JPS61284093A - 薄膜電界発光素子 - Google Patents
薄膜電界発光素子Info
- Publication number
- JPS61284093A JPS61284093A JP60124632A JP12463285A JPS61284093A JP S61284093 A JPS61284093 A JP S61284093A JP 60124632 A JP60124632 A JP 60124632A JP 12463285 A JP12463285 A JP 12463285A JP S61284093 A JPS61284093 A JP S61284093A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- thin film
- light emitting
- electric field
- dielectric layer
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
この発明は薄膜電界発光素子に関し、詳しくは交流電界
の印加によって発光する三層構造薄膜電界発光素子の背
面電極の構造に関する。 (ロ)従来の技術 従来の上記FijMN界発光素子(以下薄j!EL素“
子と称す)は、第4図に示すように、ガラス基板(1)
上に順に透明電極(2J1第1銹電体層(3)、発光層
(4)、第2誘電体層(5)及び背面電極(6)とがス
パッタ法、蒸着法、CVD法などで積層されて形成され
たもので、透明電極+21と背面電極(6)との間に交
流電圧を印加して発光層(4)に10’V/an程度の
高電界を形成すると、特有の色の強い発光を呈するもの
である。なお、透明電極(2)は酸化インジウム(In
20g)、酸化スX (Sn 02 ) ’;にトb”
うなり、第1誘電体層(3)は酸化物、窒化物及び炭化
物やこれらの複合膜からなる。発光層(4)はマンガン
や希土類フッ化物等を発光センタとしてドープした硫化
亜鉛(Zn S)からなり、第2誘電体層(5)は酸化
物、窒化物及び炭化物やこれらの複合膜からなる。背面
電極(6)はアルミニウム(Aρ)からなる。 (ハ)発明が解決しようとする問題点 一般に上記第1誘電体層(3)、発光II(41及び第
2誘電体層(5)にはそれらの積層中に発生するピンホ
ールやクラック等の避けがたい欠陥が含まれるため、こ
の欠陥で電界印加時に起る微小絶縁破壊(以下BDと称
す)によりII!IEL素子の素子特性が劣化する問題
、つまりBDの跡(以下BPと称す)が発光しなくなる
問題があった。 たとえば、マトリクス表示型の薄膜ELパネルでは、あ
る程度BPが大きくなると、−絵素当りの発光面積が小
さくなって暗く見えたり、ざらにBPが大きくなって透
明電極(2又は背面電極(6)の配線幅よりも大きくな
ると、透明電極(2)又は背面電極(6)がBDに伴な
う発熱によって断線し、この断線部以降の絵素が全く発
光しなくなることになる。 従来のAR製背面電極(6)は、密着が良好で、応力の
発生が小さく、かつ可視光の反射率が高く、しかも作成
が容易である特長を有しているが、八ρの融点が低いた
め、上記BDに伴なう発熱で容易に溶融して上記BPの
エツジに融着し、その融着個所に電解が集中して放電が
持続して、さらにBPが拡大する問題があった。 この対策として、薄11ELI子をシリコンオイルの充
満した密封容器内に収納し、上記持椅放電を防ぎBPの
拡大を防止するオイルシールと呼ばれる保護方法が知ら
れている(特開昭55−124182号公報参照)。 しかし、この方法では、密封容器を用意したり、またそ
の容器内にシリコンオイルを充満しなければならない煩
わしさがあり、またその保護構造が高価に付く欠点があ
った。 この発明は以上の事情に鑑みなされたもので、簡単かつ
安価な構造でBPの拡大を阻止できるようにして長寿命
の薄膜電界素子を提供することを目的とするものである
。 (ニ)問題点を解決するための手段 この発明はガラス基板上に順に透明電極、第1誘電体層
、発光層、第1!電体層及び背面電極とが積層され、交
流電界を印加することにより発光する薄膜電界素子であ
って、背面電極が、第2誘電体層側から順に積層された
アルミニウム層とこのアルミニウム層より高融点の金属
層とからなり、この金属層及びアルミニウム層の厚さが
ともに2000〜4000オングストロームの範囲であ
るものである。 (ホ)作用 この発明は、第111?電体層、発光層及び第21!!
