ用光ファイバを
伝搬する伝搬光を変調して、その伝搬した光の変調成分
を検出することにより物理量を測定する光ファイバセン
サにおいて、複数のセンサ用光ファイバを有し、各セン
サ用光ファイバを伝搬する光を互いに異なる周波数で変
調すると共に、各センサ用光ファイバを伝搬した光を同
一の受光素子で検出し、該受光素子の出力から各変調周
波数成分を分離して各センサ用光ファイバにより検出し
た物理量を測定する。
伝搬する伝搬光を変調して、その伝搬した光の変調成分
を検出することにより物理量を測定する光ファイバセン
サにおいて、複数のセンサ用光ファイバを有し、各セン
サ用光ファイバを伝搬する光を互いに異なる周波数で変
調すると共に、各センサ用光ファイバを伝搬した光を同
一の受光素子で検出し、該受光素子の出力から各変調周
波数成分を分離して各センサ用光ファイバにより検出し
た物理量を測定する。
詐J
以上のような光ファイバセンサによれば、各センサ用光
ファイバを伝1般した光の成分が、変調周波数により分
離抽出することができる。従って、その分離抽出した成
分により測定を実施すれば、各センサ用光ファイバに割
り当てられた項目の測定を、他のセンサ用光ファイバを
伝搬した光に影響されることな〈実施することができる
。
ファイバを伝1般した光の成分が、変調周波数により分
離抽出することができる。従って、その分離抽出した成
分により測定を実施すれば、各センサ用光ファイバに割
り当てられた項目の測定を、他のセンサ用光ファイバを
伝搬した光に影響されることな〈実施することができる
。
実施例
以下添付図面を参照して本発明による光ファイバセンサ
の実施例を説明する。
の実施例を説明する。
第1図は、本発明を実施した位相変調方式光フアイバジ
ャイロの1実施例の構成を示した図である。この位相変
調方式光フアイバジャイロは、光フアイバジャイロの基
本的条件を備えた最小構成を成している。なお、最小構
成については、イゼキールエス、及びアーディティ エ
イチ、ジェー。
ャイロの1実施例の構成を示した図である。この位相変
調方式光フアイバジャイロは、光フアイバジャイロの基
本的条件を備えた最小構成を成している。なお、最小構
成については、イゼキールエス、及びアーディティ エ
イチ、ジェー。
「光フアイバ回転センサ」スプリンガーーフエアラーク
ベルリン(Bzekil S、 and Arditt
y HoJ。
ベルリン(Bzekil S、 and Arditt
y HoJ。
”Fiber 0ptic Rotation 5en
sors”、Springer−VerlagBerl
i口、) 1982に詳しい説明がある。
sors”、Springer−VerlagBerl
i口、) 1982に詳しい説明がある。
図示の位相変調方式光フアイバジャイロにおいては、発
光素子30のような光源が設けられ、電源(不図示)に
より駆動されて、光ビームを発生する。なお、光源とし
ては、He −Neレーザ、半導体レーザ、スーパール
ミネッセントダイオードなどが使用できる。その発光素
子30が発生する光ビームは、直列に並んだハーフミラ
−のようなビームスプリッタ32.34.36に送られ
る。ビームスプリッタ32は、光を受光素子38に分岐
するためのものであり、また、ビームスプリッタ34及
び36は、光源30からの光を3つに分岐すると共に3
つの光を1つのまとめるものである。
光素子30のような光源が設けられ、電源(不図示)に
より駆動されて、光ビームを発生する。なお、光源とし
ては、He −Neレーザ、半導体レーザ、スーパール
ミネッセントダイオードなどが使用できる。その発光素
子30が発生する光ビームは、直列に並んだハーフミラ
−のようなビームスプリッタ32.34.36に送られ
る。ビームスプリッタ32は、光を受光素子38に分岐
するためのものであり、また、ビームスプリッタ34及
び36は、光源30からの光を3つに分岐すると共に3
つの光を1つのまとめるものである。
ビームスプリッタ34で分岐された光ビームは、ハーフ
ミラ−のようなビームスプリッタ40に送られ、そのビ
ームスプリッタ40で2つに分けられた光ビームは、第
1の光ファイバ42の両端に結合される。
ミラ−のようなビームスプリッタ40に送られ、そのビ
ームスプリッタ40で2つに分けられた光ビームは、第
1の光ファイバ42の両端に結合される。
同様に、ビームスプリッタ36で分岐された2つの光ビ
ームは、それぞれ、ハーフミラ−のようなビームスプリ
