JPS61285423A - 光走査装置 - Google Patents
光走査装置Info
- Publication number
- JPS61285423A JPS61285423A JP60128497A JP12849785A JPS61285423A JP S61285423 A JPS61285423 A JP S61285423A JP 60128497 A JP60128497 A JP 60128497A JP 12849785 A JP12849785 A JP 12849785A JP S61285423 A JPS61285423 A JP S61285423A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- photoelectric conversion
- scanning line
- deflector
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 16
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 43
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 claims description 23
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 5
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、光プリンタなどに使用する光走査装置に関す
るものである。
るものである。
[従来の技術]
公知の光走査装置は、光ビームを発生するレーザー等の
光源と、この光ビームを感光体の走査線にそって走査せ
しめる偏向器とからなっている。
光源と、この光ビームを感光体の走査線にそって走査せ
しめる偏向器とからなっている。
偏向器としては、等速回転する回転多面鏡や一定振幅の
正弦振動モードで回動するガルバノミラ−などが用いら
れる。第1図は、偏向器として回転多面鏡aを使用した
場合の例である。光源からの光ビームL1は回転多面鏡
aにより変更されて感光体の走査面す上にビームスポッ
トとして照射される。このビームスポットは、回転多面
鏡aの回転と共に走査面す上を走査開始点×1から走査
終7点x2の範囲で移動する。回転多面鏡aの面から走
査面すまでの距離を1とすると、偏向ビームL2が走査
中心線に対して角度θで偏向されたときの走査面す上で
のビームスポットの位置Xは1・tanθで表わされる
。すなわち、ビームスポットの位置は角度θに比例せず
にtanθに比例し、その結果として得られるドツトは
、走査開始点X1または走査開始点x2に近づくにつれ
て中央部よりもドツト間隔が拡がってしまう。
正弦振動モードで回動するガルバノミラ−などが用いら
れる。第1図は、偏向器として回転多面鏡aを使用した
場合の例である。光源からの光ビームL1は回転多面鏡
aにより変更されて感光体の走査面す上にビームスポッ
トとして照射される。このビームスポットは、回転多面
鏡aの回転と共に走査面す上を走査開始点×1から走査
終7点x2の範囲で移動する。回転多面鏡aの面から走
査面すまでの距離を1とすると、偏向ビームL2が走査
中心線に対して角度θで偏向されたときの走査面す上で
のビームスポットの位置Xは1・tanθで表わされる
。すなわち、ビームスポットの位置は角度θに比例せず
にtanθに比例し、その結果として得られるドツトは
、走査開始点X1または走査開始点x2に近づくにつれ
て中央部よりもドツト間隔が拡がってしまう。
また偏向器としてガルバノミラ−を使用した場合は、そ
の逆に走査線の中央部がその両側よりもドツト間隔が拡
がってしまう。
の逆に走査線の中央部がその両側よりもドツト間隔が拡
がってしまう。
このため、従来にあっては、走査面す上でビームスポッ
トを等速度で移動せしめるために、偏向器aと走査面す
との間にfθレンズやarcs inθレンズなどの光
学補正装置を設けていた。また、レーザープリンタにお
いては、変調光を得るときにクロックパルスの周期を変
化させることによりビームスポットを走査面上で等速度
で移動させることも行なわれていた。
トを等速度で移動せしめるために、偏向器aと走査面す
との間にfθレンズやarcs inθレンズなどの光
学補正装置を設けていた。また、レーザープリンタにお
いては、変調光を得るときにクロックパルスの周期を変
化させることによりビームスポットを走査面上で等速度
で移動させることも行なわれていた。
[発明が解決しようとする問題点]
光学補正装置を用いてビームスポットの位置を補正する
場合は、その光学補正装置は通常複数のレンズ群によっ
て構成され、各レンズの位置調整が非常に複雑で多大の
時間と労力を要する。それに加えて、光学補正装置が高
価であるので製造コストが上昇する。
場合は、その光学補正装置は通常複数のレンズ群によっ
て構成され、各レンズの位置調整が非常に複雑で多大の
時間と労力を要する。それに加えて、光学補正装置が高
