JPS61277135A - 受像管のコンバージェンス測定方法 - Google Patents
受像管のコンバージェンス測定方法Info
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- JPS61277135A JPS61277135A JP60118269A JP11826985A JPS61277135A JP S61277135 A JPS61277135 A JP S61277135A JP 60118269 A JP60118269 A JP 60118269A JP 11826985 A JP11826985 A JP 11826985A JP S61277135 A JPS61277135 A JP S61277135A
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は各種画像表示装置に適用して好適な受像管の
コンバージェンス測定装置に関する。
コンバージェンス測定装置に関する。
この発明は各種画像表示装置に適用して好適な受像管の
コンバージェンス測定装置に関し、特に電子ビーム到達
位置決定電極を通過したＲ、Ｇ。
コンバージェンス測定装置に関し、特に電子ビーム到達
位置決定電極を通過したＲ、Ｇ。
Ｂの各ビームスポットを水平走査方向に所定のピッチを
もって順次移動させたときに得られるビームスポットの
全形状における輝度データから、Ｒ２Ｏ，Ｂの各測定パ
ターンの中心点を算出し、これら中心点のデータに基づ
いてコンバージェンス状態を測定することにより、Ｒ，
Ｇ、Ｂの各中心点を正確に測定できるようにしたもので
あり、これによってコンバージェンスの良否を容易かつ
確実に判別できるようにしたものである。
もって順次移動させたときに得られるビームスポットの
全形状における輝度データから、Ｒ２Ｏ，Ｂの各測定パ
ターンの中心点を算出し、これら中心点のデータに基づ
いてコンバージェンス状態を測定することにより、Ｒ，
Ｇ、Ｂの各中心点を正確に測定できるようにしたもので
あり、これによってコンバージェンスの良否を容易かつ
確実に判別できるようにしたものである。
カラー受像管におけるＲ、Ｇ、Ｂの各螢光体に対応する
電子ビームの集中度を測定するためのコンバージェンス
測定は目視による場合と、測定装置を使用する場合とが
あり、測定精度に関する限り測定装置を使用した方が良
い。測定装置を使用する場合の一例は、特開昭５９−７
４７８１号公報などによって既に知られている。
電子ビームの集中度を測定するためのコンバージェンス
測定は目視による場合と、測定装置を使用する場合とが
あり、測定精度に関する限り測定装置を使用した方が良
い。測定装置を使用する場合の一例は、特開昭５９−７
４７８１号公報などによって既に知られている。
この測定装置は測定すべき任意の螢光体に、シャドーマ
スクあるいはアパーチャーグリルなどの電子ビーム到達
位置決定電極を介して電子ビームを当てることにより、
そのビーム形状に対応した表示面積を算出することによ
りその中心（ビーム重心）を求めるものである。この場
合電子ビームのパターンの表示位置によって第１２図Ａ
−Ｄに示すようにドツトパターン（図ではＧのドツトパ
ターン）と螢光体Ｇとの位置関係が変化してしまう。
スクあるいはアパーチャーグリルなどの電子ビーム到達
位置決定電極を介して電子ビームを当てることにより、
そのビーム形状に対応した表示面積を算出することによ
りその中心（ビーム重心）を求めるものである。この場
合電子ビームのパターンの表示位置によって第１２図Ａ
−Ｄに示すようにドツトパターン（図ではＧのドツトパ
ターン）と螢光体Ｇとの位置関係が変化してしまう。
このように測定ドツトパターンと螢光体との位置関係が
変化すると、同一面積の測定パターンを表示しているに
もかかわらず、測定パターン中における螢光体の重心（
測定結果の重心）が、真の重心位置０に対して変化する
ことになる。このずれは測定誤差になるので、上述した
先行技術ではこの測定誤差を回避するために、次のよう
な手段を採っている。
変化すると、同一面積の測定パターンを表示しているに
もかかわらず、測定パターン中における螢光体の重心（
測定結果の重心）が、真の重心位置０に対して変化する
ことになる。このずれは測定誤差になるので、上述した