電体層にそれらの積層中に発生するピンホールやクラッ
ク等の欠陥で電界印加時に起る微小絶縁破壊に伴う発熱
があっても高融点の金属層によって上記破壊の跡のエツ
ジにおける電界集中を防止しその跡の拡大を阻止するよ
うにしたものである。 (へ)実施例 以下図に示す実施例に基づいてこの発明を詳述する。な
お、これによってこの発明が限定されるものではない。 第1図において、三層構造薄膜EL素子(7)は、ガラ
ス基板(8)、透明電極(9)、第1誘電体層(至)、
発光層aυ、第2誘電体層面及び背面電極(+31から
構成される。 透明電極(9)は、酸化インジウムIII(ITO膜)
からなる平行な多数本の電極からなり、その厚さは約1
500オンゲストO−ム(入)でスパッタ法とホトエツ
チング法とによってガラス基板(8)上に積層されてい
る。 第1誘電体II(ト))は、酸化ケイ素(S! 02
)と窒化ケイ素(St 3 N+)の二層構造からなり
、その厚さは約2500人で、透明電極(9)上面にス
パッタ法によって積層されている。 発光1(111は硫化亜鉛とマンガンとからなり、その
厚さは約7000人で、第1誘電体層Go)上面に電子
ビーム蒸着法で積層されている。 第2誘電体層[F]はSt 3N4と酸化アルミニウム
(Agz Os >の二層構造からなり、その厚さは約
200OAで、スパッタ法により発光層(11)上面に
積層されている。なお、上記各層(至)〜[F]は、上
記の構成以外であってもよい。 背面電極031は、第2誘電体層面上面に順に電子ビー
ム蒸着法で連続蒸着して積層され、ホトエツチング法で
透明電極(9)と直交する方向にエツチングされたAR
層(141とニッケル<Nr >層05)とからなり、
N1層05)はレジストを塗布・パターン化して過酸化
水素水15重量%と硝酸60重量%とを1=1にしてホ
トエツチングを行い形成され、Au1l(14)は、リ
ン985重置%と硝酸60重量%と水とを20:3:1
0にしてホトエツチングを行い形成される。 第2図は、このようにして得られた薄膜EL素子(刀を
印加電圧250■、周波数IKHzの交流パルスで発光
させたのちのBPO6]を示すものである。 同図において、aはBPO6)の大きさ、bは周辺剥離
の大きさ、Cはa+2bと略同等で非発光領域の大きさ
である。 第3図は、/1層■の膜厚を250OAとしたときのN
1層05)の膜厚と上記a、b及びCとの関係を示すグ
ラフである。同図において、Ni1l(15)の膜厚が
2000Å以下ではb−oとなってBPに伴なう放出ガ
スの閉じ込め効果が不充分・になる。また、Ni1l(
15]の膜厚が薄くなるにしたがってaが太きくなり、
8PQ6)の平面形状も円形状から不定形状になる。こ
れは放電が持続的に行なわれていることを示している。 一方Ni1i(151の膜厚が400OA以上ではBP
O6)周辺の剥離の大きさbが大きくなり過ぎ、したが
って非発光領域の面積が大きくなり過ぎて使用上問題と
なる。 次にA(1m(14)の膜厚を変えた場合には、Ag層
陸の膜厚が2000A以下ではN1層05)によって第
2誘電体層面に応力が生じるためBP(社)の発生頻度
が高くなる。一方AQII(141の膜厚が6000Å
以上になると、Ni層051のガス閉じ込め効果にもか
かわらず持続放電モードが著しく増加する。 以上の結果から実用上有効となるAR層(14)及びN
1層G9の膜厚は、ともニ2000〜4000Aノv!
囲テある。 なお、Ni1051の代りに/lより高融点のチタン、
モリブデン、タンタル及びタングステンのいずれか−?
の金属−を用いても上記と同様の効果を得ることができ
る。また、直流動作の薄膜EL素子においても実施例と
同様の効果を得ることができる。 (ト)発明の効果 この発明によれば、簡単かつ安価な構造で、第1誘電体
層、発光層及び第2誘電体にそれらの積層中に発生する
ピンホールやクラック等の欠陥によって電界印加時に起
る微小絶縁破壊の跡の拡大を阻止することができ、それ
によって薄膜電界発光素子自体の寿命を延ばすことがで
きる。
の印加によって発光する三層構造薄膜電界発光素子の背
面電極の構造に関する。 (ロ)従来の技術 従来の上記FijMN界発光素子(以下薄j!EL素“
子と称す)は、第4図に示すように、ガラス基板(1)
上に順に透明電極(2J1第1銹電体層(3)、発光層
(4)、第2誘電体層(5)及び背面電極(6)とがス
パッタ法、蒸着法、CVD法などで積層されて形成され
たもので、透明電極+21と背面電極(6)との間に交
流電圧を印加して発光層(4)に10’V/an程度の
高電界を形成すると、特有の色の強い発光を呈するもの
である。なお、透明電極(2)は酸化インジウム(In
20g)、酸化スX (Sn 02 ) ’;にトb”
うなり、第1誘電体層(3)は酸化物、窒化物及び炭化
物やこれらの複合膜からなる。発光層(4)はマンガン
や希土類フッ化物等を発光センタとしてドープした硫化
亜鉛(Zn S)からなり、第2誘電体層(5)は酸化
物、窒化物及び炭化物やこれらの複合膜からなる。背面
電極(6)はアルミニウム(Aρ)からなる。 (ハ)発明が解決しようとする問題点 一般に上記第1誘電体層(3)、発光II(41及び第
2誘電体層(5)にはそれらの積層中に発生するピンホ
ールやクラック等の避けがたい欠陥が含まれるため、こ
の欠陥で電界印加時に起る微小絶縁破壊(以下BDと称
す)によりII!IEL素子の素子特性が劣化する問題