ッタ44及び46に送られる。そして、それらビームス
プリッタ40でそれぞれ2つに分けられた光ビームは、
それぞれ、第2及び第3の光ファイバ48及び50の両
端に結合される。
ームは、それぞれ、ハーフミラ−のようなビームスプリ
ッタ44及び46に送られる。そして、それらビームス
プリッタ40でそれぞれ2つに分けられた光ビームは、
それぞれ、第2及び第3の光ファイバ48及び50の両
端に結合される。
これら3つの光ファイバ42.48及び50は、それぞ
れ、光ファイバセンサを構成するように、多数回コイル
状に巻かれてセンサコイル42A、48A及び50Aと
、圧電振動素子52.54及び56にそれぞれ巻き付け
られた部分42B、48B及び50Bとからなっている
。そして、センサコイル42A、48A及び50Aは、
直交3次元座標の各面、XY面、YZ面、ZX面にそれ
ぞれ配置されている。
れ、光ファイバセンサを構成するように、多数回コイル
状に巻かれてセンサコイル42A、48A及び50Aと
、圧電振動素子52.54及び56にそれぞれ巻き付け
られた部分42B、48B及び50Bとからなっている
。そして、センサコイル42A、48A及び50Aは、
直交3次元座標の各面、XY面、YZ面、ZX面にそれ
ぞれ配置されている。
また、圧電振動素子52.54及び56は、それぞれ位
相変調用の交流励振電源58.60及び62に接続され
、それぞれ角周波数ω、1、ω、2及びωp3の交流で
駆動されるようになされている。
相変調用の交流励振電源58.60及び62に接続され
、それぞれ角周波数ω、1、ω、2及びωp3の交流で
駆動されるようになされている。
3つの光ファイバ42.48及び50をそれぞれ右回り
と左回りとに伝搬した光ビームは、光ファイバ42.4
8及び50のそれぞれの両端から出力されて、ビームス
プリッタ40.44及び46により合成され、更に、ビ
ームスプリッタ34及び36によりまとめられ、ビーム
スプリッタ32を介して、受光素子38に入射する。
と左回りとに伝搬した光ビームは、光ファイバ42.4
8及び50のそれぞれの両端から出力されて、ビームス
プリッタ40.44及び46により合成され、更に、ビ
ームスプリッタ34及び36によりまとめられ、ビーム
スプリッタ32を介して、受光素子38に入射する。
その受光素子の電気出力は、3つの同期検波器64.6
6及び68の入力に接続されている。それら同期検波器
64.66及び68は、上述した圧電振動素子52.5
4及び56と同様に、位相変調用の交流励振電源58.
60及び62に接続され、それぞれ角周波数ω28、ω
2□及びωp3の交流を受けるようになされている。
6及び68の入力に接続されている。それら同期検波器
64.66及び68は、上述した圧電振動素子52.5
4及び56と同様に、位相変調用の交流励振電源58.
60及び62に接続され、それぞれ角周波数ω28、ω
2□及びωp3の交流を受けるようになされている。
そして、それら同期検波器64.66及び68の出力は
、それぞれローパスフィルタ70.72及び74を介し
て出力される。かくして、同期検波器64.66及び6
8は、角周波数ω、1、ωP2及びωp3の成分を抽出
し、ローパスフィルタ70.72及び74は、角周波数
ω□、ω、2及びω1.の成分の中からsinΔθに対
応する信号成分を抽出して出力する。
、それぞれローパスフィルタ70.72及び74を介し
て出力される。かくして、同期検波器64.66及び6
8は、角周波数ω、1、ωP2及びωp3の成分を抽出
し、ローパスフィルタ70.72及び74は、角周波数
ω□、ω、2及びω1.の成分の中からsinΔθに対
応する信号成分を抽出して出力する。
以上のように構成される位相変調方式光フアイバジャイ
ロは、次のように動作する。
ロは、次のように動作する。
電源により駆動される発光素子30からの光ビームは、
ビームスプリッタ32を通過して、ビームスプリッタ3
4.36で3つに分岐され、更に、ビームスプリッタ4
0.44.46によりぞれぞれ2つに分岐されて光ファ
イバ42.48.50の両端に結合される。
ビームスプリッタ32を通過して、ビームスプリッタ3
4.36で3つに分岐され、更に、ビームスプリッタ4
0.44.46によりぞれぞれ2つに分岐されて光ファ
イバ42.48.50の両端に結合される。
これら光ファイバ42.48.50に入力された光ビー
ムは、回転を受けているセンサコイル42A、48A5
0Aの部分で位相差ができ、また、交流励振電源58.