先行技術ではこの測定誤差を回避するために、次のよう
な手段を採っている。
すなわち、重心の測定値が測定パターンと螢光体との位
置関係に対して三角関数的に変化することに着目して、
任意の位置関係、例えば第１３図のＴ１において測定パ
ターンを撮像した場合にはこの位置関係と対称な位置（
螢光体の配列ピッチの１／２）Ｔ２に、測定パターンを
発生させて、そのパターンを撮像し、夫々の平均値を求
めることにより、測定値の誤差を相殺して、測定精度を
向上させたものである。
置関係に対して三角関数的に変化することに着目して、
任意の位置関係、例えば第１３図のＴ１において測定パ
ターンを撮像した場合にはこの位置関係と対称な位置（
螢光体の配列ピッチの１／２）Ｔ２に、測定パターンを
発生させて、そのパターンを撮像し、夫々の平均値を求
めることにより、測定値の誤差を相殺して、測定精度を
向上させたものである。
ところで、このような従来のコンバージェンス測定装置
でも、ビーム集中度を正確に求めることができない。
でも、ビーム集中度を正確に求めることができない。
すなわち、上述の測定装置は、ＣＲＴ上のドツト信号を
１／２ピツチ移動することにより、′ビームスポン５位
置と螢光体の位置の相互の関係から生じる誤差をキャン
セルするものであるが、この手段では電子ビーム到達位
置決定電極で欠けているビームスポット形状の撮像情報
をそのまま基にして重心位置を算出するものであるから
、ビームスポット重心の算出誤差は必ず存在し、その累
積がコンバージェンス測定の誤差となって表れるからで
ある。
１／２ピツチ移動することにより、′ビームスポン５位
置と螢光体の位置の相互の関係から生じる誤差をキャン
セルするものであるが、この手段では電子ビーム到達位
置決定電極で欠けているビームスポット形状の撮像情報
をそのまま基にして重心位置を算出するものであるから
、ビームスポット重心の算出誤差は必ず存在し、その累
積がコンバージェンス測定の誤差となって表れるからで
ある。
そこで、この発明ではこのような従来の問題点を解決し
たものであって、電子ビーム到達位置決定電極によりビ
ームスポット形状が変形している場合であっても、ビー
ム中心を正確に算出できるようにして、コンバージェン
ス測定の精度を向上させたものである。
たものであって、電子ビーム到達位置決定電極によりビ
ームスポット形状が変形している場合であっても、ビー
ム中心を正確に算出できるようにして、コンバージェン
ス測定の精度を向上させたものである。
上述の問題点を解決するため、この発明では第１図〜第
４図に示すように、受像管面の水平方向に所定のピ゛ツ
チをもって順次配されたＲ、Ｇ、Ｂの各螢光体ストライ
プに対応させて夫々その垂直方向に、少なくとも３本の
データサンプリングラインが設定され、Ｒ，Ｇ、Ｂの各
測定パターンを同時に水平方向に所定のピッチをもって
移動させ、水平方向の移動ピッチごとに上記各データサ
ンプリングラインでのＲ，Ｇ、Ｂに関する各測定パター
ン領域内の垂直方向における夫々の輝度データを順次メ
モリする。輝度データの測定はサンプリングラインをビ
ームが完全に通過し終わるまで実行する。
４図に示すように、受像管面の水平方向に所定のピ゛ツ
チをもって順次配されたＲ、Ｇ、Ｂの各螢光体ストライ
プに対応させて夫々その垂直方向に、少なくとも３本の
データサンプリングラインが設定され、Ｒ，Ｇ、Ｂの各
測定パターンを同時に水平方向に所定のピッチをもって
移動させ、水平方向の移動ピッチごとに上記各データサ
ンプリングラインでのＲ，Ｇ、Ｂに関する各測定パター
ン領域内の垂直方向における夫々の輝度データを順次メ
モリする。輝度データの測定はサンプリングラインをビ
ームが完全に通過し終わるまで実行する。
これら輝度データに基づきＲ，Ｇ、Ｂの各測定パターン
の中心点を算出し、これら中心点のデータに基づいてコ
ンバージェンス状態を測定するようにしたものである。
の中心点を算出し、これら中心点のデータに基づいてコ
ンバージェンス状態を測定するようにしたものである。
この構成によれば、サンプリングラインを横切る全ての
輝度データからそのビームの中心すなわち、ビニムの重
心が算出されるため、Ｒ，Ｇ、Ｂの各ビームについての
重心を正確に算出スることができる。各ビームの重心を
正確に算出できれば、これら重心よりビームの集中度も