価であるので製造コストが上昇する。
クロックパルスの周期を変化させる場合は、回路構成が
複雑になり、また走査方向のビームスポットの間隔は成
る誤差を持ち、その誤差を小さくするには膨大なメモリ
ー容量が必要となる。
複雑になり、また走査方向のビームスポットの間隔は成
る誤差を持ち、その誤差を小さくするには膨大なメモリ
ー容量が必要となる。
そこで本発明は、光学補正装置を用いることなしに感光
体上の走査線にそってビームスポットを等速性をもって
走査できるようにすることを第1の目的とする。
体上の走査線にそってビームスポットを等速性をもって
走査できるようにすることを第1の目的とする。
本発明の第2の目的は、感光体上の走査線にそってビー
ムスポットを等速性をもって走査するための周期が変化
するクロックパルスを簡単に得ることができるようにす
ることでおる。
ムスポットを等速性をもって走査するための周期が変化
するクロックパルスを簡単に得ることができるようにす
ることでおる。
本発明の第3の目的は、感光体上の走査線にそって等速
性をもってビームスポットを走査することができる光走
査装置を低価格で提供することである。
性をもってビームスポットを走査することができる光走
査装置を低価格で提供することである。
[問題点を解決するための手段]
偏向器を介して感光体上の走査線にそって走査せしめら
れる変調光に加えて、連続光が使用される。この連続光
は、上記偏向器を介して光電変換装置上の走査線にそっ
て走査せしめられる。この光電変換装置は、その走査線
にそって多数の光電変部が微小間隔をもって整列しであ
る。光源として半導体レーザー発振器を使用する場合は
この半導体レーザー発振器が、光源としてガスレーザー
発振器を使用する場合は変調器が、光電変換装置の出力
を介して制御される。
れる変調光に加えて、連続光が使用される。この連続光
は、上記偏向器を介して光電変換装置上の走査線にそっ
て走査せしめられる。この光電変換装置は、その走査線
にそって多数の光電変部が微小間隔をもって整列しであ
る。光源として半導体レーザー発振器を使用する場合は
この半導体レーザー発振器が、光源としてガスレーザー
発振器を使用する場合は変調器が、光電変換装置の出力
を介して制御される。
[作用]
光電変換装置は、偏向器が回転多面鏡である場合はl/
lanθに比例した周期で出力パルスを発生する。画像
信号に対応した変調光を光電変換装置の°出力に同期し
て制御することによって、感光体上の走査線上にそって
照射されるビームスポットつまりドツトは等間隔に形成
されることになる。
lanθに比例した周期で出力パルスを発生する。画像
信号に対応した変調光を光電変換装置の°出力に同期し
て制御することによって、感光体上の走査線上にそって
照射されるビームスポットつまりドツトは等間隔に形成
されることになる。
[実施例]
第2図において、感光体(感光ドラム)1の上方に光電
変換装置2が設けられている。感光体1と光電変換装置
2の前方には偏向器3が位置している。この例では偏向
器3として、等速度で回転する回転多面鏡(ポリゴンミ
ラー)が用いられている。二つの光源4,5は、この例
では共に半導体レーザー発振器が使用されている。光源
4は画像信号に対応してその発振が制御され、変調光L
3を直接発生し、光源5は連続光L4を発生する。
変換装置2が設けられている。感光体1と光電変換装置
2の前方には偏向器3が位置している。この例では偏向
器3として、等速度で回転する回転多面鏡(ポリゴンミ
ラー)が用いられている。二つの光源4,5は、この例
では共に半導体レーザー発振器が使用されている。光源
4は画像信号に対応してその発振が制御され、変調光L
3を直接発生し、光源5は連続光L4を発生する。
偏向器3に向けて照射された変調光L3と連続光L4は
、感光体1と光電変換装置2に向けて光の進路を変える
。したがって偏向器3の回転と共に変調光し3と連続光
L4は感光体1と光電変換装置2上の各走査線6,7に
そって移動する。光電変換装置2は、走査線7にそって
微小な等間隔をもって多数の光電変換部8が備わってい
る。光電変換装置2は、この実施例では第3図に示すよ
うに、絶縁性基板9と、その上面に形成された全面電極
10と、その上面に形成された光導電性材料の薄膜層1
1と、その上面に形成された透明電極12とで構成され
、この透明電極12はくし歯状の多数の電極要素12a
を有している。電極要素12aの本数つまり光電変換部
8の個数は、感光体1の走査線6上に形成すべきドツト
数に対応し、そのピッチは光電変換装置2の偏向器3か
らの距離によって決定される。例えば、この実施例のよ
うに、光電変換装置2が、偏向器3から感光体1の走査
線6までの距離と等しい距離に置かれている場合は、光
電変換部8のピッチは、感光体1の走査線6上に形成す
べきドツトのピッチと等しい。
、感光体1と光電変換装置2に向けて光の進路を変える
。したがって偏向器3の回転と共に変調光し3と連続光
L4は感光体1と光電変換装置2上の各走査線6,7に
そって移動する。光電変換装置2は、走査線7にそって
