JPS61283200A - Ｉｃのピン曲りチエツカ− - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、完成したＩＣのピン（リード）の曲折の有無
を検出するＩＣのビン曲りチェッカーに関するものであ
る。

〔従来の技術〕

パフケージングを終了して完成したＩＣの中には、ピン
が欠落°していたり（第１図（ａ））　、曲がっていた
り（同（ｂ））、ピッチが不規則であったり（同（Ｃ）
）、あるいは、横に流れていたり（間（ｄ））するもの
が含まれているので、それらをチェックして除去する必
要がある。ところが従来は、簡単な構造で、上記すべて
の種類の不良状態を確実に検出し、しかも自動化ライン
に容易に組み込むことができるＩＣのピン曲りチェッカ
ーは存せず、その出現が望まれていた。

〔発明の目的〕

本発明は上記要請に応えるためになされたもので、簡単
な構造であって、ピンの異常を迅速且つ確実に検出する
ことができ、しかも自動化ラインに容易に組み込むこと
ができるＩＣのピン曲りチェッカーを提供することを目
的とするものである。

〔発明の構成〕

本発明は、シリンダーと、該シリンダーを設置するフレ
ームと、該フレームにおいて支持され、前記シリンダー
の作用で昇降動作をするブロックとから構成され、前記
ブロックには、裏返し状態のＩＣのピンが通過する２つ
の溝を形成するとともに、それ°らの溝に臨ませてセン
サーを配備して成るＩＣのピン曲りチェッカーであって
、図面はその実施例を示すものである。

それはシリンダー１、光センサ−（光ファイバー）を組
み入れたブロック２、及び、シリンダー１を固定すると
ともにブロック２を支持するフレーム３とから成る。シ
リンダー１はフレーム３の上部に設置し、そのロッド４
を下方に延ばして先端をブロック２の丁字形天板５に固
定する。フレーム３の両側板は一部を切除し、その部に
それぞれガイドロッド６を立設する。ブロック２は、そ
の天板５の両側端にガイドロッド６が摺動自在に挿通さ
れることにより、フレーム３の両側板間に昇降可能状態
にて支持される。ブロック２は断面倒Ｅ字形とし、裏返
しになったＩＣ７のピン８が通り抜ける溝９．１０を形
成する。溝９．１０には、ＩＣ７を定位置に停止せさる
ためのストッパー１１を設ける。ストッパー１１は、溝
９．１０に横に渡したピンで構成される。ストッパー１
１は、できる限り受発光部より離した方がよい（下方に
位置させる）。その方が、第１図（ｄｌのようなピン曲
りを検出しやすいからである。ブロック２には、光セン
サーの発光部と受光部を覗かせるための孔（スリット）
１２がピン８の数だけ、あるいは、それより多く、ピン
８の間隔と同じ間隔にて形成される。発光部から出た光
は、孔１２より溝９．１０に向けて放たれる。センサー
の方式としては、反射型及び透過型のいずれであっても
よい。第３図及び第４図は反射型を示す゛もので、第３
図においては、受発光部（発光部と受光部を別体のもの
としてもよいが、通常は一つの光ファイバーで兼用とす
る。）は、溝９．１０に挾まれた中間部１３に埋設され
、内側からＩＣ７のピン８に向けて発光する（矢印参照
）。第４図の場合は、受発光部がブロック２の外側部１
４．１５に埋設される。第５図は透過型センサーの場合
を示しており、発光部は中間部１２内に埋設され、内側
からピン８に向けて発光する。また、受光部は外側部１
４．１５内に埋設され、ピン８に遮蔽されずに透過して
くる光を受ける。受発光部は上記いずれの場合も、ピン
８の先端部該当位置に設置させることが好ましい。そう
することにより、ピン８の僅かな傾きも検出可能となる
。

〔発明の作用〕　　　　゛ 本発明の作用につき説明するに、本チェッカーは、その
フレーム３の両側板が、ＩＣ７を裏返して搬送するシュ
ート（図示してない。通常傾斜させ、ＩＣを自重によっ
て涜走させる。）を跨ぐようにして配置され、検査すべ
きＩＣ７が併給されるに先立ち、シリンダー１の作用で
ブロック２が下降する。その動作は、一対のガイドロッ
ド６によって支持される。その状態でＩＣ７が送られて
くると、そのピン８はブロック２の溝９．１０内に逃げ
、先頭のピン８がストッパー１１に当接するまで矢印方
向に進行する。

その位置においてセンサーが動作し、発光部より放光す
る第３図に示す実施例の場合は、ピン８の位置が正常で
すべてに異常がなければ、光が各ピン８に当たって反射
し、それを受光部において受光し、受光信号（正常確認
信号）を図示してないマイクロプロセッサ−に送る。ピ
ン８が１本でも不良状態にあると、光がピン８に当らず
に透過してしまうところができ、上記受光信号が送られ
ず、ピン８に何らかの異常があることが検出される。第
４図に示す実施例の場゛合は、外側からピン８に光が当
てられ、光が正しく反射してくることによって正常と判
断しうろこと上記同様である。第５図に示す実施例の場
合は、逆に、ピン８の内側から発せられた光が、いずれ
かのピン８のところにおいて遮蔽されずに透過してきた
場合、ピン８に異常があるものと判断することとなる。

このようにして良否の判定を行った後、シリンダー１の
作用でブロック２が上昇すると、ＩＣ７はストッパー１
１から解放され、シュート上を進行する。シュートの先
端には振り分は部が設置され、そこにおいてＩＣ７は、
上記センサーからの信号に基づくマイクロプロセッサ−
からの指令により、良品と不良品とに振り分けられるこ
ととなる（振り分は機構の詳細については説明を省略す
る。

）。

〔発明の効果〕

本発明は上述した通りであって、簡易な構成にして、い
かなる種類のビンの異常をも自動的に迅速且つ確実に検
出することができ、ＩＣ搬送ラインに容易に組み込むこ
とができ、検出信号に基づいて良品と不良品とに振り分
けることも可能なる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）〜（ｄｌはピンの異常の種類を示す図、第
２図は本発明の実施例の斜視図、第３図乃至第５図はセ
ンサーの種類を示すためのブロックの正面縦断面図、第
６図はブロックの側面縦断面図である。 符号の説明 １・−・シリンダー、２〜ブロツク、３−フレーム、４
・−ロッド、５−・天板、６−・ガイドロンド、９．１
０・−溝、１１−・ストッパー、１２・・一孔、１３−
中間部、１４．１５−・・外側部

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）シリンダーと、該シリンダーを設置するフレーム
   と、該フレームにおいて支持され、前記シリンダーの作
   用で昇降動作をするブロックとから構成され、前記ブロ
   ックには、裏返し状態のＩＣのピンが通過する２つの溝
   を形成するとともに、それらの溝に臨ませてセンサーを
   配備して成るＩＣのピン曲りチェッカー。
2. （２）センサーが反射型光センサーである特許請求の範
   囲第１項記載のＩＣのピン曲りチェッカー。
3. （３）センサーが透過型光センサーである特許請求の範
   囲第１項記載のＩＣのピン曲りチェッカー。