正確に算出することができるので、コンバージェンス測
定の精度を向上させることができる。
輝度データからそのビームの中心すなわち、ビニムの重
心が算出されるため、Ｒ，Ｇ、Ｂの各ビームについての
重心を正確に算出スることができる。各ビームの重心を
正確に算出できれば、これら重心よりビームの集中度も
正確に算出することができるので、コンバージェンス測
定の精度を向上させることができる。
第１図はこの発明に係る受像管のコンバージェンス測定
装置１０の一例を示す系統図であるが、説明の便宜上、
この発明の測定原理をまず第７図以下を参照して説明す
る。
装置１０の一例を示す系統図であるが、説明の便宜上、
この発明の測定原理をまず第７図以下を参照して説明す
る。
第７図Ａにおいて、Ｒ，Ｇ、Ｂは所定のピッチをもって
水平方向に配されたストライプ状の螢光体を示し、これ
らのうちの任意の螢光体、この例ではＧの螢光体に対応
した位置にデータチンプリングライン２Ｇを仮想的に設
定する。このデータサンプリングライン２Ｇは垂直方向
に所定の間隔をもって、複数のサンプリング点が設定さ
れ、データサンプリングライン２Ｇ上で発光する輝度デ
ータのみが各サンプリング点ごとにメモリに記憶される
。
水平方向に配されたストライプ状の螢光体を示し、これ
らのうちの任意の螢光体、この例ではＧの螢光体に対応
した位置にデータチンプリングライン２Ｇを仮想的に設
定する。このデータサンプリングライン２Ｇは垂直方向
に所定の間隔をもって、複数のサンプリング点が設定さ
れ、データサンプリングライン２Ｇ上で発光する輝度デ
ータのみが各サンプリング点ごとにメモリに記憶される
。
データ転送ラインと画像メモリ （後述する）との関係
を第７図Ｂに示す。
を第７図Ｂに示す。
電子ビーム到達位置決定用電極を通過した電子ビームス
ポット１は螢光体に到達することによって、Ｇの螢光体
のみ注目すれば斜線図示のように発光し、電子ビームス
ポット１を矢印ａ方向（水平方向）に所定のピッチをも
って順次移動させれば、データサンプリングライン２Ｇ
上での発光領域が、そのビーム中心ＯＧに近づくにした
がって増大し、中心を過ぎれば次第にその領域が減少す
る。
ポット１は螢光体に到達することによって、Ｇの螢光体
のみ注目すれば斜線図示のように発光し、電子ビームス
ポット１を矢印ａ方向（水平方向）に所定のピッチをも
って順次移動させれば、データサンプリングライン２Ｇ
上での発光領域が、そのビーム中心ＯＧに近づくにした
がって増大し、中心を過ぎれば次第にその領域が減少す
る。
このことから、データサンプリングライン２Ｇ上での輝
度分布を測定すると、第８図に示すような単峰状のデー
タ曲線となる。この図において、Ｋをビームスポット１
の移動ピッチとし、Ｋ＝０をビームの発光領域がデータ
サンプリングライン２Ｇ上にかからないときのピッチと
し、Ｋが大きくなるにしたがって、ビームスポット１が
左側に移動するものとすれば、輝度分布はビームの中心
で最大となり、その周辺で最小となる。
度分布を測定すると、第８図に示すような単峰状のデー
タ曲線となる。この図において、Ｋをビームスポット１
の移動ピッチとし、Ｋ＝０をビームの発光領域がデータ
サンプリングライン２Ｇ上にかからないときのピッチと
し、Ｋが大きくなるにしたがって、ビームスポット１が
左側に移動するものとすれば、輝度分布はビームの中心
で最大となり、その周辺で最小となる。
ビームスポット１の移動ピッチをＹ軸とし、データサン
プリングライン２Ｇ上のデータサンプリング点をＹ軸と
し、夫々の点での輝度データをＺ軸として、ビームスポ
ット１の移動に伴う輝度データの分布を測定すると、第
９図に示すような３次元のデータ曲線になることが判る
。従って、この輝度分布からその最大のデータを示す点
がビームスポット１の中心ＯＧとみなすことができ、こ
の中心０゜が求められれば、同様の手段でＲ及びＢの各
ビームの中心を夫々算出することができる。
プリングライン２Ｇ上のデータサンプリング点をＹ軸と
し、夫々の点での輝度データをＺ軸として、ビームスポ
ット１の移動に伴う輝度データの分布を測定すると、第
９図に示すような３次元のデータ曲線になることが判る
。従って、この輝度分布からその最大のデータを示す点
がビームスポット１の中心ＯＧとみなすことができ、こ
の中心０゜が求められれば、同様の手段でＲ及びＢの各