微小な等間隔をもって多数の光電変換部8が備わってい
る。光電変換装置2は、この実施例では第3図に示すよ
うに、絶縁性基板9と、その上面に形成された全面電極
10と、その上面に形成された光導電性材料の薄膜層1
1と、その上面に形成された透明電極12とで構成され
、この透明電極12はくし歯状の多数の電極要素12a
を有している。電極要素12aの本数つまり光電変換部
8の個数は、感光体1の走査線6上に形成すべきドツト
数に対応し、そのピッチは光電変換装置2の偏向器3か
らの距離によって決定される。例えば、この実施例のよ
うに、光電変換装置2が、偏向器3から感光体1の走査
線6までの距離と等しい距離に置かれている場合は、光
電変換部8のピッチは、感光体1の走査線6上に形成す
べきドツトのピッチと等しい。
透明電極12にはバイアス電圧VBが供給してあり、全
面電極10は比較器13に接続されている。
面電極10は比較器13に接続されている。
比較器13にはそれに基準レベルを与える基準電圧源1
4が接続しである。光電偏向装置2上の走査線7にそっ
て光ビームが走査されるときに光ビームが透明電極12
のくし歯状の電極要素12aを照射すると、当該電極要
素12aと全面電極1Oとの間の光導電性薄膜11の電
気抵抗が低下してバイアス電圧が比較器13に供給され
、そのとき比較器13はレベル1のパルスを発生する。
4が接続しである。光電偏向装置2上の走査線7にそっ
て光ビームが走査されるときに光ビームが透明電極12
のくし歯状の電極要素12aを照射すると、当該電極要
素12aと全面電極1Oとの間の光導電性薄膜11の電
気抵抗が低下してバイアス電圧が比較器13に供給され
、そのとき比較器13はレベル1のパルスを発生する。
光電変換装置2の走査線7にそって移動する光ビームの
移動速度はtanθ(θは第1図参照)に比例するから
、光電変換装置2つまりは比較器13が発生するパルス
列の周期は1/lanθに比例する。比較器13は制御
回路15に接続されており、制御回路15を介して比較
器13の出力と画像信号とのAND信号により光源4が
制御される。
移動速度はtanθ(θは第1図参照)に比例するから
、光電変換装置2つまりは比較器13が発生するパルス
列の周期は1/lanθに比例する。比較器13は制御
回路15に接続されており、制御回路15を介して比較
器13の出力と画像信号とのAND信号により光源4が
制御される。
したがって光源4が発生する変調光し3の変調周期は1
/lanθに比例し、その結果ビームスポットは感光体
1の走査線上で等間隔に照射されることになる。
/lanθに比例し、その結果ビームスポットは感光体
1の走査線上で等間隔に照射されることになる。
第4図は、He−NeレーザーやArレーザーなど連続
発振するガスレーザー発振器を単一の光源16として使
用した場合の実施例の要部を示す。
発振するガスレーザー発振器を単一の光源16として使
用した場合の実施例の要部を示す。
レーザー光源16から生ずる連続光は、ハーフミラ−1
7と全反射ミラー18とから構成されるビームスプリッ
タ19を介して二つに分割され、その一方が変調器20
により変調光に変換される。
7と全反射ミラー18とから構成されるビームスプリッ
タ19を介して二つに分割され、その一方が変調器20
により変調光に変換される。
変調器15の制御は前記実施例と同様にして第3図示の
制御回路15により行なわれる。その他の構成は上記実
施例と実質的に同じである。
制御回路15により行なわれる。その他の構成は上記実
施例と実質的に同じである。
本発明は特許請求の範囲によってのみ特定されるもので
あって、その技術思想を逸脱しない範囲で種々の改変が
可能である。
あって、その技術思想を逸脱しない範囲で種々の改変が
可能である。
例えば偏向器3がガルバノミラ−である場合にも同様に
適用可能である。また光電変換装置2は、上記実施例の
他にシリコン半導体型フォトダイオードアレイやフォト
トランジスタアレイ、または電荷結合型素子(COD)
アレイを利用することも可能である。感光体1と光電変
換装置2の設置位置関係は特に限定するものではない。
適用可能である。また光電変換装置2は、上記実施例の
他にシリコン半導体型フォトダイオードアレイやフォト
トランジスタアレイ、または電荷結合型素子(COD)
アレイを利用することも可能である。感光体1と光電変
換装置2の設置位置関係は特に限定するものではない。
何故ならば、光電変換装置2は1/lanθに比例した
周期のパルス列を得る目的のものであり、この目的にと
って感光体1との位置関係は自由に変更することができ
る。例えば光電変換装置2は、第2図示の位置よりも偏
向器3に近づけてもよいし、その逆に遠ざけてもよい。
周期のパルス列を得る目的のものであり、この目的にと
って感光体1との位置関係は自由に変更することができ
る。例えば光電変換装置2は、第2図示の位置よりも偏
向器3に近づけてもよいし、その逆に遠ざけてもよい。
光電変換装置2を偏向器3から遠ざけると、それに従が
って、走査線7上の光電変換部8のピッチを大きくでき
るので、光電変換装置2の製造が容易になる。ざらに、