60.62からの角周波数ω□、ωp2及びω、3の交
流で駆動される圧電振動素子52.54及び56にそれ
ぞれ巻き付けられた部分42B、48B及び50Bにお
いて位相変調される。
ムは、回転を受けているセンサコイル42A、48A5
0Aの部分で位相差ができ、また、交流励振電源58.
60.62からの角周波数ω□、ωp2及びω、3の交
流で駆動される圧電振動素子52.54及び56にそれ
ぞれ巻き付けられた部分42B、48B及び50Bにお
いて位相変調される。
そのように光ファイバ42.48.50においてそれぞ
れ位相差ができ且つ位相変調された右回り光ビームと左
回り光ビームは、光ファイバ42.48.50のそれぞ
れの両端から出力されて、ビームスプリッタ40.44
.46により合成され、更に、ビームスプリッタ34.
36によりまとめられ、ビームスプリッタ32を介して
受光素子38に入射する。
れ位相差ができ且つ位相変調された右回り光ビームと左
回り光ビームは、光ファイバ42.48.50のそれぞ
れの両端から出力されて、ビームスプリッタ40.44
.46により合成され、更に、ビームスプリッタ34.
36によりまとめられ、ビームスプリッタ32を介して
受光素子38に入射する。
ここで、その受光素子38の出力を式で表すと以下のよ
うになる。
うになる。
■ (Δθ1、Δθ2、△θ3)
=DC成分
+高調波成分
但し、b、、、φ。は、n番目の光ファイバコイルの位
相変調に関する定数 Δθ。は、n番目の光ファイバコイルの受けるサニヤッ
ク効果による位相差 E n l N E n 2は、n番目の光ファイバコ
イルの左右両回り光の振幅 そのような受光素子の電気出力は、交流励振電源58.
60.62から、圧電振動素子52.54及び56の駆
動角周波数ωPisω2゜及びω、3の交流を参照角周
波数として受けている同期検波器64.66及び68に
入力される。
相変調に関する定数 Δθ。は、n番目の光ファイバコイルの受けるサニヤッ
ク効果による位相差 E n l N E n 2は、n番目の光ファイバコ
イルの左右両回り光の振幅 そのような受光素子の電気出力は、交流励振電源58.
60.62から、圧電振動素子52.54及び56の駆
動角周波数ωPisω2゜及びω、3の交流を参照角周
波数として受けている同期検波器64.66及び68に
入力される。
同期検波器64は、角周波数ωp1を参照角周波数とし
て受けているので、その角周波数ω、1の成分の交流信
号を出力し、かくして、ローパスフィルタ70は、XY
面にあるセンサコイル42Δに右いて発生した位相差Δ
θ1を示す電圧信号を出力する。
て受けているので、その角周波数ω、1の成分の交流信
号を出力し、かくして、ローパスフィルタ70は、XY
面にあるセンサコイル42Δに右いて発生した位相差Δ
θ1を示す電圧信号を出力する。
すなわち、Z軸を中心としての回転の角速度を測定する
ことができる。
ことができる。
また、同期検波器66は、角周波数ω、2を参照角周波
数として受けているので、その角周波数の2□の成分の
交流信号を出力し、かくして、ローパスフィルタ72は
、YZ面にあるセンサコイル48Aにおいて発生した位
相差Δθ2を示す電圧信号を出力する。すなわち、X軸
を中心としての回転の角速度を測定することができる。
数として受けているので、その角周波数の2□の成分の
交流信号を出力し、かくして、ローパスフィルタ72は
、YZ面にあるセンサコイル48Aにおいて発生した位
相差Δθ2を示す電圧信号を出力する。すなわち、X軸
を中心としての回転の角速度を測定することができる。
そして、同期検波器66は、角周波数の、3を参照角周
波数として受けているので、その角周波数ωp3の成分
の交流信号を出力し、かくして、ローパスフィルタ74
は、センサコイル50Aにおいて発生した位相差Δθコ
を示す電圧信号を出力する。すなわち、Y軸を中心とし
ての回転の角速度を測定することができる。
波数として受けているので、その角周波数ωp3の成分
の交流信号を出力し、かくして、ローパスフィルタ74
は、センサコイル50Aにおいて発生した位相差Δθコ
を示す電圧信号を出力する。すなわち、Y軸を中心とし
ての回転の角速度を測定することができる。
それ故、3つのローパスフィルタの出力からX1Y、Z
の3方向の角速度を得ることができ、それらを合成する
ことにより、移動方向及びその移動方向の速度を求める
ことができる。
の3方向の角速度を得ることができ、それらを合成する
ことにより、移動方向及びその移動方向の速度を求める
ことができる。
なお、以上の位相変調方式光フアイバジャイロは、3つ
のセンサコイルを有しているが、測定上必要であれば、
4またはそれ以上のセンサコイルlけてもよい。いずれ
にしても、センサコイルごとに位相変調周波数が異なる
ようにすると共に、各位相変調周波数で受光素子の電気
出力を同期検波するなどして、該当変調周波数の成分を