ビームの中心を夫々算出することができる。
この発明では、Ｒ−Ｈの各電子ビームスポットＩＲ〜Ｉ
Ｂの移動ピッチごとに夫々の輝度データを同時に計測し
、夫々のデータから各ビームの中心を算出する。
Ｂの移動ピッチごとに夫々の輝度データを同時に計測し
、夫々のデータから各ビームの中心を算出する。
そのため、第３図に示すように、互いに隣接するＲ、Ｇ
、Ｂの各螢光体の夫々に対応して、少なくとも３本のデ
ータサンプリングライン２Ｒ〜２Ｂが設定され、その状
態で３本の電子ビームを同時に励起する。そうすると、
第４図に示すように３本のビー込に対応したビームスポ
ットＩＲ〜ＩＢが得られる。
、Ｂの各螢光体の夫々に対応して、少なくとも３本のデ
ータサンプリングライン２Ｒ〜２Ｂが設定され、その状
態で３本の電子ビームを同時に励起する。そうすると、
第４図に示すように３本のビー込に対応したビームスポ
ットＩＲ〜ＩＢが得られる。
ビームスポットｌＲについては、Ｒの螢光体上に設けら
れた仮想のデータサンプリングライン２Ｒ上で発光する
輝度データのみが画像メモリにストアされ、ビームスポ
ットＩＧについては、Ｇの螢光体上に設けられた仮想の
データサンプリングライン２Ｇ上で発光する輝度データ
のみが画像メモリにストアされ、ビームスポットＩＢに
ついては、Ｂの螢光体上に設けられた仮想のデータサン
プリングライン２Ｂ上で発光する輝度データのみが画像
メモリにストアされる。
れた仮想のデータサンプリングライン２Ｒ上で発光する
輝度データのみが画像メモリにストアされ、ビームスポ
ットＩＧについては、Ｇの螢光体上に設けられた仮想の
データサンプリングライン２Ｇ上で発光する輝度データ
のみが画像メモリにストアされ、ビームスポットＩＢに
ついては、Ｂの螢光体上に設けられた仮想のデータサン
プリングライン２Ｂ上で発光する輝度データのみが画像
メモリにストアされる。
従って、３本のビームスポットＩＲ〜ＩＢを同時に矢印
ａ方向に所定のピッチで移動させながら、夫々の移動点
での輝度データを測定すれば、各ビームスボッ１−ＩＲ
〜ＩＢの３次元の輝度分布は第５図に示すものとなり、
これより各輝度分布の中心が算出される。
ａ方向に所定のピッチで移動させながら、夫々の移動点
での輝度データを測定すれば、各ビームスボッ１−ＩＲ
〜ＩＢの３次元の輝度分布は第５図に示すものとなり、
これより各輝度分布の中心が算出される。
コンバージェンスがとれていないときには、例えば、第
４図のようにビームスポットＩＲ〜ＩＢが夫々異なる螢
光体の位置に到達するから、夫々の中心（Ｘ、Ｙ）が相
違する。従って、３本のデータサンプリングライン２Ｒ
〜２Ｂで測定された輝度データから、Ｘ、Ｙ軸上のビー
ムスポットＩＲ〜ＬＢを作図すると、第６図に示すよう
になる。
４図のようにビームスポットＩＲ〜ＩＢが夫々異なる螢
光体の位置に到達するから、夫々の中心（Ｘ、Ｙ）が相
違する。従って、３本のデータサンプリングライン２Ｒ
〜２Ｂで測定された輝度データから、Ｘ、Ｙ軸上のビー
ムスポットＩＲ〜ＬＢを作図すると、第６図に示すよう
になる。
そして、例えば電子ビームＩＧの中心ｏＧ （Ｘ、。
ＹＧ）を基準とすれば、これに対するビームスポットＩ
Ｒ，ＩＢ（７）中心０Ｒ１ＯＢは夫々（Ｘ ＲＩＹＲ）
、（ＸＢ、ＹＢ）となって、中心ＯＧに対するビームス
ポットＩＲ，１ＢのずれｒＲＧ＋ ｒＢＧはこれら中
心を表すデータから容易に算出することができる。この
ような基準となる中心○。からのずれの大きさから、コ
ンバージェンスの良否を的確に判断できる。
Ｒ，ＩＢ（７）中心０Ｒ１ＯＢは夫々（Ｘ ＲＩＹＲ）
、（ＸＢ、ＹＢ）となって、中心ＯＧに対するビームス
ポットＩＲ，１ＢのずれｒＲＧ＋ ｒＢＧはこれら中
心を表すデータから容易に算出することができる。この
ような基準となる中心○。からのずれの大きさから、コ
ンバージェンスの良否を的確に判断できる。
この場合、ビームスポットＩＲ〜ＩＢは各データサンプ
リングライン２Ｒ〜２Ｂ上を最初から最後まで完全に走
査されるので、各ビームスポットＩＲ〜ＩＢの中心ＯＲ
〜０８はビームスポンドの全形状をサンプリングして輝
度データが算出されるので、非常に正確であり、従って
、これら中心０ＲＸＯ，よりコンバージェンスを正確に
求めることができる。
リングライン２Ｒ〜２Ｂ上を最初から最後まで完全に走
査されるので、各ビームスポットＩＲ〜ＩＢの中心ＯＲ