第2図において、変調光し3が照射される面3aとは異
なる面、例えば3bに連続光L4を照射するように光源
5の位置を変えてもよい。この場合はそれに応じて光電
変換装置2は、偏向器3に対して感光体1と反対側に設
けることになるでおろう。
って、走査線7上の光電変換部8のピッチを大きくでき
るので、光電変換装置2の製造が容易になる。ざらに、
第2図において、変調光し3が照射される面3aとは異
なる面、例えば3bに連続光L4を照射するように光源
5の位置を変えてもよい。この場合はそれに応じて光電
変換装置2は、偏向器3に対して感光体1と反対側に設
けることになるでおろう。
感光体1はドラム状のものの他にシート状のものを二つ
のローラ間にエンドレス状に掛は回したものであっても
よい。
のローラ間にエンドレス状に掛は回したものであっても
よい。
[発明の効果]
上述した本発明に係る光走査装置によれば、ドツトを等
間隔に形成するために、偏向器と感光体との間に高価で
位置調整が必要な光学補正装置を設けたり、あるいは光
の変調の周期を変えるための特殊な回路を設けたりする
ことが一切不要である。したがって光走査装置の構成が
従来に比して簡単になり、低コストで製造できる。ざら
には、感光体上でのドツトの位置は光電変換装置の出力
(よって決定されるから、偏向器の回転変動の影響を受
けない。したがってより高品質の記録が可能である。そ
の他、光電変換装置をビーム位置検出に用いることもで
きるから、従来において使用されていたビーム位首検出
器が省略できる。
間隔に形成するために、偏向器と感光体との間に高価で
位置調整が必要な光学補正装置を設けたり、あるいは光
の変調の周期を変えるための特殊な回路を設けたりする
ことが一切不要である。したがって光走査装置の構成が
従来に比して簡単になり、低コストで製造できる。ざら
には、感光体上でのドツトの位置は光電変換装置の出力
(よって決定されるから、偏向器の回転変動の影響を受
けない。したがってより高品質の記録が可能である。そ
の他、光電変換装置をビーム位置検出に用いることもで
きるから、従来において使用されていたビーム位首検出
器が省略できる。
第1図は偏向器として回転多面鏡をした場合の光ビーム
の偏向を示す説明図、第2図は本発明による光走査装置
の一実施例を示す斜視図、第3図は光電変換装置の断面
構造を一緒に示した回路図、第4図は光源部の他の実施
例を示す斜視図である。 1・・・感光体 2・・・光電変換装置3・・・
偏向器 4・・・第1の光源5・・・第2の光源 6・・・感光体上の走査線 7・・・光電変換装置上の走査線 8・・・光電変換部 16・・・単一光源19・・・
ビームスプリッタ 20・・・変調器 以上 第1図 第4図
の偏向を示す説明図、第2図は本発明による光走査装置
の一実施例を示す斜視図、第3図は光電変換装置の断面
構造を一緒に示した回路図、第4図は光源部の他の実施
例を示す斜視図である。 1・・・感光体 2・・・光電変換装置3・・・
偏向器 4・・・第1の光源5・・・第2の光源 6・・・感光体上の走査線 7・・・光電変換装置上の走査線 8・・・光電変換部 16・・・単一光源19・・・
ビームスプリッタ 20・・・変調器 以上 第1図 第4図
Claims (2)
- (1)画像信号に対応した変調光を発生する第1の光源
と、連続光を発生する第2の光源と、上記変調光を感光
体上の走査線にそって、上記連続光を光電変換装置上の
走査線にそって走査せしめる偏向器とを含み、上記光電
変換装置はその走査線にそつて等間隔に整列した多数の
光電変換部を有し、上記光電変換装置の出力を介して上
記第1の光源の駆動を制御することを特徴とする光走査
装置。 - (2)連続光を発生する光源と、この連続光を二つに分
割するビームスプリッタと、このビームスプリッタを介
して二つに分割された連続光の一方を画像信号に対応し
た変調光に変換する変調器と、上記変調光を感光体上の
走査線にそって、上記ビームスプリッタを介して二つに
分割された連続光の他方を光電変換装置上の走査線にそ
つて走査せしめる偏向器とを含み、上記光電変換装置は
その走査線にそって等間隔に整列した多数の光電変換部
を有し、上記光電変換装置の出力を介して上記変調器を
制御することを特徴とする光走査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60128497A JPS61285423A (ja) | 1985-06-13 | 1985-06-13 | 光走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60128497A JPS61285423A (ja) | 1985-06-13 | 1985-06-13 | 光走査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61285423A true JPS61285423A (ja) | 1986-12-16 |
Family
ID=14986204