、つまりBDの跡(以下BPと称す)が発光しなくなる
問題があった。 たとえば、マトリクス表示型の薄膜ELパネルでは、あ
る程度BPが大きくなると、−絵素当りの発光面積が小
さくなって暗く見えたり、ざらにBPが大きくなって透
明電極(2又は背面電極(6)の配線幅よりも大きくな
ると、透明電極(2)又は背面電極(6)がBDに伴な
う発熱によって断線し、この断線部以降の絵素が全く発
光しなくなることになる。 従来のAR製背面電極(6)は、密着が良好で、応力の
発生が小さく、かつ可視光の反射率が高く、しかも作成
が容易である特長を有しているが、八ρの融点が低いた
め、上記BDに伴なう発熱で容易に溶融して上記BPの
エツジに融着し、その融着個所に電解が集中して放電が
持続して、さらにBPが拡大する問題があった。 この対策として、薄11ELI子をシリコンオイルの充
満した密封容器内に収納し、上記持椅放電を防ぎBPの
拡大を防止するオイルシールと呼ばれる保護方法が知ら
れている(特開昭55−124182号公報参照)。 しかし、この方法では、密封容器を用意したり、またそ
の容器内にシリコンオイルを充満しなければならない煩
わしさがあり、またその保護構造が高価に付く欠点があ
った。 この発明は以上の事情に鑑みなされたもので、簡単かつ
安価な構造でBPの拡大を阻止できるようにして長寿命
の薄膜電界素子を提供することを目的とするものである
。 (ニ)問題点を解決するための手段 この発明はガラス基板上に順に透明電極、第1誘電体層
、発光層、第1!電体層及び背面電極とが積層され、交
流電界を印加することにより発光する薄膜電界素子であ
って、背面電極が、第2誘電体層側から順に積層された
アルミニウム層とこのアルミニウム層より高融点の金属
層とからなり、この金属層及びアルミニウム層の厚さが
ともに2000〜4000オングストロームの範囲であ
るものである。 (ホ)作用 この発明は、第111?電体層、発光層及び第21!!
電体層にそれらの積層中に発生するピンホールやクラッ
ク等の欠陥で電界印加時に起る微小絶縁破壊に伴う発熱
があっても高融点の金属層によって上記破壊の跡のエツ
ジにおける電界集中を防止しその跡の拡大を阻止するよ
うにしたものである。 (へ)実施例 以下図に示す実施例に基づいてこの発明を詳述する。な
お、これによってこの発明が限定されるものではない。 第1図において、三層構造薄膜EL素子(7)は、ガラ
ス基板(8)、透明電極(9)、第1誘電体層(至)、
発光層aυ、第2誘電体層面及び背面電極(+31から
構成される。 透明電極(9)は、酸化インジウムIII(ITO膜)
からなる平行な多数本の電極からなり、その厚さは約1
500オンゲストO−ム(入)でスパッタ法とホトエツ
チング法とによってガラス基板(8)上に積層されてい
る。 第1誘電体II(ト))は、酸化ケイ素(S! 02
)と窒化ケイ素(St 3 N+)の二層構造からなり
、その厚さは約2500人で、透明電極(9)上面にス
パッタ法によって積層されている。 発光1(111は硫化亜鉛とマンガンとからなり、その
厚さは約7000人で、第1誘電体層Go)上面に電子
ビーム蒸着法で積層されている。 第2誘電体層[F]はSt 3N4と酸化アルミニウム
(Agz Os >の二層構造からなり、その厚さは約
200OAで、スパッタ法により発光層(11)上面に
積層されている。なお、上記各層(至)〜[F]は、上
記の構成以外であってもよい。 背面電極031は、第2誘電体層面上面に順に電子ビー
ム蒸着法で連続蒸着して積層され、ホトエツチング法で
透明電極(9)と直交する方向にエツチングされたAR
層(141とニッケル<Nr >層05)とからなり、
N1層05)はレジストを塗布・パターン化して過酸化
水素水15重量%と硝酸60重量%とを1=1にしてホ
トエツチングを行い形成され、Au1l(14)は、リ
ン985重置%と硝酸60重量%と水とを20:3:1
0にしてホトエツチングを行い形成される。 第2図は、このようにして得られた薄膜EL素子(刀を
印加電圧250■、周波数IKHzの交流パルスで発光
させたのちのBPO6]を示すものである。 同図において、aはBPO6)の大きさ、bは周辺剥離
の大きさ、Cはa+2bと略同等で非発光領域の大きさ
である。 第3図は、/1層■の膜厚を250OAとしたときのN
1層05)の膜厚と上記a、b及びCとの関係を示すグ
ラフである。同図において、Ni1l(15)の膜厚が
2000Å以下ではb−oとなってBPに伴なう放出ガ
スの閉じ込め効果が不充分・になる。また、Ni1l(
15]の膜厚が薄くなるにしたがってaが太きくなり、
8PQ6)の平面形状も円形状から不定形状になる。こ
れは放電が持続的に行なわれていることを示している。 一方Ni1i(151の膜厚が400OA以上ではBP
O6)周辺の剥離の大きさbが大きくなり過ぎ、したが
って非発光領域の面積が大きくなり過ぎて使用上問題と
なる。 次にA(1m(14)の膜厚を変えた場合には、Ag層
陸の膜厚が2000A以下ではN1層05)によって第
2誘電体層面に応力が生じるためBP(社)の発生頻度
が高くなる。一方AQII(141の膜厚が6000Å
以上になると、Ni層051のガス閉じ込め効果にもか
かわらず持続放電モードが著しく増加する。 以上の結果から実用上有効となるAR層(14)及びN
1層G9の膜厚は、ともニ2000〜4000Aノv!