〜０８はビームスポンドの全形状をサンプリングして輝
度データが算出されるので、非常に正確であり、従って
、これら中心０ＲＸＯ，よりコンバージェンスを正確に
求めることができる。
第１図は第３図に示す輝度分布測定を実現するための一
例を示す系統図である。
例を示す系統図である。
第１図において、１１はコンバージェンス測定に供する
被測定装置で、これには３本のビームスポットＩＲ〜Ｉ
Ｂを同時に励起するために所定の測定パターン信号ＳＣ
が供給され、これによって、その受像管面上には第３図
に示すようなドツトパターンが表示される。
被測定装置で、これには３本のビームスポットＩＲ〜Ｉ
Ｂを同時に励起するために所定の測定パターン信号ＳＣ
が供給され、これによって、その受像管面上には第３図
に示すようなドツトパターンが表示される。
複数のドツトは白黒用のテレビカメラ１２でそのドツト
が撮像され、撮像出力はＡ／Ｄ変換器１３でデジタルデ
ータに変換される。デジタルデータは画像メモリ１４に
供給されて、各電子ビームごとに対応するエリヤにスト
アされる。ストアすべき輝度データは、データサンプリ
ングライン２Ｒ〜２Ｂ上の輝度データだけでもよく、ビ
ームスポット全体のＲ，Ｇ、Ｂの各輝度データでもよい
が、この例では前者の場合を示す。
が撮像され、撮像出力はＡ／Ｄ変換器１３でデジタルデ
ータに変換される。デジタルデータは画像メモリ１４に
供給されて、各電子ビームごとに対応するエリヤにスト
アされる。ストアすべき輝度データは、データサンプリ
ングライン２Ｒ〜２Ｂ上の輝度データだけでもよく、ビ
ームスポット全体のＲ，Ｇ、Ｂの各輝度データでもよい
が、この例では前者の場合を示す。
画像メモリ１４にストアされた各電子ビームの輝度デー
タ、すなわち、夫々のデータサンプリングライン２Ｒ〜
２ＢにおけるＲ−Ｂに夫々対応した輝度データのみがビ
ームスポットＩＲ〜ＩＢの移動ピッチごとに、コンピュ
ータで構成されたデータ処理装置１５に供給されて、上
述した各電子ビームＩＲ〜ＩＢの中心ＯＲ〜０日が算出
されると共に、このデータ処理装置１５から、画像メモ
リ１４へのデータストア終了の都度、ドツト移動指令信
号が送出される。
タ、すなわち、夫々のデータサンプリングライン２Ｒ〜
２ＢにおけるＲ−Ｂに夫々対応した輝度データのみがビ
ームスポットＩＲ〜ＩＢの移動ピッチごとに、コンピュ
ータで構成されたデータ処理装置１５に供給されて、上
述した各電子ビームＩＲ〜ＩＢの中心ＯＲ〜０日が算出
されると共に、このデータ処理装置１５から、画像メモ
リ１４へのデータストア終了の都度、ドツト移動指令信
号が送出される。
この例では、測定パターン信号そのものを所定のピッチ
だけ順次矢印ａ方向に移動させるようにした例であるの
で、ドツト移動指令信号は同期発生回路１６に供給され
、このドツト移動指令信号に同期してパターン発生器１
７が動作して測定パターン信号ＳＣが出力される。
だけ順次矢印ａ方向に移動させるようにした例であるの
で、ドツト移動指令信号は同期発生回路１６に供給され
、このドツト移動指令信号に同期してパターン発生器１
７が動作して測定パターン信号ＳＣが出力される。
第２図は測定パターン信号の一例を示すもので、測定バ
クーン信号ＳＣはドツト移動ピッチだけ順次ずらされて
出力される（同図Ａ、Ｂ）、データ処理装置１５では、
第６図に示すように電子ビームＩＲ〜ＩＢにおける夫々
の輝度データからその中心点ＯＲ〜ＯＢが算出されると
共に、これら中心点ｏＲ〜ＯＢを決めるＸ、 Ｙデータ
から、基準となる中心点ＯＧに対する中心点ＯＲ，Ｏａ
のずれｒＲＧ、 ｒｓｅが算出される。すなわち、こ
れらのずれｒヤ＋’８（ｙは次のようにして算出される
。
クーン信号ＳＣはドツト移動ピッチだけ順次ずらされて
出力される（同図Ａ、Ｂ）、データ処理装置１５では、
第６図に示すように電子ビームＩＲ〜ＩＢにおける夫々
の輝度データからその中心点ＯＲ〜ＯＢが算出されると
共に、これら中心点ｏＲ〜ＯＢを決めるＸ、 Ｙデータ
から、基準となる中心点ＯＧに対する中心点ＯＲ，Ｏａ
のずれｒＲＧ、 ｒｓｅが算出される。すなわち、こ
れらのずれｒヤ＋’８（ｙは次のようにして算出される
。
Ｖア ＝ＹＲ−ＹＧ ・・・・・・（１）ＨＲＧ
＝＝ＸＲＸＱ ・・・・・・（２）、°、
ｒヤ＝行’ＲＧ＋Ｈ’ＲＧ ・・・・・・（３）ｖａ