分離抽出すればよい。
のセンサコイルを有しているが、測定上必要であれば、
4またはそれ以上のセンサコイルlけてもよい。いずれ
にしても、センサコイルごとに位相変調周波数が異なる
ようにすると共に、各位相変調周波数で受光素子の電気
出力を同期検波するなどして、該当変調周波数の成分を
分離抽出すればよい。
また、上記実施例では、光源を共通にしているが、各セ
ンサ用光ファイバごとにそれぞれ独立に光源を設けても
よい。
ンサ用光ファイバごとにそれぞれ独立に光源を設けても
よい。
上記実施例は、角速度測定用の光フアイバジャイロに本
発明を適用してものである。しかし、本発明は、複数の
センサ光ファイバを有する光ハイドロホンに適用するな
ど、ほかの光ファイバセンサにも適用できる。更には、
センサコイルの用途を、角速度測定と温度測定と圧力測
定などのように互いに異なる複数種類の測定に使用する
こともできる。
発明を適用してものである。しかし、本発明は、複数の
センサ光ファイバを有する光ハイドロホンに適用するな
ど、ほかの光ファイバセンサにも適用できる。更には、
センサコイルの用途を、角速度測定と温度測定と圧力測
定などのように互いに異なる複数種類の測定に使用する
こともできる。
以上の実施例において、光源及び受光素子は、複数のセ
ンサ用光ファイバに共通である。従って、測定の信頼性
確保上安定な駆動が必要である光源及び受光素子は、そ
れぞれ1つであるので、面倒な調整の負担は軽い。また
、そのように安定動作が要求されるために高価にならざ
るを得ない光源及び受光素子がそれぞれ1つであるので
、多項目にわたる測定ができる光ファイバセンサを、従
来に比較して安価に製造することができる。また、装置
全体を大損りにしないで済む。
ンサ用光ファイバに共通である。従って、測定の信頼性
確保上安定な駆動が必要である光源及び受光素子は、そ
れぞれ1つであるので、面倒な調整の負担は軽い。また
、そのように安定動作が要求されるために高価にならざ
るを得ない光源及び受光素子がそれぞれ1つであるので
、多項目にわたる測定ができる光ファイバセンサを、従
来に比較して安価に製造することができる。また、装置
全体を大損りにしないで済む。
また、光源と受光素子がセンサ用光ファイバに共通であ
るので、それらを調整するだけで、各センサとも同一条
件で動作させることができる。従って、上記実施例のよ
うに3方向の速度を測定する場合など、3次元の各方向
のスケールが一致し、その合成により得られる移動方向
及びその移動方向の速度の信頼性は極めて高く、正確な
ナビゲーションや姿勢制御を図るこきができる。また、
各センサ光ファイバに付属する光源と受光素子を同一条
件で動作させるための面倒な調整作業から開放され、実
用性が極めて高い。 −33」j盟 以上の説明から明らかなように、本発明による光ファイ
バセンサは、受光素子が全センサ用光ファイバに共通し
ている。従って、方向、次元または種類が異なる項目を
、比較的簡単且つ小型で、安価な装置で測定することが
できる。
るので、それらを調整するだけで、各センサとも同一条
件で動作させることができる。従って、上記実施例のよ
うに3方向の速度を測定する場合など、3次元の各方向
のスケールが一致し、その合成により得られる移動方向
及びその移動方向の速度の信頼性は極めて高く、正確な
ナビゲーションや姿勢制御を図るこきができる。また、
各センサ光ファイバに付属する光源と受光素子を同一条
件で動作させるための面倒な調整作業から開放され、実
用性が極めて高い。 −33」j盟 以上の説明から明らかなように、本発明による光ファイ
バセンサは、受光素子が全センサ用光ファイバに共通し
ている。従って、方向、次元または種類が異なる項目を
、比較的簡単且つ小型で、安価な装置で測定することが
できる。
更に、光源も共通にすることにより、光ファイバセンサ
の中で最も測定精度に影響し且つ高価で安定駆動のため
の調整が困難な光源と受光素子との両方を全センサ用光
ファイバに共通にすることができ、装置全体を小型化で
き且つ高い信頼性を持つことができる。
の中で最も測定精度に影響し且つ高価で安定駆動のため
の調整が困難な光源と受光素子との両方を全センサ用光
ファイバに共通にすることができ、装置全体を小型化で
き且つ高い信頼性を持つことができる。
第1図は、本発明を実施した位相変調方式光フアイバジ
ャイロの光学系構成図であり、第2図は、光フアイバジ
ャイロの原理を説明する基本構成図であり、 第3図は、位相変調方式光フアイバジャイロの原理を説
明する基本構成図である。 〔主な参照番号〕 10・・発光素子 12・・ビームスプリッタ14
.16・・結合レンズ 18・・光ファイ”バ20・
・センサコイル 22・・位相変調素子26・・受
光素子 30・・光源32.34.36.40
.44.46・・ビームスプリッタ38・・受光素子