囲テある。 なお、Ni1051の代りに/lより高融点のチタン、
モリブデン、タンタル及びタングステンのいずれか−?
の金属−を用いても上記と同様の効果を得ることができ
る。また、直流動作の薄膜EL素子においても実施例と
同様の効果を得ることができる。 (ト)発明の効果 この発明によれば、簡単かつ安価な構造で、第1誘電体
層、発光層及び第2誘電体にそれらの積層中に発生する
ピンホールやクラック等の欠陥によって電界印加時に起
る微小絶縁破壊の跡の拡大を阻止することができ、それ
によって薄膜電界発光素子自体の寿命を延ばすことがで
きる。
第1図はこの発明に係る薄膜電界発光素子の一実施例を
示す断面図、第2図はこのBPを示す断面模式図、第3
図はこのBP、周辺剥離及び非発光領域とNi1lの膜
厚との関係を示すグラフ、第4図は従来例の第1図相当
図である。 (刀・・・・・・三層構造薄膜電界発光素子、(8)・
・・・・・ガラス基板、 (9)・・・・・・透
明電極、(財)・・・・・・第11電体層、 α1
j・・・・・・発光層、a2・・・・・・第2誘電体層
、 (13)・・・・・・背面電極、(14)・・
・・・・アルミニウム層、(15]・・・・・・ニッケ
ル層(高融点の金属層)。 第1図 第 2 図 第3図 N1眉のPan(x1o3八) 第41!1
示す断面図、第2図はこのBPを示す断面模式図、第3
図はこのBP、周辺剥離及び非発光領域とNi1lの膜
厚との関係を示すグラフ、第4図は従来例の第1図相当
図である。 (刀・・・・・・三層構造薄膜電界発光素子、(8)・
・・・・・ガラス基板、 (9)・・・・・・透
明電極、(財)・・・・・・第11電体層、 α1
j・・・・・・発光層、a2・・・・・・第2誘電体層
、 (13)・・・・・・背面電極、(14)・・
・・・・アルミニウム層、(15]・・・・・・ニッケ
ル層(高融点の金属層)。 第1図 第 2 図 第3図 N1眉のPan(x1o3八) 第41!1
Claims (2)
- 1.ガラス基板上に順に透明電極、第1誘電体層、発
光層、第2誘電体層及び背面電極とが積層され、交流電
界を印加することにより発光する薄膜電界発光素子にお
いて、 背面電極が、第2誘電体層側から順に積層されたアル
ミニウム層とこのアルミニウム層より高融点の金属層と
からなり、この金属層及びアルミニウム層の厚さがとも
に2000〜4000オングストロームの範囲であるこ
とを特徴とする薄膜電界発光素子。 - 2.金属層の金属が、ニツケル、チタン、モリブデン
、タンタル及びタングステンのいずれか一つからなる特
許請求の範囲第1項記載の薄膜電界発光素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60124632A JPS61284093A (ja) | 1985-06-07 | 1985-06-07 | 薄膜電界発光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60124632A JPS61284093A (ja) | 1985-06-07 | 1985-06-07 | 薄膜電界発光素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61284093A true JPS61284093A (ja) | 1986-12-15 |
Family
ID=14890217
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60124632A Pending JPS61284093A (ja) | 1985-06-07 | 1985-06-07 | 薄膜電界発光素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61284093A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS632396U (ja) * | 1986-06-23 | 1988-01-08 |
-
1985
- 1985-06-07 JP JP60124632A patent/JPS61284093A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS632396U (ja) * | 1986-06-23 | 1988-01-08 |
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