ａ ＝ＹＧ −ＹＢ ・・・・・−（４）Ｈ
ｓｅ ”Ｘｓ Ｘａ −−（５）、’、ｒ
ｅ（ｗ＝０）］Ｔ階訂 ・・・・・・（６）ドツトの移
動はドツト信号ＳＣの水平方向の位置をずらすことによ
って求めるのではなく、被測定用の受像機１１に対する
水平偏向信号をずらすようにしてもよい。
＝＝ＸＲＸＱ ・・・・・・（２）、°、
ｒヤ＝行’ＲＧ＋Ｈ’ＲＧ ・・・・・・（３）ｖａ
ａ ＝ＹＧ −ＹＢ ・・・・・−（４）Ｈ
ｓｅ ”Ｘｓ Ｘａ −−（５）、’、ｒ
ｅ（ｗ＝０）］Ｔ階訂 ・・・・・・（６）ドツトの移
動はドツト信号ＳＣの水平方向の位置をずらすことによ
って求めるのではなく、被測定用の受像機１１に対する
水平偏向信号をずらすようにしてもよい。
第１０図はその一例を示すもので、データ処理装置１５
から送出されるドツト移動信号でＤ／Ａ変換器２１が制
御されて、のこぎり波状の水平偏向信号が形成され、こ
れがパターン発生器１７に供給されると共に、水平偏向
回路２２に供給される。そして、このドツト移動指令信
号が供給される都度、水平偏向回路２２より送出される
水平偏向信号に重畳されるＤＣレベルが制御される。
から送出されるドツト移動信号でＤ／Ａ変換器２１が制
御されて、のこぎり波状の水平偏向信号が形成され、こ
れがパターン発生器１７に供給されると共に、水平偏向
回路２２に供給される。そして、このドツト移動指令信
号が供給される都度、水平偏向回路２２より送出される
水平偏向信号に重畳されるＤＣレベルが制御される。
これによりパターン発生器１７より出力される測定パタ
ーン信号の位相が同一であっても、水平偏向信号のＤＣ
レベルが順次シフトされる結果、受像管面上のドツトは
順次左側にシフトされるため、第１図の場合と同様にビ
ームスポットＩＲ〜ＩＢを所定のピッチをもって移動さ
せることができる。
ーン信号の位相が同一であっても、水平偏向信号のＤＣ
レベルが順次シフトされる結果、受像管面上のドツトは
順次左側にシフトされるため、第１図の場合と同様にビ
ームスポットＩＲ〜ＩＢを所定のピッチをもって移動さ
せることができる。
この構成は水平偏向信号に所定のＤＣ電圧を順次変更す
るだけであるから、測定装置が簡単となり、従って受像
管の検査ラインなどに適用して好適である。
るだけであるから、測定装置が簡単となり、従って受像
管の検査ラインなどに適用して好適である。
また、上述の例では３本のデータサンプリングライン２
Ｒ〜２Ｂを設定して輝度データを測定したが、第１１図
に示すように各螢光体に対して、複数のデータサンプリ
ングラインを設定することもでき、このようにする場合
には輝度データの測定時間をそれだけ短縮できる。
Ｒ〜２Ｂを設定して輝度データを測定したが、第１１図
に示すように各螢光体に対して、複数のデータサンプリ
ングラインを設定することもでき、このようにする場合
には輝度データの測定時間をそれだけ短縮できる。
輝度データの測定はＹ方向、のみならず、Ｘ方向も行っ
てもよい。この場合には、例えば水平方向にビームを移
動させたのち、垂直方向に移動させて、上述したと同様
の操作で、夫々の輝度データを測定すればよい。
てもよい。この場合には、例えば水平方向にビームを移
動させたのち、垂直方向に移動させて、上述したと同様
の操作で、夫々の輝度データを測定すればよい。
以上説明したようにこの発明によれば、受像管面の水平
方向に所定のピッチをもって順次配されたＲ、Ｇ、Ｂの
各螢光体ストライプに対応させて夫々その垂直方向に、
少なくとも３本のデータサンプリングラインを設定し、
Ｒ，Ｇ、Ｈの各測定パターンを同時に水平方向に所定の
ピッチをもって移動させ、水平方向の移動ピッチごとに
上記各データサンプリングラインでのＲ，Ｇ、Ｂに関す
る各測定パターン領域の垂直方向における夫々の輝度デ
ータを順次メモリして、これら輝度データに基づきＲ，
Ｇ、Ｂの各測定パターンの中心点を算出し、これら中心
点のデータに基づいてコンバージェンス状態を測定する
ようにしたものである。
方向に所定のピッチをもって順次配されたＲ、Ｇ、Ｂの
各螢光体ストライプに対応させて夫々その垂直方向に、
少なくとも３本のデータサンプリングラインを設定し、
Ｒ，Ｇ、Ｈの各測定パターンを同時に水平方向に所定の
ピッチをもって移動させ、水平方向の移動ピッチごとに
上記各データサンプリングラインでのＲ，Ｇ、Ｂに関す
