JPS6128253Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は回転磁気ヘツドの出力電圧測定装置に
関する。

ガイドシリンダに巻回せしめた磁気テープを走
査し乍ら磁気記録再生を為す回転磁気ヘツドは、
テープ対接面の形状や突出量等の微妙な変動が記
録再生特性に大きな影響を与える。そこで一対の
回転磁気ヘツドは、回転デイスクに固定された状
態で検査用ビデオテープレコーダに取付けられ記
録再生特性試験が為される。従来の試験方法は、
自ら形成した記録トラツクを再生走査し、再生出
力を垂直同期周期に同期せしめてオシロスコープ
に映出せしめ、再生出力が形成する包絡線の走査
始端近傍、即ち垂直同期信号挿入時点、と走査中
間部のレベルを目測し、所定比にあるか否かを換
算表を利用して測定することにより両回転磁気ヘ
ツドの良否を検査している。しかし、斯る方法
は、人手と時間を必要とするばかりか、検査精度
も低いと云う欠点を免れ得ない。

そこで、本考案は上述の点に鑑み、再生出力レ
ベルが低くなり易い走査開始部分の垂直同期信号
挿入域の再生出力レベルを自動的に高い精度で測
定する出力レベル測定装置を提案せんとするもの
である。

以下本考案を図示せる一実施例に従い説明す
る。本実施例は、アジマスを異にする一対の磁気
ヘツドが載置固定された回転デイスクを、検査用
ビデオテープレコーダのガイドシリンダに仮装着
して、磁気ヘツドの記録再生特性を検査する装置
であり、主要構成要素は、記録回路Ａ、検査用ビ
デオテープレコーダＢ、再生回路Ｃ、演算回路Ｄ
より成る。

第１図は本実施例装置の回路ブロツク図を顕わ
し、図中図番１は記録モードで一定期間5MHzの
発振出力を導出する発振回路、２は5MHzの信号
を1/5分周する1/5分周回路、３は1MHzの信号と
5MHzの信号を切換える周波数選択回路、４は該
回路出力を増幅する記録増幅回路、５は該回路出
力を前半第１回転磁気ヘツドH₁に後半第２回転
磁気ヘツドH₂に供給するヘツド入力切換回路、
６，７は記録時に前記第１、第２回転磁気ヘツド
H₁，H₂に記録回路出力を供給し、再生時に回転
磁気ヘツドの第１・第２再生出力P₁，P₂を前記再
生回路Ｃに供給する。第１・第２録再生切換回
路、８は検査用ビデオテープレコーダのモードを
制御回路１０の一出力によつて制御するモード設
定回路、９は回転デイスクの回転に関連して相補
的なヘツド切換出力を導出する回転検出回路、１
１は第１再生出力P₁を検出する再生出力検出回
路、１２は入力される第１若くは第２再生出力
P₁，P₂を増幅する再生増幅回路、１３は該回路出
力を包絡線検波する包絡線検波回路、１４は第
１・第２再生出力P₁，P₂の周波数が変化する度に
走査始点の包絡線をヘツド切換出力の立上りに関
連して一定間隔で14点づつ連続する10個の包絡線
をサンプリングすると共に該サンプリング値を
AD変換して導出するAD変換回路、１５は前記再
生検出回路１１の出力によつて対応する切換出力
を選択するサンプリング域決定回路１６は第１・
第２再生出力P₁，P₂の周波数が変化する度にアド
レス指定回路１７の指定に従いサンプリング値を
平均化すべく対応するサンプリング点毎にサンプ
リング値を読出すサンプリング値記憶回路、１８
は10個づつ導出されるサンプリング値を平均化す
る平均化回路、１９は各サンプリング点に対応す
る基準レベルを記憶し前記アドレス指定回路１７
の指定に基づいて基準レベルを導出する基準レベ
ル記憶回路、２０は平均出力と基準レベルをサン
プリング点毎に比較し基準レベル以下であれば出
力を発する比較回路、２１は比較出力の発生に伴
つて回転磁気ヘツドに対応するランプR₁又はR₂
を点灯せしめる不良検出回路をそれぞれ顕わす。

よつて本実施例によれば、まず、適当な映像信
号供給手段より分離した垂直同期信号に同期して
検査用ビデオテープレコーダを記録モードの定速
駆動状態となし、制御出力により前記発振回路１
を作動せしめて5MHzの記録信号と1/5分周した
1MHzの記録信号を一定期間（約１秒）づつ交互
に選択導出して増幅する。増幅出力は制御出力に
基ずいて２種の記録信号を前記第１・第２回転磁
気ヘツドH₁，H₂に一定期間（約２秒づつ）供給
され磁気テープに記録される。次いで制御出力に
基ずいて前記検査用ビデオテープレコーダＢが所
定量巻戻されて再生モードとなり、定速走行状態
となつた後、前記第１回転磁気ヘツドH₁の第１
再生出力P₁が導出されると、該出力P₁を検出して
該出力P₁に対応するヘツド切換出力が前記AD変
換回路１４に入力され、再生出力切換直後の垂直
同期信号挿入部相当期間に対応する包絡線のレベ
ルを第２図に図示せる如く一包絡線当り14点サン
プリングし乍らAD変換する動作を10回繰り返し
て第１回目のサンプリングを終える。上述のサン
プリングによつて導出されるサンプリング値は、
順次演算回路Ｄのサンプリング値記憶回路１６に
記憶され各包絡線の対応するサンプリング点のサ
ンプリング値を読出して平均化し基準レベル以上
であるか否かを判別してレベル以下であれば第１
ランプR₁を点灯せしめる。その後前記第１再生
出力P₁の再生周波数が変更されたとき再び前述せ
るサンプリングと比較を為し前記第１回転磁気ヘ
ツドH₁の良否を判定する。更にその後導出され
る前記第２再生出力の２種の周波数に付いてもそ
れぞれ同様のサンプリングと比較が為され前記第
２回転磁気ヘツドH₂の良否を判定する。

従つて、本実施例では1MHzと5MHzの２種類の
再生周波数が形成する包絡線の垂直同期信号挿入
部分のレベルが所定レベル以上であるか否かを検
査するため検査の信頼度は高く、一連の検査を制
御回路が無駄なく自動的に実行するため検査時間
も約10秒程度に留めることができる。

上述せる如く本考案によれば、従来の目測によ
る検査に比し正確且つ迅速な検査が自動的に行な
えるためその効果は大である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施回路ブロツク図、第２
図は要部波形図をそれぞれ示す。 主な図番の説明、Ａ……記録回路、Ｃ……再生
回路、Ｄ……演算回路。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 記録モード設定時に定周波信号を定速回転する
   回転磁気ヘツドに供給する記録回路と、再生モー
   ド設定時にヘツド出力切換信号に同期して前記回
   転磁気ヘツドの再生走査開始部分に於ける再生出
   力の包絡線をサンプリングする再生回路と、サン
   プリング値と基準レベルを比較して回転磁気ヘツ
   ドの記録再生特性を判定する演算回路を配したこ
   とを特徴とする回転磁気ヘツドの出力レベル測定
   装置。