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60128497A Pending JPS61285423A (ja) | 1985-06-13 | 1985-06-13 | 光走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61285423A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013120336A (ja) * | 2011-12-08 | 2013-06-17 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置および画像形成装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS543556A (en) * | 1977-06-10 | 1979-01-11 | Hitachi Ltd | Laser beam recorder |
| JPS56146115A (en) * | 1980-03-18 | 1981-11-13 | Data General Corp | Laser recording method and system therefor |
-
1985
- 1985-06-13 JP JP60128497A patent/JPS61285423A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS543556A (en) * | 1977-06-10 | 1979-01-11 | Hitachi Ltd | Laser beam recorder |
| JPS56146115A (en) * | 1980-03-18 | 1981-11-13 | Data General Corp | Laser recording method and system therefor |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013120336A (ja) * | 2011-12-08 | 2013-06-17 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置および画像形成装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8072667B2 (en) | Optical scanning device and image forming apparatus | |
| US6310681B1 (en) | Method and apparatus for image forming | |
| JPH0876039A (ja) | マルチビームレーザ記録装置 | |
| EP0529785B1 (en) | Raster output scanner with process direction spot position control | |
| JPH11147327A (ja) | 画像形成装置及び分割光走査装置の制御方法 | |
| JPH09197313A (ja) | マルチビーム光走査装置 | |
| GB2040511A (en) | Light scanning | |
| JP4438300B2 (ja) | 光走査装置、画像形成装置、および画像形成システム | |
| EP0549204A1 (en) | Spot position control in a raster output scanning device | |
| JPS61285423A (ja) | 光走査装置 | |
| JP2574419B2 (ja) | レーザービーム走査装置 | |
| US7425975B2 (en) | Multi-beam image forming apparatus | |
| US5477374A (en) | Optical beam scanning apparatus | |
| JP4313224B2 (ja) | ドット位置補正方法及びそれを適用した画像形成装置 | |
| KR20000012043A (ko) | 화상기록개시위치정밀제어가능한멀티-빔화상형성장치및방법 | |
| JPH0357453B2 (ja) | ||
| JPH077150B2 (ja) | 画像情報記録方法 | |
| JP4083935B2 (ja) | 画像形成装置 | |
| JPS6349724A (ja) | 光走査装置 | |
| JP2003266770A (ja) | 画像形成装置 | |
| GB2101360A (en) | Light scanning apparatus | |
| JPS6137606B2 (ja) | ||
| JP2001281589A (ja) | 画像形成装置及び方法 | |
| JP2002250882A (ja) | マルチビーム走査装置 | |
| JP2000272167A (ja) | 画像形成装置 |