る各測定パターン領域の垂直方向における夫々の輝度デ
ータを順次メモリして、これら輝度データに基づきＲ，
Ｇ、Ｂの各測定パターンの中心点を算出し、これら中心
点のデータに基づいてコンバージェンス状態を測定する
ようにしたものである。
この場合、メモリされる輝度データはデータサンプリン
グラインを横切る電子ビームスポットの全ての領域に対
して求められるものであるから、ビーム中心の算出が正
確となり、それに伴って基準となるビーム中心に対する
他のビーム中心のずれを正確に算出することができ、コ
ンバージェンス状態の良否を的確に判断することができ
る特徴を有する。
グラインを横切る電子ビームスポットの全ての領域に対
して求められるものであるから、ビーム中心の算出が正
確となり、それに伴って基準となるビーム中心に対する
他のビーム中心のずれを正確に算出することができ、コ
ンバージェンス状態の良否を的確に判断することができ
る特徴を有する。
また、少なくとも３本のデータサンプリングラインから
の輝度データを同時に測定しているので、コンバージェ
ンス測定時間を大幅に短縮することができると共に、ビ
ームパターンは測定パターン信号の位相などを所定のピ
ッチだけ順次ずらすようにしているから、画面のコーナ
一部分のコン、パージェンス状態も正確に測定すること
ができ、画面全体のコンバージェンスを簡単、かつ正確
に測定できるなどの特徴を有する。
の輝度データを同時に測定しているので、コンバージェ
ンス測定時間を大幅に短縮することができると共に、ビ
ームパターンは測定パターン信号の位相などを所定のピ
ッチだけ順次ずらすようにしているから、画面のコーナ
一部分のコン、パージェンス状態も正確に測定すること
ができ、画面全体のコンバージェンスを簡単、かつ正確
に測定できるなどの特徴を有する。
第１図はこの発明に係るコンバージェンス測定装置の一
例を示す系統図、第２図はドツト信号の一例を示す図、
第３図は螢光体とデータサンプリングラインとの関係を
示す図、第４図はデータサンプリングラインと電子ビー
ムとの関係を示す図、第５図は電子ビームの輝度データ
の分布状態を示す図、第６図は電子ビームの中心のずれ
を示す図、第７図はこの発明の説明に供する第４図と同
様な図、第８図はその輝度分布図、第９図は３次元の輝
度分布状態を示す図、第１０図はこの発明の他の例を示
す系統図、第１１図は第３図のさらに他の例を示す螢光
体とデータサンプリングラインとの関係を示す図、第１
２図及び第１３図は夫々受像管のコンバージェンス測定
の従来例を説明するための図である。 ＩＲ〜ＩＢは電子ビームスポット、Ｒ−Ｂは螢光体、２
Ｒ〜２Ｂはデータサンプリングライン、１１は被測定用
受像機、１２はテレビカメラ、１４は輝度データのメモ
リ、１５はデータ処理装置、ＳＣは測定パターン信号で
ある。 第−７図 第８図 第３図 Ａ ＢＣ ８に 第１２図 第１１図 り 第１３図
例を示す系統図、第２図はドツト信号の一例を示す図、
第３図は螢光体とデータサンプリングラインとの関係を
示す図、第４図はデータサンプリングラインと電子ビー
ムとの関係を示す図、第５図は電子ビームの輝度データ
の分布状態を示す図、第６図は電子ビームの中心のずれ
を示す図、第７図はこの発明の説明に供する第４図と同
様な図、第８図はその輝度分布図、第９図は３次元の輝
度分布状態を示す図、第１０図はこの発明の他の例を示
す系統図、第１１図は第３図のさらに他の例を示す螢光
体とデータサンプリングラインとの関係を示す図、第１
２図及び第１３図は夫々受像管のコンバージェンス測定
の従来例を説明するための図である。 ＩＲ〜ＩＢは電子ビームスポット、Ｒ−Ｂは螢光体、２
Ｒ〜２Ｂはデータサンプリングライン、１１は被測定用
受像機、１２はテレビカメラ、１４は輝度データのメモ
リ、１５はデータ処理装置、ＳＣは測定パターン信号で
ある。 第−７図 第８図 第３図 Ａ ＢＣ ８に 第１２図 第１１図 り 第１３図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 受像管面の水平方向に所定のピッチをもって順次配され
たＲ、Ｇ、Ｂの各螢光体ストライプに対応させて夫々そ
の垂直方向に、少なくとも３本のデータサンプリングラ
インが設定され、 Ｒ、Ｇ、Ｂの各測定パターンを同時に水平方向に所定の