ャイロの光学系構成図であり、第2図は、光フアイバジ
ャイロの原理を説明する基本構成図であり、 第3図は、位相変調方式光フアイバジャイロの原理を説
明する基本構成図である。 〔主な参照番号〕 10・・発光素子 12・・ビームスプリッタ14
.16・・結合レンズ 18・・光ファイ”バ20・
・センサコイル 22・・位相変調素子26・・受
光素子 30・・光源32.34.36.40
.44.46・・ビームスプリッタ38・・受光素子
Claims (4)
- (1)センサ用光ファイバを伝搬する伝搬光を変調して
、その伝搬した光の変調成分を検出することにより物理
量を測定する光ファイバセンサにおいて、複数のセンサ
用光ファイバを有し、各センサ用光ファイバを伝搬する
光を互いに異なる周波数で位相変調すると共に、各セン
サ用光ファイバを伝搬した光を同一の受光素子で検出し
、該受光素子の出力から各変調周波数成分を分離して各
センサ用光ファイバにより検出した物理量を測定するこ
とを特徴とする光ファイバセンサ。 - (2)各センサ用光ファイバには、同一光源から光が結
合されることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記
載の光ファイバセンサ。 - (3)前記センサ用光ファイバの各々は、光ファイバコ
イルであり、該光ファイバコイルが受ける角速度を検出
することを特徴とする特許請求の範囲第(1)項または
第(2)項のいずれかに記載の光ファイバセンサ。 - (4)前記光ファイバコイルは3つあり、直交3次元座
標の各面に配置されていることを特徴とする特許請求の
範囲第(3)項記載の光ファイバセンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60118458A JPS61277013A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | 光フアイバセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60118458A JPS61277013A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | 光フアイバセンサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61277013A true JPS61277013A (ja) | 1986-12-08 |
Family
ID=14737145
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60118458A Pending JPS61277013A (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | 光フアイバセンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61277013A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0388499A1 (de) * | 1989-03-23 | 1990-09-26 | LITEF GmbH | Drehratensensoranordnung mit faseroptischen Sagnacinterferometern für drei Raumrichtungen |
| DE102011104512A1 (de) * | 2011-06-17 | 2012-12-20 | Northrop Grumman Litef Gmbh | Lichtquellen- und Kopplermodul für ein mehrstufiges Sensorsystem |
-
1985
- 1985-05-31 JP JP60118458A patent/JPS61277013A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0388499A1 (de) * | 1989-03-23 | 1990-09-26 | LITEF GmbH | Drehratensensoranordnung mit faseroptischen Sagnacinterferometern für drei Raumrichtungen |
| DE102011104512A1 (de) * | 2011-06-17 | 2012-12-20 | Northrop Grumman Litef Gmbh | Lichtquellen- und Kopplermodul für ein mehrstufiges Sensorsystem |
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