ピッチをもって移動させ、水平方向の移動ピッチごとに
上記各データサンプリングラインでのＲ、Ｇ、Ｂに関す
る各測定パターン領域の垂直方向における夫々の輝度デ
ータを順次メモリして、 これら輝度データに基づきＲ、Ｇ、Ｂの各測定パターン
の中心点を算出し、これら中心点のデータに基づいてコ
ンバージェンス状態を測定するようにした受像管のコン
バージェンス測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60118269A JPH0646543B2 (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | 受像管のコンバージェンス測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60118269A JPH0646543B2 (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | 受像管のコンバージェンス測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61277135A true JPS61277135A (ja) | 1986-12-08 |
| JPH0646543B2 JPH0646543B2 (ja) | 1994-06-15 |
Family
ID=14732454
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60118269A Expired - Fee Related JPH0646543B2 (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | 受像管のコンバージェンス測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0646543B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63241837A (ja) * | 1987-03-30 | 1988-10-07 | Toshiba Corp | カラ−受像管の色純度調整方法 |
| JPH02121231A (ja) * | 1988-10-31 | 1990-05-09 | Mitsubishi Electric Corp | 陰極線管の電子ビーム調整装置 |
| JPH04181631A (ja) * | 1990-11-14 | 1992-06-29 | Nec Corp | カラーブラウン管のビーム形状測定装置 |
| US5835135A (en) * | 1995-03-08 | 1998-11-10 | Minolta Co., Ltd. | Device for measuring a glow center of a display device |
-
1985
- 1985-05-31 JP JP60118269A patent/JPH0646543B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63241837A (ja) * | 1987-03-30 | 1988-10-07 | Toshiba Corp | カラ−受像管の色純度調整方法 |
| JPH02121231A (ja) * | 1988-10-31 | 1990-05-09 | Mitsubishi Electric Corp | 陰極線管の電子ビーム調整装置 |
| JPH04181631A (ja) * | 1990-11-14 | 1992-06-29 | Nec Corp | カラーブラウン管のビーム形状測定装置 |
| US5835135A (en) * | 1995-03-08 | 1998-11-10 | Minolta Co., Ltd. | Device for measuring a glow center of a display device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0646543B2 (ja) | 1994-06-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |